English: 3/ 00 Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps 3/ 02 . Electron guns 3/ 04 . Ion guns 3/ 06 . two or more guns being arranged in a single vacuum space, e.g. for plural-ray tubes (H 01 J 3/07 takes precedence) [2] 3/ 07 . Arrangements for controlling convergence of a plurality of beams [2] 3/ 08 . Arrangements for controlling intensity of ray or beam (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 take precedence) 3/ 10 . Arrangements for centering ray or beam (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 take precedence) 3/ 12 . Arrangements for controlling cross-section of ray or beam; Arrangements for correcting aberration of beam, e.g. due to lenses (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 take precedence) 3/ 14 . Arrangements for focusing or reflecting ray or beam (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 take precedence) 3/ 16 . . Mirrors 3/ 18 . . Electrostatic lenses 3/ 20 . . Magnetic lenses 3/ 22 . . . using electromagnetic means only 3/ 24 . . . using permanent magnets only 3/ 26 . Arrangements for deflecting ray or beam (circuit arrangements for producing sawtooth pulses or other deflecting voltages or currents H 03 K) 3/ 28 . . along one straight line or along two perpendicular straight lines 3/ 30 . . . by electric fields only 3/ 32 . . . by magnetic fields only 3/ 34 . . along a circle, spiral, or rotating radial line 3/ 36 . Arrangements for controlling the ray or beam after passing the main deflection system, e.g. for post-acceleration or post-concentration 3/ 38 . Mounting, supporting, spacing, or insulating electron-optical or ion-optical arrangements 3/ 40 . Traps for removing or diverting unwanted particles, e.g. negative ions, fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
French: 3/ 00 Détails des dispositifs électronoptiques ou ionoptiques ou des pièges à ions, communs au moins à deux types de base de tubes ou de lampes à décharge 3/ 02 . Canons à électrons 3/ 04 . Canons à ions 3/ 06 . plusieurs canons étant disposés dans le même espace à vide, p.ex. pour tube à rayons multiples (H 01 J 3/07 a priorité) [2] 3/ 07 . Dispositifs de commande de la convergence de plusieurs faisceaux [2] 3/ 08 . Dispositifs de commande de l'intensité du rayon ou du faisceau (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 ont priorité) 3/ 10 . Dispositifs de centrage du rayon ou du faisceau (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 ont priorité) 3/ 12 . Dispositifs de commande de la section transversale du rayon ou du faisceau; Dispositifs pour la correction de l'aberration du faisceau, p.ex. due aux lentilles (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 ont priorité) 3/ 14 . Dispositifs pour la focalisation ou la réflexion du rayon ou du faisceau (H 01 J 3/02, H 01 J 3/04 ont priorité) 3/ 16 . . Réflecteurs 3/ 18 . . Lentilles électrostatiques 3/ 20 . . Lentilles magnétiques 3/ 22 . . . n'utilisant que des moyens électromagnétiques 3/ 24 . . . n'utilisant que des aimants permanents 3/ 26 . Dispositifs de déviation du rayon ou du faisceau (circuits produisant des impulsions en dents de scie ou autres tensions ou courants de déviation H 03 K) 3/ 28 . . suivant une seule ligne droite ou suivant deux lignes droites perpendiculaires 3/ 30 . . . au moyen de champs électriques uniquement 3/ 32 . . . au moyen de champs magnétiques uniquement 3/ 34 . . suivant un cercle, une spirale ou une ligne radiale tournante 3/ 36 . Dispositifs de commande du rayon ou du faisceau après que ceux-ci aient passé par le système de déviation principal, p.ex. pour la post-accélération ou la post-concentration 3/ 38 . Montage, support, espacement ou isolement des dispositifs électronoptiques ou ionoptiques 3/ 40 . Pièges pour supprimer ou détourner des particules indésirables, p.ex. des ions négatifs, des électrons en marge; Dispositifs sélecteurs de vitesse ou de masse