natgillin/translations-raw huggingface dataset:
Radiation hardened ’detectors’, other than those specified in 6A002, specially designed or modified for protecting against nuclear effects (e.g. electromagnetic pulse (EMP), X-rays, combined blast and thermal effects) and usable for "missiles", designed or rated to withstand radiation levels which meet or exceed a total irradiation dose of 5 × 105 rads (silicon).
Muut kuin 6A002 kohdassa määritellyt säteilyä kestävät ’ilmaisimet’, jotka on erityisesti suunniteltu tai muunnettu suojaamaan ydinaseiden vaikutuksilta (esim. sähkömagneettiselta pulssilta (EMP = Electromagnetic Pulse), röntgensäteilyltä, yhdistetyiltä paineisku- ja lämpövaikutuksilta) ja voidaan käyttää "ohjuksissa", ja jotka on suunniteltu tai mitoitettu kestämään kokonaisannokseltaan 5 × 105 radin (Pii) tai sen ylittäviä säteilytasoja.
In 6A102, a ’detector’ is defined as a mechanical, electrical, optical or chemical device that automatically identifies and records, or registers a stimulus such as an environmental change in pressure or temperature, an electrical or electromagnetic signal or radiation from a radioactive material.
6A102 kohdassa ’ilmaisimeksi’ määritellään mekaaninen, sähköinen, optinen tai kemiallinen laite, joka automaattisesti tunnistaa ja tallentaa tai rekisteröi ärsykkeen, kuten ympäristön paineen tai lämpötilan muutoksen, sähköisen tai sähkömagneettisen signaalin tai radioaktiivisesta aineesta lähtevän säteilyn.
gravity meters, other than those specified in 6A007.b., designed or modified for airborne or marine use, and having a static or operational accuracy of 7 × 10–6 m/s2 (0,7 milligal) or less (better), and having a time-to-steady-state registration of two minutes or less;
Muut kuin 6A007.b kohdassa määritellyt gravimetrit, jotka on suunniteltu tai muunnettu ilmassa tai merellä tapahtuvaa käyttöä varten ja joiden staattinen tai operationaalinen tarkkuus on 7 × 10–6 m/s2 (0,7milligalia) tai sitä vähemmän (parempi) ja joiden vakiintumisaika on kaksi minuuttia tai vähemmän.
specially designed components for gravity meters specified in 6A007.b or 6A107.a. and gravity gradiometers specified in 6A007.c.
Komponentit, jotka on erityisesti suunniteltu 6A007.b kohdassa tai 6A107.a kohdassa määriteltyjä gravimetrejä ja 6A007.c kohdassa määriteltyjä painovoimagradiometrejä varten.
radar and laser radar systems designed or modified for use in space launch vehicles specified in 9A004 or sounding rockets specified in 9A104;
Tutka- ja "laser"tutkajärjestelmät, jotka on erityisesti suunniteltu käytettäviksi 9A004 kohdassa määritellyissä avaruuteen laukaisussa käytettävissä kantoraketeissa tai 9A104 kohdassa määritellyissä luotainraketeissa;
Note:6A108.a. includes the following:
Huom.:6A108.a kohta sisältää seuraavat:
terrain contour mapping equipment;
Maanpinnan muodon kartoituslaitteet;
imaging sensor equipment;
Kuvausanturilaitteet;
scene mapping and correlation (both digital and analogue) equipment;
Näkymäkartoitus- ja korrelointilaitteet (sekä digitaaliset että analogiset);
precision tracking systems, usable for ’missiles’, as follows:
Seuraavat tarkkuusseurantajärjestelmät, joita voidaan käyttää ’ohjuksissa’:
tracking systems which use a code translator in conjunction with either surface or airborne references or navigation satellite systems to provide real-time measurements of in-flight position and velocity;
Seurantajärjestelmät, jotka käyttävät koodin kääntäjää yhdessä maanpinnalla tai ilmassa olevien vertailupisteiden tai navigointisatelliitti-järjestelmien kanssa tosiaikaiseen lentosijainnin ja -nopeuden mittausten suorittamiseen;
range instrumentation radars including associated optical/infrared trackers with all of the following capabilities:
Instrumenttietäisyystutkat, mukaanlukien niihin liittyvät optiset/infrapunaseurantalaitteet, joilla on kaikki seuraavat ominaisuudet:
angular resolution better than 3 milliradians;
Kulmaresoluutio on parempi kuin 3 milliradiaania;
range of 30 km or greater with a range resolution better than 10 m rms;
Toimintaetäisyys on 30 km tai suurempi ja etäisyysresoluutio parempi kuin 10 m rms;
’missile’ means complete rocket systems and unmanned aerial vehicle systems capable of a range exceeding 300 km.
