Namangan davlat universiteti noorganik kimyo kafedrasi analitik kimyo fanidan - bet 6

|
Namangan davlat universiteti noorganik kimyo kafedrasi analitik kimyo fanidan
|
bet | 6/7 | Sana | 14.05.2024 | Hajmi | 204,5 Kb. | | #231700 |
Bog'liq ATOM SPEKTROSKOPIK ANALIZ USULLARII = a׳ ∙ a ″ ∙ C = a ∙ C
Tajribada kuzatiluvchi bog’liqliklarni Lomakin tenglamasi yaxshi ifodalaydi:
I = a ∙ CV
Bunda nur yutish koeffitsenti – a kontsentratsiyaga bog’liq bo’ladi.
Miqdoriy spektral analiz amaliyotida, odatda, alohida chiziqning intensivligidan emas, balki turli elementlarga mansub bo’lgan ikkita spektr chiziqlari intensivliklari nisbatidan foydalaniladi. Shunday qilib, elementning kontsentratsiyasi bilan bog’liq bo’lgan xossa tarzida aniqlanuvchi element chizig’i intensivligining ayni spektrdagi boshqa element chizig’ining intensivligiga nisbatidan foydalaniladi.
Aniqlanuvchi element chizig’i odatda analitik chiziq deb ataladi va uning intensivligi Ia bilan belgilanadi, yoki uni aralashma chizig’i deyilib, intensivligi Iar bilan belgilanadi. Ikkinchi chiziq odatda taqqoslash chizig’i deyiladi va u intensivliklar nisbati faqat aniqlanuvchi moda kontsentratsiyasiga bog’liq, lekin qo’zg’atish sharoitiga va spektrni qayd qilishga bog’liq bo’lmaydigan qilib tanlanadi. Ba‘zan tekshiriluvchi namunaga ichki standart, ya‘ni chizig’idan taqqoslash chizig’i tarzida foydalaniladigan element kiritiladi. Tarkibida biror elementning miqdori ko’p bo’ladigan namunani analiz qilishda taqqoslash chizig’i sifatida odatda shu elementning chizig’i tanlanadi. Masalan, po’latlarni analiz qilishda taqqoslash chizig’i sifatida temir spektrining chizig’idan foydalaniladi. Taqkoslash chizig’ining intensivligi It bilan, agar chiziq negizga mansub bo’lsa uni negiz chizig’i deb atab Uneg bilan belgilanadi.
Bu holda analitik chiziq va negiz chizig’i uchun Lomakin tenglamasi quyidagicha bo’ladi:
Inam = a׳ ∙ Cβnam Ineg = ∙ a ″ ∙ CVneg
yoki uluarning nisbatlari:
Inam a׳ ∙ Cβnam a׳ ∙ Cβnam
——— = ———— = ————— = ∙ Cβnam = a ∙ Cβ
Ineg a ″ ∙ CVneg a ″ ∙ CV׳nam
Bu tenglama intensivliklar nisbati ham elementning namunadagi kontsentratsiyasiga mutanosibligini ko’rsatadi. Bu miqdoriy spektral analiz usullarining asosiy tenglamasidir.
Moddaning kontsentratsiyasi bilan spektr chiziqlarining intensivligi orasidagi bog’liqlik amalda etalonlar yordamida topiladi. Kimyoviy tarkiblari aniq ma‘lum bo’lgan moddalar va materiallarning namunalari etalon deyiladi. Etalonlarga quyidagi qat‘iy talablar qoyiladi: 1) tarkibi, tayyorlanishi, ishlanishi, shakli va boshqa ko’rsatkichlari boyicha etalonlar ayni xom ashyo yoki mahsulotlarning tekshirilayotgan namunalariga to’la mos kelishi kerak; 2) etalonlar o’zining kimyoviy tarkibi va tuzilishi boyicha mutlaqo bir jinsli bo’lishi lozim; 3) etalonlarning kimyoviy tarkibi turli analitik usullarda va turlicha laboratoriyalarda bir – biriga daxlsiz ravishda tekshirilgan bo’lishi kerak.
