English: G 01 R 29 / 00 29/ 02 Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups 19/00 to 27/00 . Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time, duration (of amplitude 19/00; of repetition rate 23/00; of phase difference of two cyclic pulse trains 25/00; monitoring pattern of pulse trains H 03 K 5/19) [3] . . Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values [3] . . . giving an indication of the number of times this occurs [3] . Measuring form factor, i.e. quotient of root-meansquare value and arithmetic mean of instantaneous value; Measuring peak factor, i.e. quotient of maximum value and root-mean-square value . Measuring depth of modulation . Measuring electromagnetic field characteristics . . Radiation diagrams of aerials . Measuring electrostatic fields . . Measuring field distribution . Measuring asymmetry of polyphase networks . Indicating phase sequence; Indicating synchronism . Measuring number of turns; Measuring transformation ratio or coupling factor of windings (calibrating instrument transformers 35/02) . Measuring piezo-electric properties . Arrangements for measuring quantities of charge (electrostatic instruments 5/28; indicating presence of current 19/15; electrolytic meters, calorimetric meters, for measuring time integral of electric current 22/02, 22/04) [2] . Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio [2] Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (measuring leads, measuring probes 1/06; indicating electrical condition of switchgear or protective devices H 01 H 71/04, 73/12, H 02 B 11/10, H 02 H 3/04; testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H 01 L 21/66; testing line transmission systems H 04 B 3/46) . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/nogo" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station (31/18 takes precedence) [6] . Testing of electric apparatus, lines, or components for short-circuits, discontinuities, leakage, or incorrect line connection . . Testing connections, e.g. of plugs, of nondisconnectable joints . . Testing of electric windings, e.g. for polarity (measuring number of turns, transformation ratio, or coupling factor 29/20) 31/ 07 . . Testing of fuses (means for indicating condition of fuse structurally associated with the fuse H 01 H 85/30) [6] . Locating faults in cables, transmission lines, or networks (emergency protective circuit arrangements H 02 H) . . by increasing destruction at fault, e.g. burning-in by using a pulse generator operating a special programme . . using pulse-reflection methods . Testing dielectric strength or breakdown voltage . . Circuits therefor . . Construction of testing vessels; Electrodes therefor . . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production . . Preparation of articles or specimens to facilitate testing . Testing of discharge tubes (during manufacture H 01 J 9/42) [2] . . Testing of vacuum tubes [2] . Testing of individual semiconductor devices (measurement of impurity content of materials G 01 N) [2] . . Contactless testing [6] . . Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects due to surrounding elements [6] . Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing for short-circuits, discontinuities, leakage or incorrect line connection 31/02; checking computers G 06 F 11/00; checking static stores for correct operation G 11 C 29/00) . . Marginal testing, e.g. by varying supply voltage (marginal testing of computers G 06) [2] . . Contactless testing (non contact-making probes 1/07) [5] . . . of integrated circuits (31/305 to 31/315 take precedence) [6] . . . of printed or hybrid circuits (31/305 to 31/315 take precedence) [6] . . . using electron beams [5] . . . . of printed or hybrid circuits [6] . . . . of integrated circuits [6] . . . using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation [5] . . . . of printed or hybrid circuits [6] . . . . of integrated circuits [6] . . . by capacitive methods [5] . . . by inductive methods [5] . . Testing of analog circuits [6] . . . Marginal testing [6] . . . Functional testing [6] . . Testing of combined analog and digital circuits [6] . . Testing of digital circuits [6] . . . Marginal testing [6] . . . Testing of logic operation, e.g. by logic analysers [6] . . . Functional testing (31/3177 takes precedence) [6]
