תבניות מוארה

במתמטיקה, פיזיקה, ואמנות, תבניות מוארה או פסי מוארה הן תבניות התאבכות בקנה מידה גדול, שנוצרות כאשר תבנית אטומה עם פסים שקופים מכסה תבנית דומה אחרת. כדי שתבנית ההתאבכות של מוארה תופיע, שתי התבניות צריכות להיות שונות זו מזו, למשל מוסטות אחת מהשנייה, מסובבות אחת ביחס לשנייה או בעלות פסיעה שונה מעט. תבניות מוארה מופיעות במצבים רבים ושונים. בהדפסה, למשל, עובדים עם תבנית צפופה שתי וערב (מטריצה) של נקודות שיכולות להופיע או להיעדר וכך ליצור תמונה הנראית רציפה. אולם, תבנית נקודות המודפסות עצמה עלולה להתאבך עם תמונה הכוללת תבנית מחזורית. בצילום טלוויזיה ודיגיטל, תבנית על העצם המצולם יכול להתאבך עם מטריצת הפיקסלים של חיישני האור וליצור תמונת התאבכות לא רצויה. תבנית מוארה נוצרת לעיתים גם במכוון, במיקרומטר או במד-זחיח (קליבר), למשל, התבנית משמשת להגברת ההשפעות של תנועות קטנות מאוד. באקוסטיקה הביטוי המקביל לתבניות מוארה היא תופעת הפעימות המתרחשת כאשר מתאבכים שני מקורות קול עם תדירויות כמעט זהות. מקור המילה מוארה (moiré בצרפתית) בסוג של טקסטיל, באופן מסורתי של משי, אבל עכשיו גם של כותנה או סיב סינתטי, עם מראה גלי או "רטוב". בד מוארה מיוצר על ידי לחיצה על שתי שכבות זהות של הטקסטיל כשהן רטובות. המרווח הדומה אך הלא מושלם של החוטים יוצר תבנית אופיינית שנשארת לאחר התייבשות הבד. תבנית מוארה היא לעיתים תופעה בלתי-רצויה המתקבלת בתמונה המיוצרת בעת סריקת תמונה מסוג הלפטון (halftone). סריקה ברזולוציה גבוהה יותר עשויה למנוע את ההופעה הבלתי רצויה של תבניות מוארה. שיטות מתוחכמות יותר להתגבר על הופעת תבניות מוארה פותחו בתחום העיבוד הממוחשב של תמונות, מיפוי MIP וסינון אנאיזוטרופי, לדוגמה. בציור בצד שמאל למעלה מופיע תבנית מוארה בחלק העליון של הציור המראה את השמים. כאשר מסתכלים על הציור בהגדלה מספקת, כפי שמראה הציור השני, רואים שהשמים עשויים מקווים עדינים שהצייר התווה על הנייר. תבנית המוארה נוצרת בין מטריצת הפיקסלים של המסך ובין הקווים העדינים כאשר ההגדלה אינה מספקת. תבנית המוארה השלישית מלמעלה מתקבלת מהזזה זוויתית קלה הין שני מערכי קוים. בתמונה הדינמית, הרביעית מלמעלה, התבניות המוצבות זו על גבי זו כוללות קווים ישרים או מעוקלים. בעת הזזת התבנית העליונה באטיות, תבנית מוארה נעה במהירות. תוצא זה נקרא האצת מוארה אופטית. באופן דומה, בהגדלת מוארה, תבניות מוארה מגדילות הבדלים קטנים בין מבנים כמעט זהים. התמונה הדינמית, החמישית מלמעלה, מראה אותיות AB2 המסתתרות בשלוש התבניות שבצד שמאל ונגלות לעין בתבנית מוארה או צורת מוארה הנוצרת כאשר תבנית הקווים מימין נעה מימין לשמאל, מכסה את שלוש התבניות ונעה מלמטה למעלה. התמונה הדינמית, השישית מלמעלה, מראה תבניות מוארה המתקבלות משתי תבניות קונצנטריות זהות המוזזות אחת ביחס לשנייה. הדוגמאות עד עתה עסקו בקווים אטומים המופיעים לסירוגין עם קווים שקופים. באופן יותר כללי, תבניות מוארה מופיעות