Tarkibidagi aniqlanuvchi elementning miqdori turlicha bo’lgan etalonlar to’plami bo’lishi zarur. Etalonlardagi elementlar kontsentratsiyalarining oralig’i analiz qilinayotgan namunalardagi kontsentratsiyalar oralig’iga teng yoki undan ozgina ortiqroq bo’lishi kerak.
Fotografik usul. Hozirgi kunda qayd qilishning fotografik usuli eng ko’p qo’llanuvchi usullardandir. U emission miqdoriy analiz uchun zarur bo’lgan qator afzalliklarga ega: 1) ko’p sonli elementlarni bir vaqtning o’zida aniqlash mumkin; 2) butun ekspozitsiya davomida spektr chiziqlari intensivliklarini o’rtachalashtirish mumkin; 3) analizning juda sezgir bo’lishi ta‘minlanadi. Bulardan tashqari, fotografik qayd etishda bir tekshiriluvchi ob‘ektdan ikkinchisiga o’tishda asbobni qaytadan moslash mutlaqo talab etilmaydi.
Darajalash grafiklari. Tekshiriluvchi elementning kontsentratsiyasi va spektr chiziqlarining intensivliklari yoki ularning qorayishi orasidagi tajriba yo’li bilan topilgan bog’liqlikni turli usullar bilan ifodalash mumkin. Ulardan eng qulayi grafik usuldir. Abstsissalar o’qiga kontsentratsiya logarifmini, ordinatalar o’qiga esa intensivlik logarifmini qoyib chiziqli grafik olinadi, uning tenglamasi quyidagicha:
Lg I = lg a + b lg C
Yutish spektrlari boyicha miqdoriy molekulyar analiz tekshirilayotgan namunaning optik zichligini tekshiriluvchi modda kontsentratsiyasi va yutuvchi qatlam qalinligi bilan bog’lovchi Buger – Lambert – Ber qonunidan foydalanishga asoslangan. Qonunning matematik ifodasiga molyar yutilish koeffitsenti kiradi, u mazkur to’lqin uzunligidagi nurning moddaga yutilish darajasini tavsiflaydi.
Tekshiriluvchi moda har bir yutish polosasining maksimumida molyar yutish koeffitsenti muayyan qiymatga ega bo’ladi:
A Aλ
S = -------- yoki S = ------
εI ελ ∙ι
λ indeksi A va Ξ larning qiymati to’lqin uzunligi λ bo’lgan monoxromatik nurlanishga daxldorligini ko’rsatadi. Tenglamadan ko’rinib turibdiki, o’lchashga to’g’ri keladigan to’lqin uzunligi, optik zichlik, kyuvetaning qalinligi va rangli eritmaning kontsentratsiyasi fotometrik aniqlashning asosiy parametrlari hisoblanadi. Fotometrik reaktsiyaning borish sharoitlari, rangli eritmalarning kontsentratsiyasi va barqarorligi bilan bog’liq kimyoviy omillar ham analizga muhim ta‘sir ko’rsatadi.
Analiz sharoiti tekshiriluvchi sistemaning xossalariga va ishlatiluvchi fotometrik xususiyatlariga qarab tanlanadi.
Fotometrik aniqlashning optimal sharoiti. Fotometrik aniqlashlar eritmada analitik shakl to’la hosil bo’lishini va Buger – Lambert – Ber qonunidan cheklanmaslikni yoki minimal cheklanishni ta‘minlaydigan optimal sharoitlarda bajariladi. Ulardan eng muhimlari: eritma rN ining optimal qiymati, reagentning yetarli darajadagi mo’l bo’lishi, analitik (fotometrik) reaktsiyaning tanlovchanligi va yutilish uchun eng qulay sharoitlar tanlanganligidir.
rN ning optimal qiymatini tanlash uchun tekshiriluvchi moda va reagent kontsentratsiyalari o’zgarmas bo’lganida muayyan to’lqin uzunligida rN ning eritma rangining intensivligiga ta‘siri o’rganib chiqiladi. Bunda reagent rangsiz bo’lganida yutilish eng katta bo’ladigan sohaga hisob qilinadi. Rangli eritmalarda optimum analitik shakl bilan boshlang’ich reagentlarga yutilishlar orasidagi tafovut eng kata bo’ladigan holga mos keladi. Eng qulay sharoitda yutish maksimal bo’lganida rN ning kichik o’zgarishlari eritmaning nur yutishiga amalda ta‘sir etmaydi. Fotometrlanuvchi eritmaning rN qiymati tegishli bufer eritmalardan yoki yetarli miqdordagi kislota yoki ishqorlardan foydalanib bir xilda saqlab turiladi.
