材料分析法の一覧

材料分析法の一覧:

μSR - ミュオンスピン回転（muon spin rotation）
χ - 磁化率を参照

A
Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
AAS - 原子吸光分光（Atomic absorption spectroscopy）
AED - オージェ電子回折（Auger electron diffraction）
AES - オージェ電子分光（Auger electron spectroscopy）
AFM - 原子間力顕微鏡（Atomic force microscope|Atomic force microscopy）
AFS - 原子蛍光分光（Atomic fluorescence spectroscopy）
APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Atom probe field ion microscopy）
APS - 出現電位分光（Appearance potential spectroscopy）
ARPES - 角度分解光電子分光（Angle resolved photoemission spectroscopy）
ARUPS - 角度分解紫外光電子分光（Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy）
ATR -（Attenuated total reflectance）

B
BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
BiFC - （Bimolecular fluorescence complementation）
BKD - 後方散乱菊池回折（Backscatter Kikuchi diffraction）、EBSDを参照
BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動（Bioluminescence resonance energy transfer）
BSED - 後方散乱電子回折（Back scattered electron diffraction）、EBSDを参照

C
CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光（Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy）
CARS - （Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy）
CBED - 収束電子回折（Convergent beam electron diffraction）
CCM - Charge collection microscopy（Charge collection microscopy）
CDI - （Coherent diffraction imaging）
CE - キャピラリー電気泳動（Capillary electrophoresis）
CET - クライオ電子線トモグラフィー（Cryo-electron tomography）
CL - カソードルミネッセンス（Cathodoluminescence）
CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡（Confocal laser scanning microscopy）
COSY - COSY（Correlation spectroscopy）
Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡（Cryo-electron microscopy）
Cryo-SEM - （Cryo-scanning electron microscopy）
CV - サイクリックボルタンメトリー（Cyclic voltammetry）

D
DE(T)A - Dielectric thermal analysis
dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果（De Haas–van Alphen effect）
DIC - 微分干渉顕微鏡（Differential interference contrast microscopy）
Dielectric spectroscopy - 
DLS - （Dynamic light scattering）
DLTS - 深い準位過渡分光（Deep-level transient spectroscopy）
DMA - （Dynamic mechanical analysis）
DPI - （Dual polarisation interferometry）
DRS - 拡散反射分光（Diffuse reflection spectroscopy）
DSC - 示差走査熱量測定（Differential scanning calorimetry）
DTA - 示差熱分析（Differential thermal analysis）
DVS - （Dynamic vapour sorption）

E
EBIC - （Electron beam induced current） 、IBIC（ion beam induced charge）も参照
EBS - 弾性（非ラザフォード）後方散乱分光（Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry）、RBSを参照。
EBSD - 電子後方散乱回折（Electron backscatter diffraction）
ECOSY - ECOSY（Exclusive correlation spectroscopy）
ECT - 電気容量トモグラフィ（Electrical capacitance tomography）
EDAX - エネルギー分散型X線分析（Energy-dispersive analysis of x-rays）
EDMR - （Electrically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照
EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光（Energy dispersive X-ray spectroscopy）
EELS - 電子エネルギー損失分光（Electron energy loss spectroscopy）
EFTEM - （Energy filtered transmission electron microscopy）
EID - 電子誘起脱離（Electron induced desorption）
EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ（Electrical impedance tomography）、（Electrical resistivity tomography）
EL - エレクトロルミネセンス（Electroluminescence）
Electron crystallography - 
ELS - （Electrophoretic light scattering）
ENDOR - （Electron nuclear double resonance）
EPMA - 電子線マイクロアナライザ（Electron probe microanalysis）
EPR - 電子常磁性共鳴（Electron paramagnetic resonance）
ERD、ERDA - （Elastic recoil detection）または弾性反跳検出分析（Elastic recoil detection）
ESCA - 化学分析のための電子分光（Electron spectroscopy for chemical analysis）*XPSを参照ESD - 電子刺激脱離（Electron stimulated desorption）ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡（Environmental scanning electron microscopy）ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法（Electrospray ionization mass spectrometry）、エレクトロスプレー質量分析法（Electrospray mass spectrometry）ESR - 電子スピン共鳴ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡（Electrochemical scanning tunneling microscopy）EXAFS - 広域X線吸収微細構造（Extended X-ray absorption fine structure）EXSY - EXSY（Exchange spectroscopy）

