natgillin/translations-raw huggingface dataset:
'Continuous throughput' is the fastest data rate the instrument can record to disk or solid-state drive memory without the loss of any information while sustaining the input digital data rate or digitizer conversion rate.
‚Kontinuirana propusnost’ najveća je brzina podataka koju instrument može zabilježiti na disk ili čvrsti memorijski pogon bez gubitka informacija te uz održavanje brzine prijenosa digitalnih podataka na ulazu ili brzine pretvorbe digitalizatora.
"Signal analysers" having a 3 dB resolution bandwidth (RBW) exceeding 10 MHz anywhere within the frequency range exceeding 31,8 GHz but not exceeding 37 GHz;
„analizatori signala” čiji pojas razlučivosti na širini od 3 dB (RBW) prelazi 10 MHz bilo gdje u frekvencijskom području iznad 31,8 GHz, ali ne iznad 37 GHz;
"Signal analysers" having Displayed Average Noise Level (DANL) less (better) than -150 dBm/Hz anywhere within the frequency range exceeding 43,5 GHz but not exceeding 90 GHz;
„analizatori signala” s prikazanom prosječnom razinom šuma (DANL) manjom (boljom) od –150 dBm/Hz bilo gdje u frekvencijskom području iznad 43,5 GHz, ali ne iznad 90 GHz;
b. Having any of the following;
b. imaju bilo koju od sljedećih značajki:
100 % probability of discovery with less than a 3 dB reduction from full amplitude due to gaps or windowing effects of signals having a duration of 15 μs or less; or
ostotna vjerojatnost otkrivanja s manje od 3 dB smanjenja u odnosu na punu amplitudu zbog raspora ili utjecaja funkcije prozora signala u trajanju od 15 μs ili manje ili
A "frequency mask trigger" function with 100 % probability of trigger (capture) for signals having a duration of 15 μs or less;
funkcija „okidanja frekvencija preko maske” uz 100-postotnu vjerojatnost okidanja (zahvata) za signale u trajanju od 15 μs ili manje;
Probability of discovery in 3A002.c.4.b.1. is also referred to as probability of intercept or probability of capture.
Vjerojatnost otkrivanja iz 3A002.c.4.b.1. naziva se i vjerojatnošću presretanja ili vjerojatnošću zahvata.
For the purposes of 3A002.c.4.b.1., the duration for 100 % probability of discovery is equivalent to the minimum signal duration necessary for the specified level measurement uncertainty.
Za potrebe 3A002.c.4.b.1. trajanje 100-postotne vjerojatnosti otkrivanja ekvivalentno je minimalnom trajanju signala potrebnom za određenu razinu mjerne nesigurnosti.
3A002.c.4. does not control those "signal analysers" using only constant percentage bandwidth filters (also known as octave or fractional octave filters).
3A002.c.4. ne odnosi se na „analizatore signala” koji upotrebljavaju samo filtre sa stalnim postotkom širine pojasa (poznate i kao oktavni ili razlomljeni oktavni filtri).
d. Less than 500 μs for any frequency change exceeding 550 MHz within the frequency range exceeding 31,8 GHz but not exceeding 37 GHz; or
d. manje od 500 μs za bilo koju promjenu frekvencije iznad 550 MHz unutar frekvencijskog područja koje prelazi 31,8 GHz, ali ne prelazi 37 GHz; ili
Single sideband (SSB) phase noise, in dBc/Hz, specified as being any of the following:
fazni šum u jednom bočnom pojasu (SSB) u dBc/Hz, koji ima bilo koju od sljedećih značajki:
a. Less (better) than – (126 + 20log10F – 20log10f) anywhere within the range of 10 Hz ≤ F ≤ 10 kHz anywhere within the frequency range exceeding 3,2 GHz but not exceeding 90 GHz; or
a. manji (bolji) od –(126 + 20log10F – 20log10f) bilo gdje unutar područja od 10 Hz ≤ F ≤ 10 kHz bilo gdje unutar frekvencijskog područja iznad 3,2 GHz, ali ne iznad 90 GHz ili
b. Less (better) than – (206 – 20log10f) anywhere within the range of 10 kHz< F≤ 100 kHz anywhere within the frequency range exceeding 3,2 GHz but not exceeding 90 GHz; or
b. manji (bolji) od –(206 – 20log10f) bilo gdje unutar područja od 10 kHz < F ≤ 100 kHz bilo gdje unutar frekvencijskog područja iznad 3,2 GHz, ali ne iznad 90 GHz ili
'Nonlinear vector measurement functionality' is an instrument’s ability to analyse the test results of devices driven into the large-signal domain or the non-linear distortion range.
