枕頭效應 在将集成电路封装组装到印刷电路板上时枕頭缺陷 headinpillow defectHIP或headonpillow defectHNP 也称为球窝缺陷是焊接过程中的故障例如在球栅阵列封装下封装上预沉积的焊球和施加到电路板上的焊膏可能都熔化但熔化的焊料位接合失效接头的横截面显示了零件上的焊球和电路板上的焊膏之间的明显边界就像枕在枕头上的头部的横截面而不是埋進枕頭內一样 此缺陷可能是由於表面氧化或焊料潤濕不良造成的或是由於焊接過程的熱量導致積體電路封裝或電路板變形造成的當使用无铅焊料時尤其值得關注因為無鉛焊料需要更高的加工溫度 此缺陷可歸因於焊接過程中的一系列事件最初球與焊膏接觸在加熱過程中電路板和元件會發生熱膨脹可能會彎曲並且有些球可能會脫離焊膏高溫下迅速氧化當表面再次接觸時殘留的助焊劑活性可能不足以破壞氧化層焊膏組合物例如具有較高活化溫度的助焊劑以及焊球的潤濕特性是最重要的緩解因素 由於當電路板或積體電路冷卻時其翹曲可能會消失因此可能會產生间歇性故障由於焊點隱藏在積體電路封裝和印刷電路板之間因此診斷枕頭缺陷可能需要使用X 射线或EOTPR光电太赫兹脉冲反射仪