FFCS - 蛍光相関分光法（Fluorescence correlation spectroscopy）FCCS - （Fluorescence cross-correlation spectroscopy）FEM - （Field emission microscopy）FIB - 集束イオンビーム（Focused ion beam）FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡（Field ion microscopy-atom probe）Flow birefringence - Fluorescence anisotropy - FLIM - （Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy）Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopyFRET - 蛍光共鳴エネルギー移動（Fluorescence resonance energy transfer）FRS - 前方反跳分光（Forward Recoil Spectrometry）、ERDと同義FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計（Fourier transform ion cyclotron resonance）、フーリエ変換質量分析（Fourier transform mass spectrometry）FTIR - フーリエ変換赤外分光（Fourier transform infrared spectroscopy）

GGC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法（Gas chromatography-mass spectrometry）GD-MS - グロー放電質量分析法（Glow discharge mass spectrometry）GD-OES - グロー放電発光分光（Glow discharge optical spectroscopy）GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱（Grazing incidence small angle X-ray scattering）GIXD - すれすれ入射X線回折（Grazing incidence X-ray diffraction）GIXR - すれすれ入射X線反射率測定（Grazing incidence X-ray reflectivity）GLC - 気液クロマトグラフィー（Gas-liquid chromatography）

HHAADF - 高角環状暗視野像（high angle annular dark-field imaging）HAS - （Helium atom scattering）HPLC - 高速液体クロマトグラフィー（High performance liquid chromatography）HREELS - （High resolution electron energy loss spectroscopy）HREM  - 高分解能電子顕微鏡（High-resolution electron microscopy）HRTEM  - （High-resolution transmission electron microscopy）HI-ERDA  - 重イオン弾性反跳検出分析（Heavy-ion elastic recoil detection analysis）HE-PIXE  - 高エネルギー陽子励起X線放出（High-energy proton induced X-ray emission）

IIAES - イオン励起オージェ電子分光（Ion induced Auger electron spectroscopy）IBA - （Ion beam analysis）IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡（Ion beam induced charge microscopy）ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析（Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy）ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析（Inductively coupled plasma mass spectrometry）Immunofluorescence - ICR - （Ion cyclotron resonance）IETS - （Inelastic electron tunneling spectroscopy）IGA - Intelligent gravimetric analysisIGF - 不活性ガス融解（Inert gas fusion）IIX - イオン励起X線分析（Ion induced X-ray analysis）:粒子線励起X線分析を参照INS - 非弾性中性子散乱（Inelastic neutron scattering）、イオン中和分光（Ion neutralization spectroscopy）IRNDT - （Infrared non-destructive testing of materials）IRS - 赤外分光法（Infrared spectroscopy）ISS - イオン散乱分光（Ion scattering spectroscopy）ITC - 等温滴定カロリメトリー（Isothermal titration calorimetry）IVEM - 中間電圧電子顕微鏡（Intermediate voltage electron microscopy）

LLALLS - （Low-angle laser light scattering）LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析（Liquid chromatography-mass spectrometry）LEED - 低速電子線回折（Low-energy electron diffraction）LEEM - （Low-energy electron microscopy）LEIS - （Low-energy ion scattering）LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光（Laser induced breakdown spectroscopy）LOES - Laser optical emission spectroscopyLS - 光散乱（Light (Raman) scattering）

MMALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法（Matrix-assisted laser desorption/ionization）MBE - 分子線エピタキシー法（Molecular beam epitaxy）MEIS - 中エネルギーイオン散乱（Medium energy ion scattering）MFM - 磁気力顕微鏡（Magnetic force microscopy）MIT - 磁気誘導断層撮影（Magnetic induction tomography）MPM - 多光子蛍光顕微鏡（Multiphoton fluorescence microscopy）MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡（Magnetic resonance force microscopy）MRI - 核磁気共鳴画像法（Magnetic resonance imaging）MS - 質量分析法（Mass spectrometry）MS/MS - （Tandem mass spectrometry）MSGE - Mechanically Stimulated Gas EmissionMossbauer spectroscopy - メスバウアー分光（Mossbauer spectroscopy）MTA - （Microthermal analysis）

NNAA - 中性子放射化分析（Neutron activation analysis）Nanovid microscopy - Nanovid microscopyND - 中性子回折（Neutron diffraction）NDP - （Neutron depth profiling）NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造（Near edge X-ray absorption fine structure）NIS - 中性子非弾性散乱（Nuclear inelastic scattering）NMR - 核磁気共鳴分光法（Nuclear magnetic resonance spectroscopy）NOESY - 核オーバーハウザー効果分光（Nuclear Overhauser effect spectroscopy）NRA - 核反応法（Nuclear reaction analysis）NSOM - 走査型近接場光顕微鏡（Near-field scanning optical microscopy）

OOBIC - （Optical beam induced current）ODNMR - 光検出磁気共鳴（Optically detected magnetic resonance）、ESRやEPRを参照OES - 発光分光（Optical emission spectroscopy）Osmometry - 

PPAS - （Positron annihilation spectroscopy）Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光（Photoacoustic spectroscopy）PAT or PACT - 光音響トモグラフィー（Photoacoustic tomography）または光音響コンピュータトモグラフィー（photoacoustic computed tomography）PAX - Photoemission of adsorbed xenonPC or PCS - 光電流分光（Photocurrent spectroscopy）Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡（Phase contrast microscopy）PhD - 光電子回折（Photoelectron diffraction）PD - 光脱離（Photodesorption）PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopyPDS - 光熱偏向分光法（Photothermal deflection spectroscopy）PED - 光電子回折（Photoelectron diffraction）PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光（parallel electron energy loss spectroscopy）PEEM - 光電子顕微鏡（Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)PES - 光電子分光（Photoelectron spectroscopy）PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法（photon-induced near-field electron microscopy）PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出（Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy）、 核反応法を参照PIXE - 粒子線励起X線分析（Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy）PL - フォトルミネッセンス（Photoluminescence）Porosimetry - ポロシメトリー（Porosimetry）Powder diffraction - （Powder diffraction）PTMS - （Photothermal microspectroscopy）PTS - 光熱変換分光法（Photothermal spectroscopy）

QQENS - （Quasielastic neutron scattering）

RRaman - ラマン分光法（Raman spectroscopy）RAXRS - （Resonant anomalous X-ray scattering）RBS - ラザフォード後方散乱分光（Rutherford backscattering spectrometry）REM - 反射電子顕微鏡（Reflection electron microscopy）RDS - （Reflectance Difference Spectroscopy）RHEED - 反射高速電子線回折（Reflection high energy electron diffraction）RIMS - （Resonance ionization mass spectrometry）RIXS - （Resonant inelastic X-ray scattering）RR spectroscopy - （Resonance Raman spectroscopy）

