ラメ入りのカードの検査も経験がございます。ラメ＝ランダムなキラキラにおける欠陥なので検査難易度は確かに高いです。どのような欠陥を狙うかにより、キズ打痕＝正反射および絵柄＝拡散の照明が必要になるかもしれません。ラメの粒度の大きさもあると思います。欠陥のコントラストが得られるか、得られたあとにラメのランダムノイズと欠陥が画像処理で分離できるかがポイントになります。一度お打合せさせていただくか、サンプルをお送りいただければ、テストの上結果をご報告します。