natgillin/translations-raw huggingface dataset:
ύαλος (περιλαμβανομένων υαλοποιημένων ή σμαλτωμένων επιχρίσεων ή υάλινων επενδύσεων)
Glass (including vitrified or enamelled coatings or glass lining);
ζιρκόνιο ή κράματα ζιρκονίου
Zirconium or zirconium alloys;
καρβίδιο του πυριτίου
Silicon carbide;
καρβίδιο του τιτανίου ή
Titanium carbide; or
ανοξείδωτος χάλυβας
Stainless steel.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει ψυγεία οχημάτων.
Note: This item does not control vehicle radiators.
Αντλίες πολλαπλής στεγανότητας και χωρίς σφραγίδες στεγανότητας, εκτός από τις προδιαγραφόμενες στο σημείο 2B350.ι, κατάλληλες για διαβρωτικά ρευστά, των οποίων ο μέγιστος ρυθμός ροής βάσει προδιαγραφών του κατασκευαστή είναι τουλάχιστον 0,6 m3/h ή αντλίες κενού, των οποίων ο μέγιστος ρυθμός ροής βάσει προδιαγραφών του κατασκευαστή είναι τουλάχιστον 5 m3/h (μετρούμενες υπό κανονικές συνθήκες θερμοκρασίας [273 K (0 °C)] και πίεσης (101,3 kPa)· και περιβλήματα (σώματα αντλιών), προσχηματισμένα χιτώνια περιβλημάτων, πτερωτές, ρότορες ή ακροφύσια αντλιών δι’ εκτοξεύσεως προς χρήση στις αντλίες αυτές, των οποίων όλες οι επιφάνειες που έρχονται σε άμεση επαφή με την (τις) υπό επεξεργασία ή περιεχόμενη(-ες) χημική(-ες) ουσία(-ες) είναι κατασκευασμένες από οποιοδήποτε από τα ακόλουθα υλικά:
Multiple-seal, and seal-less pumps, other than those specified in 2B350i, suitable for corrosive fluids, with manufacturer's specified maximum flow-rate greater than 0,6 m3/hour, or vacuum pumps with manufacturer's specified maximum flow-rate greater than 5 m3/hour (measured under standard temperature (273 K (0 °C)) and pressure (101,3 kPa) conditions); and casings (pump bodies), preformed casing liners, impellers, rotors or jet pump nozzles designed for such pumps, in which all surfaces that come in direct contact with the chemical(s) being processed are made from any of the following materials:
χάλυβας
Stainless steel,
Φυγοκεντρικοί διαχωριστές με ικανότητα συνεχούς διαχωρισμού χωρίς διασπορά αερολυμάτων που είναι κατασκευασμένοι από:
Centrifugal separators, capable of continuous separation without the propagation of aerosols and manufactured from:
ή κράματα τιτανίου ή
Titanium or titanium alloys; or
ή κράματα ζιρκονίου
Zirconium or zirconium alloys.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τους φυγοκεντρικούς διαχωριστές που καθορίζονται στο σημείο 2B352.γ
Note: This item does not control centrifugal separators defined in item 2B352.c.
Φίλτρα από πυροσυσσωματωμένο μέταλλο από νικέλιο ή κράματα περιεκτικότητας άνω του 40 % κατά βάρος σε νικέλιο.
Sintered metal filters made of nickel or nickel alloy with a nickel content of 40 % or more by weight.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τα φίλτρα που καθορίζονται στο σημείο 2B352.δ
Note: This item does not control filters defined in item 2B352.d.