כאשר יש אפנון מרחבי מחזורי ולא רק שחור ולבן. עוד יותר כללי הוא תוצא מוארה האוניברסלי שכולל גם משטחים שקופים לגמרי אך עם אפנון פזה מחזורי. סריג רונצ'י (אנ') הוא מבנה של מסכה או מטרה אופטית הכולל קוים שחורים חדים במרווח קבוע ביניהם עם חתך של גל ריבועי כמו בתמונות הרביעית והשביעית. נניח שני סריגי רונצי' כאשר המרחק בין הקווים בסריג הראשון הוא p, ובין הקווים בסריג השני הוא p + δp, כאשר 0 < δp < p, כפי שמודגם בתמונה השביעית מלמעלה. קווי התבניות מונחים זה לצד זה בצד שמאל של הדמות, התזוזה בין הקווים גדלה כאשר הולכים ימינה. לאחר מספר שורות נתון, התבניות מנוגדות: הקווים של התבנית השנייה הם בין הקווים של התבנית הראשונה. אם אנו מסתכלים ממרחק רב, יש לנו תחושה של אזורים חיוורים כאשר הקווים מונחים זה על זה (יש לבן בין השורות), ושל אזורים כהים כאשר הקווים "מנוגדים". אמצע האזור החשוך הראשון הוא כאשר ההזזה שווה ל־p / 2. הקו ה־n של התבנית השנייה מוזז ב־n δp לעומת הקו ה־n של הרשת הראשונה. אמצע האזור החשוך הראשון מתאים אפוא ל־ n ⋅ δ p = p 2 {\displaystyle n\cdot \delta p={\frac {p}{2}}} n = p 2 δ p . {\displaystyle n={\frac {p}{2\delta p}}.} הרווח d בין אמצע האזור החיוור ובין אמצע האזור הכהה נתון על ידי המשוואה הבאה: d = n ⋅ ( p + δ p ) = p 2 2 δ p + p 2 {\displaystyle d=n\cdot (p+\delta p)={\frac {p^{2}}{2\delta p}}+{\frac {p}{2}}} 2 d = p 2 δ p + p {\displaystyle 2d={\frac {p^{2}}{\delta p}}+p} מנוסחה זו אנו יכולים לראות כי: ככל שהמרחק בין הקווים בתבנית הראשונה גדול יותר, המרחק בין האזורים החיוורים והכהים גדול יותר; ככל ש־δp גדול יותר, אזורים כהים וחיוורים קרובים יותר. במילים אחרות, ריווח גדול בין אזורים כהים לאזורים חיוורים אומר שלתבניות יש מדרגות קרובות מאוד. ניתוח זה מתאים גם לשנתות מד-הזחיח (קליבר). בסריג סינוסואידי הצבע משתנה בין שחור מלא ללבן מלא דרך גוני אפור הדרגתיים באופן סינוסואידי. במקרה של סריג שקוף, ההשתנות היא בין אטימות מלאה לשקיפות גמורה. לצורך הדיון נניח ששני הסריגים מודפסים כל אחד בדיו בגווני אפור על דף לבן, כאשר האטימות (למשל, גוון אפור) של החלק ה"מודפס "ניתנת בערך בין 0 (לבן) ל־1 (שחור) ועד בכלל, ו־12 מייצג אפור 50%. אנו גם בוחרים לייצג את אטימות התבנית הנובעת מהדפסת סריג אחד על השני בנקודה מסוימת כמוצע האריתמטי של אטימות כל סריג במיקום זה. ערך זה אינו עולה על 1. כדי לחשב את תבנית המוארה הנוצרת בהדפסת סריג אחד על ניר ואז הדפסת סריג שני על גביו, מייצגים את העוצמה האפורה בכל סריג על ידי פונקציית אטימות חיובית של המרחק בכיוון קבוע (נניח, קואורדינטת ה־x) במישור הנייר: f = 1 + sin ⁡ ( k x ) 2 {\displaystyle f={\frac {1+\sin(kx)}{2}}} כאשר נוכחות של 1 שומרת על הפונקציה חיובית מוגדרת, והחלוקה על ידי 2 מונעת ערכי פונקציה גדולים מ־1. הגודל k מייצגת את התדר המרחבי של עוצמת האפור של התבנית. נניח כעת שני