6A108.b kohdassa tarkoitetaan ’ohjuksella’ täydellisiä rakettijärjestelmiä ja miehittämättömiä ilma-alusjärjestelmiä, joiden kantomatka on yli 300 kilometriä.
photocathode area of greater than 20 cm2; and
valokatodipinta on suurempi kuin 20 cm2; ja
anode pulse rise time of less than 1 ns.
anodipulssin nousuaika on lyhyempi kuin 1 ns.
mechanical rotating mirror cameras, as follows, and specially designed components therefor:
Seuraavat mekaaniset pyöriväpeiliset kamerat ja niitä varten erityisesti suunnitellut komponentit:
framing cameras with recording rates greater than 225000 frames per second;
Erilliskuvia ottavat kamerat, joiden tallennusnopeus on suurempi kuin 225000 kuvaa/s;
streak cameras with writing speeds greater than 0,5 mm per microsecond;
Juovakamerat, joiden piirtonopeus on suurempi kuin 0,5 mm/s;
Note:in 6A203.a. components of such cameras include their synchronizing electronics units and rotor assemblies consisting of turbines, mirrors and bearings.
Huom.:6A203.a kohdassa näiden kameroiden komponentteihin sisältyvät niiden synkronointi-elektroniikkayksiköt sekä turbiineista, peileistä ja laakereista koostuvat roottorikokoonpanot.
electronic streak cameras, electronic framing cameras, tubes and devices, as follows:
Seuraavat elektroniset juova- ja erilliskuvakamerat, putket ja laitteet:
electronic streak cameras capable of 50 ns or less time resolution;
Elektroniset juovakamerat, jotka kykenevät 50 ns:n tai lyhyempään aikaresoluutioon;
streak tubes for cameras specified in 6A203.b.1.;
Juovaputket 6A203.b.1 kohdassa määriteltyjä kameroita varten;
electronic (or electronically shuttered) framing cameras capable of 50 ns or less frame exposure time;
Elektroniset (tai elektronisin sulkimin varustetut) erilliskuvakamerat, joiden valotusaika kuvaa kohden on 50 ns tai lyhyempi;
framing tubes and solid-state imaging devices for use with cameras specified in 6A203.b.3., as follows:
Seuraavat erilliskuvaputket tai solid-state-kuvauslaitteet, joita käytetään 6A203.b.3 kohdassa määriteltyjen kameroiden kanssa:
proximity focused image intensifier tubes having the photocathode deposited on a transparent conductive coating to decrease photocathode sheet resistance;
Lähitarkenteiset kuvantehostinputket, joissa valokatodi on muodostettu läpinäkyvälle johtavalle pinnoitteelle valokatodin pintavastuksen pienentämiseksi;
gate silicon intensifier target (SIT) videcon tubes, where a fast system allows gating the photoelectrons from the photocathode before they impinge on the SIT plate;
Piitehostinkohtiolevyllä (SIT = Silicon Intensifier Target) varustetut hilakameraputket, joiden nopeatoiminen järjestelmä mahdollistaa valokatodilta tulevien valosähköisten elektronien veräjöinnin ennen niiden iskeytymistä SIT-levylle;
other framing tubes and solid-state imaging devices having a fast-image gating time of less than 50 ns specially designed for cameras specified in 6A203.b.3.;
Muut erilliskuvaputket ja solid-statekuvauslaitteet, joiden pikakuvauksen veräjöintiaika on lyhyempi kuin 50 ns ja jotka on erityisesti suunniteltu 6A203.b.3 kohdassa määriteltyjä kameroita varten;
radiation-hardened TV cameras, or lenses therefor, specially designed or rated as radiation hardened to withstand a total radiation dose greater than 50 × 103 Gy(silicon) (5 × 106 rad (silicon)) without operational degradation.