Ηλεκτρονικά
Electronics
Τροφοδοτικά συνεχούς ρεύματος υψηλής τάσης που έχουν και τα δύο από τα ακόλουθα χαρακτηριστικά:
High voltage direct current power supplies having both of the following characteristics:
μπορούν να παράγουν συνεχώς, σε χρονική περίοδο 8 ωρών, 20 kV ή παραπάνω με ρεύμα εξόδου 5 kW ή παραπάνω, με ή χωρίς σάρωση και
Capable of continuously producing, over a time period of eight hours, 10 kV or greater, with output power of 5 kW or greater with or without sweeping; and
σταθερότητα τάσης ή ρεύματος καλύτερη από 0,1 % σε χρονική περίοδο 4 ωρών
Current or voltage stability better than 0,1 % over a time period of four hours.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τα τροφοδοτικά συνεχούς ρεύματος που καθορίζονται στα σημεία 0B001.ι.5 και 3A227
Note: This item does not control power supplies defined in items 0B001.j.5 and 3A227.
Φασματογράφοι μάζας εκτός από τους προδιαγραφόμενους στα σημεία 3A233 ή 0Β002.ζ., που μπορούν να μετρήσουν ιόντα μεγέθους 200 ατομικών μονάδων μάζας ή παραπάνω και οι οποίοι έχουν διακριτική ικανότητα καλύτερη από 2 μέρη στα 200, ως εξής, καθώς επίσης και πηγές ιόντων για τους φασματογράφους αυτούς:
Mass spectrometers, other than those specified in 3A233 or 0B002g, capable of measuring ions of 200 atomic mass units or greater and having a resolution of better than 2 parts in 200, as follows, and ion sources therefor:
επαγωγικά συζευγμένοι φασματογράφοι μάζας πλάσματος (ICP/ΜS)·
Inductively coupled plasma mass spectrometers (ICP/MS);
φασματογράφοι μάζας εκκένωσης με διαύγεια (GDMS)·
Glow discharge mass spectrometers (GDMS);
φασματογράφοι μάζας με θερμικό ιονισμό (TIMS)·
Thermal ionisation mass spectrometers (TIMS);
φασματογράφοι μάζας με βομβαρδισμό ηλεκτρονίων που έχουν θάλαμο πηγής κατασκευασμένο ή με επίστρωση ή κάλυψη από υλικά που αντέχουν στη διάβρωση με UF6·
Electron bombardment mass spectrometers which have a source chamber constructed from, lined with or plated with "Materials resistant to corrosion by UF6";
φασματογράφοι μάζας δέσμης μορίων, με ένα από τα ακόλουθα χαρακτηριστικά:
Molecular beam mass spectrometers having either of the following characteristics:
θάλαμο πηγής κατασκευασμένο, με επίστρωση ή με κάλυψη από ανοξείδωτο χάλυβα ή μολυβδαίνιο και εξοπλισμοί με ψυχρή παγίδα που μπορεί να ψυχθεί σε θερμοκρασία 193 K (– 80 °C) ή χαμηλότερη, ή
A source chamber constructed from, lined with or plated with stainless steel or molybdenum and equipped with a cold trap capable of cooling to 193 K (– 80 °C) or less; or
θάλαμο πηγής κατασκευασμένο, με επίστρωση ή με κάλυψη από υλικά που αντέχουν στη διάβρωση με UF6·
A source chamber constructed from, lined with or plated with "Materials resistant to corrosion by UF6";
στ) φασματογράφοι μάζας εξοπλισμένοι με πηγή ιόντων μικροφθορίωσης που έχουν σχεδιασθεί για ακτινίδες ή φθοριούχες ακτινίδες.
Mass spectrometers equipped with a microfluorination ion source designed for actinides or actinide fluorides.
Αισθητήρες και λέιζερ
Sensors and Lasers
Ράβδοι από γρανίτη υτρίου-αργιλίου (YAG)
Yttrium aluminium garnet (YAG) rods
Υπέρυθρα οπτικά συστήματα με μήκος κύματος μεταξύ 9 και 17 μm και δομικά μέρη αυτών, συμπεριλαμβανομένων των δομικών μερών από τελλουριούχο κάδμιο (CdTe).
