材料分析法の一覧

材料分析法の一覧:

μSR - ミュオンスピン回転
χ - 磁化率を参照

1. A
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Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
AAS - 原子吸光分光
AED - オージェ電子回折
AES - オージェ電子分光
AFM - 原子間力顕微鏡
AFS - 原子蛍光分光
APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡
APS - 出現電位分光
ARPES - 角度分解光電子分光
ARUPS - 角度分解紫外光電子分光
ATR -減衰全反射

2. B
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BET - BET表面積測定 
BiFC - 二分子蛍光補完
BKD - 後方散乱菊池回折、EBSDを参照
BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動
BSED - 後方散乱電子回折、EBSDを参照

3. C
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CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光
CARS - コヒーレント反ストークスラマン分光
CBED - 収束電子回折
CCM - Charge collection microscopy
CDI - コヒーレント回折イメージング
CE - キャピラリー電気泳動
CET - クライオ電子線トモグラフィー
CL - カソードルミネッセンス
CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡
COSY - COSY
Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡
Cryo-SEM - クライオ走査型電子顕微鏡
CV - サイクリックボルタンメトリー

4. D
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DEA - Dielectric thermal analysis
dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果
DIC - 微分干渉顕微鏡
Dielectric spectroscopy -
DLS - 動的光散乱
DLTS - 深い準位過渡分光
DMA - 動的機械分析
DPI - 二面偏波式干渉計
DRS - 拡散反射分光
DSC - 示差走査熱量測定
DTA - 示差熱分析
DVS - 動的蒸気収着

5. E
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EBIC - 電子線誘起電流 、IBICも参照
EBS - 弾性後方散乱分光、RBSを参照。
EBSD - 電子後方散乱回折
ECOSY - ECOSY
ECT - 電気容量トモグラフィ
EDAX - エネルギー分散型X線分析
EDMR - 電気的検出磁気共鳴、ESRやEPRを参照
EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光
EELS - 電子エネルギー損失分光
EFTEM - エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡
EID - 電子誘起脱離
EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ、電気抵抗トモグラフィー
EL - エレクトロルミネセンス
Electron crystallography -
ELS - 電気泳動光散乱
ENDOR - 電子核二重共鳴
EPMA - 電子線マイクロアナライザ
EPR - 電子常磁性共鳴
ERD、ERDA - 弾性反跳検出または弾性反跳検出分析
ESCA - 化学分析のための電子分光*XPSを参照
ESD - 電子刺激脱離
ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡
ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法、エレクトロスプレー質量分析法
ESR - 電子スピン共鳴
ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡
EXAFS - 広域X線吸収微細構造
EXSY - EXSY

6. F
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FCS - 蛍光相関分光法
FCCS - 蛍光相互相関分光
FEM - 電界放出顕微鏡
FIB - 集束イオンビーム
FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡
Flow birefringence -
Fluorescence anisotropy -
FLIM - 蛍光寿命イメージング顕微鏡
Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡
FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy
FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動
FRS - 前方反跳分光、ERDと同義
FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、フーリエ変換質量分析
FTIR - フーリエ変換赤外分光

7. G
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GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法
GD-MS - グロー放電質量分析法
GD-OES - グロー放電発光分光
GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱
GIXD - すれすれ入射X線回折
GIXR - すれすれ入射X線反射率測定
GLC - 気液クロマトグラフィー

8. H
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HAADF - 高角環状暗視野像
HAS - ヘリウム原子線散乱
HPLC - 高速液体クロマトグラフィー
HREELS - 高分解能電子エネルギー損失分光
HREM  - 高分解能電子顕微鏡
HRTEM  - 高分解能透過型電子顕微鏡
HI-ERDA  - 重イオン弾性反跳検出分析
HE-PIXE  - 高エネルギー陽子励起X線放出

9. I
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IAES - イオン励起オージェ電子分光
IBA - イオンビーム分析
IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡
ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析
ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析
Immunofluorescence -
ICR - イオンサイクロトロン共鳴
IETS - 非弾性電子トンネル分光
IGA - Intelligent gravimetric analysis
IGF - 不活性ガス融解
IIX - イオン励起X線分析:粒子線励起X線分析を参照
INS - 非弾性中性子散乱、イオン中和分光
IRNDT - 赤外線非破壊検査
IRS - 赤外分光法
ISS - イオン散乱分光
ITC - 等温滴定カロリメトリー
IVEM - 中間電圧電子顕微鏡

10. L
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LALLS - 低角レーザー光散乱
LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析
LEED - 低速電子線回折
LEEM - 低エネルギー電子顕微鏡
LEIS - 低エネルギーイオン散乱
LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光
LOES - Laser optical emission spectroscopy
LS - 光散乱

11. M
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MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法
MBE - 分子線エピタキシー法
MEIS - 中エネルギーイオン散乱
MFM - 磁気力顕微鏡
MIT - 磁気誘導断層撮影
MPM - 多光子蛍光顕微鏡
MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡
MRI - 核磁気共鳴画像法
MS - 質量分析法
MS/MS - タンデム質量分析法
MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission
Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光
MTA - マイクロ熱分析法

12. N
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NAA - 中性子放射化分析
Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
ND - 中性子回折
NDP - 中性子深さ方向分析
NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造
NIS - 中性子非弾性散乱
NMR - 核磁気共鳴分光法
NOESY - 核オーバーハウザー効果分光
NRA - 核反応法
NSOM - 走査型近接場光顕微鏡

13. O
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OBIC - 光ビーム誘起電流
ODNMR - 光検出磁気共鳴、ESRやEPRを参照
OES - 発光分光
Osmometry -

14. P
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PAS - 陽電子消滅分光
Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光
PAT or PACT - 光音響トモグラフィーまたは光音響コンピュータトモグラフィー
PAX - Photoemission of adsorbed xenon
PC or PCS - 光電流分光
Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡
PhD - 光電子回折
PD - 光脱離
PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
PDS - 光熱偏向分光法
PED - 光電子回折
PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光
PEEM - 光電子顕微鏡