mwirth-epo/epo-nmt-datasets huggingface dataset:
De préférence, le jeu entre le revêtement abradable et la léchette d'extrémité est inférieur à la distance minimale entre la structure d'entraînement et de déviation, et le revêtement abradable.
Preferably, the clearance between the abradable cladding and the end sealing element is less than the minimum distance between the entraining and diverting structure, and the abradable cladding.
Enfin, l'invention a pour objet une turbomachine d'aéronef comportant un tel compresseur, qui est de préférence un compresseur haute pression.
Finally, a subject matter of the invention is an aircraft turbine engine comprising such a compressor, which is preferably a high-pressure compressor.
D'autres avantages et caractéristiques de l'invention apparaîtront dans la description détaillée non limitative ci-dessous.
Other advantages and features of the invention will emerge from the following non-limitative detailed description.
BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS Cette description sera faite au regard des dessins annexés parmi lesquels ; - la figure 1 représente une vue schématique en coupe longitudinale d'une turbomachine, selon un mode de réalisation préféré de l'invention ; - la figure 2 représente une vue en demi-coupe longitudinale d'une partie du compresseur haute pression de la turbomachine montrée sur la figure précédente ; - la figure 3 représente une vue agrandie d'une partie du compresseur haute pression de la figure précédente ; - la figure 4 représente une vue encore agrandie du compresseur, montrant de façon plus détaillée la virole spécifique à l'invention ; - les figures 5a et 5b sont des vues comparatives schématisant l'écoulement de l'air de fuite avec les réalisations de l'art antérieur, et avec la conception selon l'invention montrée sur les figures précédentes ; - la figure 6 est une vue agrandie de la léchette d'extrémité aval équipant la virole, et de la structure d'entraînement et de déviation d'air spécifique à l'invention ; et - la figure 7 est une vue similaire à celle de la figure 4, montrant une alternative de réalisation.
Brief description of the drawings This description will be given with regard to the accompanying drawings, among which: - Figure 1 depicts a schematic view in longitudinal section of a turbine engine, according to a preferred embodiment of the invention; - Figure 2 depicts a view in longitudinal half-section of a part of the high-pressure compressor of the turbine engine shown in the previous figure; - Figure 3 depicts an enlarged view of a part of the high-pressure compressor of the previous figure; - Figure 4 depicts an even more enlarged view of the compressor, showing in more detail the shroud specific to the invention; - Figures 5a and 5b are comparative views showing schematically the flow of the discharge air with the embodiments of the prior art, and with the design according to the invention shown in the previous figures; - Figure 6 is an enlarged view of the downstream end sealing element equipping the shroud, and of the structure for entraining and diverting air specific to the invention; and - Figure 7 is a view similar to that in Figure 4, showing an alternative embodiment.
EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PRÉFÉRÉS En référence tout d'abord à la figure 1, il est représenté une turbomachine 1 d'aéronef, selon un mode de réalisation préféré de l'invention.
Detailed description of preferred embodiments With reference first of all to Figure 1, an aircraft turbine engine 1 is shown, according to a preferred embodiment of the invention.
Il s'agit ici d'un turboréacteur à double flux et à double corps.
It is here a dual-body bypass turbojet engine.
Néanmoins, il pourrait s'agir d'une turbomachine d'un autre type, par exemple un turbopropulseur, sans sortir du cadre de l'invention.
Nevertheless, it could be a turbine engine of another type, for example a turboprop engine, without departing from the scope of the invention.
Globalement, la turbomachine 1 présente un axe longitudinal 3 autour duquel s'étendent ses différents composants.
Overall, the turbine engine 1 has a longitudinal axis 3 around which its various components extend.
Elle comprend, d'amont en aval selon une direction principale d'écoulement des gaz à travers cette turbomachine représentée par la flèche 5, une soufflante 2, un compresseur basse pression 4, un compresseur haute pression 6, une chambre de combustion 8, une turbine haute pression 10 et une turbine basse pression 12.
It comprises, from upstream to downstream in a main direction of flow of gases through this turbine engine depicted by the arrow 5, a fan 2, a low-pressure compressor 4, a high-pressure compressor 6, a combustion chamber 8, a high-pressure turbine 10 and a low-pressure turbine 12.
En référence à présent aux figures 2 et 3, il est représenté une partie du compresseur haute pression 6, au sein duquel se situe l'invention.
With reference now to Figures 2 and 3, a part of the high-pressure compressor 6 is shown, in which the invention is situated.
Néanmoins, celle-ci est également applicable au compresseur basse pression 4, sans sortir du cadre de l'invention.
Nevertheless, the latter is also applicable to the low-pressure compressor 4, without departing from the scope of the invention.