שריגים כאלה, עם תדרים מרחביים k השונים זה מזה מעט: f 1 = 1 + sin ⁡ ( k 1 x ) 2 f 2 = 1 + sin ⁡ ( k 2 x ) 2 {\displaystyle {\begin{aligned}f_{1}&={\frac {1+\sin(k_{1}x)}{2}}\\[4pt]f_{2}&={\frac {1+\sin(k_{2}x)}{2}}\end{aligned}}} הממוצע של שתי הפונקציות הללו מייצג את תבנית המוארה f המתקבלת בהדפסה, כדלקמן: f 3 = f 1 + f 2 2 = 1 2 + sin ⁡ ( k 1 x ) + sin ⁡ ( k 2 x ) 4 = 1 + sin ⁡ ( A x ) cos ⁡ ( B x ) 2 {\displaystyle {\begin{aligned}f_{3}&={\frac {f_{1}+f_{2}}{2}}\\[5pt]&={\frac {1}{2}}+{\frac {\sin(k_{1}x)+\sin(k_{2}x)}{4}}\\[5pt]&={\frac {1+\sin(Ax)\cos(Bx)}{2}}\end{aligned}}} כאשר A = k 1 + k 2 2 {\displaystyle A={\frac {k_{1}+k_{2}}{2}}} ו־ B = k 1 − k 2 2 . {\displaystyle B={\frac {k_{1}-k_{2}}{2}}.} ערך הפונקציה f 3, נמצא בבירור בטווח [0,1]. היות שההשתנות המרחבית A היא הממוצעת בין k 1 ו־k 2 וקרובה לשניהם, תבנית מוארה מודגמת בצורה ייחודית על ידי פונקציית המעטפה הקוסינוסית או הפעימה (cos(Bx, שההשתנות המרחבית שלה היא חצי מההבדל בין השונויות המרחביות k 1 ו־k 2, כלומר, תדר מרחבי נמוך בהרבה מ־k 1 ו־k 2. הניתוח המתמטי הזה ישים גם עבור פעימות אקוסטיות. נניח שני סריגי רונצ'י עם מרחק זהה בין הקווים p, כאשר הסריג השני מסובב בזווית α ביחס לראשון, כפי שמראות התמונות התשיעית והעשירית בצד שמאל. בתבנית ההתאבכות רואים קווים כהים וחיוורים כאשר הקווים החיוורים תואמים את קווי הצמתים, כלומר קווים העוברים בצמתים של שני הסריגים. בתמונה התשיעית מלמעלה רואים שמתקבל מעוין שצלעו d נתונה על ידי המשוואה d = p / sin α, כי d הוא היתר במשולש ישר הזווית שבו מול הזווית α נמצא הניצב p. הקווים החיוורים תואמים את האלכסון הקטן של המעוין. והמרווח בין שני קווים חיוורים הוא D, מחצית האלכסון הארוך. האלכסון 2D הארוך הוא היתר במשולש ישר-זווית הניצבים הם הם (d (1 + cos α ו־p. משפט פיתגורס נותן: ( 2 D ) 2 = d 2 ( 1 + cos ⁡ α ) 2 + p 2 {\displaystyle (2D)^{2}=d^{2}(1+\cos \alpha )^{2}+p^{2}} זה: ( 2 D ) 2 = p 2 sin 2 ⁡ α ( 1 + cos ⁡ α ) 2 + p 2 = p 2 ⋅ ( ( 1 + cos ⁡ α ) 2 sin 2 ⁡ α + 1 ) {\displaystyle {\begin{aligned}(2D)^{2}&={\frac {p^{2}}{\sin ^{2}\alpha }}(1+\cos \alpha )^{2}+p^{2}\\[5pt]&=p^{2}\cdot \left({\frac {(1+\cos \alpha )^{2}}{\sin ^{2}\alpha }}+1\right)\end{aligned}}} לכן ( 2 D ) 2 = 2 p 2 ⋅ 1 + cos ⁡ α sin 2 ⁡ α D = p 2 tan ⁡ α 2 {\displaystyle {\begin{aligned}(2D)^{2}&=2p^{2}\cdot {\frac {1+\cos \alpha }{\sin ^{2}\alpha }}\\[5pt]D&={\frac {\frac {p}{2}}{\tan {\frac {\alpha }{2}}}}\end{aligned}}} כאשר α הוא קטן מאוד (α < π / 6) ניתן לערוך את הקירובים הבאים בזווית הקטנה: לכן D ≈ p α . {\displaystyle D\approx {\frac {p}{\alpha }}.