Geçirimli elektron mikroskobu

Geçirimli elektron mikroskobu veya TEM (transmission electron microscope) çok ince bir örnek içinden geçirilen yüksek enerjili elektronların görüntülenmesi prensibine dayanır. Elektronların örnek ile etkileşimleri sonucu oluşan görüntü büyültülür ve floresans ekran, fotoğrafik film katmanı ya da CCD kamera gibi bir sensör üzerine odaklanır.

Max Knoll ve Ernst Ruska tarafından 1930'larda yapılan çalışmaların sonucu ortaya çıkan geçirimli elektron mikroskobu, optik mikroskoba kıyasla çok daha küçük ayrıntıları görmeye olanak tanır.

Kaynakça 
 Ernst Ruska'nın nobel törenindeki konuşması

Dış bağlantılar 
 Brookhaven laboratuvarı TEM bölümü, Long Island, NY, ABD.

Elektron mikroskopları
Bilimsel yöntem
Mikroskopi