Qo’shiladigan analitik reagentning miqdori ma‘lum kontsentratsiya oralig’idagi aniqlanuvchi moddaning hammasini analitik shaklga o’tqazish uchun yetarli bo’lishi kerak. Reagentning optimal kontsentratsiyasi aniqlanuvchi moddaning analitik shaklga to’liq o’tkazilishiga mos keladi. Reagentni yana qo’shish reaktsiya mahsuloti unumini oshirmaydi va eritmaning yorug’lik yutishini ko’paytirmaydi.
Fotometrlanuvchi eritma tekshiriluvchi kontsentratsiyalarning barcha oralig’ida chin eritmaligicha qolishi kerak. Agar bu shartni bajarib bo’lmasa pastroq kontsentratsiyalar ishlatish yoki qattiq faza hosil bo’lishiga halaqit beruvchi himoyalovchi kolloidlardan foydalanish zarur. Ba‘zan butun fotometrik aniqlash sxemasini o’zgartirishga to’g’ri keladi.
Atom – emission alangali fotometriya metodi emission spektral analizning variantlaridan biri hisoblanadi va uning asosida analiz qilinadigan modda tarkibiga kiruvchi atomlarning nur chiqarish spektrlari yotadi.
Analiz qilinadigan modda biror bir qulay erituvchi yordamida eritiladi, o’lchov kolbasiga solingan va toza erituvchi yordamida o’lchov kolbasining belgi chizig’igacha suyultiriladi. Hosil bo’lgan eritma purkagich (ijektor) yordamida doimiy ravishda ya‘ni uzluksiz va bir maromda gaz gorelkasi alangasiga purkaladi. Bunda gaz gorelkasining alangasi ham doimiy ravishda bir maromda yonib turishi shart. Alanganing yuqori temperaturasi ta‘sirida erituvchi bir pasda bug’lanib ketadi va tuzning mayda zarrachalari qoladi va bu zarrachalar atomlargacha parchalanadi. Bunda atomlarning bir qismi yuqori kvant energetik holatigacha qo’zg’aladi. Qo’zg’algan atomlar normal holatga o’tib har bir elementning o’zi uchun alohida xarakterli ma‘lum to’lqin uzunligiga ega bo’lgan nurni chiqaradi.
Monoxromator yoki rug’lik filtri yordamida umumiy yorug’lik oqimidan aniqlanadigan element uchun xarakterli ma‘lum to’lqin uzunligiga ega bo’lgan nurlar ajraladi. Ajratilgan monoxromatik nurning intensivligi fotoelement yoki fotoko’paytirgich yordamida o’lchanadi. Alanganing yonish rejimi, eritmaning alangaga purkalish tezligi va uning disperstsilanish darajasi o’zgarmas bo’lganda bu monoxromatik nurning intensivligi va eritma tarkibidagi aniqlanadigan element kontsentratsiyasi orasida proportsionallikka yaqin bo’lgan, ayrim kontsentratsiyalar oralig’ida chiziqli funktsional bog’lanish mavjud. Bu bog’lanish tegishli elementni miqdoriy aniqlash uchun asos bo’ladi.
Alanganing tashqi (harorati bir oz past bo’lgan) qatlamida nur chiqarish spektrining qisman yutilishi, aniqlanadigan element atomlari ayrim qismining ionlash yoki atomlanishiga berilmaydigan birikmaga bog’lanish tufayli nurlanish intensivligi va eritmadagi tegishli element kontsentratsiyasi orasidagi proportsional bog’lanish buzilishi mumkin.
Bu hodisalarning topish aniqligiga halaqit beruvchi ta‘siri maxsus ishlab chiqilgan usullar yordamida minimumga yetkaziladi.
