質問: テスト機器が存在しない場合、高速回路はどのようにテストされますか? 十分な速さのスコープと周波数カウンタが存在する前に、GhzからTHzの範囲の回路とデバイスのテストはどのように行われましたか?
回答: ずいぶん昔、彼らは差周波が遅いタイムベースオシロスコープで表示されることができるように制御パルス幅で入力信号波形をサンプリングするためにガンダイオードの速度を当てにしました。サンプル期間が繰り返し波形上のポイントのみをキャプチャするのに十分に短かった場合、波形は保存されました。 ガンダイオードは、負の抵抗が低いため、一度トリガされると有用であり、バイアス電荷がなくなると加速してから結果を保持します。 観測または検出可能な周波数よりも高い周波数を受信するための鍵は、変換効率、電力レベル、およびSNRに応じて、有用なIF周波数へのイメージダウンコンバージョンまたはベースバンドへの直接変換を使用することです。 干渉法、ダイオード検出器、パルスサンプラなどの方法で、サンプリングレートの高調波が対象の帯域内に十分な高調波エネルギーを持つ場合。 のような非線形ミキサー小さな不活性ガスアークギャップからの極端に速い立ち上がり時間をもつ“高温”ステップ端ジョセフソン接合、バリキャップ、GaAsダイオードおよびヘテロ障壁バラクタ(HBV)または光ポンプ These aliasing down-conversion type scopes were called Sampling oscilloscopes. ( but only useful for repetitive waves) !enter image description here further reading