边界扫描测试，或称联合测试行动组（JTAG）测试，在电子设计和制造中至关重要。边界扫描使得能够对数字组件进行功能检查，包括集成电路（IC）、可编程逻辑器件（FPGA）和 PCB。边界扫描过程应用测试模式并观察相应的响应，有效地指出故障、短路、断路和其他潜在缺陷。