錯誤涵蓋率 錯誤涵蓋率Fault coverage也稱為故障覆蓋率是指在一工程系統中某種故障可以被偵測到的百分比工廠的生產測試會希望有高錯誤涵蓋率的結果像可测试性设计DFT及自動測試圖樣產生ATPG等技術的目的也是為了提高錯誤涵蓋率 例如在电子学中固定型故障涵蓋率的偵測方式就是在硬體模型中將分別每一個針腳固定為邏輯及邏輯的準位然後執行測試向量若至少有一個輸出暫存器和預期的輸出不同就算是有偵測到此故障在概念上模擬執行的總數會恰好是針腳數量的二倍理想上需要測試到每一個針腳固定為邏輯及邏輯的情形不過有許多最佳化可以減少需要的計算量而且許多沒有交互作用的故障可以同時在一次測試中一起模擬只要偵測到故障模擬就可以結束 錯誤涵蓋率的測試通過條件是所有可能故障中至少可以偵測一定百分比的故障若沒有通過有以下三個選擇設計者可以擴充或是提昇測試向量集也許是用更有效的ATPG工具第二個選擇是重新規劃電路提昇故障偵測能力提高可控制性及可觀察性第三個選擇是接受較低的錯誤涵蓋率