Alangali fotometriya metodi ekspress metodi bo’lib, bu metod bilan 50 ga yaqin elementni (hozirgi zamon alangali fotometrik asboblari yordamida 100 dan ortiq elementlarni juda tez aniqlash mumkin. Bunday asbob hozirgi kunda Shurtan gaz kimyo majmuasining markaziy laboratoriyasida mavjud) juda tez aniqlashga imkon beradi. Metodning sezgirligi katta bo’lib, u element tabiatiga hamda aralashma tarkibiga bog’liq.
Agar yoqilg’i sifatida tabiiy gaz yoki propan va butan aralashmasi, oksidlovchi gaz sifatida siqilgan havo ishlatilsa alanganing harorati 1800 – 20000 S (gorelkaning yonish sharoitiga ko’ra) atrofida bo’ladi. Bunday haroratda faqat ishqoriy va ishqoriy yer metallari atomlari qo’zg’algan holatiga o’tadi. Qolgan elementlar esa o’zlaridan nur chiqarmaydi va shu bilan birga oson qo’zg’algan holatga o’tadigan elementlarga (ishqoriy va ishqoriy yer metallari) halaqit bermaydi. Shuning uchun alangali fotometriya ishqoriy va ishqoriy yer metallarni xilma – xil ob‘ektlarda aniqlashda alohida ahamiyat kasb etadi. U geologiyada, geoximiyada, biologiyada, meditsinada, metallurgiyada va kimyo sanoatida keng ko’lamda qo’llaniladi.
Agar qiyinroq qo’zg’aluvchan elementlarni aniqlash talab qilinsa u holda yuqori haroratli alanga qo’llaniladi, buning uchun yoqilg’i sifatida atsetilen yoki vodorod gazlari, oksidlovchi gaz sifatida esa toza kislorod ishlatiladi.
Bunda atomlari asosan, faqat normal holatga yaqin bo’lgan kvant sathi holatigacha qo’zg’algan holatga o’tadi va shuning uchun spektral chiziqlar soni elektr yoyi kondensatsiyalangan elektr uchquni yordamida qo’zg’algan holatiga o’tkazilgadagiga qaraganda juda ko’p marta kamdir. Demak alangali fotometrik analishzda begona elementlarning halaqit berish ehtimolligi klassik spektral analiz uslubi bilan xuddi shunday aniqlashlarga qaraganda juda kamdir. Bundan tashqari alangali qo’zg’alishda elektr yoyi yoki elektr uchquni yordamida qo’zg’alishga qaraganda hamma yig’indi nurlanishlardan kerakli spektral chiziqlarni ajratish imkoniyati ancha yuqori va o’ng’ayroq.
Aniqlanadigan modda tarkibiga kiruvchi qandaydir element kontsentratsiyasini aniqlash uchun fotoelementzanjiridagi o’lchangan tok kuchi qiymati boyicha uchta har xil usuldan foydalaniladi:
1) bir yoki bir necha standart bilan solishtirish;
2) darajalangan grafik usuli;
3) standart qo’shimcha qo’shish usuli.
Birinchi, eng oddiy va shu bilan birga aniqligi kamroq usul boyicha, aniqlanadigan elementning bitta standart eritmasi tayyorlanadi. Bu standart eritmada mumkin qadar hamma begona elementlar tarkibi va miqdori taxminan analiz qilinadigan eritma tarkibi bilan bir xil qilib olinadi. Dastlab standart eritma Vst alangaga purkalib fototok kuchi o’lchanadi so’ngra esa xuddi shunday sharoitda analiz qilinadigan eritma fototok kuchi o’lchanadi. Aniqlanadigan element kontsentratsiyasi quyidagi formula orqali hisoblanadi:
Sx = Sst Ix/Ist
Bunda Sst – aniqlanadigan elementning standart eritmadagi kontsentratsiyasi;
Sx – analiz qilinadigan elementni eritmadagi kontsentratsiyasi;
Ist – standart eritma fototok kuchi;
Ix – analiz qilinadigan eritma fototok kuchi;
Agar Ist – ning topilgan qiymati Ix – ning qiymatidan katta farq qilsa, u holda topish aniqligini oshirish uchun kontsentratsiyasi Sx – ga yaqin bo’lgan ikinchi standart eritma tayyorlanadi va hamma o’lchashlar takrorlanadi va yana qayta Sx hisoblanadi va bunday standart eritmalar bir necha bor tayyorlanishi ham mumkin, bu bilan ushbu uslubning aniqlik darajasini oshirish mumkin.
