質問: x線式の膜厚計では透明の多層フィルムの細かな厚みのバラつきが測れません。どんな測定器が最適ですか?
回答: x線式の膜厚計は、測定スポットが大きいため、膜厚の細かなバラつきを測定し、管理が難しいことがあります。キーエンスの分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 si-tシリーズなら、ø30μmの小スポットと1msの高速サンプリングを実現しているため、インラインで透明な多層フィルムの膜厚の細かなバラつきを捉えることができます。高速測定が可能なため、吐出流量や圧力、送り速度の制御に活用できるほか、エッジ部まで正確に測定することができるため、巻き姿不良の検出やバンド現象の未然防止にも活用することができます。