} אנו יכולים לראות שככל ש α קטן יותר, כך הקווים החיוורים יותר רחוקים זה מזה; כאשר שני הדפוסים מקבילים (α = 0), המרווח בין הקווים החיוורים הוא אינסופי (אין קו חיוור). יש אפוא שתי דרכים לקבוע את α: על ידי כיוון הקווים החיוורים ועל ידי המרווח שלהם α ≈ p D {\displaystyle \alpha \approx {\frac {p}{D}}} אם אנו בוחרים למדוד את הזווית, השגיאה מתכונתית לשגיאת המדידה. אם אנו בוחרים למדוד את המרווח D, השגיאה מתכונתית להיפוך של המרווח. לפיכך, עבור הזוויות הקטנות, עדיף למדוד את המרווח. בתחום האומנות הגרפית והמדפסת, הטכנולוגיה המקובלת להדפסת תמונות בצבע מלא כרוכה בהצבת מסכי הלפטון בארבעה צבעים זה על גבי זה. המדובר במסכי נקודה מלבניים רגילים, בדרך כלל בצבעי ציאן, צהוב, מגנטה ושחור(CMYK). הופעת תבניות מוארה במידה מסוימת היא בלתי נמנעת, אך במצב הטוב תבנית המוארה צפופה כל כך עד שאינה מורגשת. באומנות הגרפית כאשר מזכירים מוארה הכוונה היא שתבנית המוארה נראית לעין יתר על המידה. חלק מאמנות ההדפסה מורכבת מבחירת זוויות מסך ותדרי הלפטון אשר ממזערים את הופעת תבניות מוארה בלתי-רצויות. קשה לעיתים לחזות את הופעת תבניות מוארה ואותה קבוצת מסכים עשויה להניב תוצאות טובות עם תמונות מסוימות, בעוד שבתמונות אחרות מופיעות תבניות מוארה. יש תוכנות מחשב של סורקי תמונות שמספקות מסנן "מסך", למניעת הופעה של תבניות מוארה. תבניות מוארה נראים בדרך כלל על מסכי טלוויזיה כאשר אדם לובש חולצה או ז'קט של מארג או תבנית מחזורית קבועה. תבנית המוארה נוצרת בגלל התאבכות בין תבנית האריג ותבנית הפיקסלים במצלמה הדיגיטלית או במסך הטלוויזיה. בגלל זה, שדרני חדשות ואנשי מקצוע אחרים המופיעים בטלוויזיה באופן קבוע מקבלים הנחיות להימנע מביגוד שעלול לגרום להופעה לא רצויה של תבניות מוארה. כאשר מצלמים מסך טלוויזיה או מחשב במצלמה דיגיטלית עלולים לקבל תבניות מוארה בגלל התאבכות מטריצת הפיקסלים במצלמה עם מטריצת הפיקסלים במסך. כדי למנוע זאת, מומלץ לצלם בזווית של כ-30 מעלות ביחס למסך. תבניות מוארה משמש במשואות לכלי שיט הנקראות "סימני מוביל של אינוגון" או "אורות אינוגון", המיוצרים על ידי Inogon Licens AB, שוודיה, כדי לכוון את הספינות לדרך הבטוחה ביותר לעבר מרינות, או נמלים וולציין סכנות מתחת למים כגון צינורות או כבלים. תבניות המוארה בשלט הן בצורת חיצים לעבר אזור הסכנה או למסלול התנועה קו המעבר הבטוח. כאשר הספינה עוברת את מסלול התנועה, החיצים על המשואה הופכים לפסים אנכיים לפני שהם חוזרים לחצים המפנים בכיוון ההפוך. בנוסף, אורות אינוגון פרוסים בשדות תעופה כדי לסייע לטייסים בשטח לשמור על הקו המרכזי של מסלולי ההסעה. בתעשיות הייצור משתמשים בתבניות מוארה לבחינה של מעוות או עיבור מיקרוסקופי בחומרים: על ידי עיוות רשת ביחס לרשת התייחסות ומדידת תבנית מוארה, ניתן להסיק את רמות הלחץ וסוגו. טכניקה זו אטרקטיבית מכיוון שקנה המידה של תבנית מוארה גדול בהרבה מהסטייה הגורמת לה, דבר המקל על המדידה. לשם כך, צריך לצייר תבנית קווים אחת על האובייקט ולהניח תבנית קווים השנייה על התבנית הראשונה