تقنيات تشتت الأشعة السينية

تقنيات تشتت الأشعة السينية هي عائلة من تقنيات التحليل الغير مدمرة التي تكشف معلومات عن شكل البلورة، التكوين الكيميائي، والخصائص الفيزيائية للمواد والأغشية الرقيقة.
هذه التقنيات مبنية على أساس رصد شدة الأشعة المشتتة من حزمة الأشعة السينية بعد توجيهها للعينة كعلاقة بين زاوية السقوط وزاوية التشتت، الاستقطاب، والطول الموجي أو الطاقة.

حيود الأشعة السينية تعتبر مجموعة فرعية من تشتت الأشعة السينية، حيث التشتت مرن والمادة التي سببت التشتت بلورية، بحيث ينتج عن ذلك نمط يحتوي على بقع حادة يتم تحليلها بواسطة الصورة الناتجة عن الأشعة السينية (كما في الشكل). غير أن كلا من التشتت والحيود ظاهرتان عامتان ومرتبطتان والتمييز بينهما لم يكن موجود دائما. والدليل نص جوينير الكلاسيكي من عام 1963 بعنوان «حيود الأشعة السينية في البلورات، البلورات المشوهة والأجسام ذات الأشكال غير المنتظمة» بالتالي 'الحيود' من الواضح لم يكن يقتصر على البلورات في ذلك الوقت.

 تقنيات التشتت 

 التشتت المرن للأشعة السينية 
 حيود الأشعة السينية أو على وجه التحديد زاوية حيود واسعة للأشعة السينية (WAXD)
 زاوية تشتت صغيرة للأشعة السينية (SAXS) معرفة الهيكل البلوري في مدى النانومتر إلى الميكرومتر عن طريق قياس شدة التشتت في زوايا التشتت 2θ قربها إلى 0°.
 انعكاسية الأشعة السينية هي تقنية تحليل لتحديد سمك، خشونة، وكثافة طبقة واحدة وطبقات متعددة رقيقة.
 زاوية تشتت واسعة للأشعة السينية (WAXS), تقنية تركز على زوايا التشتت: أكبر ب2θ من 5°.

 التشتت غير المرن للأشعة السينية (IXS) 
في التشتت غير المرن الطاقة وزاوية الأشعة السينية المشتتة يتم رصدها، وإعطاء عامل بناء ديناميكي . ومنه يمكن الحصول على الكثير من خصائص المواد، الخاصية المحددة اعتمادا على حجم نقل الطاقة. الجدول أدناه يلخص التقنيات وهو مقتبس من. الأشعة السينية والغير مرنة لها المراحل المتوسطة ومن حيث المبدأ ليست مفيدة في دراسة البلورات بالأشعة السينية. من خلال الممارسة الأشعة السينية ذات تحولات الطاقة الصغيرة يتم ضمها مع بقع الحيود بسبب التشتت المرن، والأشعة السينية ذات تحولات الطاقة الكبيرة تساهم في الضوضاء في الخلفية في نمط الحيود.
التقنيةطاقة الساقط النموذجية، keV مدى الطاقة المنقولة، eVمعلومات: Compton scattering  100  1,000 Fermi Surface Shape  Resonant IXS (RIXS)  4-20  0.1 - 50  Electronic Structure & Excitations Non-Resonant IXS (NRIXS)  10  0.1 - 10  Electronic Structure & Excitations X-ray Raman scattering 10  50 - 1000  Absorption Edge Structure, Bonding, Valence High resolution IXS  10  0.001 - 0.1  Atomic Dynamics,Phonon Dispersion

 انظر أيضا 
 تشتت ارتدادي
 تقرير البنية الكيميائية
 علم المواد
 المعادن
 علم المعادن
 X-ray generator
 فائق السرعة x-ray

 المراجع 

 وصلات خارجية 
 تعلم علم البلورات
 الاتحاد الدولي لعلم البلورات
 IUCr علم البلورات على الانترنت
 المركز الدولي بيانات حيود (ICDD)
 البريطانية البلورات جمعية
 مقدمة حيود الأشعة السينية في جامعة كاليفورنيا في سانتا باربرا

تصنيف:دراسة البلورات بالأشعة السينية
تصنيف:علم البلورات
تصنيف:علم المواد
تصنيف:فيزياء المواد المكثفة