可测试性设计 可测试性设计英語Design for testing或英語Design for TestabilityDFT是一种集成电路设计技术它是一種将特殊结构在设计阶段植入电路的方法以便生產完成后进行测试確保檢測過後的電子元件沒有功能或製造上的缺陷 电路测试有时并不容易电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测通过在半導體製程中添加可测试性设计结构如扫描链等並利用自動測試設備執行測試程式可以在生產完成後立即進行品質檢測有些特定的裝置會在其最終產品的組件上加上測試功能在消費者的使用環境下執行時一併測試測試程式除了會指出錯誤資訊外還會一併將測試的紀錄檔保留下來可供設計人員找出缺陷的來源 更簡單的說測試程式會對所有的被測裝置輸入測試訊號並期待它們給出預期的正確回應如果被測裝置的回應與預期回應一致則可得知電路正常否則 即為測試錯誤 為了方便使用測試程式檢測錯誤電路設計階段不可忽視可測試性設計在可測試性設計的規則確認完善下可以利用自動測試圖樣產生器進行更複雜的測試