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[본 발명은, 가압 하에 있는 시료의 분석 평가에 이용되고, 특히 전고체 전지의 분석 평가에 호적한 가압 분석용 구조체, X선 회절 장치 및 가압 분석 시스템에 관한 것이다.]
The present invention relates to a structure for pressurization analysis, an X-ray diffraction apparatus and a pressurization analysis system that are used for analysis and evaluation of a sample under pressurization, and are particularly suitable for analysis and evaluation of an all-solid-state battery.
[전고체 전지는, 전해질 층의 양단 측에 전극 활물질 층을 가지는 구성으로 되어 있고, 충방전 사이클 시에 용량 열화(劣化)나 저항 상승을 야기한다.
An all-solid-state battery is configured to have electrode active material layers on both end sides of an electrolyte layer, which causes capacity deterioration and resistance increase during a charging and discharging cycle.
예를 들면, 전고체 리튬 이온 전지에서는 리튬 이온(Li)의 삽입·이탈에 수반하여, 결정 구조에 변화를 일으키기 쉽다.
For example, in an all-solid-state lithium-ion battery, the crystal structure is likely to change with insertion and removal of lithium ions (Li).
그 때문에, 열화 기구의 해명에 있어서, 충방전에 수반하는 결정 구조의 변화를 X선 회절 측정에 의해 평가하는 것이 행해지고 있다.]
Therefore, in order to elucidate the deterioration mechanism, changes in the crystal structure due to charging and discharging are evaluated by X-ray diffraction measurement.
[일본공개특허 특개2012－159311호 공보(특허문헌 1) 및 일본공개특허 특개2017－72530호 공보(특허문헌 2)에는, X선 회절 측정에 의한 시료 전지의 평가에 이용되는, 종래의 전지 분석용 구조체(가압 분석용 구조체)가 개시되어 있다.]
Japanese Patent Laid-Open No. 2012-159311 (hereinafter referred to as Patent Literature 1) and Japanese Patent Laid-Open No. 2017-72530 (hereinafter referred to as Patent Literature 2) disclose conventional structures for battery analysis (structures for pressurization analysis) which are used for evaluation of sample batteries by X-ray diffraction measurement.
[특허문헌 1에 개시된 X선 측정용 전지 구조체는, 전지 요소(2)를 부극측 커버(5a)와 정극측 커버(5b) 사이에 끼워넣고, 대부분의 너트(22)를 사용해서 이들 각 커버(5a, 5b)를 조여서 전지 요소(2)를 밀봉하여, 대기와 차단하는 구성을 구비하고 있다.
A battery structure for X-ray measurement disclosed in Patent Literature 1 is configured so that a battery element (2) is interposed between a negative electrode side cover (5a) and a positive electrode side cover (5b), and these covers (5a, 5b) are tightened by using many nuts (22) to hermetically seal the battery element (2), thereby shielding the battery structure for X-ray measurement from the atmosphere.
또한, 너트(22)에 의한 조임 구조는, 전지 요소(2)의 기밀성을 확보하기 위한 것이다(상기 특허문헌 1의 명세서 단락 「0020」참조).]
Here, the tightening structure using the nuts (22) is used to ensure the airtightness of the battery element (2) (see paragraph "0020" in the specification of Patent Literature 1).
[또, 특허문헌 2에 개시된 분석용 셀은, 제1 부재(11), 제2 부재(21), 제3 부재(31)를 포함하는 케이싱(筐體)(10)을 구비하고 있고, 이 케이싱(10) 내에 시료 전지(100)를 수용해서, X선 회절 측정에 의해 평가를 행하는 구성을 구비하고 있다.
Further, an analysis cell disclosed in Patent Literature 2 is configured to include a housing (10) having a first member (11), a second member (21), and a third member (31), and accommodate a sample battery (100) in the housing (10) to perform evaluation by X-ray diffraction measurement.
케이싱(10)을 구성하는 각 부재(11, 21, 31)는, 그들 각 부재에 마련된 다수의 관통 구멍(12, 22, 32)에 볼트를 삽입하고, 너트로 조임으로써 조립된다(상기 특허문헌 2의 명세서 단락 「0053」참조).]