SSAD - 制限視野回折（Selected area diffraction）SAED - 制限視野電子回折（Selected area electron diffraction）SAM - 走査型オージェ顕微鏡（Scanning Auger microscopy）SANS - （Small angle neutron scattering）SAXS  - X線小角散乱（Small angle X-ray scattering）SCANIIR - 粒子衝撃光放射（Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation）SCEM - （Scanning confocal electron microscopy）SE - 分光エリプソメトリー（Spectroscopic ellipsometry）SEC - サイズ排除クロマトグラフィー（Size exclusion chromatography）SEIRA - 表面増強赤外吸収分光（Surface enhanced infrared absorption spectroscopy）SEM - 走査型電子顕微鏡（Scanning electron microscopy）SERS - 表面増強ラマン散乱（Surface enhanced Raman spectroscopy）SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱（Surface enhanced resonance Raman spectroscopy）SEXAFS - （Surface extended X-ray absorption fine structure）SICM - （Scanning ion-conductance microscopy）SIL - ソリッドイマージョンレンズ（Solid immersion lens）SIM - ソリッドイマージョンミラー（Solid immersion mirror）SIMS - 二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry）SNMS - スパッタ中性粒子質量分析（Sputtered neutral species mass spectrometry）SNOM - 走査型近接場光顕微鏡（Scanning near-field optical microscopy）SPECT - 単一光子放射断層撮影（Single photon emission computed tomography）SPM - 走査型プローブ顕微鏡（Scanning probe microscopy）SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法（Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry）SSNMR - 固体核磁気共鳴（Solid-state nuclear magnetic resonance）Stark spectroscopy - シュタルク分光STED - 誘導放出抑制顕微鏡（Stimulated Emission Depletion microscopy）STEM - 走査型透過電子顕微鏡（Scanning transmission electron microscopy）STM - 走査型トンネル顕微鏡（Scanning tunneling microscopy）STS - 走査型トンネル分光法（Scanning tunneling spectroscopy）SXRD - （Surface X-ray Diffraction）

TTAT or TACT - 熱音響トモグラフィー（Thermoacoustic tomography）または熱音響コンピュータトモグラフィー（thermoacoustic computed tomography）、光音響トモグラフィー(PAT)も参照TEM - 透過型電子顕微鏡（transmission electron microscopy）TGA - 熱重量分析（Thermogravimetric analysis）TIKA - Transmitting ion kinetic analysisTIMS - （Thermal ionization mass spectrometry）TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡（Total internal reflection fluorescence microscopy）TLS - 熱レンズ分光（Photothermal lens spectroscopy）、光熱分光の一種TMA - （Thermomechanical analysis）TOF-MS - 飛行時間型質量分析計（Time-of-flight mass spectrometry）Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡（Two-photon excitation microscopy）TXRF - 全反射蛍光X線（Total reflection X-ray fluorescence）

UUltrasound attenuation spectroscopy - Ultrasonic testing - 超音波探傷検査（Ultrasonic testing）UPS - 紫外光電子分光法（UV-photoelectron spectroscopy）USANS - 超小角中性子散乱（Ultra small-angle neutron scattering）USAXS - 超小角X線散乱（Ultra small-angle X-ray scatteringUV-Vis - 紫外可視分光法（Ultraviolet-visible spectroscopy)

VVEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopyVoltammetry - ボルタンメトリー

WWAXS  - （Wide angle X-ray scattering）WDXまたはWDS - 波長分散型X線分光（Wavelength dispersive X-ray spectroscopy）

XXAES - X線励起オージェ電子分光（X-ray induced Auger electron spectroscopy）XANES - （X-ray Absorption Near Edge Structure）XAS - X線吸収分光法（X-ray absorption spectroscopy）X-CTR - 散乱（X-ray crystal truncation rod scattering）X-ray crystallography - X線結晶構造解析（X-ray crystallography）XDS - X線散漫散乱（X-ray diffuse scattering）XPEEM - X線光電子顕微鏡（X-ray photoelectron emission microscopy）XPS - X線光電子分光（X-ray photoelectron spectroscopy）XRD - X線回折（X-ray diffraction）XRES - X線共鳴交換散乱（X-ray resonant exchange scattering）XRF - 蛍光X線分析（X-ray fluorescence analysis）XRR - （X-ray reflectivity）XRS - （X-ray Raman scattering）XSW''' - 法（X-ray standing wave technique）

参考文献

物質科学
分析化学
科学関連の一覧