Infrared optics in the wavelength range 9–17 μm and components therefor, including cadmium telluride (CdTe) components.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τις κάμερες ελέγχου και τα δομικά μέρη που καθορίζονται στο σημείο 6A003
Note: This item does not control cameras and components defined in item 6A003
Συστήματα διόρθωσης μετώπου κύματος για χρήση με ακτίνα λέιζερ διαμέτρου άνω των 4 mm και ειδικά σχεδιασμένα δομικά μέρη τους, μεταξύ αυτών συστήματα ελέγχου, αισθητήρες μετώπου φάσης για «παραμορφώσιμα κάτοπτρα» συμπεριλαμβανομένων των δίμορφων κατόπτρων.
Wave front corrector systems for use with a laser beam having a diameter exceeding 4 mm, and specially designed components therefor, including control systems, phase front sensors and "deformable mirrors" including bimorph mirrors.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τα οπτικά κάτοπτρα που καθορίζονται στα σημεία 6A004.α, 6A005.ε και 6A005.στ
Note: This item does not control mirrors defined in 6A004.a, 6A005.e and 6A005.f
«Λέιζερ» ημιαγωγών και δομικά στοιχεία, ως εξής:
Semiconductor "lasers" and components therefor, as follows:
«λέιζερ» ημιαγωγών με ισχύ εξόδου άνω των 200 mW έκαστο, σε ποσότητες άνω των 100·
Individual semiconductor "lasers" with an output power greater than 200 mW each, in quantities larger than 100;
«λέιζερ» ημιαγωγών με ισχύ εξόδου άνω των 20 W
Semiconductor "laser" arrays having an output power greater than 20 W.
Τα «λέιζερ» ημιαγωγών συνήθως αποκαλούνται δίοδοι «λέιζερ»
Semiconductor "lasers" are commonly called "laser" diodes.
Σε αυτό το είδος δεν ελέγχονται τα «λέιζερ» που καθορίζονται στα είδη 0B001.ζ.5., 0B001.η.6. και 6A005.β
This item does not control "lasers" defined in items 0B001.g.5, 0B001.h.6 and 6A005b.
Σε αυτό το είδος δεν ελέγχονται οι δίοδοι «λέιζερ» με μήκος κύματος 1200 – 2000 nm
This item does not control "laser" diodes with a wavelength in the range 1200–2000 nm.
Συντονίσιμα «λέιζερ» ημιαγωγών και συντονίσιμες συστοιχίες «λέιζερ» ημιαγωγών, μήκους κύματος μεταξύ 9 μm και 17 μm, καθώς και σειρές συστοιχιών «λέιζερ» ημιαγωγών με τουλάχιστον μια συντονίσιμη συστοιχία «λέιζερ» τέτοιου μήκους κύματος
Tunable semiconductor "lasers" and tunable semiconductor "laser" arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor "lasers" containing at least one tunable semiconductor "laser array" of such wavelength.
Σε αυτό το είδος δεν ελέγχονται τα «λέιζερ» ημιαγωγών ελέγχου που καθορίζονται στα είδη 0B001.η.6., 6A005.β
This item does not control semiconductor "lasers" defined in items 0B001.h.6 and 6A005.b.
«Λέιζερ» στερεάς κατάστασης και ειδικά σχεδιασμένα δομικά μέρη τους ως εξής:
Solid state "tunable""lasers" as follows, and specially designed components therefor:
τιτάνιο-σαπφείρου
Titanium-sapphire lasers;
αλεξανδρίτη
Alexandrite lasers.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τα «λέιζερ» ελέγχου τιτανίου-σαπφείρου και τα λέιζερ αλεξανδρίτη που καθορίζονται στα είδη 0B001.ζ.5., 0B001.η.6. και 6A005.γ.1
Note: This item does not control titanium-sapphire and alexandrite lasers defined in items 0B001.g.5, 0B001.h.6 and 6A005.c.1
«Λέιζερ» με προσμείξεις νεοδυμίου (διαφορετικά από υάλου), που έχουν μήκος κύματος εξόδου άνω των 1000 nm και μέχρι 1100 nm, και ενέργεια εξόδου άνω των 10 J ανά παλμό
Neodymium-doped (other than glass) "lasers", having an output wavelength exceeding 1000 nm but not exceeding 1100 nm and output energy exceeding 10 J per pulse.
