質問: ケルビン.・ダブルブリッジと電位降下法 ステンレス・アルミニウム・タングステン・しんちゅう・銅・鉄を用いて、ケルビン・ダブルブリッジによる低抵抗の測定と電位降下法による低抵抗の測定の実験を行いました。それぞれの固有抵抗を求め金属の物理的性質(理論値)と比べて少々の誤差ならまだしも大幅に誤差が出てしまったものがありました。その原因として金属をはさむ器材の1部のネジがバカになっていました。他に誤差が生じてしまう理由が分かりません。教えてください。。
回答: 大変申し訳ないですが,下のurlの図1を勝手に利用して,説明します.結局求める抵抗rxは機器が理想的なら rx=(p/q)*rs です.この式で与えられるとすると誤差の要因は(p/q)の誤差,rsの誤差でそれぞれをδ(p/q),δrsとするとrxの相対誤差は δrx/rx=δ(p/q)/(p/q)+δrs/rs となります. また,この条件である.p/q-p/q=0が成立しない場合, 式(7)よりqr/(p+q+r)*(p/q-p/q)がそのまま誤差になります. 低抵抗を測ろうとしてらっしゃるので,金属をはさむ器材の1部のネジがバカになっていました。は接触抵抗の増加を招き,この誤差は無視できないと思います. 参考url:http://www.jeea.or.jp/j/gs02101/j_02101.html