,Funkcionalnost mjerenja nelinearnih vektora’ znači sposobnost instrumenta za analizu ispitnih rezultata uređaja pokrenutih u području velikih signala ili nelinearnom području izobličenja.
"Space-qualified";
„prikladni za upotrebu u svemiru”;
Non-rubidium and having a long-term stability less (better) than 1 × 10–11/month; or
nisu rubidijevi frekvencijski standardi i imaju dugotrajnu stabilnost manju (bolju) od 1 × 10-11/mjesec ili
b. Long-term stability less (better) than 1 × 10–11/month; and
b. dugotrajna stabilnost manja (bolja) od 1 × 10-11/mjesec i
c. Total power consumption of less than 1 W;
c. ukupna potrošnja snage manja od 1 W;
h. "Electronic assemblies", modules, or equipment, specified to perform all of the following:
h. „elektronički sklopovi”, moduli ili oprema namijenjeni za:
a. A resolution of 8 bit or more, but less than 10 bit, with an input sample rate greater than 1300 million samples per second;
a. razlučivost 8 bita ili veću, ali manju od 10 bita, s ulaznom brzinom uzorkovanja većom od 1300 milijuna uzoraka u sekundi;
b. A resolution of 10 bit or more, but less than 12 bit, with an input sample rate greater than 1000 million samples per second;
b. razlučivost 10 bita ili veću, ali manju od 12 bita, s ulaznom brzinom uzorkovanja većom od 1000 milijuna uzoraka u sekundi;
c. A resolution of 12 bit or more, but less than 14 bit, with an input sample rate greater than 1000 million samples per second;
c. razlučivost 12 bita ili veću, ali manju od 14 bita, s ulaznom brzinom uzorkovanja većom od 1000 milijuna uzoraka u sekundi;
d. A resolution of 14 bit or more but less than 16 bit, with an input sample rate greater than 400 million samples per second; or
d. razlučivost 14 bita ili veću, ali manju od 16 bita, s ulaznom brzinom uzorkovanja većom od 400 milijuna uzoraka u sekundi; ili
e. A resolution of 16 bit or more with an input sample rate greater than 180 million samples per second; and
e. razlučivost od 16 bita ili veću, s ulaznom brzinom uzorkovanja većom od 180 milijuna uzoraka u sekundi i
Digital data recorders, oscilloscopes, "signal analysers", signal generators, network analysers and microwave test receivers, are specified in 3A002.a.6., 3A002.a.7., 3A002.c., 3A002.d., 3A002.e. and 3A002.f., respectively.
Digitalni uređaji za snimanje podataka, osciloskopi, „analizatori signala”, generatori signala, mrežni analizatori i mikrovalni ispitni prijamnici navedeni su u 3A002.a.6., 3A002.a.7., 3A002.c., 3A002.d., 3A002.e. odnosno 3A002.f.
For multiple-channel "electronic assemblies" or modules, control status is determined by the highest single-channel specified performance.
Za „elektroničke sklopove” s više kanala ili module kontrolni se status određuje najvećim navedenim radnim kapacitetom pojedinačnih kanala.
'Thermal batteries' designed or modified for 'missiles'.
‚Termalne baterije’ namijenjene ili prilagođene za ‚projektile’.
In 3A102 'missile' means complete rocket systems and unmanned aerial vehicle systems capable of a range exceeding 300 km.
U 3A102 ‚projektil’ znači cjelokupni raketni sustavi i sustavi zračnih bespilotnih letjelica čiji je doseg veći od 300 km.
d. Series inductance less than 50 nH; or
d. serijsku induktivnost manju od 50 nH; ili
3A201.b. does not control magnets specially designed for and exported 'as parts of' medical nuclear magnetic resonance (NMR) imaging systems.
3A201.b. ne odnosi se na magnete posebno namijenjene za uporabu ‚kao dio’ medicinskih sustava za nuklearnu magnetnu rezonancu (NMR) te koji se kao takvi izvoze.
K = 1,7 × 103V2,65 Q
K = 1,7 × 103V2,65Q
Q equals the integral of i with respect to t, over the lesser of 1 μs or the time duration of the beam pulse (Q =∫ idt), where i is beam current in amperes and t is time in seconds.