Σημείωση: αυτό το είδος δεν ελέγχει τα «λέιζερ» με προσμείξεις νεοδυμίου (διαφορετικά από υάλου) που καθορίζονται στο σημείο 6A005.γ.2.β
Note: This item does not control neodymium-doped (other than glass) "lasers" defined in item 6A005.c.2.b
Δομικά μέρη ακουστοοπτικής, ως εξής:
Components of acousto-optics, as follows:
αποτύπωση εικόνων και συσκευές απεικόνισης στερεάς κατάστασης με ρυθμό επανάληψης ίσο ή ανώτερο από 1 kHz
Framing tubes and solid-state imaging devices having a recurrence frequency equal to or exceeding 1kHz;
ρυθμός επανάληψης
Recurrence frequency supplies;
POCKELS
Pockels cells.
Μηχανές λήψης ανθεκτικές στις ακτινοβολίες, εκτός από τις προσδιοριζόμενες στο σημείο 6A203γ, ειδικώς σχεδιασμένες ή βαθμολογημένες για να αντέχουν ολική δόση ακτινοβολίας μεγαλύτερη από 5 × 103 Gy (πυρίτιο) [5 × 106 rad (πυρίτιο)] χωρίς υποβάθμιση της λειτουργίας.
Radiation-hardened cameras, or lenses therefor, other than those specified in 6A203c, specially designed or rated as radiation hardened to withstand a total radiation dose greater than 50 × 103 Gy(silicon) (5 × 106 rad (silicon)) without operational degradation.
Συντονίσιμοι ενισχυτές και ταλαντωτές παλμικού λέιζερ χρωστικής ουσίας με όλα τα ακόλουθα χαρακτηριστικά:
Tunable pulsed dye laser amplifiers and oscillators, having all of the following characteristics:
σε μήκος κύματος μεταξύ 300 nm και 800 nm
Operating at wavelengths between 300 nm and 800 nm;
ισχύς εξόδου άνω των 10 W που δεν υπερβαίνει τα 30 W
An average output power greater than 10 W but not exceeding 30 W;
επανάληψη μεγαλύτερη του 1 kHz και
A repetition rate greater than 1 kHz; and
παλμός μικρότερος από 100 ns
Pulse width less than 100 ns.
Σε αυτό το είδος δεν ελέγχονται οι μονότροποι ταλαντωτές.
This item does not control single mode oscillators.
Σε αυτό το σημείο δεν ελέγχονται οι συντονίσιμοι ενισχυτές και ταλαντωτές παλμικού λέιζερ χρωστικής ουσίας που προσδιορίζονται στα σημεία 6A205.γ, 0B001.ζ.5 και 6A005
This item does not control tunable pulsed dye laser amplifiers and oscillators defined in item 6A205.c, 0B001.g.5 and 6A005
Παλμικά «λέιζερ» διοξειδίου του άνθρακα με όλα τα ακόλουθα χαρακτηριστικά:
Pulsed carbon dioxide "lasers" having all of the following characteristics:
Λειτουργία σε μήκος κύματος μεταξύ 9000 nm και 11000 nm
Operating at wavelengths between 9000 nm and 11000 nm;
Ρυθμό επανάληψης μεγαλύτερο των 250 kHz
A repetition rate greater than 250 Hz;
Μέση ισχύ εξόδου άνω των 100 W που δεν υπερβαίνει τα 500 W και
An average output power greater than 100 W but not exceeding 500 W; and
Πλάτος παλμού μικρότερο από 200 ns
Pulse width of less than 200 ns.
