English: 31/ 00 Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere (measuring leads, measuring probes G01R 1/06; indicating electrical condition of switchgear or protective devices H01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04; testing or measuring semiconductors or solid state devices during manufacture H01L 21/66; testing line transmission systems H04B 3/46) 31/ 01 . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station (G01R 31/18 takes precedence) [6] 31/ 02 . Testing of electric apparatus, lines, or components for short-circuits, discontinuities, leakage, or incorrect line connection 31/ 04 . . Testing connections, e.g. of plugs, of non-disconnectable joints 31/ 06 . . Testing of electric windings, e.g. for polarity (measuring number of turns, transformation ratio, or coupling factor G01R 29/20) 31/ 07 . . Testing of fuses (means for indicating condition of fuse structurally associated with the fuse H01H 85/30) [6] 31/ 08 . Locating faults in cables, transmission lines, or networks (emergency protective circuit arrangements H02H) 31/ 10 . . by increasing destruction at fault, e.g. burning-in by using a pulse generator operating a special programme 31/ 11 . . using pulse-reflection methods 31/ 12 . Testing dielectric strength or breakdown voltage 31/ 14 . . Circuits therefor 31/ 16 . . Construction of testing vessels; Electrodes therefor 31/ 18 . . Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production 31/ 20 . . Preparation of articles or specimens to facilitate testing 31/ 24 . Testing of discharge tubes (during manufacture H01J 9/42) [2] 31/ 25 . . Testing of vacuum tubes [2] 31/ 26 . Testing of individual semiconductor devices (measurement of impurity content of materials G01N) [2] 31/ 265 . . Contactless testing [6] 31/ 27 . . Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects due to surrounding elements [6] 31/ 28 . Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer (testing for short-circuits, discontinuities, leakage or incorrect line connection G01R 31/02; checking computers G06F 11/00; checking static stores for correct operation G11C 29/00) 31/ 30 . . Marginal testing, e.g. by varying supply voltage (marginal testing of computers G06) [2] 31/ 302 . . Contactless testing (non contact-making probes G01R 1/07) [5] 31/ 303 . . . of integrated circuits (G01R 31/305 to G01R 31/315 take precedence) [6] 31/ 304 . . . of printed or hybrid circuits (G01R 31/305 to G01R 31/315 take precedence) [6] 31/ 305 . . . using electron beams [5] 31/ 306 . . . . of printed or hybrid circuits [6] 31/ 307 . . . . of integrated circuits [6] 31/ 308 . . . using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation [5] 31/ 309 . . . . of printed or hybrid circuits [6] 31/ 311 . . . . of integrated circuits [6] 31/ 312 . . . by capacitive methods [5] 31/ 315 . . . by inductive methods [5] 31/ 316 . . Testing of analog circuits [6] 31/ 3161 . . . Marginal testing [6] 31/ 3163 . . . Functional testing [6] 31/ 3167 . . Testing of combined analog and digital circuits [6] 31/ 317 . . Testing of digital circuits [6] 31/ 3173 . . . Marginal testing [6] 31/ 3177 . . . Testing of logic operation, e.g. by logic analysers [6] 31/ 3181 . . . Functional testing (G01R 31/3177 takes precedence) [6] 31/ 3183 . . . . Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences [6] 31/ 3185 . . . . Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning [6] 31/ 3187 . . . . Built-in tests [6] 31/ 319 . . . . Tester hardware, i.e. output processing circuits [6] 31/ 3193 . . . . . with comparison between actual response and known fault-free response [6] 31/ 327 . Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers (structural association with switches H01H) [6] 31/ 333 . . Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers (means for detecting the presence of an arc or discharge in switching devices H01H 9/50, H01H 33/26) [6] 31/ 34 . Testing dynamo-electric machines (testing electric windings G01R 31/06; methods or apparatus specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining or repairing dynamo-electric machines H02K 15/00) [3] 31/ 36 . Apparatus for testing electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or charge condition (accumulators combined with arrangements for measuring, testing or indicating condition H01M 10/48; circuit arrangements for charging, or depolarising batteries or for supplying loads from batteries H02J 7/00) [3] 31/ 38 . Testing of sparking-plugs (testing non-electrical properties G01M 19/02) [6] 31/ 40 . Testing power supplies [6] 31/ 42 . . AC power supplies [6] 31/ 44 . Testing lamps (discharge lamps G01R 31/24; structurally associated with light source circuit arrangements for detecting lamp failure H05B 37/03) [6] G01R 13/00 - G01R 21/14 G01R 33/00 - G01R 35/06
