光學災變損傷 光學災變損傷 catastrophic optical damageCOD 或災變性光學鏡面損傷 catastrophic optical mirror damageCOMD 是高功率半导体激光器的一种失效模式当半导体PN结因超过其功率密度而過載並吸收過多產生的光能時就會導致雷射端面的半导体熔化和重结晶通常俗称为二极管烧断受影响的区域包含大量晶格缺陷对其性能产生负面影响如果受影响的区域足够大则可以在光学显微镜下觀察到雷射面變暗以及裂縫和凹陷損壞可能發生在單一雷射脈衝內時間在數十內導致COD的時間與功率密度成反比 光學災變損傷是半导体激光器性能提升的限制因素之一这是AlGaInPAlGaAs红色激光器的主要失效模式 短波长激光器比长波长激光器更容易受到COD影响 工业产品中 COD 的典型值范围为 MW cm