이 방법은 전자현미경의 다양한 모드에 적용될 수 있습니다. 다른 전자현미경 기술에서도 마찬가지로 빔의 스캔 좌표계와 검출기 좌표계 간의 정렬을 보정하는 필요성이 있을 수 있습니다. 예를 들어, 전자 에너지 손실 분광법(EELS)이나 전자 회절 분석에도 이러한 정렬 보정 방법을 적용할 수 있을 것입니다. 각 기술의 특성에 맞게 매개변수를 조정하고 디지털 트윈을 활용하여 정렬 보정을 수행함으로써 데이터 해석의 정확성을 향상시킬 수 있을 것입니다.