Säteilyä kestävät TV-kamerat tai niissä käytetyt linssit, jotka on erityisesti suunniteltu tai mitoitettu kestämään yli 50 × 103 Gy:n (Pii) (5 × 106 radin (Pii)) säteilyn kokonaisannosta toiminnallisuuden siitä kärsimättä.
"Lasers", "laser" amplifiers and oscillators, other than those specified in 0B001.g.5., 0B001.h.6. and 6A005; as follows:
Seuraavat, muut kuin 0B001.g.5, 0B001.h.6 tai 6A005 kohdassa määritellyt "laserit", "laser" vahvistimet ja oskillaattorit:
argon ion "lasers" having both of the following characteristics:
Argonioni"laserit", joilla on molemmat seuraavista ominaisuuksista:
operating at wavelengths between 400 nm and 515 nm; and
toimivat 400 nm:n ja 515 nm:n välillä olevilla aallonpituuksilla; ja
an average output power greater than 40 W;
keskimääräinen lähtöteho on suurempi kuin 40 W;
tunable pulsed single-mode dye laser oscillators having all of the following characteristics:
Viritettävät pulssitoimiset yksimuoto-väriaine"laser"-oskillaattorit, joilla on kaikki seuraavat ominaisuudet:
operating at wavelengths between 300 nm and 800 nm;
ne toimivat 300 nm:n ja 800 nm:n välillä olevilla aallonpituuksilla;
an average output power greater than 1 W;
1 W suurempi keskimääräinen lähtöteho;
a repetition rate greater than 1 kHz; and
toistotaajuus suurempi kuin 1 kHz; ja
pulse width less than 100 ns;
pulssin leveys alle 100 ns;
tunable pulsed dye laser amplifiers and oscillators, having all of the following characteristics:
Viritettävät pulssitoimiset väriaine"laser"vahvistimet ja oskillaattorit, joilla on kaikki seuraavat ominaisuudet:
an average output power greater than 30 W;
keskimääräinen lähtöteho on suurempi kuin 30 W;
Note:6A205.c. does not control single mode oscillators;
Huom.:6A205.c kohta ei aseta valvonnanalaiseksi yksimuoto-oskillaattoreita.
pulsed carbon dioxide "lasers" having all of the following characteristics:
Pulssitoimiset hiilidioksidi"laserit", joilla on kaikki seuraavat ominaisuudet:
operating at wavelengths between 9000 nm and 11000 nm;
ne toimivat 9000 nm:n ja 11000 nm:n välillä olevilla aallonpituuksilla;
a repetition rate greater than 250 Hz;
toistotaajuus on suurempi kuin 250 Hz;
an average output power greater than 500 W; and
keskimääräinen lähtöteho suurempi kuin 500 W; ja
pulse width of less than 200 ns;
pulssin leveys alle 200 ns;
para-hydrogen Raman shifters designed to operate at 16 micrometre output wavelength and at a repetition rate greater than 250 Hz;
Paravetykäyttöiset Raman-muuntimet, jotka on suunniteltu toimimaan 16 mikrometrin lähtöaaltopituudella ja joiden toistotaajuus on suurempi kuin 250 Hz.
