English: [3] 49/ 02 . Details [3] 49/ 04 . . Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components [3] 49/ 06 . . Electron- or ion-optical arrangements (H01J 49/04 takes precedence) [3] 49/ 08 . . Electron sources, e.g. for generating photo-electrons, secondary electrons or Auger electrons [3] 49/ 10 . . Ion sources; Ion guns [3] 49/ 12 . . . using an arc discharge, e.g. of the duoplasmatron type [3] 49/ 14 . . . using particle bombardment, e.g. ionisation chambers [3] 49/ 16 . . . using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission [3] 49/ 18 . . . using spark ionisation [3] 49/ 20 . . Magnetic deflection [3] 49/ 22 . . Electrostatic deflection [3] 49/ 24 . . Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures [3] 49/ 26 . Mass spectrometers or separator tubes (isotope separation using these tubes B01D 59/44; mass spectrometers specially adapted for column chromatography G01N 30/72) [3] 49/ 28 . . Static spectrometers [3] 49/ 30 . . . using magnetic analysers [3] 49/ 32 . . . using double focusing [3] 49/ 34 . . Dynamic spectrometers [3] 49/ 36 . . . Radio frequency spectrometers, e.g. Bennett-type spectrometers, Redhead-type spectrometers [3] 49/ 38 . . . . Omegatrons [3] 49/ 40 . . . Time-of-flight spectrometers (H01J 49/36 takes precedence) [3] 49/ 42 . . . Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons [3] 49/ 44 . Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers [3] 49/ 46 . . Static spectrometers [3] 49/ 48 . . . using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter [3]
French: [3] 49/ 02 . Détails [3] 49/ 04 . . Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques [3] 49/ 06 . . Dispositifs électronoptiques ou ionoptiques (H01J 49/04 a priorité) [3] 49/ 08 . . Sources d'électrons, p.ex. pour produire des photo-électrons, des électrons secondaires ou des électrons d'Auger [3] 49/ 10 . . Sources d'ions; Canons à ions [3] 49/ 12 . . . utilisant une décharge d'arc, p.ex. du type duo-plasmatron [3] 49/ 14 . . . utilisant un bombardement de particules, p.ex. chambres d'ionisation [3] 49/ 16 . . . utilisant une ionisation de surface, p.ex. émission thermo-ionique ou photo-électrique [3] 49/ 18 . . . utilisant une ionisation par étincelles [3] 49/ 20 . . Déflexion magnétique [3] 49/ 22 . . Déflexion électrostatique [3] 49/ 24 . . Systèmes à vide, p.ex. maintenant des pressions voulues [3] 49/ 26 . Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse (séparation d'isotopes utilisant ces tubes B01D 59/44; spectromètres de masse spécialement adaptés pour la chromatographie sur colonne G01N 30/72) [3] 49/ 28 . . Spectromètres statiques [3] 49/ 30 . . . utilisant des analyseurs magnétiques [3] 49/ 32 . . . utilisant une focalisation double [3] 49/ 34 . . Spectromètres dynamiques [3] 49/ 36 . . . Spectromètres à radio-fréquence, p.ex. spectromètres du type Bennett; Spectromètres du type Redhead [3] 49/ 38 . . . . Omégatrons [3] 49/ 40 . . . Spectromètres à temps de vol (H01J 49/36 a priorité) [3] 49/ 42 . . . Spectromètres à stabilité de trajectoire, p.ex. monopôles, quadripôles, multipôles, farvitrons [3] 49/ 44 . Spectromètres à énergie, p.ex. spectromètres alpha, spectromètres bêta [3] 49/ 46 . . Spectromètres statiques [3] 49/ 48 . . . utilisant des analyseurs électrostatiques, p.ex. secteur cylindrique, filtre de Wien [3]