C-V特性曲线 CV特性曲线电容电压特性曲线是用来测量半导体材料和器件的一种方法当所加电压改变时电容被测出方法是使用金属半导体结肖特基势垒或者PN结或者场效应管来得到耗尽层其中载流子被全部抽走但仍然有离子化的施主或晶体缺陷当电压改变时耗尽层深浅也发生变化