Vita:Pásztázó elektronmikroszkóp

message: Az átdolgozást Szerkesztő:Lji1942 végezte, én csak áttettem az allapjáról. Tambo vita 2010. szeptember 13., 07:27 (CEST)
thread_title:  Átdolgozás 

message: <gallery perrow="5"> 
Kép:EVT+.PNG
Kép:EVT-.PNG
Kép:Canon.png
Kép:SEM principle.png
thread_title:  Kigyüjtött képek 

message: Az alábbi jelzést a szócikkből emeltem át. --PallertiRabbit Hole 2013. május 29., 09:29 (CEST)
A magyar nyelvű hivatkozások közül hiányzik Pozsgai Imre. A pásztázó elektronmikroszkópia és elektronsugaras mikroanyalízis alapjai című tankönyv (ELTE Eötvös Kiadó ISBN 963 463 000 6), amely tudomásom szerint a legátfogóbb magyar nyelvű könyv a témakörben és amelyet a Magyar Mikroszkópos Társaság is kitüntetett. 
Beleírtam a cikkbe, a Források szakaszba. --Rlevente  üzenet 2013. május 29., 09:52 (CEST)
=== Egyéb problémák a szócikkel ===
Vitalapomról átemelve --PallertiRabbit Hole 2013. május 29., 11:23 (CEST)
==== Pásztázó elektronmikroszkópia ====
Gyakorlatlan vagyok a szerkesztésben, ezért fordulok a szerkesztőhöz.
Az elektronsugárzás és elektronoptika fejezet tartalmilag nem világos, különböző fogalmak keverednek. Ezeket, most "bővebben" szeretném tisztázni, a szerkesztő majd fogja tudni, hogy kell belenyúlni a szövegbe.
Megkülönböztetünk pásztázó elektronmikroszkópot (PEM vagy angolul SEM), pásztázó transzmissziós elektron mikroszkópot (STEM), transzmissziós elektronmikroszkópot (TEM) illetve a TEM/STEM kombinációt.
A szövegben emített Abbe-képlet csak a fénymikroszkópiában és a transzmissziós elektronmikroszkópiában releváns, a pásztázó elektronmikroszkópiában nem. Klasszikus értelemben vett optikai leképezés, ahol az optikai törvényei alakpján meghatározzuk a sugármenetet és a lekéepzést, a pásztázó elektronmikroszkópban nincs. A PEM elektronoptikájának egyetlen feladata, hogy vékony elektronnyalábot állítson elő és a mintából pontonként gyűjtött információt (elektronokat vagy röntgensugárzást vagy fényt stb.) erősítés után egy képernyőn ugyanolyan sorrendben képpé alakítsa.
A cikkben előforduló mondat: " A De Broglie-képlet[6][27] alapján minél magasabb a gyorsítófeszültség, annál alacsonyabb hullámhossz érhető el. (Louis de Broglie[28]). Az alacsonyabb hullámhossz az Abbe-egyenlet[29] alapján nagyobb felbontóképességet tesz lehetővé" igaz, de csak a fénymikroszkópra és a transzmissziós mikroszkópra igaz a PEM-re nem. 
==== Pásztázó elektronmikroszkópia ====
Tisztelt Szerkesztő!
Most paragrafusonként nézem át a "Pásztázó elektronmikroszkópia szócikket és az "Egyidejű képalkotási eljárások" fejezetéhez értem. Ez szakmailag -bocsánat- zavaros.
A transzmisszió elektronmikroszkópiának (TEM) nincs keresnivalója a Pásztázó  elektronmikroszkópia címszó alatt. Elvileg a pásztázó transzmisszió elektronmikroszkópiának lenne keresnivalója itt, de az annyival eltér az explicite ki nem mondott, de valójában reflexiós pásztázó elektronmikroszkópiától, hogy az új címszót érdmelne a pásztázó elektronmikroszkópia mellett.
A szöveg azt állítja, hogya TEM csak lényegében a rugalmasan szórt elektronokat tudja hasznosítani a többinek inkább zavaró jellege van. A többire épül fel az analitikai elektronmikroszkópia (Másik tankönyvem Pozsgai Imre "Az analitikai elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó ISBN 963 463 005 7). Az energia veszteséget szenvedt elektronokat analitikai célra használják fel az ú.n. elektronenerigiaveszteségi spektroszkópiában. Az energia veszteséget szenvedett elektronok röntgen sugárzást és Auger-elektronokat hoznak létre, felbecsülhetetlen jelentőségű módszerek a nagy laterális felbontóképességű analitikában. 
Azon túlmenően, hogy a mintán átment elektronintenzitás a tömegsűrűség függvényében változik (ennek különösen biológiai minták esetén van nagy jelentősége) a vizsgált minta kristályszerkezete is nagy hatással van a transzmittált elektron-intenzitásra. Az elektrondiffrakció jelenségét már a legrégebbi elektronmikroszkópok is használták anyagszerkezeti vizsgálatra és kémiai anyagazonosításra.
Az általam felsorolt néhány tudományterület. pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópia, elektronenergia-veszteségi analízis, Auger spektrometria, elektronsugaras röntgen mikroanalízis és elektrondiffrakció olyan széles tudományterületek, hogy a pásztázó elektronmikroszkópiánál "egyidejű képalkotási eljárások" címszó  alatt említeni zavaró lenne.
thread_title:  A pásztázó elektronmikroszkópia és elektronsugaras mikroanalízis alapjai 

