Συνεστιακή μικροσκοπία

Συνεστιακή μικροσκοπία είναι μια τεχνική οπτικής απεικόνισης που χρησιμοποιείται για την αύξηση της ευκρίνειας και της αντίθεσης του οπτικού μικροσκοπίου με την τοποθέτηση πολύ μικρού διαφράγματος στους οπτικούς άξονες του αντικειμενικού και του συγκεντρωτικού φακού για την εξάλειψη του φωτός από τα μη εστιασμένα σημεία του αντικειμένου. Το συνεστιακό μικροσκόπιο καταγράφει ένα μόνο σημείο του αντικειμένου. Για να  σχηματίσει πλήρη εικόνα, σαρώνει το αντικείμενο με κηλίδα του φωτός. Επιτρέπει την ανακατασκευή της τρισδιάστατης δομής του αντικειμένου από τις εικόνες που λαμβάνονται. Αυτή η τεχνική έναι δημοφιλής στις επιστήμες της ζωής, στην εξέταση των ημιαγωγών και στην επιστήμη των υλικών. 

Η αρχή της συνεστιακής απεικόνισης κατοχυρώθηκε με δίπλωμα ευρεσιτεχνίας το 1957 από τον Marvin Minsky με στόχο να ξεπεράσουν οι περιορισμοί της συμβατικής μικροσκοπίας φθορισμού.

Πηγές
 OΠΤΙΚΑ (ΦΩΤΟΝΙΚΑ) ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΙΑ.  ΓΕΝΙΚΕΣ ΑΡΧΕΣ. Κωνσταντίνος Φασσέας, Καθηγητής Γ.Π.Α.*
Εξωτερικοί σύνδεσμοι

Κατηγορία:Επιστημονική μέθοδος
Κατηγορία:Μικροσκοπία