طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری است که کاربرد گسترده‌ای در تحقیقات و صنعت دارد. امکان آنالیز کمی و کیفی عنصری (از سدیم تا اورانیوم) با این روش وجود دارد. به علت سهولت نسبی آماده‌سازی نمونه، هزینهٔ آنالیزی مناسب، پایداری و کاربری آسان، انجام آنالیز کمی و کیفی، این روش یکی از روش‌های اصلی برای آنالیز عناصر اصلی (Major) و جرئی (Trace) نمونه‌های معدنی است.

این پدیده به‌طور گسترده برای تجزیه و تحلیل عناصر و آنالیز شیمیایی به ویژه در بررسی فلزات، شیشه، سرامیک، مصالح ساختمانی و همچنین تحقیق در زمینهٔ ژئوشیمی، علوم پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و اشیاء هنری مانند نقاشی و نقاشی دیواری استفاده می‌شود.

جستارهای وابسته 

 شیمی تجزیه
 طیف گسیلی
 فهرست روش‌های آنالیز مواد
 اثر موسباور

منابع

پیوند به بیرون 
 

پرتوهای ایکس
طیف‌بینی پرتو ایکس
طیف‌بینی
فلورسانس
فنون علمی
فیزیک اتمی
فیزیک مولکولی