English: 23/ 00 Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G 01 N 21/00 or G 01 N 22/00, e.g. X-rays, neutrons (G 01 N 3/00 to G 01 N 17/00 take precedence; measuring stress in general G 01 L 1/00; measurement of nuclear or X-radiation G 01 T; introducing objects or materials into nuclear reactors, or removing them therefrom, or storing them after treatment therein G 21 C; construction or operation of X-ray apparatus or circuits therefor H 05 G) 23/ 02 . by transmitting the radiation through the material 23/ 04 . . and forming a picture (electron microscopes H 01 J) 23/ 05 . . . using neutrons [3] 23/ 06 . . and measuring the absorption 23/ 08 . . . using electric detection means 23/ 083 . . . . the radiation being X-rays (G 01 N 23/10 to G 01 N 23/18 take precedence) [5] 23/ 087 . . . . . using polyenergetic X-rays [5] 23/ 09 . . . . the radiation being neutrons [3] 23/ 10 . . . . the material being confined in a container (G 01 N 23/09 takes precedence) [3] 23/ 12 . . . . the material being a flowing fluid or a flowing granular solid (G 01 N 23/09 takes precedence) [3] 23/ 14 . . . . . specially adapted for controlling or monitoring operations or for signalling 23/ 16 . . . . the material being a moving sheet (G 01 N 23/09, G 01 N 23/18 take precedence) [3] 23/ 18 . . . . Investigating the presence of flaws or inclusions (G 01 N 23/09 takes precedence) [3,5] 23/ 20 . by using diffraction of the radiation, e.g. for investigating crystal structure; by using reflection of the radiation 23/ 201 . . by measuring small-angle scattering [2] 23/ 202 . . . using neutrons [3] 23/ 203 . . by measuring back scattering [2] 23/ 204 . . . using neutrons [3] 23/ 205 . . by means of diffraction cameras (G 01 N 23/201 takes precedence) [2] 23/ 206 . . . the radiation being neutrons [3] 23/ 207 . . by means of diffractometry using detectors, e.g. using an analysing crystal or a crystal to be analysed in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions (G 01 N 23/201 takes precedence; spectrometry of detected or measured radiation intensity G 01 T 1/36) [2] 23/ 22 . by measuring secondary emission [2] 23/ 221 . . by activation analysis [2] 23/ 222 . . . using neutrons [3] 23/ 223 . . by irradiating the sample with X-rays and by measuring X-ray fluorescence [2] 23/ 225 . . using electron or ion microprobe (electron or ion-beam tubes for microprobe analysis H 01 J 37/00) [2] 23/ 227 . . by measuring photoelectric effect, e.g. Auger electrons [2]
French: 23/ 00 Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G 01 N 21/00 ou G 01 N 22/00, p.ex. rayons X, neutrons (G 01 N 3/00 à G 01 N 17/00 ont priorité; mesure des contraintes en général G 01 L 1/00; mesure des radiations nucléaires ou des rayons X G 01 T; introduction ou retrait d'objets ou de matériaux dans les réacteurs nucléaires, ou leur emmagasinage après traitement dans les réacteurs G 21 C; appareils à rayons X ou circuits pour ces appareils H 05 G) 23/ 02 . en transmettant la radiation à travers le matériau 23/ 04 . . et formant une image (microscopes électroniques H 01 J) 23/ 05 . . . en utilisant des neutrons [3] 23/ 06 . . et mesurant l'absorption 23/ 08 . . . Utilisation des moyens de détection électriques 23/ 083 . . . . le rayonnement consistant en rayons X (G 01 N 23/10 à G 01 N 23/18 ont priorité) [5] 23/ 087 . . . . . utilisant des rayons X polyénergétiques [5] 23/ 09 . . . . le rayonnement consistant en neutrons [3] 23/ 10 . . . . le matériau étant confiné dans un récipient (G 01 N 23/09 a priorité) [3] 23/ 12 . . . . le matériau étant un fluide ou un solide granulé en écoulement (G 01 N 23/09 a priorité) [3] 23/ 14 . . . . . spécialement adapté pour des opérations de réglage ou de contrôle ou pour la signalisation 23/ 16 . . . . le matériau étant une feuille en mouvement (G 01 N 23/09, G 01 N 23/18 ont priorité) [3] 23/ 18 . . . . Recherche de la présence de criques ou d'inclusions (G 01 N 23/09 a priorité) [3,5] 23/ 20 . en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation 23/ 201 . . en mesurant la diffusion sous un petit angle [2] 23/ 202 . . . en utilisant des neutrons [3] 23/ 203 . . en mesurant la rétrodiffusion [2] 23/ 204 . . . en utilisant des neutrons [3] 23/ 205 . . au moyen de caméras de diffraction (G 01 N 23/201 a priorité) [2] 23/ 206 . . . le rayonnement consistant en neutrons [3] 23/ 207 . . par diffractométrie en utilisant des détecteurs, p.ex. en utilisant un cristal d'analyse ou un cristal à analyser en position centrale avec un ou plusieurs détecteurs mobiles disposés circonférentiellement (G 01 N 23/201 a priorité; spectrométrie de l'intensité du rayonnement détecté ou mesuré G 01 T 1/36) [2] 23/ 22 . en mesurant l'émission secondaire [2] 23/ 221 . . utilisant l'analyse par activation [2] 23/ 222 . . . en utilisant des neutrons [3] 23/ 223 . . en irradiant l'échantillon avec des rayons X et en mesurant la fluorescence X [2] 23/ 225 . . en utilisant une microsonde électronique ou ionique (tubes à faisceau électronique ou ionique pour l'analyse par microsonde H 01 J 37/00) [2] 23/ 227 . . en mesurant l'effet photo-électrique, p.ex. électrons Auger [2]