ATPG

自動測試圖樣產生（）系統是一種工具，產生資料給製造出來後的数字电路作測試使用。

超大型積體電路的测试平台，要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作，因為它的複雜度很高。
針對组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。

参见 
 可测试性设计
 
 特殊應用積體電路
 超高速集成电路

电路