Bu usulni qo’llashning asosiy sharti shuki, bunda eritmadagi aniqlanadigan elementkontsentratsiyasi bilan fotometrlanadigan nurning intensivligi orasidagi proportsionallikka amal qilishdir. Kamdan – kam bunday holatlarda bunga erishish mumkin. Buning uchun hamma begona elementlarning kontsentratsiyalari juda kichik va yetarli darajada bo’lishi, hamda halaqit beruvchi hamma faktorlar to’la bartaraf qilingan bo’lishi kerak.
Solishtirish usulining ikkinchi varianti nurning intensivligi va elementning kontsenratsiyasi orasida proportsional bog’lanish bo’lmay, balki kontsentratsiyaning katta intervalidagi, kontrol eritmadagi aniqlanadigan element kontsentratsiyasini o’z ichiga oladigan faqat chiziqli bog’lanish bo’lgandagina qo’llaniladi. Bu variantda ikkita standart eritma tayyorlanadi. Bu standart eritmalardan birining kontsentratsiyasi aniqlanadigan elementning analiz qiladigan eritmadagi kontsentratsiyasidan katta, ikkinchi esa aksincha kichik bo’ladi va begona aralashmalar kontsentratsiyasi taxminan analiz qilinadigan eritmalarnikidek bo’lishi kerak. Bir xil sharoitda ikkala standart va aniqlanadigan eritma fotometrlanadi. Analiz qilinadigan eritmadagi aniqlanadigan element kontsentratsiyasi quyidagi formula orqali hisoblanadi:
Ix – I1
Sx = S1 ------------- (S2 – S1)
I2 – I1
Bunda:
S1 – aniqlanadigan elementning birinchi standart eritmadagi kontsentratsiyasi;
S2 – aniqlanadigan elementning ikkinchi standart eritmadagi kontsentratsiyasi.
Sx – aniqlanadigan elementning analiz qilinadigan eritmadagi kontsentratsiyasi.
I1 – aniqlanadigan elementning birinchi standart eritmasini fotometrlangandagi galvanometr ko’rsatkichi;
I2 – aniqlanadigan elementning ikkinchi standart eritmasini fotometrlangandagi galvanometr ko’rsatkichi;
Ix – aniqlanadigan elementning analiz qilinayotgan eritmasini fotometrlangandagi galvanometr ko’rsatkichi;
Alangali fotometrik analiz metodi amaliyotida aniqlanadigan element kontsentratsiyasini aniqlashda ko’pincha darajalangan grafik usuli qo’llaniladi, chunki uni nurning intensivligi bilan kontsentratsiya orasidagi bog’lanishning hamma turiga qo’llash mumkin. Bu usulning mohiyati quyidagidan iborat: katta kontsentratsiyalar intervalini o’z ichiga oladigan va bir – biridan yetarlicha farq qiladigan aniqlanadigan elementning 5 – 10 ta standart eritmalarini tayyorlab orlinadi va ketma – ket fotometrlanadi. Olingan natidalar (nurning intensivligi galvanometr ko’rsatkichi orqali olinadi) va standart elementning aniq kontsentratsiyalari asosida darajalangan grafik chiziladi. So’ngra xuddi shunday sharoitda analiz qilinadigan eritma fotometrlanadida olingan natijalarni to’g’ridan – to’g’ri grafikka qoyib aniqlanadigan element kontsentratsiyasi aniqlanadi.