The respective members (11, 21, 31) constituting the housing (10) are assembled by inserting bolts into a large number of through-holes (12, 22, 32) formed in the respective members and tightening the bolts with nuts (see paragraph "0053" in the specification of Patent Literature 2).
[여기서, 괄호 안의 부호는, 각 특허문헌에 있어서, 각각 각 구성요소에 부가되어 있던 것이다(이하, 마찬가지).]
Here, reference numerals in parentheses are those assigned to the respective components in each Patent Literature (hereinafter, the same applies).
[그런데, 전고체 전지에서는, 전해질 층에 고체의 전해질이 이용되고 있다.
In all-solid-state batteries, a solid electrolyte is used for an electrolyte layer.
전고체 전지의 내부에서는, 충방전에 수반하여, 각 요소로 되는 전극 활물질 층, 고체 전해질 층, 도전재 등이 팽창 수축하여, 입자 간의 공극이나 고체 전해질 층과 전극 활물질 층의 계면의 박리, 또는 내부 크랙 등의 현상이 생기기 쉽고, 이들 현상이 생긴 경우에 전지로서 정상적으로 기능하지 않게 되어 버린다.
Inside the all-solid-state battery, an electrode active material layer, a solid electrolyte layer, a conductive material, etc. which are components of the all-solid-state battery expand and contract due to charging and discharging, and phenomena such as voids between particles, exfoliation of the interface between the solid electrolyte layer and the electrode active material layer or internal cracks are likely to occur, and if these phenomena occur, the battery would not function normally.
그래서, 이런 종류의 전고체 전지를 시료 전지로 해서 분석 평가를 실시하는 경우에는, 시료 전지를 균일한 가압 상태로 유지하여, 도전 패스의 확보나 충방전에 수반하는 팽창 수축을 억제할 필요가 있다.]
Therefore, when analysis and evaluation are performed on this type of all-solid-state battery as a sample battery, it is necessary to hold the sample battery in a uniform pressurized state so that a conductive path is secured and expansion and contraction caused by charging and discharging are suppressed.
[그렇지만, 상술한 특허문헌 1 및 2에 개시된 종래의 전지 분석용 구조체(분석용 셀)는, 어느 것이나(모두) 시료 전지를 균일한 가압 상태로 유지해서, 도전 패스의 확보나 충방전에 수반하는 시료 전지의 팽창 수축을 억제할 수 있는 구성을 구비하고 있지 않다.]
However, all of the conventional structures for battery analysis (analysis cells) disclosed in Patent Literatures 1 and 2 described above do not have any configuration for holding sample batteries in a uniform pressurized state to secure a conductive path and suppress the expansion and contraction of the sample batteries caused by charging and discharging.
[덧붙여서, 특허문헌 1에 개시된 너트(22)에 의한 조임 구조는, 전지 요소(2)의 기밀성을 확보하기 위한 것이고, 게다가 탄성 부재(4a, 4b)가 개재되기 때문에, 너트(22)를 조여도, 도전 패스의 확보나 팽창 수축을 억제할 수 있을 정도의 큰 압력을 시료 전지에 균일하게 작용시킬 수가 없다.]
Incidentally, the tightening structure using the nuts (22) disclosed in Patent Literature 1 is used to ensure the airtightness of the battery element (2), and also elastic members (4a, 4b) are interposed, so that it is impossible to uniformly apply a large pressure to the sample battery to the extent that the conductive path can be secured and the expansion and contraction can be suppressed even when the nuts (22) are tightened.
[또, 특허문헌 2에는, 누름봉으로 구성된 가압 기구(46)가 개시되어 있지만, 이 가압 기구(46)는, 시료 전지의 요소인 전극 활물질(112), 시료 전극(110) 및 창부재(51)의 일부를, 케이싱(10)의 창부(13)로부터 돌출시키기 위한 것이다(상기 특허문헌 2의 명세서 단락 「0042」와 도 3 참조).]
