在天體中存在多種不同成分的塵埃時，使用擴展的Aitken方法可以更有效地分離它們對偏振的貢獻。這種方法通過引入不同的光譜模板來適應不同塵埃成分的偏振特性，例如，對於矽酸鹽和石墨等不同成分，使用其特定的散射和吸收光譜特徵進行擬合。通過至少三個波長的觀測數據，研究人員可以利用最小二乘法擬合來確定每個成分的偏振強度和位置角，從而分離出吸收、發射和散射的偏振成分。這樣的分析不僅能夠揭示各種塵埃成分的相對豐度，還能提供有關它們在磁場中的排列和分佈的深入見解。