Le compresseur 6 comporte plusieurs étages comprenant chacun un redresseur 12 formé d'une rangée annulaire d'aubes de stator portées par un carter 14 du compresseur, et une roue tournante aubagée 16 montée en amont de son redresseur associé.
The compressor 6 comprises a plurality of stages each comprising a deflector 12 formed by an annular row of stator blades carried by a casing 14 of the compressor, and a bladed rotary wheel 16 mounted upstream of its associated deflector.
Les deux roues 16 de deux étages directement consécutifs sont reliées par une virole 20, par exemple réalisée d'un seul tenant avec le disque 22 de l'une des deux roues 16.
The two wheels 16 of two directly consecutive stages are connected by a shroud 20, for example produced in a single piece with the disc 22 of one of the two wheels 16.
La liaison avec l'autre roue 16 s'effectue de préférence par des boulons 24, qui relient le disque 22 de cette autre roue 16 avec une bride 26 prolongeant la virole 20.
The connection with the other wheel 16 is preferably made by bolts 24, which connect the disc 22 of this other wheel 16 to a flange 26 extending the shroud 20.
Le redresseur 12, situé entre les deux roues 16, est agencé au droit radialement de la virole 20 qu'il entoure.
The deflector 12, situated between the two wheels 16, is arranged radially in line with the shroud 20 that it surrounds.
Au niveau de son extrémité annulaire interne, le redresseur 12 comporte un revêtement abradable 28, de préférence du type en nid- d'abeilles.
At its internal annular end, the deflector 12 comprises an abradable cladding 28, preferably of the honeycomb type.
Ce revêtement coopère avec un dispositif d'étanchéité 30 intégré à la virole.
This cladding cooperates with the sealing device 30 integrated in the shroud.
Le dispositif 30 est de préférence réalisé d'une seule pièce avec la virole, ou peut être rapporté sur celle-ci.
The device 30 is preferably produced in a single piece with the shroud, or may be attached to it.
Il est équipé d'une pluralité de léchettes 32 en saillie radialement vers l'extérieur, en direction du revêtement abradable 28.
It is equipped with a plurality of sealing elements 32 projecting radially outwards, in the direction of the abradable cladding 28.
Les léchettes 32 sont espacées axialement les unes des autres, et peuvent être droites comme cela a été représenté sur la figure 3, ou inclinées par rapport à la direction radiale.
The sealing elements 32 are spaced apart axially from one another and may be straight as depicted in Figure 3 or inclined with respect to the radial direction.
Ensemble, les éléments 28, 32 forment un joint d'étanchéité dit joint à labyrinthe, permettant de diminuer significativement la recirculation d'air au sein du compresseur.
Together, the elements 28, 32 form a seal of said labyrinth seal, significantly reducing the recirculation of air in the compressor.
Procédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, C12) à un troisième point de fonctionnement (33) moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement (32), lorsque les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés, respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés (DAC), dépassent une deuxième valeur seuil (VS2).
The method according to claim 2, wherein adjusting further comprises changing the second operating point of both the first and second integrated circuits to a third operating point, said third operating point being less constraining than the second operating point, when the states of aging of the first and second integrated circuit, which are equal to the cumulative durations of activity of the first and second integrated circuit respectively, exceed a second threshold value.
Procédé selon la revendication 1, le système sur puce comportant un premier circuit intégré (CHO) configuré pour 3054949 22 fonctionner à un premier point de fonctionnement (41), dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement du premier circuit intégré (CHO) à un deuxième point de fonctionnement (42) dédié au premier circuit intégré (CHO) et 5 moins contraignant que le premier point de fonctionnement (41), lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré (CHO), égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS10).
The method according to claim 1, wherein the system on a chip comprises a first integrated circuit configured to operate at a first operating point, and wherein adjusting comprises changing the first operating point of the first integrated circuit to a second operating point, said second operating point being dedicated to the first integrated circuit and less constraining than the first operating point, when the state of aging of the first integrated circuit, equal to the cumulative duration of activity of the first integrated circuit, exceeds a first threshold value.
Procédé selon la revendication 4, le système sur puce 10 comportant un deuxième circuit intégré (CI20) configuré à un troisième point de fonctionnement (43), dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement du deuxième circuit intégré (CI20) à un quatrième point de fonctionnement (44) dédié au deuxième circuit intégré et moins 15 contraignant que le troisième point de fonctionnement (43), lorsque l'état de vieillissement du deuxième circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré (DAC), dépasse une deuxième valeur seuil (VS20).