Further, Patent Literature 2 discloses a pressurizing mechanism (46) including a pushing rod, and the pressurizing mechanism (46) is used to protrude, from a window portion (13) of the housing (10), an electrode active material (112), the sample electrode (110) and a part of a window member (51) which are components of a sample battery (see paragraph "0042" in the specification and FIG. 3 of Patent Literature 2).
[이와 같이 전극 활물질(112), 시료 전극(110) 및 창부재(51)의 일부를, 케이싱(10)의 창부(13)로부터 돌출시킴으로써, 전극 활물질(112)과 시료 전극(110) 주위를 창부재(51)에 의해 피복하여, 시료 전극(110)과 창부재(51) 사이로의 전해액의 침입 방지와 시료 전지의 밀폐성 향상이 도모된다(상기 특허문헌 2의 명세서 단락 「0054」 참조).]
By protruding the electrode active material (112), the sample electrode (110), and the part of the window member (51) from the window portion (13) of the housing (10) as described above, the peripheries of the electrode active material (112) and the sample electrode (110) are covered by the window member (51) to prevent an electrolytic solution from infiltrating in between the sample electrode (110) and the window member (51) and improve the airtightness of the sample battery (see paragraph "0054" in the specification of Patent Literature 2).
[그렇지만, 상기 특허문헌 2의 가압 기구(46)에서는, 누름봉과 대향하는 측에 누름봉의 압압력(押壓力)을 받는 부재가 배치되어 있지 않아, 창부재(51)가 잡아 늘여지면서 그 압압력을 받는 구조로 되어 있으므로, 이러한 가압 기구(46)에 의해서도, 도전 패스의 확보나 팽창 수축을 억제할 수 있을 정도의 큰 압력을 시료 전지에 균일하게 작용시킬 수가 없다.]
However, the pressurizing mechanism (46) of Patent Literature 2 is configured so that a member for receiving the pressing force of the pushing rod is not arranged on a side facing the pushing rod, and thus the window member (51) receives the pressing force while being stretched.
[본 발명은, 상술한 사정을 감안해서 이루어진 것으로서, 큰 압력으로 시료를 균일하게 가압한 상태에서의 분석 평가의 실현을 목적으로 한다.]
The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and has an object to implement analysis and evaluation under a state where a sample is uniformly pressurized with a large pressure.
[또한, 본 발명은, 전고체 전지의 분석에 한정되지 않고, 각종 시료에 대한 가압된 상태에서의 분석 평가에 적용할 수가 있다.]
The present invention is not limited to analysis of an all-solid-state battery, and can be applied to analysis and evaluation of various types of samples under a pressurized state.
[본 발명에 관계된 가압 분석용 구조체는, 시료를 수용해서 배치하기 위한 시료실이 내부에 형성된 시료 수용 유닛과, 시료 수용 유닛에 장착되어, 시료실 내의 시료에 압력을 작용시키기 위한 가압 기구를 포함하는 가압 유닛을 구비하고 있다.
A structure for pressurization analysis according to the present invention comprises: a sample accommodating unit in which a sample chamber for accommodating and placing a sample therein is formed; and a pressurizing unit that is mounted on the sample accommodating unit and includes a pressurizing mechanism for causing pressure to act on the sample in the sample chamber.
시료 수용 유닛은, 가압 유닛으로부터의 압력을 시료실 내의 시료를 사이에 두는 대향 위치에서 받는 압력받이부(壓受部)와, 가압 유닛으로부터의 압력의 작용 방향과 교차하는 방향에 마련한 X선 창을 가지고 있다.
The sample accommodating unit includes a pressure receiving portion for receiving pressure from the pressurizing unit at a position opposite to the pressurizing unit with respect to the sample in the sample chamber, and an X-ray window provided in a direction intersecting an acting direction of the pressure from the pressurizing unit.
그리고, X선을 X선 창으로부터 받아들여서(취입해서) 시료실 내의 시료에 조사함과 함께, 시료로부터 반사되어 오는 회절 X선을 상기 X선 창으로부터 외부로 출사하는 구성으로 되어 있다.]
