Der Burn In Test hat sich in der Halbleiter Industrie etabliert, um Baugruppen, wie beispielsweise ICs, auf ihre voraussichtliche Lebensdauer zu prüfen. Diese Art der Validierung findet nicht nur in der Halbleiterindustrie, sondern auch auf Elektronik Ebene Anwendung. Laut dem Wissenschaftler Arrhenius, gibt es einen Zusammenhang bzw. eine Formel, nach der die kalendarische Alterung von der Temperatur abhängt. Grob gesagt: Je größer die Temperatur desto schneller die Alterung.   Bei Betrieb eines Prüflings bei hoher Temperatur, kann also nach verkürzter Zeit bereits auf eine Lebensdauer unter Normalbedingungen geschlossen werden. Das ist der Sinn und Zweck des Burn-In-Test. Es liegt im Interesse des Entwicklers, die Lebensdauer frühstmöglich im Entwicklungszyklus beurteilen zu können. Beliebig hoch kann die Temperatur eines Alterungstests allerdings auch nicht angesetzt werden, da ab gewissen Temperaturen je nach Prüflings andere zerstörerische Effekte eintreten.