Q je jednak integralu od i u odnosu na t, kroz manje od 1 μs ili vrijeme trajanja impulsa snopa (Q = ∫ idt), gdje je i struja snopa u amperima, a t je vrijeme u sekundama.
Frequency changers or generators, other than those specified in 0B001.b.13., usable as a variable or fixed frequency motor drive, having all of the following characteristics:
Pretvarači ili generatori frekvencija, osim onih navedenih u 0B001.b.13., koji se mogu upotrebljavati kao motorni pogon varijabilne ili fiksne frekvencije i koji imaju sve sljedeće značajke:
"Software" specially designed to enhance or release the performance of a frequency changer or generator to meet the characteristics of 3A225 is specified in 3D225.
„Softveri” posebno namijenjeni poboljšanju ili uklanjanju ograničenja radnih značajki pretvarača ili generatora frekvencija kako bi se zadovoljile značajke iz 3A225. navedeni su u 3D225.
3A225 does not control frequency changers or generators if they have hardware, "software" or "technology" constraints that limit the performance to less than that specified above, provided they meet any of the following:
3A225 ne odnosi se na pretvarače ili generatore frekvencija ako imaju ograničenja u pogledu hardvera, „softvera” ili „tehnologije” kojima se performanse svode na razinu nižu od prethodno navedene, pod uvjetom da zadovoljavaju bilo koji od sljedećih uvjeta:
An anode delay time of 15 μs or less; and
vrijeme zadrške anode od 15 μs ili kraće i
a. Detonator firing sets (initiator systems, firesets), including electronically-charged, explosively-driven and optically-driven firing sets, other than those specified in 1A007.a., designed to drive multiple controlled detonators specified in 1A007.b.;
a. oprema za aktiviranje detonatora (sustavi za pokretanje, sustavi za paljenje) uključujući opremu za aktiviranje koja se pokreće elektronički, eksplozivom ili optički, osim one navedene u 1A007.a., izrađena za pokretanje višestruko kontroliranih detonatora navedenih u 1A007.b.;
Specified for use over an extended temperature range 223 K (– 50 °C) to 373 K (100 °C) or specified as suitable for aerospace applications.
namijenjeni su za upotrebu u širem rasponu temperatura od 223 K (–50 °C) do 373 K (100 °C) ili su primjereni za upotrebu u aeronautici.
b. 'Pulse transition time' less than 500 ps.
b. ‚vrijeme prijelaza impulsa’ kraće od 500 ps.
One or more 'cold traps' that can be cooled to a temperature of 193 K (– 80 °C);
jedna ili više ‚stupica s hlađenjem’ koje je moguće ohladiti na temperaturu od 193 K (–80 °C);
SEE ALSO 2B226
VIDI I 2B226
Equipment designed or modified to produce a layer of any material other than silicon with a thickness uniform to less than ± 2,5 % across a distance of 75 mm or more;
oprema namijenjena ili preinačena za proizvodnju sloja bilo kojeg materijala osim silicija debljine manje od ± 2,5 % na udaljenosti od 75 mm ili više;
Metal Organic Chemical Vapour Deposition (MOCVD) reactors designed for compound semiconductor epitaxial growth of material having two or more of the following elements: aluminium, gallium, indium, arsenic, phosphorus, antimony, or nitrogen;
reaktori za taloženje para metalnoorganskih kemikalija (MOCVD) koji se upotrebljavaju za epitaksijalni rast materijala složenog poluvodiča, koji imaju najmanje dva sljedeća elementa: aluminij, galij, indij, arsen, fosfor, antimon ili dušik;
Being designed and optimized to operate at a beam energy of 20 keV or more and a beam current of 10 mA or more for hydrogen, deuterium or helium implant;
namijenjena je i optimizirana za rad pri energiji snopa od 20 keV ili većoj i struji snopa od 10 mA ili većoj za usađivanje vodika, deuterija ili helija;
Being designed and optimized to operate at a beam energy of 20 keV or more and a beam current of 10 mA or more for silicon implant into a semiconductor material "substrate" heated to 600 °C or greater;
namijenjena je i optimizirana za rad pri energiji snopa od 20 keV ili većoj i struji snopa od 10 mA ili većoj za usađivanje silicija u poluvodički materijal „podloge” koji je grijan na 600 °C ili na višu temperaturu;
e. Automatic loading multi-chamber central wafer handling systems having all of the following:
e. višekomorni središnji sustavi s automatskim punjenjem radi rukovanja pločicama koji imaju sve sljedeće značajke:
Interfaces for wafer input and output, to which more than two functionally different 'semiconductor process tools' specified in 3B001.a.1., 3B001.a.2., 3B001.a.3 or 3B001.b. are designed to be connected; and
sučelja za ulaz/izlaz poluvodičke pločice, na koja se spajaju više od dva ‚poluvodička procesna alata’ navedena u 3B001.a.1., 3B001.a.2., 3B001.a.3 ili 3B001.b. i
For the purpose of 3B001.e., 'semiconductor process tools' refers to modular tools that provide physical processes for semiconductor production that are functionally different, such as deposition, implant or thermal processing.