Σημείωση: αυτό το σημείο δεν ελέγχει τους ενισχυτές και ταλαντωτές παλμικού λέιζερ διοξειδίου του άνθρακα που καθορίζονται στα σημεία 6A205.δ, 0B001.η.6 και 6A005
Note: This item does not control pulsed carbon dioxide laser amplifiers and oscillators defined in item 6A205.d, 0B001.h.6 and 6A005d.
Αεροναυτική και αεροηλεκτρονική
Navigation and Avionics
Αδρανειακά συστήματα (IS) και ειδικά σχεδιασμένα δομικά στοιχεία, ως εξής:
Inertial systems and specially designed components, as follows:
I. Συστήματα αδρανειακής πλοήγησης που έχουν εγκριθεί για χρήση στα αεροσκάφη «πολιτικής αεροπορίας» από τις αρχές πολιτικής αεροπορίας κράτους συμμετέχοντος στο διακανονισμό του Wassenaar, και ειδικά σχεδιασμένα δομικά μέρη τους, ως εξής:
I. Inertial navigation systems which are certified for use on "civil aircraft" by civil authorities of a State participating in the Wassenaar Arrangement, and specially designed components, as follows:
συστήματα αδρανειακής πλοήγησης (INS) (με καρδανική ανάρτηση ή συνδέσμους = strapdown) καθώς και αδρανειακός εξοπλισμός σχεδιασμένα για «αεροσκάφη», επίγεια οχήματα, σκάφη (επιφανείας ή υποβρύχια), ή «διαστημικά οχήματα», για τον προσανατολισμό, την καθοδήγηση, το χειρισμό, που παρουσιάζουν οιοδήποτε από τα ακόλουθα χαρακτηριστικά, καθώς και ειδικά σχεδιασμένα δομικά μέρη τους:
Inertial navigation systems (INS) (gimballed or strapdown) and inertial equipment designed for "aircraft", land vehicle, vessels (surface or underwater) or "spacecraft" for attitude, guidance or control, having any of the following characteristics, and specially designed components therefor:
σφάλμα πλοήγησης (απηλλαγμένο αδρανείας) κατόπιν κανονικής ευθυγράμμισης 0,8 ναυτικών μιλίων ανά ώρα (nm/hr) 'Πιθανότητα κυκλικού λάθους' (CEP) ή λιγότερο (καλύτερα), ή
Navigation error (free inertial) subsequent to normal alignment of 0,8 nautical mile per hour (nm/hr) 'Circular Error Probable' (CEP) or less (better); or
που προορίζονται να λειτουργούν σε μεγέθη γραμμικής επιτάχυνσης άνω των 10 g·
Specified to function at linear acceleration levels exceeding 10 g;
υβριδικά συστήματα αδρανειακής πλοήγησης με ενσωματωμένο(-α) Παγκόσμιο Δορυφορικό Σύστημα Πλοήγησης (GNSS) ή Σύστημα(-τα) «Πλοήγησης βάσει Καταχωρημένων Δεδομένων» («DBRN») για τον προσανατολισμό, την καθοδήγηση ή το χειρισμό, κατόπιν κανονικής ευθυγράμμισης, με ακρίβεια στίγματος INS, μετά την απώλεια του GNSS ή της «DBRN» επί διάρκεια μέχρι τεσσάρων λεπτών, μικρότερη (καλύτερη) από 10 μέτρα 'πιθανότητας κυκλικού λάθους' (CEP)·
Hybrid inertial navigation systems embedded with Global Navigation Satellite Systems(s) (GNSS) or with "Data-Based Referenced Navigation" ("DBRN") System(s) for attitude, guidance or control, subsequent to normal alignment, having an INS navigation position accuracy, after loss of GNSS or "DBRN" for a period of up to four minutes, of less (better) than 10 metres 'Circular Error Probable' (CEP);
αδρανειακός εξοπλισμός για αζιμούθ, κατεύθυνση ή στίγμα του Βορρά, με οποιοδήποτε από τα παρακάτω χαρακτηριστικά, και ειδικά σχεδιασμένα γι’ αυτόν δομικά στοιχεία:
Inertial Equipment for Azimuth, Heading, or North Pointing having any of the following characteristics, and specially designed components therefor:
σχεδιασμένος ώστε να έχει ακρίβεια προσδιορισμού αζιμούθ, κατεύθυνσης ή στίγματος του Βορρά 6 λεπτών τόξου RMS σε πλάτος 45 μοιρών ή
Designed to have an Azimuth, Heading, or North Pointing accuracy equal to, or less (better) than 6 arc minutes RMS at 45 degrees latitude; or
σχεδιασμένος ώστε να έχει επίπεδο κραδασμού μη λειτουργίας 900 g ή μεγαλύτερο επί 1 msec ή περισσότερο
Designed to have a non-operating shock level of 900 g or greater at a duration of 1 msec, or greater.
