آزمایش ویفر

آزمایش ویفر  مرحله‌ای است که در طول ساخت افزاره‌های نیم‌رسانا انجام می‌شود. در طی این مرحله، قبل از ارسال ویفر برای آمایش دای، تمام مدارهای مجتمع مجزا که روی ویفر وجود دارند با اعمال الگوهای آزمایشی ویژه برروی آنها از نظر نقص عملکردی آزموده می‌شوند. آزمایش ویفر توسط قطعه‌ای از تجهیزات آزمایشی به نام کاونده ویفر انجام می‌شود. فرایند آزمایش ویفر را می‌توان به چند طریق ذکر کرد: آزمایش نهایی ویفر (WFT)، جورکردن دای الکترونیکی (EDS) و پروب مدار (CP) احتمالاً رایج‌ترین آنها هستند.
کاونده ویفر همچنین هرگونه مدارات آزمون را روی خطوط نشانه‌گذاری  ویفر اعمال می‌کند. برخی از شرکت‌ها بیشتر اطلاعات خود را در مورد عملکرد قطعه از این ساختارهای آزمون خط نشانه‌گذاری به‌دست می‌آورند.

جستارهای وابسته 
 سرشت‌نمایی چسباندن ویفر
 آزمایش ویفر بدون‌تماس

منابع

کتابشناسی - فهرست کتب 
 مبانی آزمایش نیم‌رسانای دیجیتال (نسخه ۴٫۰) توسط گای ای پری (محصول مارپیچی - ۱ مارس ۲۰۰۳)
 اصول آزمایش شبکه نیم‌رسانا (آزمایش و اندازه‌گیری) (جلد گالینگور) اثر امیر افشار، ۱۳۷۴
 آزمایش توان-محدود مدارهای VLSI. راهنمای استاندارد آزمون IEEE 1149.4 (مرزها در آزمایش الکترونیکی) توسط نیکولا نیکولیچی و بشیر ام. الهاشمی (نسخه کیندل – ۲۸ فوریه ۲۰۰۳)
 حافظه‌های نیم‌رسانا: فناوری، آزمایش و قابلیت اطمینان توسط آشوک کی شارما (جلد گالینگور – ۹ سپتامبر ۲۰۰۲)

فناوری ساخت ادوات نیم‌رسانا