高加速应力测试 高加速应力测试HAST的方法是由 Jeffrey E Gunn Sushil K Malik 和 Purabi M Mazumdar 首先提出其应力测试的失效机制由CuAl和AuAl的IMC界面腐蚀和微裂纹以及诱发的电球键开路引起 由于 C RH的正常测试时间为小时若需要更短的测试时间则通过HAST在  C RH 下进行小时的偏压测试然而在 C RH下进行测试有时会超过模塑化合物的玻璃化转变温度因此 C RH结果可能并不总是与 C RH结果有很好的相关性HAST测试有时在较低的 C下进行但时间稍长为小时如果在HAST测试期间观察到失效则会将测试温度降至C RH 湿度加速因子由下式计算 A F H  e const   R H s n  R H o n   displaystyle AFtextHetextconstcdot RHtextsnRHtexton 其中 RHs 是加速状态相对湿度RHo 是工作环境相对湿度n 是一个经验得出的常数一般 n  温度加速因子由下式计算 A F T  e  E a  k     T o    T s   displaystyle AFTeEtextakTtextoTtexts 其中Ea 是活化能电子产品通常是 eV k 是玻尔兹曼常数 To 是以开尔文为单位的工作温度Ts 是加速状态温度 无偏压高加速应力测试的总加速因子是 A F HAST  A F H  A F T  e const   R H s n  R H o n  e  E a  k     T o    T s   displaystyle AFtextHASTAFtextHcdot AFTetextconstcdot RHtextsnRHtextoneEtextakTtextoTtexts