neodymium-doped (other than glass) "lasers" with an output wavelength between 1000 and 1100 nm having either of the following:
Neodyymiseostetut "Q-kytkin-laserit" (muut kuin lasi-), joiden lähtöaallonpituus ylittää 1000 nm, mutta ei ylitä 1100 nm, joilla on jompikumpi seuraavista ominaisuuksista:
pulse-excited and Q-switched with a pulse duration equal to or more than 1 ns, and having either of the following:
Pulssiviritettävät "Q-kytkin-laserit", joiden pulssinkesto on vähintään 1 ns ja joilla on jompikumpi seuraavista ominaisuuksista;
a single-transverse mode output with an average output power greater than 40 W; or
yksitransversaalimuodon ulostulo, jonka keskimääinen lähtöteho ylittää 40 W, tai
a multiple-transverse mode output having an average power greater than 50 W; or
monitransversaalimuodon ulostulo, jonka keskimääräinen lähtöteho ylittää 50 W; tai
incorporating frequency doubling to give an output wavelength between 500 and 550 nm with an average output power of more than 40 W.
Mukana on taajuuden kahdentaminen, jolloin lähtöaallonpituus on 500–550 nm ja keskimääräinen lähtöteho ylittää 40 W.
Note:6A225 includes velocity interferometers such as VISARs (Velocity interferometer systems for any reflector) and DLIs (Doppler laser interferometers).
Huom.:6A225 kohtaan sisältyvät sellaiset nopeusinterferometrit kuten VISAR:it ja DLI:t (dopplerlaserinterferometrit).
manganin gauges for pressures greater than 10 GPa;
Manganiini-anturit, joilla mitataan yli 10 GPa:n paineita;
quartz pressure transducers for pressures greater than 10 GPa.
Kvartsipaineanturit, joilla mitataan yli 10 GPa:n paineita.
equipment for measuring absolute reflectance to an accuracy of ±0,1 % of the reflectance value;
Laitteet, joilla mitataan absoluuttista heijastumissuhdetta ±0,1 %:n tarkkuudella heijastumissuhteen arvosta;
equipment other than optical surface scattering measurement equipment, having an unobscured aperture of more than 10 cm, specially designed for the non-contact optical measurement of a non-planar optical surface figure (profile) to an "accuracy" of 2 nm or less (better) against the required profile.
Muut laitteet kuin optisen pinnan sironnan mittarit, joiden himmentämätön aukko on suurempi kuin 10 cm, ja jotka on erityisesti suunniteltu epätasaisen optisen pinnan kuvan (profiilin) mittaamiseen 2 nm:n tai pienemmällä (paremmalla) "tarkkuudella" tarvittavaa profiilia vasten.
Note:6B004 does not control microscopes.
Huom.:6B004 kohta ei aseta valvonnanalaiseksi mikroskooppeja.
N.B.:SEE ALSO 6B108.
Huom.:KATSO MYÖS 6B108 KOHTA.
Systems, other than those specified in 6B008, specially designed for radar cross section measurement usable for ’missiles’ and their subsystems.
Muut kuin 6B008 kohdassa määritellyt järjestelmät, joita voidaan käyttää ’ohjuksissa’ ja niiden alajärjestelmissä ja jotka on erityisesti suunniteltu tutkapoikkipintojen mittaamiseen.
In 6B108 ’missile’ means complete rocket systems and unmanned aerial vehicle systems capable of a range exceeding 300 km.
Kohdassa 6B108 kohdassa ’ohjuksella’ tarkoitetaan täydellisiä rakettijärjestelmiä ja miehittämättömiä ilma-alusjärjestelmiä, joiden kantomatka ylittää 300 km.
elemental tellurium (Te) of purity levels of 99,9995 % or more;
Telluuri (Te) alkuaineena, jonka puhtausaste on 99,9995 % tai korkeampi;
single crystals (including epitaxial wafers) of any of the following:
Yksittäiskiteet (mukaan lukien epitaksikiekot) joistakin seuraavista:
cadmium zinc telluride (CdZnTe), with zinc content of less than 6 % by ’mole fraction’;
Kadmiumsinkkitelluoidi (CdZnTe), jonka sinkkipitoisuus on alle 6 ’mooliosuus’prosenttia;
cadmium telluride (CdTe) of any purity level; or
Kadmiumtelluridi (CdTe) puhtausasteesta riippumatta; tai
mercury cadmium telluride (HgCdTe) of any purity level.
