Mikroskopija skenirajućom sondom

Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomjerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak.

Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.

Mnogi skenirajući mikroskopi mogu istovremeno snimati nekoliko interakcija. Način korištenja ovih interakcija za dobijanje slike se obično naziva mod.
mini|Lasersko skeniranje skenirajućeg fotostrujnog mikroskopa

 Reference 

 Vanjski linkovi 
Mikroskopija skenirajućom sondom, autor John W. Cross  
Mikroskopija skenirajućom sondom, na Institute of Food Research 
Karakterizacija u nanotehnologiji, pojedini pdf
Osvrt na STM/AFM/SNOM principe, sa obrazovnim Flash animacijama
SPM Image Gallery - AFM STM SEM MFM NSOM i drugi 
Kako SPM radi
SPM Scan Image Galerija
SPM Glosar
SPM galerija: surface scans, collages, artworks, desktop wallpapers 
SPM Applications: Image Gallery
SPM Scan Image Galerija
SPM Scan Image Galerija

Kategorija:Nanotehnologija