Σημείωση: παράμετροι του Ι.α και του Ι.β. εφαρμόζονται σε οιαδήποτε από τις ακόλουθες συνθήκες περιβάλλοντος:
Note: The parameters of I.a. and I.b. are applicable with any of the following environmental conditions:
εισαγωγή τυχαίων κραδασμών με συνολικό μέγεθος 7,7 g rms την πρώτη μισή ώρα και συνολική διάρκεια δοκιμής μιάμιση ώρα ανά άξονα στον καθένα από τους τρεις κάθετους άξονες, όπου οι τυχαίοι κραδασμοί ανταποκρίνονται στα ακόλουθα:
Input random vibration with an overall magnitude of 7,7 g rms in the first half hour and a total test duration of one and one half hour per axis in each of the three perpendicular axes, when the random vibration meets the following:
σταθερή τιμή της φασματικής πυκνότητας ισχύος (PSD) 0,04 g2/Hz σε διάστημα συχνότητας 15 έως 1000 Hz και
A constant power spectral density (PSD) value of 0,04 g2/Hz over a frequency interval of 15 to 1000 Hz; and
η PSD μειούται με συχνότητα από 0,04 g2/Hz έως 0,01 g2/Hz σε διάστημα συχνότητας από 1000 έως 2000 Hz
The PSD attenuates with frequency from 0,04 g2/Hz to 0,01 g2/Hz over a frequency interval from 1000 to 2000 Hz;
ταχύτητα εγκάρσιας περιστροφής και εκτροπής ίση ή μεγαλύτερη από + 2,62 ακτίνια ανά δευτερόλεπτο (150 deg/s) ή
A roll and yaw rate of equal to or more than + 2,62 radian/s (150 deg/s); or
σύμφωνα με εθνικά πρότυπα ισοδύναμα με τα ως άνω 1. ή 2.
According to national standards equivalent to 1. or 2. above.
Τεχνικές παρατηρήσεις:
Technical notes:
Το σημείο Ι.β αφορά συστήματα στα οποία το INS και άλλα ανεξάρτητα βοηθήματα πλοήγησης είναι ενσωματωμένα σε μια μόνον μονάδα ώστε να επιτυγχάνονται καλύτερες επιδόσεις.
refers to systems in which an INS and other independent navigation aids are built into a single unit (embedded) in order to achieve improved performance.
Πιθανότητα κυκλικού λάθους (CEP) — Σε μια κυκλική κανονική κατανομή, η ακτίνα του κύκλου που περιέχει το 50 % των πραγματοποιούμενων μετρήσεων, ή η ακτίνα του κύκλου εντός του οποίου υπάρχει 50 % πιθανότητα να βρίσκεται η πραγματική θέση.
'Circular Error Probable' (CEP) — In a circular normal distribution, the radius of the circle containing 50 % of the individual measurements being made, or the radius of the circle within which there is a 50 % probability of being located.