Za potrebe 3B001.e. ‚poluvodički procesni alati’ znači modularni alati koji omogućavaju funkcionalno različite fizičke postupke za proizvodnju poluvodiča, kao što su nanošenje, implantacija ili termička obrada.
For the purpose of 3B001.e., 'sequential multiple wafer processing' means the capability to process each wafer in different 'semiconductor process tools', such as by transferring each wafer from one tool to a second tool and on to a third tool with the automatic loading multi-chamber central wafer handling systems.
Za potrebe 3B001.e. ‚sekvencijska obrada višestruke poluvodičke pločice’ znači mogućnost obrade svake pločice u drugom ‚poluvodičkom procesnom alatu’, npr. prijenos svake pločice s jednog alata na drugi i treći alat s višekomornim središnjim sustavom s automatskim punjenjem radi rukovanja pločicama.
3B001.f.2. includes:
3B001.f.2. uključuje:
Nano-imprint lithography tools
tiskarske litografske alate nanopreciznosti
Equipment specially designed for mask making having all of the following:
oprema posebno namijenjena izradi maski koja ima sve sljedeće značajke:
a. A deflected focussed electron beam, ion beam or "laser" beam; and
a. odstupanje fokusiranog elektronskog snopa, ionskog snopa ili „laserskog” snopa i
A full-width half-maximum (FWHM) spot size smaller than 65 nm and an image placement less than 17 nm (mean + 3 sigma); or
veličina točke FWHM (puna širina na polovini visine) manja od 65 nm i pozicioniranje slike manje od 17 nm (srednja vrijednost + 3 sigme); ili
Equipment designed for device processing using direct writing methods, having all of the following:
3B001.f. nastavak 4. oprema namijenjena obradi uređaja s pomoću metoda izravnog zapisa, koja ima sve sljedeće značajke:
Made on a mask "substrate blank" from glass specified as having less than 7 nm/cm birefringence; or
izrađene maske na „sirovom supstratu” od stakla čija je dvostruka refrakcija manja od 7 nm/cm ili
3C001.d. does not control a "substrate" having one or more P-type epitaxial layers of GaN, InGaN, AlGaN, InAlN, InAlGaN, GaP, GaAs, AlGaAs, InP, InGaP, AlInP or InGaAlP, independent of the sequence of the elements, except if the P-type epitaxial layer is between N-type layers.
3C001.d. ne odnosi se na „podloge” koje imaju jedan ili više epitaksijalnih slojeva P-tipa iz GaN, InGaN, AlGaN, InAlN, InAlGaN, GaP, GaAs, AlGaAs, InP, InGaP, AlInP ili InGaAlP, neovisno o slijednosti elemenata, osim ako se epitaksijalni sloj P-tipa nalazi između slojeva N-tipa.
a. Organo-metallic compounds of aluminium, gallium or indium, having a purity (metal basis) better than 99,999 %;
a. organskometalni spojevi aluminija, galija ili indija čistoće (metalne baze) veće od 99,999 %;
b. Organo-arsenic, organo-antimony and organo-phosphorus compounds, having a purity (inorganic element basis) better than 99,999 %.
b. organskoarsenski, organskoantimonski i organskofosforni spojevi čistoće (baze anorganskog elementa) veće od 99,999 %.
Silicon carbide (SiC), gallium nitride (GaN), aluminium nitride (AlN) or aluminium gallium nitride (AlGaN) semiconductor "substrates", or ingots, boules, or other preforms of those materials, having resistivities greater than 10000 ohm-cm at 20 °C.