The sample accommodating unit is configured to receive X-rays through the X-ray window to irradiate the sample in the sample chamber with the X-rays, and emit diffracted X-rays reflected from the sample to an outside of the sample accommodating unit from the X-ray window.
[여기서, 시료 수용 유닛은, 일단면이 개구된 바닥 있는(유저) 실린더의 수용 유닛 본체를 구비하고, 수용 유닛 본체의 내부에 시료실이 형성되고, 수용 유닛 본체의 개구된 일단면 측으로부터 시료실 내의 시료를 향해 가압 유닛의 압력을 받음과 함께, 상기 개구된 일단면과 대향하는 안바닥부에 압력받이부를 형성한 구성으로 할 수가 있다.]
Here, the sample accommodating unit may include a bottomed cylindrical accommodating unit main body having opened one end surface and may be configured so that the sample chamber is formed inside the accommodating unit main body, and the pressure receiving portion receives the pressure of the pressurizing unit in a direction from an opened one end surface side of the accommodating unit main body to the sample in the sample chamber, and is formed at an inner bottom portion opposite to the opened one end surface.
[또, 수용 유닛 본체의 외주면을 향해 X선 창을 마련하고, 또한 X선을 투과하는 재료로 형성된 밀폐 부재에 의해 상기 X선 창을 폐색한 구성으로 할 수가 있다.]
Further, the X-ray window may be provided to face an outer peripheral surface of the accommodating unit main body, and the X-ray window may be blocked by a hermetically sealing member formed of a material through which X-rays are transmitted.
[또, 수용 유닛 본체의 외주면으로부터 내부로 관통하는 단차 있는(계단식) 절결홈을 형성함과 함께, 그 절결홈의 단차부로부터 외주면까지의 공간의 개구 폭을, 상기 단차부로부터 내부까지의 공간의 개구 폭보다도 넓게 형성하고, 상기 단차부에 X선 창을 마련한 구성으로 할 수가 있다.]
Further, the structure for pressurization analysis may be configured so that a stepped cutout groove is formed so as to penetrate from the outer peripheral surface of the accommodating unit main body to an inside of the accommodating unit main body, the stepped cutout groove may be configured so that an opening width of a space extending from a step portion of the cutout groove to the outer peripheral surface is larger than an opening width of a space extending from the step portion to the inside, and the X-ray window may be provided at the step portion.
[또, 시료 수용 유닛은, 시료실 내에 배치된 시료의 온도를 조정하기 위한 온도 조정 부재와, 상기 시료의 온도를 측정하기 위한 온도 측정 부재를 포함하는 구성으로 할 수도 있다.]
The sample accommodating unit may be configured to include a temperature adjusting member for adjusting the temperature of the sample placed in the sample chamber, and a temperature measuring member for measuring the temperature of the sample.
[또, 본 발명에 관계된 가압 분석용 구조체는, 축방향으로 복수의 요소를 적층해서 구성되는 시료를 분석 대상으로 해서, 다음과 같이 구성할 수도 있다.]
Further, the structure for pressurization analysis according to the present invention may be configured as follows by applying a sample including a plurality of laminated components in the axial direction as an analysis target.
[즉, 시료 수용 유닛의 내부에 끼워넣어서 장착하는 시료 홀더를 구비하고, 시료 홀더에는, 시료를 수용함과 함께, 그 시료에 있어서의 복수의 요소의 적층 상태를 관찰할 수 있는 외면을 X선 창에 대해서 노출시키는 절결부를 형성한다.]
The structure for pressurization analysis may further comprise a sample holder to be fitted and mounted in the sample accommodating unit, and the sample holder accommodates the sample therein, and is provided with a cutout portion through which an outer peripheral surface of the sample for enabling observation of a lamination state of the plurality of components of the sample is exposed to the X-ray window.
[여기서, 한쪽 단면이 시료 배치부에 배치된 시료의 일단면과 접촉하고, 또한 다른쪽 단면이 압력받이부와 접촉하는 압력받이 부재를, 시료실 내에 가지는 구성으로 하는 것이 바람직하다.]
