طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری است که کاربرد گسترده‌ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با این روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینهٔ آنالیزی مناسب، پایداری و کاربری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (Major) و جرئی (Trace) نمونه‌های معدنی است.

این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک، مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینهٔ ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری مانند نقاشی و نقاشی دیواری استفاده می‌شود.

 جستارهای وابسته 

 شیمی تجزیه
 طیف گسیلی
 فهرست روش‌های آنالیز مواد
 اثر موسباور

 منابع 

 پیوند به بیرون 


رده:پرتوهای ایکس
رده:طیف‌بینی پرتو ایکس
رده:طیف‌شناسی
رده:فلورسانس
رده:فنون علمی
رده:فیزیک اتمی
رده:فیزیک مولکولی