The method according to claim 4, wherein the system on a chip further comprises a second integrated circuit configured to operate at a third operating point, and wherein adjusting comprises changing the third operating point of the second integrated circuit to a fourth operating point, said fourth operating point dedicated to the second integrated circuit and less constraining than the third operating point, when the state of aging of the second integrated circuit, equal to the cumulative duration of activity of the second integrated circuit, exceeds a second threshold value.
Procédé selon l'une quelconque des revendications 20 précédentes, dans lequel l'étape d'ajustement comprend un ajustement par palier.
The method according to claim 1, wherein adjusting comprises an changing operating points by stages.
Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape de suivi comprend en outre une collecte d'une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et l'étape d'évaluation 25 comprend l'établissement d'un état de vieillissement dudit au moins un circuit intégré en fonction de la durée cumulée d'activité et d'au moins une tension d'alimentation précédemment appliquée audit au moins un circuit intégré.
The method according to claim 1, wherein monitoring further comprises acquiring a supply voltage applied to said at least one integrated circuit, and wherein evaluating comprises the establishing a state of aging of said at least one integrated circuit on the basis of the cumulative duration of activity and on the basis of at least one supply voltage previously applied to said at least one integrated circuit.
Procédé selon la revendication 7, dans lequel l'étape 30 d'ajustement comprend un ajustement par palier dudit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à au moins un autre point de fonctionnement dédié audit au moins un circuit intégré, moins contraignant que ledit au moins un point de fonctionnement.
The method according to claim 7, wherein adjusting comprises a changing by stages of said at least one operating point of said at least one integrated circuit to at least one other operating point dedicated to said at least one integrated circuit, said at least one other operating point being less constraining than said at least one operating point.
Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape d'évaluation et l'étape d'ajustement sont mises en oeuvre lors de chaque démarrage (RES) du système sur puce.
The method according to claim 1, wherein evaluating and adjusting step are executed on each restart of the system on a chip.
Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape de suivi comprend une collecte d'au moins un paramètre physique (61) représentatif de l'utilisation dudit au moins un circuit intégré, l'étape d'évaluation comprend la détermination d'au moins un état de vieillissement instantané (63) respectivement dudit au moins un circuit 10 intégré, en fonction dudit au moins un paramètre physique (61), et le calcul d'au moins une marge d'utilisation (69) dudit au moins un circuit intégré comportant la comparaison dudit au moins un état de vieillissement instantané (63) avec un état de vieillissement présumé (68), et l'étape d'ajustement comprend l'ajustement dudit au moins un 15 point de fonctionnement en tenant compte de ladite au moins une marge d'utilisation (69) respective.
The method according to claim 1, wherein monitoring comprises acquiring at least one physical parameter representing use of said at least one integrated circuit, and wherein evaluating comprises determining at least one instantaneous state of aging of said at least one integrated circuit on the basis of said at least one physical parameter, and further comprising calculating at least one operating margin of said at least one integrated circuit by comparing said at least one instantaneous state of aging with a presumed state of aging, and wherein adjusting comprises changing said at least one operating point with allowance for said at least one respective operating margin.
Procédé selon la revendication 10, dans lequel ladite étape d'évaluation et ladite étape d'ajustement sont réalisées périodiquement en temps réel au cours du fonctionnement du système sur puce.
The method according to claim 10, wherein evaluating and adjusting are executed periodically in real time during the operation of the system on a chip.
Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la collecte de l'étape de suivi est réalisée en continu au cours du fonctionnement du système sur puce.
The method according to claim 1, wherein the acquisition performed during monitoring occurs continuously during the operation of the system on a chip.
Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape de suivi comprend en outre une 25 communication d'un signal d'alerte, en cas de dysfonctionnement matériel, et dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement de sureté en cas de communication d'un signal d' alerte.
The method according to claim 1, wherein monitoring further comprises sending a warning signal in case of a hardware malfunction, and wherein adjusting comprises changing the operating point of said at least one integrated circuit to a secure operating point in response to said warning signal.
Système sur puce (SOC) comportant au moins un circuit intégré (1) configuré pour fonctionner à respectivement au moins un point de fonctionnement, un moyen de suivi (4) configuré pour collecter au moins la durée cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré, 3054949 24 un moyen d'évaluation (6, 7) configuré pour établir au moins un état de vieillissement instantané respectivement dudit au moins un circuit intégré comprenant ladite au moins une durée cumulée d'activité, et 5 un moyen d'ajustement (3, 7) configuré pour ajuster au moins un point de fonctionnement en fonction dudit au moins un état de vieillissement dudit au moins circuit intégré respectif.