message: Vitalapomról átemelve --PallertiRabbit Hole 2013. május 29., 11:23 (CEST)
==== Pásztázó elektronmikroszkópia ====
Gyakorlatlan vagyok a szerkesztésben, ezért fordulok a szerkesztőhöz.
Az elektronsugárzás és elektronoptika fejezet tartalmilag nem világos, különböző fogalmak keverednek. Ezeket, most "bővebben" szeretném tisztázni, a szerkesztő majd fogja tudni, hogy kell belenyúlni a szövegbe.
Megkülönböztetünk pásztázó elektronmikroszkópot (PEM vagy angolul SEM), pásztázó transzmissziós elektron mikroszkópot (STEM), transzmissziós elektronmikroszkópot (TEM) illetve a TEM/STEM kombinációt.
A szövegben emített Abbe-képlet csak a fénymikroszkópiában és a transzmissziós elektronmikroszkópiában releváns, a pásztázó elektronmikroszkópiában nem. Klasszikus értelemben vett optikai leképezés, ahol az optikai törvényei alakpján meghatározzuk a sugármenetet és a lekéepzést, a pásztázó elektronmikroszkópban nincs. A PEM elektronoptikájának egyetlen feladata, hogy vékony elektronnyalábot állítson elő és a mintából pontonként gyűjtött információt (elektronokat vagy röntgensugárzást vagy fényt stb.) erősítés után egy képernyőn ugyanolyan sorrendben képpé alakítsa.
A cikkben előforduló mondat: " A De Broglie-képlet[6][27] alapján minél magasabb a gyorsítófeszültség, annál alacsonyabb hullámhossz érhető el. (Louis de Broglie[28]). Az alacsonyabb hullámhossz az Abbe-egyenlet[29] alapján nagyobb felbontóképességet tesz lehetővé" igaz, de csak a fénymikroszkópra és a transzmissziós mikroszkópra igaz a PEM-re nem. 
==== Pásztázó elektronmikroszkópia ====
Tisztelt Szerkesztő!
Most paragrafusonként nézem át a "Pásztázó elektronmikroszkópia szócikket és az "Egyidejű képalkotási eljárások" fejezetéhez értem. Ez szakmailag -bocsánat- zavaros.
A transzmisszió elektronmikroszkópiának (TEM) nincs keresnivalója a Pásztázó  elektronmikroszkópia címszó alatt. Elvileg a pásztázó transzmisszió elektronmikroszkópiának lenne keresnivalója itt, de az annyival eltér az explicite ki nem mondott, de valójában reflexiós pásztázó elektronmikroszkópiától, hogy az új címszót érdmelne a pásztázó elektronmikroszkópia mellett.
A szöveg azt állítja, hogya TEM csak lényegében a rugalmasan szórt elektronokat tudja hasznosítani a többinek inkább zavaró jellege van. A többire épül fel az analitikai elektronmikroszkópia (Másik tankönyvem Pozsgai Imre "Az analitikai elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó ISBN 963 463 005 7). Az energia veszteséget szenvedt elektronokat analitikai célra használják fel az ú.n. elektronenerigiaveszteségi spektroszkópiában. Az energia veszteséget szenvedett elektronok röntgen sugárzást és Auger-elektronokat hoznak létre, felbecsülhetetlen jelentőségű módszerek a nagy laterális felbontóképességű analitikában. 
Azon túlmenően, hogy a mintán átment elektronintenzitás a tömegsűrűség függvényében változik (ennek különösen biológiai minták esetén van nagy jelentősége) a vizsgált minta kristályszerkezete is nagy hatással van a transzmittált elektron-intenzitásra. Az elektrondiffrakció jelenségét már a legrégebbi elektronmikroszkópok is használták anyagszerkezeti vizsgálatra és kémiai anyagazonosításra.
Az általam felsorolt néhány tudományterület. pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópia, elektronenergia-veszteségi analízis, Auger spektrometria, elektronsugaras röntgen mikroanalízis és elektrondiffrakció olyan széles tudományterületek, hogy a pásztázó elektronmikroszkópiánál "egyidejű képalkotási eljárások" címszó  alatt említeni zavaró lenne.
thread_title:  Egyéb problémák a szócikkel 