Elohopeakadmiumtelluridi (HgCdTe) puhtausasteesta riippumatta.
’Mole fraction’ is defined as the ratio of moles of ZnTe to the sum of moles of CdTe and ZnTe present in the crystal.
’Mooliosuus’ määritellään ZnTe-moolien suhteeksi kiteessä olevien CdTe- ja ZnTe-moolien summaan.
zinc selenide (ZnSe) and zinc sulphide (ZnS) "substrate blanks" produced by the chemical vapour deposition process, having any of the following:
Sinkkiselenidi (ZnSe)- ja sinkkisulfidi (ZnS)- "substraattiaihiot", jotka on tuotettu kemiallisella kaasufaasipinnoitusmenetelmällä ja joilla on jokin seuraavista:
a volume greater than 100 cm3; or
Tilavuus suurempi kuin 100 cm3; tai
a diameter greater than 80 mm having a thickness of 20 mm or more;
Läpimitta suurempi kuin 80 mm ja paksuus 20 mm tai enemmän;
boules of the following electro-optic materials:
Seuraavien sähköoptisten materiaalien synteettiset kiteet:
potassium titanyl arsenate (KTA);
Kaliumtitanyyliarsenaatti (KTA);
silver gallium selenide (AgGaSe2);
Hopeagalliumselenidi (AgGaSe2);
thallium arsenic selenide (Tl3AsSe3, also known as TAS);
Talliumarseeniselenidi (Tl3AsSe3, tunnetaan myös nimellä TAS);
non-linear optical materials, having all of the following:
Epälineaariset optiset materiaalit, joilla on kaikki seuraavat:
third order susceptibility (chi 3) of 10–6 m2/V2 or more; and
Kolmannen tason suskeptibiliteetti (khi 3) on 10–6m2/V2 tai enemmän; ja
a response time of less than 1 ms;
Vasteaika on vähemmän kuin 1 ms;
glass, including fused silica, phosphate glass, fluorophosphate glass, zirconium fluoride (ZrF4) and hafnium fluoride (HfF4), having all of the following:
Lasi, mukaan lukien kvartsilasi, fosfaattilasi, fluorofosfaattilasi, zirkoniumfluoridi (ZrF4) ja hafniumfluoridi (HfF4), joilla on kaikki seuraavat ominaisuudet:
a hydroxyl ion (OH-) concentration of less than 5 ppm;
Hydroksyyli-ioni(OH-)konsentraatio on vähemmän kuin 5 ppm;
integrated metallic purity levels of less than 1 ppm; and
Metallisten epäpuhtauksien kokonaistaso on vähemmän kuin 1 ppm; ja
high homogeneity (index of refraction variance) less than 5 × 10–6;
Korkea homogeenisuus (refraktiovarianssin indeksi) on vähemmän kuin 5 × 10–6;
synthetically produced diamond material with an absorption of less than 10–5 cm–1 for wavelengths exceeding 200 nm but not exceeding 14000 nm.
Synteettisesti tuotettu timanttimateriaali, jonka absorptio on vähemmän kuin 10–5 cm–1 aallonpituuksilla, jotka ylittävät 200 nm mutta ovat alle 14000 nm.
titanium doped sapphire;
Titaaniseostettu safiiri;
alexandrite.
Aleksandriitti.