בלי להצמידן מכנית, כפי שמודגם בתמונה משמאל. בתכנון שטרות כסף מנצלים את נטייתם של סורקים דיגיטליים לייצר תבניות מוארה וכוללים בשטר עיצובים עגולים או גליים עדינים אשר עשויים להציג תבניות מוארה כאשר הם סרוקים ומודפסים. במיקרוסקופ ברזולוצית-על משתמשים בתבנית מוארה כדי להשיג תמונות עם רזולוציה גבוהה יותר מגבול ההפרדה,על ידי שימוש בתאורה מובנית. במיקרוסקופ מנהור סורק, פסי מוארה מופיעים אם לשכבות אטומיות בפני השטח יש מבנה גביש שונה מהגביש. זה יכול להיות למשל בגלל שחזור פני השטח של הגביש, או כאשר שכבה דקה של גביש שני נמצאת על פני השטח, למשל שכבה יחידה, שכבה כפולה של גרפן, או מבנה ננו ואן דר ואלס מעורב של גרפן ו־hBN, או מבני ננו של ביסמוט ואנטימון. במיקרוסקופ אלקטרונים חודר (TEM), ניתן לראות פסי מוארה בגלל סריגי גבישיים משתנים וחופפים, עם מרווחים שונים או עם כיוונים שונים. במדע חומרים, דוגמאות ידועות המציגות תבניות מוארה הן שכבות דקות או ננו-חלקיקים מסוג (MX (M = Ti, Nb; X = C, N אשר חופפים למטריצה אוסטניטית. בשני הרכיבים, השכבה הדקה MX והמטריצה, יש מבנה גביש קובי ומתקבל מבנה של קובייה על קובייה. אולם, יש אי התאמה משמעותית בין הרכיבים של סריג של בערך של 20-24% (בהתבסס על ההרכב הכימי של הסגסוגת), שמייצר תבנית מוארה. תבנית מוארה מופיעה גם בחומרים דו־ממדיים. זאת, כאשר יש אי התאמה בין פרמטר הסריג או הזווית של שכבת הדו-מימד לזו של המצע. תבנית המוארה נובעת מחוסר ההתאמה, ומנוצלת כאמצעי להנדסה של המבנה האלקטרוני או התכונות האופטיות. דוגמה בולטת היא בגרפן דו-שכבתי, אשר בזווית קסם מיוחדת יוצר תבנית מוארה בד בבד עם הצגת מוליכות-על ותכונות חשובות אחרות. בשנים 1977–1994 פעלה בקריה למחקר גרעיני בנגב (קמ"ג) קבוצת מחקר שכללה בין השאר את ד"ר עודד כפרי, ד"ר עמינדב ליבנת, ד"ר אילנה גלאט וד"ר אליעזר קרן ועסקה ביישומים שונים של תבניות מוארה. חברת היישומים של קמ"ג, רותם תעשיות, הקימה ב-1986 מחלקה שמימשה את הידע המדעי שהצטבר בקבוצה במוצרים שונים, ובשנת 1994 הפכה את המחלקה לחברת הבת רותלקס. רותלקס פעלה תחילה בפארק רותם ליד דימונה ועברה מאוחר יותר לפארק התעשייתי בעומר. רותלקס פעילה בתחום בדיקת האיכות של משקפיים, עדשות מגע ועדשות עין מלאכותיות להחדרה תוך-עינית (במקרי קטרקט וקוצר ראייה חזק). תבניות מוארה שימשו ברותם תעשיות גם לבדיקת איכות של מראות משושות קעורות שהיוו חלק ממראת מקטעים לריכוז אור שמש שבנו לנדו וחבריו. זאת, על ידי שימוש בתבנית קווים צפופה של 3 קווים למ"מ שהונחה על גבי המראה. התבנית השתקפה במראה הנבדקת והתאבכה עם עצמה. התמונה בצד שמאל מדגימה תבניות מוארה שהתקבלו בבדיקת ארבע מראות משושות. תבנית המוארה הקונצנטרית בצד שמאל למעלה התקבלה ממראה קעורה באיכות גבוהה עם רדיוס עקמומיות של 17 מטר. שאר המראות היו באיכות נמוכה יותר, דבר שהתבטא בתבניות מוארה עם עיוותים שונים של המבנה הקונצנטרי. ALIASING פיקסל רגיש לזווית אנימציה