message: Gyakorlatlan vagyok a szerkesztésben, ezért fordulok a szerkesztőhöz.
Az elektronsugárzás és elektronoptika fejezet tartalmilag nem világos, különböző fogalmak keverednek. Ezeket, most "bővebben" szeretném tisztázni, a szerkesztő majd fogja tudni, hogy kell belenyúlni a szövegbe.
Megkülönböztetünk pásztázó elektronmikroszkópot (PEM vagy angolul SEM), pásztázó transzmissziós elektron mikroszkópot (STEM), transzmissziós elektronmikroszkópot (TEM) illetve a TEM/STEM kombinációt.
A szövegben emített Abbe-képlet csak a fénymikroszkópiában és a transzmissziós elektronmikroszkópiában releváns, a pásztázó elektronmikroszkópiában nem. Klasszikus értelemben vett optikai leképezés, ahol az optikai törvényei alakpján meghatározzuk a sugármenetet és a lekéepzést, a pásztázó elektronmikroszkópban nincs. A PEM elektronoptikájának egyetlen feladata, hogy vékony elektronnyalábot állítson elő és a mintából pontonként gyűjtött információt (elektronokat vagy röntgensugárzást vagy fényt stb.) erősítés után egy képernyőn ugyanolyan sorrendben képpé alakítsa.
A cikkben előforduló mondat: " A De Broglie-képlet[6][27] alapján minél magasabb a gyorsítófeszültség, annál alacsonyabb hullámhossz érhető el. (Louis de Broglie[28]). Az alacsonyabb hullámhossz az Abbe-egyenlet[29] alapján nagyobb felbontóképességet tesz lehetővé" igaz, de csak a fénymikroszkópra és a transzmissziós mikroszkópra igaz a PEM-re nem.
thread_title:  Pásztázó elektronmikroszkópia 

message: Tisztelt Szerkesztő!
Most paragrafusonként nézem át a "Pásztázó elektronmikroszkópia szócikket és az "Egyidejű képalkotási eljárások" fejezetéhez értem. Ez szakmailag -bocsánat- zavaros.
A transzmisszió elektronmikroszkópiának (TEM) nincs keresnivalója a Pásztázó  elektronmikroszkópia címszó alatt. Elvileg a pásztázó transzmisszió elektronmikroszkópiának lenne keresnivalója itt, de az annyival eltér az explicite ki nem mondott, de valójában reflexiós pásztázó elektronmikroszkópiától, hogy az új címszót érdmelne a pásztázó elektronmikroszkópia mellett.
A szöveg azt állítja, hogya TEM csak lényegében a rugalmasan szórt elektronokat tudja hasznosítani a többinek inkább zavaró jellege van. A többire épül fel az analitikai elektronmikroszkópia (Másik tankönyvem Pozsgai Imre "Az analitikai elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó ISBN 963 463 005 7). Az energia veszteséget szenvedt elektronokat analitikai célra használják fel az ú.n. elektronenerigiaveszteségi spektroszkópiában. Az energia veszteséget szenvedett elektronok röntgen sugárzást és Auger-elektronokat hoznak létre, felbecsülhetetlen jelentőségű módszerek a nagy laterális felbontóképességű analitikában. 
Azon túlmenően, hogy a mintán átment elektronintenzitás a tömegsűrűség függvényében változik (ennek különösen biológiai minták esetén van nagy jelentősége) a vizsgált minta kristályszerkezete is nagy hatással van a transzmittált elektron-intenzitásra. Az elektrondiffrakció jelenségét már a legrégebbi elektronmikroszkópok is használták anyagszerkezeti vizsgálatra és kémiai anyagazonosításra.
Az általam felsorolt néhány tudományterület. pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópia, elektronenergia-veszteségi analízis, Auger spektrometria, elektronsugaras röntgen mikroanalízis és elektrondiffrakció olyan széles tudományterületek, hogy a pásztázó elektronmikroszkópiánál "egyidejű képalkotási eljárások" címszó  alatt említeni zavaró lenne.
thread_title:  Pásztázó elektronmikroszkópia