French: G 01 R 29/ 00 Dispositions pour procéder aux mesures ou à l’indication de grandeurs électriques n’entrant pas dans les groupes 19/00 à 27/00 . Mesure des caractéristiques d’impulsions individuelles, p.ex. de la pente de l’impulsion, du temps de montée, de la durée (de l’amplitude 19/00; du taux de répétition 23/00; de la différence de phase entre deux trains d’impulsions cycliques 25/00; contrôle de la configuration de trains d’impulsions H 03 K 5/19) [3] . . Indication de ce qu’une caractéristique d’impulsion est, soit supérieure ou inférieure à une valeur prédéterminée, soit à l’intérieur ou à l’extérieur d’une plage de valeurs prédéterminée [3] . . . indiquant le nombre de fois que le phénomène se produit [3] . Mesure du facteur de forme, c. à d. du quotient de la valeur moyenne quadratique et de la moyenne arithmétique de la valeur instantanée; Mesure de facteur de crête, c. à d. du quotient de la valeur maximale et de la valeur moyenne quadratique . Mesure de la profondeur de modulation . Mesure des caractéristiques du champ électromagnétique . . Diagrammes de rayonnement d’antennes . Mesure du champ électrostatique . . Mesure de la distribution du champ . Mesure de l’asymétrie des réseaux polyphasés . Indication de la séquence des phases; Indication du synchronisme . Mesure du nombre de spires; Mesure du rapport de transformation ou du facteur de couplage de bobinages (étalonnage de transformateurs pour appareils 35/02) . Mesure de propriétés piézo-électriques . Dispositions pour mesurer des quantités de charge (instruments électrostatiques 5/28; indication de la présence d’un courant 19/15; compteurs électrolytiques, compteurs calorimétriques, pour la mesure l’intégrale dans le temps d’un courant électrique 22/02, 22/04) [2] . Mesure du coefficient de bruit; Mesure de rapport signal-bruit [2] Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l’essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs (conducteurs de mesure, sondes de mesure 1/06; indication de la condition électrique des dispositifs de commutation ou de protection H 01 H 71/04, 73/12, H 02 B 11/10, H 02 H 3/04; essai ou mesure de dispositifs semi-conducteurs ou à l’état solide durant la fabrication H 01 L 21/66; essai des systèmes à transmission par lignes H 04 B 3/46) . Passage successif d’articles similaires aux essais, p.ex. essai "tout ou rien" d’une production de série; Essai d’objets en certains points lorsqu’ils passent à travers un poste d’essai (31/18 a priorité) [6] . Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courtscircuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes . . Essai de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant, de raccords non déconnectables . . Essai de bobinage électrique, p.ex. pour déterminer la polarité (mesure du nombre de spires, du rapport de transformation ou du facteur de couplage 29/20) 31/ 07 . . Essai de fusibles (moyens pour indiquer l’état du fusible structurellement associés au fusible H 01 H 85/30) [6] . Localisation de défauts dans les câbles, les lignes de transmission ou les réseaux (circuits de protection de sécurité H 02 H) . . en augmentant la destruction à l’endroit du dérangement, p.ex. combustion au moyen d’un générateur d’impulsions appliquant un programme spécial . . en utilisant des méthodes de réflexion d’impulsion . Essai de la rigidité diélectrique ou de la tension disruptive . . Circuits à cet effet . . Construction de récipients d’essais; Electrodes pour de tels récipients . . Passage aux essais à la file d’articles similaires, p.ex. essais de contrôle d’une production de série . . Préparation des articles ou des spécimens pour faciliter l’essai . Essai de tubes à décharge (pendant la fabrication H 01 J 9/42) [2] . . Essai de tubes à vide [2] . Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs (mesure de la teneur en impuretés de matériaux G 01 N) [2] . . Essais sans contact [6] . . Essai de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p.ex. compensation des effets dus aux éléments environnants [6] . Essai de circuits électroniques, p.ex. à l’aide d’un traceur de signaux (essai pour déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes 31/02; essai des calculateurs G 06 F 11/00; vérification du fonctionnement correct des mémoires statiques G 11 C 29/00) . . Essais marginaux, p.ex. en faisant varier la tension d’alimentation (essais marginaux de calculateurs G 06) [2] . . Essais sans contact (sondes n’établissant pas de contact 1/07) [5] . . . de circuits intégrés (31/305 à 31/315 ont priorité) [6] . . . de circuits imprimés ou hybrides (31/305 à 31/315 ont priorité) [6] . . . utilisant des faisceaux électroniques [5] . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] . . . . de circuits intégrés [6] . . . utilisant des rayonnements électromagnétiques non ionisants, p.ex. des rayonnements optiques [5] . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] . . . . de circuits intégrés [6] . . . par des méthodes capacitives [5] . . . par des méthodes inductives [5] . . Essai de circuits analogiques [6] . . . Essais marginaux [6] . . . Essais fonctionnels [6] . . Essai de circuits analogiques et numériques combinés [6] . . Essai de circuits numériques [6] . . . Essais marginaux [6] . . . Essais de fonctionnement logique, p.ex. au moyen d’analyseurs logiques [6] . . . Essais fonctionnels (31/3177 a priorité) [6]