English: 31/ 00 Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (measuring leads, measuring probes G 01 R 1/06; indicating electrical condition of switchgear or protective devices H 01 H 71/04, H 01 H 73/12, H 02 B 11/10, H 02 H 3/04; testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H 01 L 21/66; testing line transmission systems H 04 B 3/46) 31/ 01 . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station (G 01 R 31/18 takes precedence) [6] 31/ 02 . Testing of electric apparatus, lines, or components for short-circuits, discontinuities, leakage, or incorrect line connection 31/ 04 . . Testing connections, e.g. of plugs, of non-disconnectable joints 31/ 06 . . Testing of electric windings, e.g. for polarity (measuring number of turns, transformation ratio, or coupling factor G 01 R 29/20) 31/ 07 . . Testing of fuses (means for indicating condition of fuse structurally associated with the fuse H 01 H 85/30) [6] 31/ 08 . Locating faults in cables, transmission lines, or networks (emergency protective circuit arrangements H 02 H) 31/ 10 . . by increasing destruction at fault, e.g. burning-in by using a pulse generator operating a special programme 31/ 11 . . using pulse-reflection methods 31/ 12 . Testing dielectric strength or breakdown voltage 31/ 14 . . Circuits therefor 31/ 16 . . Construction of testing vessels; Electrodes therefor 31/ 18 . . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production 31/ 20 . . Preparation of articles or specimens to facilitate testing 31/ 24 . Testing of discharge tubes (during manufacture H 01 J 9/42) [2] 31/ 25 . . Testing of vacuum tubes [2] 31/ 26 . Testing of individual semiconductor devices (measurement of impurity content of materials G 01 N) [2] 31/ 265 . . Contactless testing [6] 31/ 27 . . Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects due to surrounding elements [6] 31/ 28 . Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing for short-circuits, discontinuities, leakage or incorrect line connection G 01 R 31/02; checking computers G 06 F 11/00; checking static stores for correct operation G 11 C 29/00) 31/ 30 . . Marginal testing, e.g. by varying supply voltage (marginal testing of computers G 06) [2] 31/ 302 . . Contactless testing (non contact-making probes G 01 R 1/07) [5] 31/ 303 . . . of integrated circuits (G 01 R 31/305 to G 01 R 31/315 take precedence) [6] 31/ 304 . . . of printed or hybrid circuits (G 01 R 31/305 to G 01 R 31/315 take precedence) [6] 31/ 305 . . . using electron beams [5] 31/ 306 . . . . of printed or hybrid circuits [6] 31/ 307 . . . . of integrated circuits [6] 31/ 308 . . . using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation [5] 31/ 309 . . . . of printed or hybrid circuits [6] 31/ 311 . . . . of integrated circuits [6] 31/ 312 . . . by capacitive methods [5] 31/ 315 . . . by inductive methods [5] 31/ 316 . . Testing of analog circuits [6] 31/ 3161 . . . Marginal testing [6] 31/ 3163 . . . Functional testing [6] 31/ 3167 . . Testing of combined analog and digital circuits [6] 31/ 317 . . Testing of digital circuits [6] 31/ 3173 . . . Marginal testing [6] 31/ 3177 . . . Testing of logic operation, e.g. by logic analysers [6] 31/ 318 (transferred to G 01 R 31/3177, covered by G 01 R 31/28) 31/ 3181 . . . Functional testing (G 01 R 31/3177 takes precedence) [6] 31/ 3183 . . . . Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences [6] 31/ 3185 . . . . Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning [6] 31/ 3187 . . . . Built-in tests [6] 31/ 319 . . . . Tester hardware, i.e. output processing circuits [6] 31/ 3193 . . . . . with comparison between actual response and known fault-free response [6] 31/ 32 (transferred to G 01 R 31/333) 31/ 327 . Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers (structural association with switches H 01 H) [6] 31/ 333 . . Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers (means for detecting the presence of an arc or discharge in switching devices H 01 H 9/50, H 01 H 33/26) [6] 31/ 34 . Testing dynamo-electric machines (testing electric windings G 01 R 31/06; methods or apparatus specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining or repairing dynamo-electric machines H 02 K 15/00) [3] 31/ 36 . Apparatus for testing electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or charge condition (accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating condition H 01 M 10/48; circuit arrangements for charging, or depolarising batteries or for supplying loads from batteries H 02 J 7/00) [3] 31/ 38 . Testing of sparking-plugs (testing non-electrical properties G 01 M 19/02) [6] 31/ 40 . Testing power supplies [6] 31/ 42 . . AC power supplies [6] 31/ 44 . Testing lamps (discharge lamps G 01 R 31/24; structurally associated with light source circuit arrangements for detecting lamp failure H 05 B 37/03) [6] G01R 13/00 - G01R 21/14 G01R 33/00 - G01R 35/06