"software" specially designed for acoustic beam forming for the "real time processing" of acoustic data for passive reception using towed hydrophone arrays;
"Ohjelmistot", jotka on erityisesti suunniteltu akustisen säteen muokkaamiseen akustisen tiedon "tosiaikaiseksi käsittelemiseksi" hinattavia hydrofonijärjestelmiä käyttävää passiivista vastaanottoa varten;
"source code" for the "real time processing" of acoustic data for passive reception using towed hydrophone arrays;
"Lähdekoodi" akustisen tiedon "tosiaikaiseksi käsittelemiseksi" hinattavia hydrofonijärjestelmiä käyttävää passiivista vastaanottoa varten;
"software" specially designed for acoustic beam forming for "real time processing" of acoustic data for passive reception using bottom or bay cable systems;
"Ohjelmistot", jotka on erityisesti suunniteltu akustisen säteen muokkaamiseen;
"source code" for "real time processing" of acoustic data for passive reception using bottom or bay cable systems;
"Lähdekoodi" akustisen tiedon "tosiaikaiseksi käsittelemiseksi" pohja- tai poukamakaapelijärjestelmiä käyttävää passiivista vastaanottoa varten;
"software" specially designed for magnetic and electric field "compensation systems" for magnetic sensors designed to operate on mobile platforms;
"Ohjelmistot", jotka on erityisesti suunniteltu magneettisia ja sähkökenttien kompensointijärjestelmiä varten magneettisille antureille, jotka on suunniteltu toimimaan liikkuvilla alustoilla;
"software" specially designed for magnetic and electric field anomaly detection on mobile platforms;
"Ohjelmistot", jotka on erityisesti suunniteltu magneettisten ja sähkökenttien poikkeamien ilmaisuun liikkuvilla alustoilla;
"software" specially designed to correct motional influences of gravity meters or gravity gradiometers;
"Ohjelmistot", jotka on erityisesti suunniteltu korjaamaan liikkumisen vaikutuksia painovoimamittareihin tai painovoimagradiometreihin;
air Traffic Control "software" application "programmes" hosted on general purpose computers located at Air Traffic Control centres and capable of any of the following:
Lennonjohto-"ohjelmistojen" sovellus"ohjelmat", jotka toimivat lennonjohtokeskuksiin sijoitetuissa yleiskäyttöisissä tietokoneissa ja kykenevät johonkin seuraavista:
processing and displaying more than 150 simultaneous "system tracks"; or
Käsittelemään ja näyttämään enemmän kuin 150:n samanaikaisen kohteen "reitit"; tai
accepting radar target data from more than four primary radars;
Vastaanottamaan kohteiden tutkatietoja useammalta kuin neljältä ensiötutkalta;
"software" for the design or "production" of radomes which:
"Ohjelmistot" sellaisten suojakupujen suunnittelua tai "tuotantoa" varten, jotka:
are specially designed to protect the "electronically steerable phased array antennae" specified in 6A008.e.; and
On erityisesti suunniteltu suojaamaan 6A008.e kohdassa määriteltyjä, "elektronisesti ohjattavia vaiheistettuja ryhmä-antenneja"; ja
result in an antenna pattern having an ’average side lobe level’ more than 40 dB below the peak of the main beam level.
Aiheuttavat antennin säteilykuvion, jonka ’keskimääräinen sivukeilataso’ on enemmän kuin 40 dB pääsäteen tason alapuolella.
’Average side lobe level’ in 6D003.d.2.b. is measured over the entire array excluding the angular extent of the main beam and the first two side lobes on either side of the main beam.
’Keskimääräinen sivukeilataso’ 6D003.d.2.b kohdassa mitataan koko ryhmän yli poislukien pääkeilan ja pääkeilan molemmilla puolilla olevien kahden ensimmäisen sivukeilan kulmasuure.
"Software" which processes post-flight, recorded data, enabling determination of vehicle position throughout its flight path, specially designed or modified for ’missiles’.
"Ohjelmistot", jotka lennon jälkeen prosessoivat nauhoitettua tietoa ja jotka mahdollistavat lentolaitteen aseman määrityksen sen koko lentoradalla ja jotka on erityisesti suunniteltu tai muunnettu ’ohjuksia’ varten.
In 6D103 ’missile’ means complete rocket systems and unmanned aerial vehicle systems capable of a range exceeding 300 km.
