AFM (Atomic Force Microscopy) er en mikroskopisk metode til overfladeanalyse. Den fungerer ved at bruge en fin spids fastgjort til en fleksibel kant til at scanne overfladen af ​​et materiale. Ved at måle de interatomære kræfter mellem spidsen og overfladen kan man generere et billede med nanometeropløsning af materialets overflade.