French: 31/ 00 Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs (conducteurs de mesure, sondes de mesure G 01 R 1/06; indication de la condition électrique des dispositifs de commutation ou de protection H 01 H 71/04, H 01 H 73/12, H 02 B 11/10, H 02 H 3/04; essai ou mesure de dispositifs semi-conducteurs ou à l'état solide durant la fabrication H 01 L 21/66; essai des systèmes à transmission par lignes H 04 B 3/46) 31/ 01 . Passage successif d'articles similaires aux essais, p.ex. essai "tout ou rien" d'une production de série; Essai d'objets en certains points lorsqu'ils passent à travers un poste d'essai (G 01 R 31/18 a priorité) [6] 31/ 02 . Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes 31/ 04 . . Essai de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant, de raccords non déconnectables 31/ 06 . . Essai de bobinage électrique, p.ex. pour déterminer la polarité (mesure du nombre de spires, du rapport de transformation ou du facteur de couplage G 01 R 29/20) 31/ 07 . . Essai de fusibles (moyens pour indiquer l'état du fusible structurellement associés au fusible H 01 H 85/30) [6] 31/ 08 . Localisation de défauts dans les câbles, les lignes de transmission ou les réseaux (circuits de protection de sécurité H 02 H) 31/ 10 . . en augmentant la destruction à l'endroit du dérangement, p.ex. combustion au moyen d'un générateur d'impulsions appliquant un programme spécial 31/ 11 . . en utilisant des méthodes de réflexion d'impulsion 31/ 12 . Essai de la rigidité diélectrique ou de la tension disruptive 31/ 14 . . Circuits à cet effet 31/ 16 . . Construction de récipients d'essais; Electrodes pour de tels récipients 31/ 18 . . Passage aux essais à la file d'articles similaires, p.ex. essais de contrôle d'une production de série 31/ 20 . . Préparation des articles ou des spécimens pour faciliter l'essai 31/ 24 . Essai de tubes à décharge (pendant la fabrication H 01 J 9/42) [2] 31/ 25 . . Essai de tubes à vide [2] 31/ 26 . Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs (mesure de la teneur en impuretés de matériaux G 01 N) [2] 31/ 265 . . Essais sans contact [6] 31/ 27 . . Essai de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p.ex. compensation des effets dus aux éléments environnants [6] 31/ 28 . Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux (essai pour déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes G 01 R 31/02; essai des calculateurs G 06 F 11/00; vérification du fonctionnement correct des mémoires statiques G 11 C 29/00) 31/ 30 . . Essais marginaux, p.ex. en faisant varier la tension d'alimentation (essais marginaux de calculateurs G 06) [2] 31/ 302 . . Essais sans contact (sondes n'établissant pas de contact G 01 R 1/07) [5] 31/ 303 . . . de circuits intégrés (G 01 R 31/305 à G 01 R 31/315 ont priorité) [6] 31/ 304 . . . de circuits imprimés ou hybrides (G 01 R 31/305 à G 01 R 31/315 ont priorité) [6] 31/ 305 . . . utilisant des faisceaux électroniques [5] 31/ 306 . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] 31/ 307 . . . . de circuits intégrés [6] 31/ 308 . . . utilisant des rayonnements électromagnétiques non ionisants, p.ex. des rayonnements optiques [5] 31/ 309 . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] 31/ 311 . . . . de circuits intégrés [6] 31/ 312 . . . par des méthodes capacitives [5] 31/ 315 . . . par des méthodes inductives [5] 31/ 316 . . Essai de circuits analogiques [6] 31/ 3161 . . . Essais marginaux [6] 31/ 3163 . . . Essais fonctionnels [6] 31/ 3167 . . Essai de circuits analogiques et numériques combinés [6] 31/ 317 . . Essai de circuits numériques [6] 31/ 3173 . . . Essais marginaux [6] 31/ 3177 . . . Essais de fonctionnement logique, p.ex. au moyen d'analyseurs logiques [6] 31/ 318 (transféré en G 01 R 31/3177, couvert par G 01 R 31/28) 31/ 3181 . . . Essais fonctionnels (G 01 R 31/3177 a priorité) [6] 31/ 3183 . . . . Génération de signaux d'entrée de test, p.ex. vecteurs, formes ou séquences d'essai [6] 31/ 3185 . . . . Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage [6] 31/ 3187 . . . . Tests intégrés [6] 31/ 319 . . . . Matériel d'essai, c.à d. circuits de traitement de signaux de sortie [6] 31/ 3193 . . . . . avec une comparaison entre la réponse effective et la réponse connue en l'absence d'erreur [6] 31/ 32 (transféré en G 01 R 31/333) 31/ 327 . Essai d'interrupteurs de circuit, d'interrupteurs ou de disjoncteurs (association structurelle avec des interrupteurs H 01 H) [6] 31/ 333 . . Essai du pouvoir de coupure des disjoncteurs à haute tension (moyens pour détecter la présence d'un arc ou d'une décharge dans les dispositifs de commutation H 01 H 9/50, H 01 H 33/26) [6] 31/ 34 . Essai de machines dynamoélectriques (essai de bobinage électrique G 01 R 31/06; procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication, l'assemblage, l'entretien ou la réparation des machines dynamoélectriques H 02 K 15/00) [3] 31/ 36 . Appareils pour l'essai de l'état électrique d'accumulateurs ou de batteries, p.ex. de la capacité ou des conditions de charge (accumulateurs combinés avec des dispositifs de mesure, d'essai ou d'indication d'état H 01 M 10/48; circuits pour la charge ou la dépolarisation des batteries ou pour alimenter des charges par des batteries H 02 J 7/00) [3] 31/ 38 . Essai de bougies d'allumage (essai de leurs propriétés non électriques G 01 M 19/02) [6] 31/ 40 . Essai d'alimentations [6] 31/ 42 . . d'alimentations en courant alternatif [6] 31/ 44 . Essai de lampes (lampes à décharge G 01 R 31/24; dispositions structurellement associées aux circuits de la source de lumière pour la détection de défauts des lampes H 05 B 37/03) [6] G01R 13/00 - G01R 21/14 G01R 33/00 - G01R 35/06