6D103 kohdassa tarkoitetaan ’ohjuksella’ täydellisiä rakettijärjestelmiä ja miehittämättömiä ilma-alusjärjestelmiä, joiden kantomatka on yli 300 kilometriä.
optical surface coating and treatment "technology""required" to achieve uniformity of 99,5 % or better for optical coatings 500 mm or more in diameter or major axis length and with a total loss (absorption and scatter) of less than 5 × 10–3;
Optisen pinnan pinnoitus- ja käsittely"teknologia", jota tarvitaan 99,5 %:n tai paremman tasalaatuisuuden saavuttamiseen optisille pinnoitteille, joiden läpimitta tai pääakselin pituus on 500 mm tai enemmän ja joiden kokonaishäviö (absorptio ja sironta) on vähemmän kuin 5 × 10–3;
N.B.:SEE ALSO 2E003.f.
Huom.:KATSO MYÖS 2E003.F KOHTA.
optical fabrication "technology" using single point diamond turning techniques to produce surface finish accuracies of better than 10 nm rms on non-planar surfaces exceeding 0,5 m2;
Yhden kärjen timanttisorvaustekniikat, joilla tuotetaan parempia pinnan viimeistelytarkkuuksia kuin 10 nm rms yli 0,5 m2:n ei-tasomaisille pinnoille;
"technology""required" for the "development", "production" or "use" of specially designed diagnostic instruments or targets in test facilities for "SHPL" testing or testing or evaluation of materials irradiated by "SHPL" beams;
"SHPL"-"laserien" testaamista tai "SHPL"-säteillä säteilytettyjen materiaalien testaamista tai evaluointia varten erityisesti suunniteltujen diagnostiikka-instrumenttien tai maalien "kehittämiseen", "tuotantoon" tai "käyttöön""tarvittava""teknologia";
Note:6E101 only specifies "technology" for equipment specified in 6A008 when it is designed for airborne applications and is usable in "missiles".
Huom.:6E101 kohta määrittelee 6A008 kohdassa määriteltyjen laitteiden "teknologian" vain, kun se on suunniteltu ilmailusovelluksiin ja sitä voidaan käyttää "ohjuksissa".
N.B.:for automatic pilots for underwater vehicles, see Category 8.
Huom.:Vedenalaisten kulkuneuvojen automaattiohjaukset: katso 8 ryhmä.
Accelerometers, as follows, and specially designed components therefor:
Seuraavanlaiset kiihtyvyysmittarit ja niitä varten erityisesti suunnitellut komponentit:
N.B.:SEE ALSO 7A101.
Huom.:KATSO MYÖS 7A101.
linear accelerometers having any of the following:
Lineaariset kiihtyvyysmittarit, joilla on jokin seuraavista ominaisuuksista:
Specified to function at linear acceleration levels less than or equal to 15 g, and having any of the following:
Määritelty toimimaan enintään 15 g:n lineaarisilla kiihtyvyystasoilla, ja jompikumpi seuraavista ominaisuuksista:
a "bias""stability" of less (better) than 130 micro g with respect to a fixed calibration value over a period of one year; or
"Biasstabiilisuus" vuoden aikana on vähemmän (parempi) kuin 130 mikro-g suhteessa kiinteään kalibrointiarvoon;
a "scale factor""stability" of less (better) than 130 ppm with respect to a fixed calibration value over a period of one year;
"Mittakertoimen""stabiilisuus" vuoden aikana on vähemmän (parempi) kuin 130 ppm suhteessa kiinteään kalibrointiarvoon;
specified to function at linear acceleration levels exceeding 15 g, and having all of the following:
Määritelty toimimaan yli 15 g:n lineaarisilla kiihtyvyystasoilla, ja kumpikin seuraavista ominaisuuksista:
a "bias""repeatability" of less (better) than 5000 micro g over a period of one year; and
"Biasin""toistuvuus" on vuoden aikana vähemmän (parempi) kuin 5000 mikro-g; ja
a "scale factor""repeatability" of less (better) than 2500 ppm over a period of one year; or
"Mittakertoimen""toistuvuus" on vuoden aikana vähemmän (parempi) kuin 2500 ppm;
designed for use in inertial navigation or guidance systems and specified to function at linear acceleration levels exceeding 100 g;
Suunniteltu käytettäväksi inertiasuunnistus- tai ohjausjärjestelmissä ja määritelty toimimaan yli 100 g:n lineaarisilla kiihtyvyystasoilla;