English: G01N 21 / 75 . Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated (systems in which material is burnt in a flame or plasma G01N 21/72, G01N 21/73) [3] . . Chemiluminescence; Bioluminescence [3] . . by observing the effect on a chemical indicator [3] . . . producing a change of colour [3] . . . . Photometric titration [3] . . . . Indicating pH value [3] . . . . Indicating humidity [3] . . . producing a precipitate or turbidity [3] . . . . Turbidimetric titration [3] . Systems specially adapted for particular applications [3] . . Investigating moving fluids or granular solids [3] . . Investigating moving sheets (G01N 21/89 takes precedence) [3] . . Investigating jewels (G01N 21/88 takes precedence) [3] . . Investigating the presence of flaws, defects or contamination [3] . . . in moving material, e.g. paper, textiles (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 take precedence) [3,7] . . . . characterised by the flaw, defect or object feature examined [7] . . . . . Pinholes [7] . . . . . Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws [7] . . . . . Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood [7] . . . in a container or its contents (G01N 21/91 takes precedence) [3] . . . using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink [3] . . . Detection standards; Calibrating [7] . . . Investigating contamination, e.g. dust (G01N 21/85 takes precedence) [7] . . . characterised by the material or shape of the object to be examined (G01N 21/89 to G01N 21/91, G01N 21/94 take precedence) [7] . . . . Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires (G01N 21/956 takes precedence) [7] . . . . Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores [7] . . . . Inspecting patterns on the surface of objects (contactless testing of electronic circuits G01R 31/308; testing currency G07D) [7] . . . . Inspecting transparent materials [7] Investigating or analysing materials by the use of microwaves (G01N 3/00 to G01N 17/00, G01N 24/00 take precedence) [3] . Investigating the presence of flaws [3] . Investigating moisture content [3] Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N 21/00 or G01N 22/00, e.g. X-rays, neutrons (G01N 3/00 to G01N 17/00 take precedence; measuring stress in general G01L 1/00; measurement of nuclear or X-radiation G01T; introducing objects or materials into nuclear reactors, or removing them therefrom, or storing them after treatment therein G21C; construction or operation of X-ray apparatus or circuits therefor H05G) . by transmitting the radiation through the material 23 / 04 23 / 05 23 / 06 23 / 08 23 / 083 23 / 087 23 / 09 23 / 10 23 / 12 . . . . . . . . . . . . . . and forming a picture (electron microscopes H01J) . using neutrons [3] and measuring the absorption . using electric detection means . . the radiation being X-rays (G01N 23/10 to G01N 23/18 take precedence) [5] . . . . using polyenergetic X-rays [5] . . . the radiation being neutrons [3] . . . the material being confined in a container (G01N 23/09 takes precedence) [3] . . . the material being a flowing fluid or a flowing granular solid (G01N 23/09 takes precedence) [3] . . . . specially adapted for controlling or monitoring operations or for signalling . . . the material being a moving sheet (G01N 23/09, G01N 23/18 take precedence) [3] . . . Investigating the presence of flaws or inclusions (G01N 23/09 takes precedence) [3,5] by using diffraction of the radiation, e.g. for investigating crystal structure; by using reflection of the radiation . by measuring small-angle scattering [2] . . using neutrons [3] . by measuring back scattering [2] . . using neutrons [3] . by means of diffraction cameras (G01N 23/201 takes precedence) [2] . . the radiation being neutrons [3] . by means of diffractometry using detectors, e.g. using an analysing crystal or a crystal to be analysed in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions (G01N 23/201 takes precedence; spectrometry of detected or measured radiation intensity G01T 1/36) [2] by measuring secondary emission [2] . by activation analysis [2] . . using neutrons [3] . by irradiating the sample with X-rays and by measuring X-ray fluorescence [2] . using electron or ion microprobe (electron or ionbeam tubes for microprobe analysis H01J 37/00) [2] . by measuring photoelectric effect, e.g. Auger electrons [2]