וסטריאוגרפיה הבוסתן של אוקליד פסל השומר תמונה תלת-ממדית מפלסטיק עקיבת מקום וזווית בעזרת תבניות מוארה מדיה וקבצים בנושא תבניות מוארה בוויקישיתוף סדרת ציורי שמן המבוססת על עקרונות moiré מאת האמן הבריטי, פיפ דיקנס הדגמה חיה של תבניות מוארה הנובעות מתנועה הדדית של סטים של מעגלים קונצנטריים. שימוש בחלונות קסומים להסתרת תיש תבניות מוארה, באתר אנציקלופדיה בריטניקה (באנגלית) Gustafsson, M. G. L. (2000). "Surpassing the lateral resolution limit by a factor of two using structured illumination microscopy". Journal of Microscopy. 198 (2): 82–87. doi:10.1046/j.1365-2818.2000.00710.x. PMID 10810003. "Scanning Images in Books/Magazines/Newspapers (Moire patterns)". www.scantips.com. נבדק ב-2020-02-27. H. Kamal, R. Voikel and J. Alda, Properties of moire magnifiers, Optical Enguineering 37(11) 3007-3014, ‏November 2018 Miao, Houxun; Panna, Alireza; Gomella, Andrew A.; Bennett, Eric E.; Znati, Sami; Chen, Lei; Wen, Han (2016). "A universal moiré effect and application in X-ray phase-contrast imaging". Nature Physics. 12 (9): 830–834. Bibcode:2016NatPh..12..830M. doi:10.1038/nphys3734. PMC 5063246. PMID 27746823. "Scanning Images in Magazines/Books/Newspapers". ScanTips.com. נבדק ב-22 באפריל 2010. {{cite web}}: (עזרה) "US Patent 4,629,325". Google Patents. נבדק ב-5 במרץ 2018. {{cite web}}: (עזרה) Alexander Trabas. "Prohibited anchorage". Light of Lights. נבדק ב-9 בדצמבר 2016. {{cite web}}: (עזרה) Kazda, Antonín; Caves, Robert (2015). Airport design and operation (3 ed.). Bingley, England: Emerald. pp. 204–205. ISBN 9781784418700. Sincerbox, Glenn T., ed. (1991). Counterfeit deterrent features for the next-generation currency design. Washington DC: National Materials Advisory Board. p. 61. ISBN 9780309050289. Kobayashi, Katsuyoshi (1996-01-01). "Moiré pattern in scanning tunneling microscopy: Mechanism in observation of subsurface nanostructures". Physical Review B. 53 (16): 11091–11099. Bibcode:1996PhRvB..5311091K. doi:10.1103/PhysRevB.53.11091. PMID 9982681. N’Diaye, Alpha T. (2006-01-01). "Two-Dimensional Ir Cluster Lattice on a Graphene Moiré on Ir(111)". Physical Review Letters. 97 (21): 215501. arXiv:cond-mat/0609286. Bibcode:2006PhRvL..97u5501N. doi:10.1103/PhysRevLett.97.215501. PMID 17155746. K. Schouteden, N. Galvanetto (2015). "Scanning probe microscopy study of chemical vapor deposition grown graphene transferred to Au(111)". Carbon. 95: 318–322. doi:10.1016/j.carbon.2015.08.033. Tang, Shujie; Wang, Haomin; Zhang, Yu; Li, Ang; Xie, Hong; Liu, Xiaoyu; Liu, Lianqing; Li, Tianxin; Huang, Fuqiang (16 בספטמבר 2013). "Precisely aligned graphene grown on hexagonal boron nitride by catalyst free chemical vapor deposition". Scientific Reports. 