Tunel-efika mikroskopo

La tunel-efika mikroskopo aŭ skantunela mikroskopo (angla mallongigo STM el scanning tunneling microscopy) laboras per elektre kondukanta „kudrilo”, ofte nomata pinto kaj tio baziĝas je la kvantummeĥanika tunel-efiko. Okaze de uzata tensio inter la pinto (de mikroskopa sondilo) kaj surfaco estiĝas mezurebla tunela elektro. La uzebla tunelefika mikroskopo estis evoluigita je komenco de la 1980-aj jaroj.

La tunela kurento (tipe 1 pA - 10 nA) sensas jam la ŝanĝiĝon je 100-ono de nm, tiel la pinto-surfaco-diferenco de tipe 0,5 - 1 nm devas stabile halti la ŝanĝiĝon malpli ol 1 %.

Oni uzas la tunelefikan mikroskopon ekzemple por manipulado de la surfaco.

La atom-forta mikroskopo (AFM) estas tre detala analiza ilo el nova generacio. Temas pri speco de tunel-efika mikroskopo (aŭ skantunela mikroskopo, STM), kiuj komence de la 21-a jarcento refortigis la intereson pri koloida scienco kaj antaŭenigis la nanoteknologion.

Kategorio:Mikroskopoj