English: The following list is not exhaustive or intended to include all the possible combinations of non-performance attributes to be 100% inspected within a quality system: (a) Data retention capabilities (b) Carry-over battery condition (if applicable) (c) Pulse recording operation (d) Validation of programmed parameters (e) Multiplier verification (f) Pulse constant verification (g) Pulse output detent operation (h) Loss compensation operation (i) Zero load performance / creep test verification (j) Phase association verification (k) Confirmation of approved firmware (l) Mechanical integrity confirmation (m) Multi-register metering function A.4 Symbols and Abbreviated Terms k multiplier calculated to provide specified coverage for the uncertainty of a measurement ei test value uci combined standard uncertainty of ei LSL lower specification limit USL upper specification limit MADT mean absolute deviation from target UMADT Upper MADT specification limit CSL1 compressed specification limits for type 1 marginal conformities (LQ = 3.15%) CSL2 compressed specification limits for type 1 marginal conformities (LQ = 8.0%) LCSL1 lower compressed specification limit (LQ = 3.15%) LCSL2 lower compressed specification limit (LQ = 8.0%) UCSL1 Upper compressed specification limit (LQ = 3.15%) UCSL2 Upper compressed specification limit (LQ = 8.0%) A.5 Limits of Error and Conformity Determination A.5.1 The specification limit is +1.00% and the minimum coverage criterion for the extended measurement result is at least 99% coverage.
French: La liste suivante est non exhaustive et ne vise pas à inclure toutes les combinaisons possibles de facteurs de non-performance à soumettre au contrôle total (100 %) dans le cadre d’un système qualité : a) capacité de rétention des données b) condition de la pile de relève (s’il y a lieu) c) fonction d’enregistrement des impulsions d) validation des paramètres programmés e) vérification du multiplicateur f) vérification de la constante d’impulsions g) fonctionnement du cliquet de sortie d’impulsions h) fonction de compensation des pertes i) performance à vide ou essai de courant de fuite j) vérification de la concordance de phase k) confirmation de l’approbation du micrologiciel l) confirmation de l’intégrité mécanique m) fonctionnement du compteur à registres multiples A.4 Symboles et abréviations k multiplicateur calculé pour établir la confiance prescrite relative à l’incertitude de la mesure ei valeur d’essai uci incertitude type composée de ei LLs limite de spécification inférieure ULs limite de spécification supérieure EMAC écart moyen absolu de la cible UEMAC limite de spécification supérieure de l’EMAC LSR1 limite de spécification resserrée pour les conformités marginales de type 1 (QL = 3,15 %) LSR2 limite de spécification resserrée pour les conformités marginales de type 1 (QL = 8,0 %) LLSR1 limite de spécification resserrée inférieure (QL = 3,15 %) LLSR2 limite de spécification resserrée inférieure (QL = 8,0 %) ULSR1 limite de spécification resserrée supérieure (QL = 3,15 %) ULSR2 limite de spécification resserrée supérieure (QL = 8,0 %) A.5 Limites d’erreur et détermination de la conformité A.5.1 La limite de spécification est de + 1,00 % et le critère de confiance minimal pour le résultat de mesure élargi est d’au moins 99 %.