Standart qo’shimcha qo’shish usuli analiz qilinayotgan elementeritmasini, so’ngra esa aniqlanadigan elementning kontsentratsiyasini analiz qilinadigan eritmadagi kontsentratsiyasidan ma‘lum qiymatga katta bo’lgan eritmasini alangaga purkalganda chiqaradigan nurning intensivligini o’lchashga asoslangan. Bunda eritmadagi begona aralashmalar kontsentratsiyasi xuddi analiz qilinadigan eritmanikiga mumkin qadar yaqin bo’lishi kerak. Ayniqsa bu usulni analiz qilinadigan eritmada begona elektrolitlar kontsentratsiyasi yuqori bo’lganda va komponentlar tarkibi qilinadigan eritmanikiga yaqin bo’lgan standart eritmalar tayyorlash mumkin bo’lmagan hollarda tavsiya qilinadi. Ammo, shu bilan birga, qo’shimcha qo’shish usulini xuddi solishtirish usulidagi singari nurning intensivligi va eritmadagi aniqlanadigan element kontsentratsiyalar orasida proportsional bog’lanish bo’lgandagina qo’llash mumkin.
Analiz qilinadigan elementni bu usul yordamida katta aniqlikda topish uchun analiz qilinadigan eritmani bir xil miqdorda qo’shimcha qo’shish bilan emas, balki bir necha xil miqdordagi qo’shimcha qo’shish bilan fotometrlash kerak. Bu usul bilan analizni quyidagicha bajarish metodikasi tavsiya qilinadi.
Hajmi 100 ml – li uchta o’lchov kolbasiga pipetka yordamida analiz qilinadigan eritmadan bir xil alikvot qism olinadi. So’ngra ikkinchi va uchinchi kolbalarga ma‘lum hajmlardagi aniqlanadigan elementning standarti qo’shiladi, kolbalardagi eritmalar belgisigacha distillangan suv bilan suyultiriladi va aralashtiriladi. Ketma – ket har uch kolbalardagi eritmalarni navbatma – navbat alangaga purkab fotoelementdagi tokni o’lchash bilan fotometrlanadi.
Agar purkaladigan eritmadagi aniqlanadigan element kontsentratsiyasi va fototok kuchi orasida proportsional bog’lanish bo’lsa, turli alikvot qism standart qo’shimchalar qo’shilgan analiz qilinadigan eritmalarni fotometrlash natijalari asosida topilgan Sx qiymatlari bir – biriga juda yaqin yoki nazariy jihatdan teng bo’ladi.
Analiz natijalarini hisoblash quyidagi formula orqali amalga oshiriladi:
Vcm Ccm
Sch = ----------------------- -----
x ((I2 1x I1)cm – 1) Vx
bunda:
Vx – analiz qilinadigan eritmaning har birp kolbaga olingan alikvot hajmi, ml;
Vst – analiz qilinadigan eritma alikvot qismiga qo’shilgan aniqlanadigan element standart eritmasining hajmi, ml;
Sst – aniqlanadigan elementning standart eritmadagi kontsentratsiyasi, mg/ml yoki mkg/ml;
I1 – standart qo’shimcha qo’shilmagan eritma alangaga purkalgandagi kalvanometr ko’rsatkichi;
I2 – standart qo’shimcha qo’shilgan eritmalar alangaga purkalgandagi galvanometr ko’rsatkichi.
Alangali fotometriyada ishlatiladigan asboblar.
Alangali fotometriyada ikki xil turdagi asboblar ishlatiladi:
1) Alangali fotometrlar;
2) Alangali spektrofotometrlar.
Alangali fotometrlarda alanganing nur chiqarish spektrlaridagi kerakli spektr chiziqlar yoki polosalarni absorbtsion yoki interferentsion yorug’lik filtrlari, alangali spektrofotometrlarda esa difraktsion monoxromatorlar yordamida ajratiladi. Fotometrlar asosan oson qo’zg’aluvchan holatga o’tadigan ishqoriy – yer elementlarining atomlarini aniqlashda ishlatiladi. Alangali fotometrlarning aniqlash doirasi juda katta emas, ammo tuzilishi va ishlatilishi juda oddiy va oson, hamda narxi arzondir. Alangali spektrofotometrlarning esa aniqlash darajasi juda katta, D.I.Mendeleevning kimyoviy davriy sistemasidagi qariyb hamma elementlarni aniqlash mumkin.