Poluvodičke „podloge” silicijeva karbida (SiC), galijeva nitrida (GaN), aluminijeva nitrida (AlN) ili aluminij galijeva nitrida (AlGaN) ili ingoti, dijelovi ili drugi poluproizvodi od tih materijala s otpornošću većom od 10000 oma-cm pri 20 °C.
"Software" specially designed for the "development" or "production" of equipment specified in 3A001.b. to 3A002.h. or 3B.
„Softver” posebno namijenjen „razvoju” ili „proizvodnji” opreme navedene u 3A001.b. do 3A002.h. ili 3B.
'Physics-based' in 3D003 means using computations to determine a sequence of physical cause and effect events based on physical properties (e.g., temperature, pressure, diffusion constants and semiconductor materials properties).
,Na temelju fizičkih zakona’ u 3D003 znači upotreba izračuna za određivanje slijeda fizičkih uzroka i posljedica na temelju fizičkih svojstava (npr. temperatura, tlak, konstante difuzije i svojstva poluvodičkih materijala).
"Software" specially designed for the "development" of equipment specified in 3A003.
„Softver” posebno namijenjen „razvoju” opreme navedene u 3A003.
"Software" specially designed or modified for the "use" of equipment specified in 3A101.b.
„Softver” posebno namijenjen ili prilagođen za „upotrebu” opreme navedene u 3A101.b.
3E001 does not control "technology" for equipment or components specified in 3A003.
3E001 ne odnosi se na „tehnologiju” za opremu ili komponente navedene u 3A003.
3E001 does not control "technology" for integrated circuits specified in 3A001.a.3. to 3A001.a.12., having all of the following:
3E001 ne odnosi se na „tehnologiju” za integrirane sklopove navedene u 3A001.a.3. do 3A001.a.12., koji imaju sve sljedeće značajke:
Using "technology" at or above 0,130 μm; and
upotrebljavaju „tehnologiju” od 0,130 μm ili više i
"Technology" according to the General Technology Note, other than that specified in 3E001,for the "development" or "production" of a "microprocessor microcircuit", "microcomputer microcircuit" or microcontroller microcircuit core, having an arithmetic logic unit with an access width of 32 bits or more and any of the following features or characteristics:
„Tehnologija” u skladu s Napomenom o tehnologiji općenito, osim one navedene u 3E001, za „razvoj” ili „proizvodnju”„mikroprocesorskih mikrosklopova”, „mikroračunalnih mikrosklopova” ili jezgre mikrosklopova mikrokontrolera koji imaju aritmetičku logičku jedinicu sa širinom pristupa od 32 bita ili više i bilo koje od sljedećih obilježja ili značajki:
A 'vector processor unit' is a processor element with built-in instructions that perform multiple calculations on floating-point vectors (one-dimensional arrays of 32-bit or larger numbers) simultaneously, having at least one vector arithmetic logic unit and vector registers of at least 32 elements each.
‚Vektorska procesorska jedinica’ znači procesorski element s ugrađenim instrukcijama koje istovremeno obavljaju višestruke izračune nad vektorima s pomičnim zarezom (jednodimenzionalnim 32-bitnim nizovima ili većim brojevima), s najmanje jednom vektorskom aritmetičkom logičkom jedinicom i vektorskim registrima s najmanje 32 elementa.
c. Designed to perform more than eight 16-bit fixed-point multiply-accumulate results per cycle (e.g., digital manipulation of analogue information that has been previously converted into digital form, also known as digital "signal processing").
c. namijenjena obavljanju više od osam16-bitne ili veće operacije s nepomičnim zarezom po ciklusu (npr. digitalna manipulacija analogne informacije koja je prethodno konvertirana u digitalni oblik, poznata i pod nazivom digitalna „obrada signala”).
3E002 does not control "technology" for micro-processor cores, having all of the following:
3E002 ne odnosi se na „tehnologiju” za mikroprocesorske jezgre koje imaju sve sljedeće značajke:
3E002 includes "technology" for the "development" or "production" of digital signal processors and digital array processors.
3E002 uključuje „tehnologiju” za „razvoj” ili „proizvodnju” procesora digitalnog signala i procesora digitalnog niza.
3E003.b. does not control "technology" for high electron mobility transistors (HEMT) operating at frequencies lower than 31,8 GHz and hetero-junction bipolar transistors (HBT) operating at frequencies lower than 31,8 GHz.