French: G01N 21 / 77 21 / 78 21 / 79 21 / 80 21 / 81 21 / 82 21 / 83 21 / 84 21 / 85 21 / 86 21 / 87 21 / 88 21 / 89 . . . . . . . . . . . . . . en observant l’effet sur un réactif chimique [3] . . produisant un changement de couleur [3] . . . Titrage photométrique [3] . . . Indication de la valeur du pH [3] . . . Indication de l’humidité [3] . . produisant un précipité ou une turbidité [3] . . . Titrage turbidimétrique [3] Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières [3] . Analyse des fluides ou solides granulés en mouvement [3] . Analyse de feuilles mobiles (G01N 21/89 a priorité) [3] . Analyse des pierres précieuses (G01N 21/88 a priorité) [3] . Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures [3] . . dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles (G01N 21/90, G01N 21/91, G01N 21/94 ont priorité) [3,7] . . . caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l’objet examiné [7] . . . . Trous d’épingle [7] . . . . Défauts optiques dans ou sur des matériaux transparents, p.ex. distorsions, criques de surface [7] . . . . Irrégularités des surfaces texturées ou structurées, p.ex. des textiles, du bois [7] . . dans un récipient ou dans son contenu (G01N 21/91 a priorité) [3] . . en utilisant la pénétration de colorants, p.ex. de l’encre fluorescente [3] . . Étalons de détection; Calibrage [7] . . Recherche de souillures, p.ex. de poussières (G01N 21/85 a priorité) [7] . . caractérisée par le matériau ou la forme de l’objet à analyser (G01N 21/89 à G01N 21/91, G01N 21/94 ont priorité) [7] . . . Inspection de la surface extérieure de corps cylindriques ou de fils (G01N 21/956 a priorité) [7] . . . Inspection de la surface intérieure de corps creux, p.ex. d’alésages [7] . . . Inspection de motifs sur la surface d’objets (essais sans contact de circuits électroniques G01R 31/308; vérification de pièces de monnaie ou du papier-monnaie G07D) [7] . . . Inspection de matériaux transparents [7] 23 / 05 23 / 06 23 / 08 23 / 083 23 / 087 23 / 09 23 / 10 23 / 12 . . . . . . . . . en utilisant des neutrons [3] et mesurant l’absorption . Utilisation des moyens de détection électriques . . le rayonnement consistant en rayons X (G01N 23/10 à G01N 23/18 ont priorité) [5] . . . . utilisant des rayons X polyénergétiques [5] . . . le rayonnement consistant en neutrons [3] . . . le matériau étant confiné dans un récipient (G01N 23/09 a priorité) [3] . . . le matériau étant un fluide ou un solide granulé en écoulement (G01N 23/09 a priorité) [3] . . . . spécialement adapté pour des opérations de réglage ou de contrôle ou pour la signalisation . . . le matériau étant une feuille en mouvement (G01N 23/09, G01N 23/18 ont priorité) [3] . . . Recherche de la présence de criques ou d’inclusions (G01N 23/09 a priorité) [3,5] en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation . en mesurant la diffusion sous un petit angle [2] . . en utilisant des neutrons [3] . en mesurant la rétrodiffusion [2] . . en utilisant des neutrons [3] . au moyen de caméras de diffraction (G01N 23/201 a priorité) [2] . . le rayonnement consistant en neutrons [3] . par diffractométrie en utilisant des détecteurs, p.ex. en utilisant un cristal d’analyse ou un cristal à analyser en position centrale avec un ou plusieurs détecteurs mobiles disposés circonférentiellement (G01N 23/201 a priorité; spectrométrie de l’intensité du rayonnement détecté ou mesuré G01T 1/36) [2] en mesurant l’émission secondaire [2] . utilisant l’analyse par activation [2] . . en utilisant des neutrons [3] . en irradiant l’échantillon avec des rayons X et en mesurant la fluorescence X [2] . en utilisant une microsonde électronique ou ionique (tubes à faisceau électronique ou ionique pour l’analyse par microsonde H01J 37/00) [2] . en mesurant l’effet photo-électrique, p.ex. électrons Auger [2] . . . .