Alangali fotometrlar tuzilishi jihatidan bir – biridan turlichaligi bilan farq qiladi.
Biroq tuzilishi turlicha bo’lishidan qat‘iy nazar ular to’rtta asosiy quyidagi qismlardan iborat:
1) gorelka purkagichi;
2) alangadan chiqayotgan yo’naltirilgan nurlar dastasini hosil qilish imkonini beruvchi va undan kerakli to’lqin uzunlikdagi monoxromatik nurni ajratuvchi optik qism;
3) fotoelement ko’paytirgichi;
4) galvanometr.
Emission spektral analiz usullari gazsimon holatdagi moddalarning atomlari yoki ionlari tarqatadigan nurning to’lqin uzunligi, intensivligi va boshqa xossalarini o’lchashga asoslangan. Modda nur tarqatishi uchun unga qo’shimcha energiya berish talab qilinadi. Bunda tekshiriluvchi moddaning atomlari va molekulalari qug’atilgan holatga o’tadi. Ular dastlabki holatiga o’tganda ortiqcha energiyani nur tarzida chiqaradi. Qattiq jismlar yoki suyuqliklar tomonidan tarqatiluvchi nurning xususiyati odatda moddalarning kimyoviy tarkibiga deyarli bog’liq bo’lmaydi va shuning uchun analizda unga asoslanib xulosa chiqarib bo’lmaydi. Gazlarning nur tarqatishi esa butunlay boshqacha yo’sinda va tekshiriluvchi namunaning tarkibiga bog’liq bo’ladi. Shu sababli emission analizda moddani qo’zg’atishdan oldin uni bug’ holatiga o’tkazish kerak. Namunani yorug’lik manbaiga kiritib bug’latiladi va qo’zg’atiladi. Yorug’lik manbalari sifatida yuqori temperaturali alanga yoki turlicha xil elektr zaryadlardan: elektr yoy, uchqun va b. foydalaniladi.
Yorug’lik manbalaridagi yuqori temperatura (minglab va o’nminglab gradus) ta‘sirida ko’pchilik moddalarning molekulalari atomlarga parchalanadi. Shuning uchun emission usullar asosan atom analizi uchun va kamdan – kam hollarda molekula analizi uchun xizmat qiladi. Yorug’lik manbaining nurlanishi namunada ishtirok etuvchi barcha elementlar atomlarining nurlanishidan yig’iladi. Analiz uchun har bir elementning nurlanishini alohida o’rganish kerak. Bunga optik spektral asboblar vositasida erishiladi. Ularda to’lqin uzunligi to’g’risidagi yorug’lik nurlari bir – biridan fazoda ajratiladi. Yorug’lik manbaining to’lqin uzunliklari boyicha ajratilgan nurlanishi spektr deb ataladi.
Spektral apparatlarda asbobga tushuvchi yorug’likning bir to’lqin uzunlikdagi tebranishlari bitta chiziqni hosil qiladi. Yorug’lik manbaining nurlanishida turli uzunlikdagi nechta to’lqin ishtirok etgan bo’lsa, spektral asbobda shuncha chiziq hosil bo’ladi.
Emission spektral analiz atom va molekulalarning nurlanish spektrlari boyicha moddaning kimyoviy tarkibini sifat va miqdoriy jihatdan aniqlash usulidir.
Atomlarning nurlanish spektrlari maxsus optik asboblarda, tekshiriluvchi namunalarni gaz alangasi, elektr yoyi va yuqori voltli uchqunda yuqori temperaturalarda yondirib kuzatiladi. Namunalar yondirilganda tekshiriluvchi moddalar bug’lanadi va atom hamda ionlarga dissotsilanadi. Bunda ular qo’zg’atilgan holatda bo’lib, ma‘lum to’lqin uzunligidagi o’ziga xos chiziqlarga ega bo’lgan nurlanish spektrlarini hosil qiladi. Namunalar spektridagi bu chiziqlarni o’rganish ularning sifat tarkiblarini aniqlash imkonini beradi
Emission spektral analizning turlari. Emission spektral analiz quyidagi turlarga bo’linadi:
|
| |