Συστήματα θεοδολίχων που εμπεριέχουν αδρανειακό εξοπλισμό ειδικά σχεδιασμένο για πολιτικές γεωδαιτικές εφαρμογές και σχεδιασμένο ώστε να έχει ακρίβεια προσδιορισμού αζιμούθ, κατεύθυνσης ή στίγματος του Βορρά 6 λεπτών τόξου RMS σε πλάτος 45 μοιρών, και ειδικά σχεδιασμένα δομικά μέρη τους
Theodolite systems incorporating inertial equipment specially designed for civil surveying purposes and designed to have an Azimuth, Heading, or North Pointing accuracy equal to, or less (better) than 6 arc minutes RMS at 45 degrees latitude, and specially designed components therefor.
Αδρανειακοί ή λοιποί εξοπλισμοί που χρησιμοποιούν επιταχυνσιόμετρα που προσδιορίζονται στα σημεία 7A001 ή 7A101, όπου τα επιταχυνσιόμετρα αυτά σχεδιάζονται και κατασκευάζονται ειδικά ως αισθητήρες MWD (Μέτρησης κατά τη Γεώτρηση) για χρήση σε εργασίες στο βυθό φρέατος
Inertial or other equipment using accelerometers specified in 7A001 or 7A101, where such accelerometers are specially designed and developed as MWD (Measurement While Drilling) sensors for use in downhole well services operations.
Τεχνολογία
TECHNOLOGY
Τεχνολογία που απαιτείται για την ανάπτυξη, την παραγωγή ή τη χρήση των ειδών του τμήματος Α (Αγαθά) ανωτέρω.
Technology required for the development, production or use of the items in Part A (Goods) above.
Δικτυακοί τόποι προς ενημέρωση σχετικά με τις αρμόδιες αρχές που αναφέρονται στο άρθρο 3 παράγραφοι 4 και 5, στο άρθρο 5 παράγραφος 3, στα άρθρα 6, 8, 9, στο άρθρο 10 παράγραφος 1, στο άρθρο 13 παράγραφος 1 και στο άρθρο 17 και διεύθυνση για τις κοινοποιήσεις στην Ευρωπαϊκή Επιτροπή
Websites for information on the competent authorities referred to in Articles 3(4), 3(5), 5(3), 6, 8, 9, 10(1), 10(2), 13(1) and 17 and address for notifications to the European Commission
Κατάλογος των προσώπων, οντοτήτων και οργανισμών που αναφέρονται στο άρθρο 7 παράγραφος 1
List of persons, entities and bodies referred to in Article 7(1)
Νομικά πρόσωπα, οντότητες και οργανισμοί
Legal persons, entities and bodies
Οργανισμός Ατομικής Ενέργειας του Ιράν [Atomic Energy Organisation of Iran (AEOI)].
Atomic Energy Organisation of Iran (AEOI).
Άλλες πληροφορίες: συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: Involved in Iran's nuclear programme.
Οργανισμός Αμυντικών Βιομηχανιών [Defence Industries Organisation (DIO)].
Defence Industries Organisation (DIO).
Άλλες πληροφορίες: α) σημαντική οντότητα που τελεί υπό τον έλεγχο του MODAFL, της οποίας ορισμένοι υπάλληλοι συμμετείχαν στο πρόγραμμα φυγοκέντρισης για κατασκευαστικά στοιχεία, και στο πρόγραμμα πυραύλων· β) συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: (a) Overarching MODAFL-controlled entity, some of whose subordinates have been involved in the centrifuge programme making components, and in the missile programme, (b) Involved in Iran's nuclear programme.
Άλλες πληροφορίες: α) πρώην Μονάδα Οργάνων Αυτοματισμού (Instrumentation Factory Plant), β) θυγατρική μονάδα της ΑΙΟ, γ) συμμετέχει στο πρόγραμμα βαλλιστικών πυραύλων του Ιράν.
Other information: (a) Formerly Instrumentation Factory Plant, (b) Subordinate entity of AIO, (c) Involved in Iran's ballistic missile programme.
