微分干涉相差显微镜 微分干涉相差显微技术DIC又称Nomarski干涉相差显微技术或Nomarski显微镜是一种增强对比度来观察未染色的透明的样品的光学显微镜DIC根据干涉测量获取有关样品光路长度英语Optical path length信息以查看其他不可见的特征相对复杂的光学系统产生具有灰色背景的黑色或白色的图像该图像类似于通过相差显微镜获得的但没有明亮衍射光晕的图像该技术由波兰物理学家Georges Nomarski英语Georges Nomarski在年研发 DIC通过将偏振光源分离成在样品平面上空间位移剪切的两个正交偏振相干部分并在观察之前重组复合时两部分的干涉对其光程差即折射率乘积和几何路径长度敏感添加可调节的偏移相位确定在所述样品中的零光程差的干涉对比度是正比于沿剪切方向的路径长度梯度得到三维的光密度变化的样本图像图像强调线条和边缘但不提供表面上准确的图像