3 (1): 2666. arXiv:1309.0172. Bibcode:2013NatSR...3E2666T. doi:10.1038/srep02666. PMC 3773621. PMID 24036628. {{cite journal}}: (עזרה) Tang, Shujie; Wang, Haomin; Wang, Huishan (2015). "Silane-catalysed fast growth of large single-crystalline graphene on hexagonal boron nitride". Nature Communications. 6: 6499. arXiv:1503.02806. Bibcode:2015NatCo...6.6499T. doi:10.1038/ncomms7499. PMC 4382696. PMID 25757864. Le Ster, Maxime; Maerkl, Tobias; Kowalczyk, Pawel J.; Brown, Simon A. (2019). "Moiré patterns in van der Waals heterostructures". Physical Review B. 99 (7): 075422. Bibcode:2019PhRvB..99g5422L. doi:10.1103/PhysRevB.99.075422. Williams, David B.; Carter, C. Barry (2009-01-01). Transmission electron microscopy: a textbook for materials science. Springer. pp. 393–397. ISBN 9780387765013. OCLC 876600051. Heczko, M.; Esser, B.D.; Smith, T.M.; Beran, P.; Mazánová, V.; McComb, D.W.; Kruml, T.; Polák, J.; Mills, M.J. (14 במרץ 2018). "Atomic resolution characterization of strengthening nanoparticles in a new high-temperature-capable 43Fe-25Ni-22.5Cr austenitic stainless steel". Materials Science and Engineering: A. 719: 49–60. doi:10.1016/j.msea.2018.02.004. ISSN 0921-5093. {{cite journal}}: (עזרה) Yin, Xi; Liu, Xinhong; Pan, Yung-Tin; Walsh, Kathleen A.; Yang, Hong (10 בדצמבר 2014). "Hanoi Tower-like Multilayered Ultrathin Palladium Nanosheets". Nano Letters. 14 (12): 7188–7194. Bibcode:2014NanoL..14.7188Y. doi:10.1021/nl503879a. PMID 25369350. {{cite journal}}: (עזרה) Liu, Yuan; Weiss, Nathan O.; Duan, Xidong; Cheng, Hung-Chieh; Huang, Yu; Duan, Xiangfeng (2016). "Van der Waals heterostructures and devices". Nature Reviews Materials. 1 (9): 16042. Bibcode:2016NatRM...116042L. doi:10.1038/natrevmats.2016.42. ISSN 2058-8437. APS Physics - Trend: Bilayer Graphene’s Wicked, Twisted Road Kafri, O.; Livnat, A., Reflective surface analysis using moiré deflectometry, Applied Optics 20, 1981, עמ' 3098-3100 Ilana Glatt, Aminadav Livnat, Oded Kafri, and D. Heller, Autocollimator based on moire deflectometry, Applied Optics 23, 1984, עמ' 2673-2674 Oded Kafri, Eliezer Keren, and Kathi M. Kreske, Direct determination of strain with diffraction-limit accuracy by moiré deflectometry, Optics Letters 14, 1989, עמ' 193-195 M. Lando, J. Kagan, B. Linyekin, G. Pecheny, J. Achiam, An astigmaic corrected target aligned solar concentrator, Optics Communications 180, 2000, עמ' 127-132