質問: コンデンサの測定 (8): コンデンサの絶縁抵抗はどのように測定するとよいでしょうか。
回答: q.コンデンサの測定 (8): コンデンサの絶縁抵抗はどのように測定するとよいでしょうか。 コンデンサ(キャパシタ) > セラミックコンデンサ > 積層セラミックチップコンデンサ a. ir(insulation resistance、絶縁抵抗)は、コンデンサの誘電体が漏れ電流にどの程度耐えられるかを示します。irは誘電体そのものの抵抗です*1。irは漏れ電流によって測定します。漏れ電流と印加電圧が分かれば、絶縁抵抗はオームの法則によって計算できます。漏れ電流の基本的な測定方法は2通りあります。1つは電流計をコンデンサと電源に直列につなぐ方法です(図1)。 もう1つは、まず電圧計を抵抗と並列につなぎ、次にコンデンサと電源に直列につなぐ方法です(図2)。 1つ目の方法は通常、1uf未満のコンデンサに適用します。低容量コンデンサの漏れ電流は小さいので、低電流計で電流 を正確に測定できます。漏れ電流が大きいと、帯電コンデンサの不安定さとノイズのために電流計は正確に測定できません。したがって、高容量コンデンサには もう1つの方法を適用します*2。 図1:コンデンサと直列につないだ電流計 図2:抵抗と並列、コンデンサと直列につないだ電圧計 *1 “glossary of capacitor terms”, ray ostlie (1989) *2 keithley switching handbook, 3rd edition, 1995, page 4-12 >>積層セラミックチップコンデンサ製品サイト その他製品に関することは弊社担当営業または代理店もしくは本webサイトよりお問い合わせください。