Here, the structure for pressurization analysis preferably further comprises a pressure receiving member that is provided in the sample chamber and configured so that one end surface thereof is in contact with one end surface of the sample placed in a sample placing portion, and the other end surface thereof is in contact with the pressure receiving portion.
[또, 본 발명에 관계된 가압 분석용 구조체는, 전해질 층의 양단 측에 전극 활물질 층이 배치되고, 또 각 전극 활물질 층의 외측에 각각 집전체 층이 배치된 전고체 전지를 시료로 하는 경우는, 다음의 구성을 도입하는 것이 바람직하다.]
When the sample is an all-solid-state battery including an electrolyte layer, electrode active material layers arranged at both end sides of the electrolyte layer, and current collector layers arranged outside the electrode active material layers respectively, it is preferable that the structure for pressurization analysis according to the present invention adopts the following configuration.
[즉, 한쪽 집전체 층과 전기적으로 도통되는 제1 전극 단자와, 다른쪽 집전체 층과 전기적으로 도통되는 제2 전극 단자를 구비한 구성으로 한다.]
The structure for pressurization analysis is configured to further comprise a first electrode terminal in electrical communication with one of the current collector layers, and a second electrode terminal in electrical communication with the other current collector layer.
[여기서, 제1 전극 단자는, 시료 수용 유닛의 외부에 마련함과 함께, 시료 수용 유닛은, 도전성을 가지는 구성요소를 포함하고, 그 도전성을 가지는 구성요소를 거쳐 한쪽 집전체 층과 제1 전극 단자를 전기적으로 도통시킬 수가 있다.]
Here, the first electrode terminal may be provided outside the sample accommodating unit, the sample accommodating unit may include a component having electrical conductivity, and the one current collector layer and the first electrode terminal may be in electrical communication with each other via the component having electrical conductivity.
[또, 가압 기구는, 도전성을 가지는 금속 부재로 구성하고, 그 가압 기구를 거쳐 다른쪽 집전체 층과 제2 전극 단자를 전기적으로 도통시킬 수가 있다.]
Further, the pressurizing mechanism may be formed of a metal member having electrical conductivity, and the other current collector layer and the second electrode terminal may be in electrical communication with each other via the pressurizing mechanism.
[다음에, 본 발명에 관계된 X선 회절 장치는, 상술한 구성의 가압 분석용 구조체와, 그 가압 분석용 구조체를 배치하기 위한 시료 스테이지와, 시료실 내의 시료를 향해 X선을 조사하기 위한 X선원과, 상기 시료로부터 반사되어 온 회절 X선을 검출하는 X선 검출기를 포함하고 있다.]
Next, an X-ray diffraction apparatus according to the present invention comprises: the structure for pressurization analysis having the above-described configuration; a sample stage for arranging the structure for pressurization analysis thereon; an X-ray source for applying X-rays to a sample in the sample chamber; and an X-ray detector for detecting diffracted X-rays reflected from the sample.
[또, 시료 스테이지는, 시료실 내의 시료의 중심축 및 이 중심축과 직교하는 축을 포함하는 측정 기준 평면이 수평 배치로 되도록, 가압 분석용 구조체를 지지하는 지지부와, 측정 기준 평면이 수평 배치된 상태에서, 시료실 내의 시료를 X선원으로부터의 X선의 조사 위치에 위치결정하기 위한 이동 조정 기구를 구비한 구성으로 되어 있다.]
The sample stage is configured to include a support portion for supporting the structure for pressurization analysis so that a measurement reference plane including a central axis of the sample in the sample chamber and an axis orthogonal to the central axis is arranged horizontally, and a movement adjusting mechanism for positioning the sample in the sample chamber to an X-ray irradiation position of X-rays from the X-ray source in a state where the measurement reference plane is arranged horizontally.
[여기서, 지지부는, 기밀 케이스 유닛을 지지하는 제1 지지부와, 시료 수용 유닛을 지지하는 제2 지지부를 가지고, 이들 제1, 제2 지지부에 의해 시료실 내의 시료의 중심축을 수평 배치하고, 또한 제2 지지부에 의해 상기 시료의 중심축과 직교하는 축을 수평 배치하는 구성으로 할 수가 있다.]