3E003.b. ne odnosi se na „tehnologiju” tranzistora s visokom pokretljivošću elektrona (HEMT) koji rade pri frekvencijama manjima od 31,8 GHz ni heterobipolarnih tranzistora (HBT) koji rade pri frekvencijama manjima od 31,8 GHz.
g. 'Vacuum electronic devices' operating at frequencies of 31,8 GHz or higher.
g. ‚vakuumskih elektroničkih uređaja’ koji rade na frekvencijama od 31,8 GHz ili višima.
"Technology" according to the General Technology Note for the "development" of "software"specified in 3D101.
„Tehnologija” u skladu s Napomenom o tehnologiji općenito za „razvoj”„softvera” navedenih u 3D101.
CATEGORY 4 - COMPUTERS
KATEGORIJA 4. – RAČUNALA
Computers, related equipment and "software" performing telecommunications or "local area network" functions must also be evaluated against the performance characteristics of Category 5, Part 1 (Telecommunications).
Računala, pripadajuća oprema i „softver” kojima se izvode telekomunikacijske funkcije ili funkcije „lokalne mreže” moraju biti ocijenjeni i u odnosu na radne značajke kategorije 5., 1. dijela (Telekomunikacije).
Rated for operation at an ambient temperature below 228 K (- 45 °C) or above 358 K (85 °C); or
namijenjeni radu pri okolnoj temperaturi ispod 228 K (– 45 °C) ili iznad 358 K (85 °C) ili
Total Dose
ukupnu dozu
Dose Rate Upset
određenu stalnu dozu
Single Event Upset
pojedinačnu dozu
1 × 10– 8 Error/bit/day;
1 × 10-8 greške/bit/dan;
4A001.a.2. does not control computers specially designed for "civil aircraft" applications.
4A001.a.2. ne odnosi se na računala posebno namijenjena primjeni u „civilnim zrakoplovima”.
'Vector processors';
‚vektorske procesore’,
Equipment designed for "image enhancement".
opremu oblikovanu za „poboljšanje slike”.
The "digital computers" or related equipment are not a "principal element" of the other equipment or systems; and
„digitalna računala” ili pripadajuća oprema nisu „glavni element” druge opreme ili sustava i
The control status of "signal processing" or "image enhancement" equipment specially designed for other equipment with functions limited to those required for the other equipment is determined by the control status of the other equipment even if it exceeds the "principal element" criterion.
Kontrolni status opreme za „obradu signala” ili „poboljšanje slike” posebno oblikovane za drugu opremu s funkcijama ograničenima na funkcije potrebne za drugu opremu određuje se prema kontrolnom statusu te druge opreme, čak i ako ona premašuje kriterij „glavnog elementa”.
For the control status of "digital computers" or related equipment for telecommunications equipment, see Category 5, Part 1 (Telecommunications).
Za kontrolni status „digitalnih računala” ili pripadajuće opreme za telekomunikacijsku opremu vidi kategoriju 5., 1. dio (Telekomunikacije). c.
c. The "technology" for the "digital computers" and related equipment is determined by 4E.
„tehnologija” za „digitalna računala” i pripadajuću opremu određuje se prema 4E.
b. "Digital computers" having an "Adjusted Peak Performance" ("APP") exceeding 16 Weighted TeraFLOPS (WT);
b. „digitalna računala” s „korigiranom najvećom učinkovitošću” („APP”) koja prelazi 16 ponderiranih teraflopa (WT);
4A003.c. controls only "electronic assemblies" and programmable interconnections not exceeding the limit specified in 4A003.b. when shipped as unintegrated "electronic assemblies".
4A003.c. se odnosi samo na one „elektroničke sklopove” i programabilna međupovezivanja koja ne prelaze granicu iz 4A003.b. kada se otpremaju kao neintegrirani „elektronički sklopovi”.
4A003.c. does not control "electronic assemblies" specially designed for a product or family of products whose maximum configuration does not exceed the limit specified in 4A003.b.
4A003.c. ne odnosi se na „elektroničke sklopove” posebno oblikovane za proizvod ili skupinu proizvoda čija maksimalna konfiguracija ne premašuje granicu iz 4A003.b.
4A003.g. does not control internal interconnection equipment (e.g. backplanes, buses), passive interconnection equipment, "network access controllers" or "communications channel controllers".
4A003.g. ne odnosi se na opremu za unutarnje veze (npr. stražnje ploče, sabirnice), opremu pasivne međuveze, „upravljačke sklopove pristupa mreži” ili „upravljačke sklopove komunikacijskog kanala”.