IGR J17480-2446和IGR J17511-3057的磁場強度和磁層半徑對其光譜和反射特徵有顯著影響。磁場強度影響著吸積盤的結構和物質的運動，從而影響X射線的發射特性。IGR J17480-2446的磁場強度上限為1.0 × 10^9 G，而IGR J17511-3057的磁場強度上限則為0.096 × 10^9 G，這表明IGR J17480-2446可能具有更強的磁場，這可能導致其吸積盤的截斷半徑較小，從而影響其光譜特徵。
此外，磁層半徑的變化會影響到反射特徵的強度和形狀。較小的磁層半徑可能導致更強的反射特徵，因為更多的高能光子會與吸積盤相互作用，產生反射光譜。這些反射特徵可以用來推斷吸積盤的幾何結構、離子化狀態以及系統的傾斜角度，進一步揭示中子星的物理性質。因此，通過分析這些光譜和反射特徵，科學家可以獲得有關中子星內部結構、磁場特性及其演化歷史的重要信息。