Here, the support portion may include a first support portion for supporting an airtight case unit mounted on an end surface side of the pressurizing unit to hermetically seal the periphery of the end surface side of the pressurizing unit and a second support portion for supporting the sample accommodating unit, and may be configured so that the central axis of the sample in the sample chamber is arranged horizontally by the first and second support portions, and the axis orthogonal to the central axis of the sample is arranged horizontally by the second support portion.
[다음에, 본 발명에 관계된 가압 분석 시스템은, 상술한 구성의 X선 회절 장치와, 가압 분석용 구조체를 수납해서 대기로부터 차단하는 기밀 장치와, 가압 분석용 구조체에 수용된 시료의 압력 및 전기화학 특성을 기밀 장치의 외부에서 계측하기 위한 계측 기기를 구비한 것을 특징으로 한다.]
Next, a pressurization analysis system according to the present invention comprises: the X-ray diffraction apparatus having the above-described configuration; an airtight device for accommodating the structure for pressurization analysis therein to shield the structure for pressurization analysis from an atmosphere; and a measuring device for measuring pressure and electrochemical characteristics of the sample accommodated in the structure for pressurization analysis outside the airtight device.
[도 1은, 본 발명의 실시형태에 관계된 가압 분석용 구조체의 외관을 도시하는 사시도이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
도 2는, 본 발명의 실시형태에 관계된 가압 분석용 구조체의 전체 구조를 도시하는 도 1의 A－A선 단면도이다.
FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of a structure for pressurization analysis (hereinafter referred to as "pressurization analysis structure") according to an embodiment of the present invention; FIG. 2 is a cross-sectional view taken along a line A-A of FIG. 1, which shows an overall structure of the pressurization analysis structure according to the embodiment of the present invention; FIG. 3 is an exploded perspective view of the pressurization analysis structure according to the embodiment of the present invention; FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line A-A of FIG. 1, which shows the pressurization analysis structure according to the embodiment of the present invention while the structure is exploded; FIG. 5 is an exploded perspective view showing a configuration of a sample accommodating unit; FIG. 6A and FIG. 6B are front cross-sectional views showing a configuration in which the outer diameter dimensions of a pressure receiving member and a pressing member and the inner diameter dimension of a sample holder are matched with the outer diameter dimension of an all-solid-state battery; FIG. 7A is a cross-sectional view schematically showing a cutout structure around an X-ray window and an action and an effect thereof, and FIG. 7B is a cross-sectional view schematically showing a structure to be compared with FIG. 7A ; Fig. 8A and 8B are schematic diagrams showing a method of irradiating an outer surface of the all-solid-state battery with X-rays; FIG. 9 is a perspective view showing the appearance of an X-ray diffraction apparatus according to the embodiment of the present invention; FIG. 10A is a perspective view showing a support stand provided on a sample stage of the X-ray diffraction apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 10B is a perspective view showing a state in which the pressurization analysis structure is supported by the support stand; FIG. 11 is a configuration diagram schematically showing an overall structure of a pressurization analysis system according to the embodiment of the present invention; and FIG. 12A is a perspective view showing the appearance of the sample accommodating unit in which a temperature adjusting/measuring cell is installed, and Fig. 12B is a cross-sectional view taken along a line C-C of FIG. 12A.
도 3은, 본 발명의 실시형태에 관계된 가압 분석용 구조체의 분해 사시도이다.
DETAILED DESCRIPTION OF EMBODIMENTS
도 4는, 본 발명의 실시형태에 관계된 가압 분석용 구조체를 분해해서 도시하는 도 1의 A－A선 단면도이다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 5는, 시료 수용 유닛의 구성을 도시하는 분해 사시도이다.
The present embodiment shows a configuration when a sample as an analysis target is an all-solid-state battery.
도 8A 및 도 8B는, 각각 전고체 전지의 외측면으로의 X선의 조사 방법을 도시하는 모식도이다.
The all-solid-state battery is configured so that electrode active material layers are arranged on both end sides of an electrolyte layer, and a current collector layer is arranged outside each of the electrode active material layers.