French: 31/ 00 Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs (conducteurs de mesure, sondes de mesure G01R 1/06; indication de la condition électrique des dispositifs de commutation ou de protection H01H 71/04, H01H 73/12, H02B 11/10, H02H 3/04; essai ou mesure de dispositifs semi-conducteurs ou à l'état solide durant la fabrication H01L 21/66; essai des systèmes à transmission par lignes H04B 3/46) 31/ 01 . Passage successif d'articles similaires aux essais, p.ex. essai "tout ou rien" d'une production de série; Essai d'objets en certains points lorsqu'ils passent à travers un poste d'essai (G01R 31/18 a priorité) [6] 31/ 02 . Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes 31/ 04 . . Essai de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant, de raccords non déconnectables 31/ 06 . . Essai de bobinage électrique, p.ex. pour déterminer la polarité (mesure du nombre de spires, du rapport de transformation ou du facteur de couplage G01R 29/20) 31/ 07 . . Essai de fusibles (moyens pour indiquer l'état du fusible structurellement associés au fusible H01H 85/30) [6] 31/ 08 . Localisation de défauts dans les câbles, les lignes de transmission ou les réseaux (circuits de protection de sécurité H02H) 31/ 10 . . en augmentant la destruction à l'endroit du dérangement, p.ex. combustion au moyen d'un générateur d'impulsions appliquant un programme spécial 31/ 11 . . en utilisant des méthodes de réflexion d'impulsion 31/ 12 . Essai de la rigidité diélectrique ou de la tension disruptive 31/ 14 . . Circuits à cet effet 31/ 16 . . Construction de récipients d'essais; Electrodes pour de tels récipients 31/ 18 . . Passage aux essais à la file d'articles similaires, p.ex. essais de contrôle d'une production de série 31/ 20 . . Préparation des articles ou des spécimens pour faciliter l'essai 31/ 24 . Essai de tubes à décharge (pendant la fabrication H01J 9/42) [2] 31/ 25 . . Essai de tubes à vide [2] 31/ 26 . Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs (mesure de la teneur en impuretés de matériaux G01N) [2] 31/ 265 . . Essais sans contact [6] 31/ 27 . . Essai de dispositifs sans les extraire physiquement du circuit dont ils font partie, p.ex. compensation des effets dus aux éléments environnants [6] 31/ 28 . Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux (essai pour déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes G01R 31/02; essai des calculateurs G06F 11/00; vérification du fonctionnement correct des mémoires statiques G11C 29/00) 31/ 30 . . Essais marginaux, p.ex. en faisant varier la tension d'alimentation (essais marginaux de calculateurs G06) [2] 31/ 302 . . Essais sans contact (sondes n'établissant pas de contact G01R 1/07) [5] 31/ 303 . . . de circuits intégrés (G01R 31/305 à G01R 31/315 ont priorité) [6] 31/ 304 . . . de circuits imprimés ou hybrides (G01R 31/305 à G01R 31/315 ont priorité) [6] 31/ 305 . . . utilisant des faisceaux électroniques [5] 31/ 306 . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] 31/ 307 . . . . de circuits intégrés [6] 31/ 308 . . . utilisant des rayonnements électromagnétiques non ionisants, p.ex. des rayonnements optiques [5] 31/ 309 . . . . de circuits imprimés ou hybrides [6] 31/ 311 . . . . de circuits intégrés [6] 31/ 312 . . . par des méthodes capacitives [5] 31/ 315 . . . par des méthodes inductives [5] 31/ 316 . . Essai de circuits analogiques [6] 31/ 3161 . . . Essais marginaux [6] 31/ 3163 . . . Essais fonctionnels [6] 31/ 3167 . . Essai de circuits analogiques et numériques combinés [6] 31/ 317 . . Essai de circuits numériques [6] 31/ 3173 . . . Essais marginaux [6] 31/ 3177 . . . Essais de fonctionnement logique, p.ex. au moyen d'analyseurs logiques [6] 31/ 3181 . . . Essais fonctionnels (G01R 31/3177 a priorité) [6] 31/ 3183 . . . . Génération de signaux d'entrée de test, p.ex. vecteurs, formes ou séquences d'essai [6] 31/ 3185 . . . . Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage [6] 31/ 3187 . . . . Tests intégrés [6] 31/ 319 . . . . Matériel d'essai, c.à d. circuits de traitement de signaux de sortie [6] 31/ 3193 . . . . . avec une comparaison entre la réponse effective et la réponse connue en l'absence d'erreur [6] 31/ 327 . Essai d'interrupteurs de circuit, d'interrupteurs ou de disjoncteurs (association structurelle avec des interrupteurs H01H) [6] 31/ 333 . . Essai du pouvoir de coupure des disjoncteurs à haute tension (moyens pour détecter la présence d'un arc ou d'une décharge dans les dispositifs de commutation H01H 9/50, H01H 33/26) [6] 31/ 34 . Essai de machines dynamoélectriques (essai de bobinage électrique G01R 31/06; procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication, l'assemblage, l'entretien ou la réparation des machines dynamoélectriques H02K 15/00) [3] 31/ 36 . Appareils pour l'essai de l'état électrique d'accumulateurs ou de batteries, p.ex. de la capacité ou des conditions de charge (accumulateurs combinés avec des dispositifs de mesure, d'essai ou d'indication d'état H01M 10/48; circuits pour la charge ou la dépolarisation des batteries ou pour alimenter des charges par des batteries H02J 7/00) [3] 31/ 38 . Essai de bougies d'allumage (essai de leurs propriétés non électriques G01M 19/02) [6] 31/ 40 . Essai d'alimentations [6] 31/ 42 . . d'alimentations en courant alternatif [6] 31/ 44 . Essai de lampes (lampes à décharge G01R 31/24; dispositions structurellement associées aux circuits de la source de lumière pour la détection de défauts des lampes H05B 37/03) [6] G01R 13/00 - G01R 21/14 G01R 33/00 - G01R 35/06