Άλλες πληροφορίες: α) συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν (πρόγραμμα φυγοκέντρησης), β) κατονομάζεται στις εκθέσεις του Διεθνούς Οργανισμού Ατομικής Ενέργειας (ΔΟΑΕ).
Other information: (a) Involved in Iran's nuclear programme (centrifuge programme), (b) Identified in IAEA reports.
Kala-Electric (γνωστός ως Kalaye Electric).
Kala-Electric (alias Kalaye Electric).
Άλλες πληροφορίες: α) προμηθευτής του PFEP — Natanz, β) συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: (a) Provider for PFEP – Natanz, (b) Involved in Iran's nuclear programme.
Άλλες πληροφορίες: α) προμηθευτής ερευνητικού αντιδραστήρα Α40 — Arak, β) συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: (a) Provider for A40 research reactor – Arak, (b) Involved in Iran's nuclear programme.
Άλλες πληροφορίες: α) θυγατρική μονάδα του Οργανισμού Αμυντικών Βιομηχανιών (DIO), θεωρείται ευρέως ότι συμμετέχει άμεσα στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν, β) συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: (a) Subordinate of DIO, widely recognized as being directly involved in Iran's nuclear programme, (b) Involved in Iran's nuclear programme.
Άλλες πληροφορίες: α) θυγατρική μονάδα AIO — Natanz, β) συμμετέχει στο πρόγραμμα βαλλιστικών πυραύλων του Ιράν.
Other information: (a) Subordinate entity of AIO, (b) Involved in Iran's ballistic missile programme.
Shahid Bagheri Industrial Group (SHIG).
Shahid Hemmat Industrial Group (SHIG).
Άλλες πληροφορίες: α) θυγατρική μονάδα του AIO — Natanz, β) συμμετέχει στο πρόγραμμα βαλλιστικών πυραύλων του Ιράν.
Other information: (a) subordinate entity of AIO, (b) Involved in Iran's ballistic missile programme.
Καθήκοντα: προϊστάμενος της PFEP (Natanz).
Function: Head of the PFEP (Natanz).
Άλλες πληροφορίες: πρόσωπο που συμμετέχει στο πυρηνικό πρόγραμμα του Ιράν.
Other information: Person involved in Iran's nuclear programme.
Καθήκοντα: ανώτερο διευθυντικό στέλεχος (Arak).
Function: Operational Manager (Arak).
Καθήκοντα: προϊστάμενος του τμήματος Οικονομικών και Προϋπολογισμού, ΑΙΟ.
Function: Head of Finance & Budget Dept, AIO.
Άλλες πληροφορίες: πρόσωπο που συμμετέχει στο πρόγραμμα βαλλιστικών πυραύλων του Ιράν.
Other information: Person involved in Iran's ballistic missile programme.
Καθήκοντα: προϊστάμενος της ΑΙΟ.
Function: Head of the AIO.
Καθήκοντα: επικεφαλής του τμήματος Εμπορίου και Διεθνών Υποθέσεων, ΑΙΟ.
Function: Head of Trade & International Affairs Dept, AIO.
Καθήκοντα: γενικός διευθυντής της Mesbah Energy Company.
Function: Director General of Mesbah Energy Company.
Καθήκοντα: τεχνικός σύμβουλος του AEOI (αρμόδιος για τη διαχείριση παραγωγής βαλβίδων για φυγοκέντρους).
Function: Technical Adviser to the AEOI (in charge of managing the production of valves for centrifuges).
Καθήκοντα: διευθυντής κατασκευαστικών έργων, Natanz.
Function: Construction Project Manager, Natanz.
Τίτλος: Lt Gen.
Title: Lt Gen.
Καθήκοντα: πρύτανης του Πανεπιστημίου Malek Ashtar για αμυντικές τεχνολογίες.
Function: Rector of Malek Ashtar University of Defence Technology.