質問: 薄膜の測定を検討しているのですが、測定の際のサンプル膜はどのような状態のものを使用するのでしょうか。例えば交互積層(レイヤーバイレイヤー)にて作成したサンプルを担持したままの状態で測定できますか?
回答: 測定するためには細孔が貫通している必要がございます。詳しくはお問い合わせください。