DDR4现在有一个连接测试模式，以简化边界扫描启用控制器的测试. 设计用于边界扫描设备, CT mode is supported in all Micron ×4, ×8, and ×16 devices (Though JEDEC requires only for x16). CT模型允许边界扫描装置在CT模式下从DDR4加载和读取模式. DDR4不直接支持IEEE 1149.1.