A system on a chip, comprising:at least one integrated circuit configured to operate at least at one operating point;a monitoring circuit configured to acquire at least one cumulative duration of activity of said at least one integrated circuit;an evaluation circuit configured to establish at least one instantaneous state of aging of said at least one integrated circuit on the basis of said at least one cumulative duration of activity; andan adjustment circuit configured to adjust said at least one operating point on the basis of said at least one instantaneous state of aging of said at least one integrated circuit. at least one integrated circuit configured to operate at least at one operating point; a monitoring circuit configured to acquire at least one cumulative duration of activity of said at least one integrated circuit; an evaluation circuit configured to establish at least one instantaneous state of aging of said at least one integrated circuit on the basis of said at least one cumulative duration of activity; and an adjustment circuit configured to adjust said at least one operating point on the basis of said at least one instantaneous state of aging of said at least one integrated circuit.
Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel un premier circuit intégré (CI1) est configuré pour fonctionner à un 10 premier point de fonctionnement (31) et un deuxième circuit intégré (Cl2) est configuré pour fonctionner à un deuxième point de fonctionnement (32) moins contraignant que le premier point de fonctionnement (31), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement du premier circuit intégré (CI1) au 15 deuxième point de fonctionnement (32) lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS1).
The system on a chip according to claim 14, wherein the at least one integrated circuit comprises a first integrated circuit configured to operate at a first operating point and a second integrated circuit is configured to operate at a second operating point, said second operating point being less constraining than the first operating point, and wherein the adjustment circuit is configured to change the operating point of the first integrated circuit to the second operating point when the state of aging of the first integrated circuit, equal to the cumulative duration of activity of the first integrated circuit, exceeds a first threshold value.
Système sur puce selon la revendication 15, dans lequel le 20 moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, Cl2) à un troisième point de fonctionnement (33) moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement (32) lorsque les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, Cl2), 25 respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés (DAC), dépassent une deuxième valeur seuil (VS2).
The system on a chip according to claim 15, wherein the adjustment circuit is further configured to change the second operating point of the first and second integrated circuits to a third operating point, said third operating point being less constraining than the second operating point, when the states of aging of the first and second integrated circuits, which are equal to the cumulative durations of activity of the first and second integrated circuit respectively, exceed a second threshold value.
Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel un premier circuit intégré (CHO) est configuré à un premier point de 30 fonctionnement (41), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement dudit au moins un premier circuit intégré (CHO) à un deuxième point de fonctionnement (42) dédié au premier circuit intégré (CHO) et moins contraignant que le premier point de fonctionnement (41) lorsque l'état de vieillissement du 3054949 25 premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS10).
The system on a chip according to claim 14, wherein the at least one integrated circuit comprises a first integrated circuit configured to operate at a first operating point, and the adjustment circuit is configured to adjust the operating point of said first integrated circuit to a second operating point, said second operating point being dedicated to the first integrated circuit and less constraining than the first operating point, when the state of aging of the first integrated circuit, equal to the cumulative duration of activity of the first integrated circuit, exceeds a first threshold value.
Système sur puce selon la revendication 17, dans lequel un deuxième circuit intégré (CI20) est configuré à un troisième point de 5 fonctionnement (43), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement du deuxième circuit intégré (CI20) à un quatrième point de fonctionnement (44) dédié au deuxième circuit intégré et moins contraignant que le troisième point de fonctionnement (43) lorsque l'état de vieillissement dudit au moins un deuxième 10 circuit intégré (CI20), égal à la durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré (DAC), dépasse une deuxième valeur seuil (VS20).
The system on a chip according to claim 17, wherein the at least one integrated circuit further comprises a second integrated circuit configured to operate at a third operating point, and wherein the adjustment circuit is configured to change the third operating point of the second integrated circuit to a fourth operating point, said fourth operating point dedicated to the second integrated circuit and less constraining than the third operating point, when the state of aging of said second integrated circuit, equal to the cumulative duration of activity of the second integrated circuit, exceeds a second threshold value.
Système sur puce selon l'une quelconque des revendications 14 à 18, dans lequel le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster par palier ledit au moins un point de fonctionnement.
The system on a chip according to claim 14, wherein the adjustment circuit is configured to change said at least one operating point by stages.
Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel le moyen de suivi est configuré en outre pour collecter une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et le moyen d'évaluation est configuré pour établir au moins un état de vieillissement respectivement dudit au moins un circuit intégré, en 20 fonction de la durée cumulée d'activité et des tensions d'alimentation précédemment appliquées audit au moins un circuit intégré.
The system on a chip according to claim 14, wherein the monitoring circuit is further configured to acquire a supply voltage applied to said at least one integrated circuit, and wherein the evaluation circuit is configured to establish at least one state of aging of said at least one integrated circuit on the basis of the cumulative duration of activity and on the basis of the supply voltages previously applied to said at least one integrated circuit.