디코딩 장치에 의하여 수행되는 영상 디코딩 방법에 있어서,비트스트림으로부터 예측 관련 정보를 포함하는 영상 정보를 획득하는 단계;상기 예측 관련 정보를 기반으로 현재 블록에 대한 인터 예측 모드를 도출하는 단계;상기 현재 블록에 대한 참조 픽처 리스트들을 도출하는 단계;상기 참조 픽처 리스트들 내에 포함된 참조 픽처들 각각과 현재 픽처 간의 POC(picture order count) 차분들을 도출하는 단계;상기 POC 차분들을 기반으로 SMVD(symmetric motion vector differences)를 위한 참조 픽처 인덱스들을 포함하는 움직임 정보를 도출하는 단계; 및상기 움직임
An image decoding method performed by a decoding apparatus, the method comprising: obtaining image information including prediction related information from a bitstream; deriving an inter prediction mode for a current block based on the prediction related information; deriving reference picture lists for the current block; deriving picture order count (POC) differences between each of reference pictures included in the reference picture lists and current picture; deriving motion information including reference picture indices for symmetric motion vector differences (SMVD) based on the POC differences; and generating predicted samples based on the motion information, wherein the reference picture indices for the SMVD are derived based on short-term reference pictures included in the reference picture lists.
정보는 움직임 벡터들을 포함하고,상기 MVD에 관한 정보를 기반으로 L0 예측을 위한 제1 MVD가 도출되고,상기 제1 MVD를 기반으로 L1 예측을 위한 제2 MVD가 도출되고,상기 움직임
The method of claim 1, wherein the image information includes information on motion vector differences (MVD), the motion information include motion vectors, a first MVD for L0 prediction is derived based on the information on MVD, a second MVD for L1 prediction is derived based on the first MVD, and the motion vectors are derived based on the first and second MVDs.
제2항에 있어서,상기 제2 MVD의 크기는 상기 제1 MVD의 크기와 동일하고,상기 제2 MVD의 부호는 상기 제1 MVD의 부호와 반대인 것을 특징으로 하는, 영상 디코딩 방법.
The method of claim 2, wherein the size of the second MVD is the same as that of the first MVD, and the sign of the second MVD is opposite to that of the first MVD.
제1항에 있어서,상기 참조 픽처 리스트들은 L0 예측을 위한 참조 픽처 리스트 L0 및 L1 예측을 위한 참조 픽처 리스트 L1을 포함하고,상기 POC 차분들은 상기 참조 픽처 리스트 L0에 포함된 제1 숏텀 참조 픽처와 상기 현재 픽처 간의 제1 POC 차분, 및 상기 참조 픽처 리스트 L1에 포함된 제2 숏텀 참조 픽처와 상기 현재 픽처 간의 제2 POC 차분을 포함하고,상기 참조 픽처 인덱스들은 상기 제1 숏텀 참조 픽처를 가리키는 제1 참조 픽처 인덱스, 및 상기 제2 숏텀 참조 픽처를 가리키는 제2 참조 픽처 인덱스를 포함하고,상기 제1 참조 픽처 인덱스는 상기 제1 POC 차분을 기반으로 도출되고,상기 제2 참조 픽처 인덱스는 상기 제2 POC 차분을 기반으로 도출되는 것을 특징으로 하는, 영상 디코딩 방법.
The method of claim 1, wherein the reference picture lists include reference picture list L0 for L0 prediction and reference picture list L1 for L1 prediction, the POC differences include a first POC difference between a first short-term reference picture included in the reference picture list L0 and the current picture and a second POC difference between a second short-term reference picture included in the reference picture list L1 and the current picture, the reference picture indices include a first reference picture index indicating the first short-term reference picture and a second reference picture index indicating the second short-term reference picture, the first reference picture index is derived based on the first POC difference, and the second reference picture index is derived based on the second POC difference.
제4항에 있어서,상기 제1 POC 차분은 상기 제2 POC 차분과 동일한 것을 특징으로 하는, 영상 디코딩 방법.
The method of claim 4, wherein the first POC difference is the same as the second POC difference.