HIFA의 z-분산 손실은 NeRF 레이를 따라 샘플링된 z-좌표의 분포의 분산을 최소화하여 선명한 지오메트리를 달성하는 데 도움이 됩니다. 이를 통해 흐릿한 지오메트리 문제를 해결하고 더 정확한 표면을 표현할 수 있습니다. 또한, 커널 스무딩 기술은 중요도 샘플링을 개선하여 NeRF가 더 정확하고 일관된 색상을 유지하면서 선명한 지오메트리를 생성할 수 있도록 도와줍니다. 이 기술은 플리커링 문제를 해결하고 다중 뷰에서 일관된 렌더링을 보장하여 더 높은 품질의 3D 에셋을 생성하는 데 기여합니다.