S.M.A.R.T.

S.M.A.R.T. (akronym för Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology) är en funktion i vissa hårddiskar som gör det möjligt uppskatta tillståndet på dessa. Diagnostiken som görs varierar mellan olika hårddiskar, men innefattar ofta saker som att söktid och andel felläsningar ligger inom ett acceptabelt intervall. Antalet timmar hårddisken varit påslagen, antalet gånger den startat upp, och den högsta temperatur den blivit utsatt för är andra vanliga parametrar som kan läsas ut.

Vissa datorer visar en varning vid uppstart om dessa parametrar indikerar att något verkar fel. I sådana fall bör en backup omedelbart göras och hårddisken bytas ut då den har en klart ökad risk för att inom kort helt gå sönder och bli oläsbar.

Träffsäkerhet 
En fältstudie på Google som täckte över 100 000 enheter för konsumentklass från december 2005 till augusti 2006 hittade följande samband mellan viss SMART-information och årliga hårddiskhaverier:
 Under 60 dagar efter det första okorrigerbara felet på en enhet (SMART-data 198/0xC6) som upptäcktes genom en offline-skanning, var enheten 39 gånger i genomsnitt mer benägen att haverera, än en felfri enhet.
 Första registreringen av SMART-data för omlokalisering (5/0x05 och 196/0xC5) samt väntad omlokalisering (SMART-data 197/0xC5) var också starkt korrelerad med högre sannolikhet för haveri.
 Små samband för ökad temperatur och inget samband för användningsnivå.
 56% av de havererade enheterna hade inget registrerat i något av de "fyra starka S.M.A.R.T.-varningarna"  (läsfel eller olika typer av omlokaliseringsräknare).
 36% av de havererade enheterna hade inga S.M.A.R.T.-fel alls, utom temperaturen, vilket innebär att S.M.A.R.T.-data ensamt bara ger begränsad möjlighet att förutse haveri.

ATA S.M.A.R.T.-attribut 
Varje tillverkare definierar en uppsättning attribut, och sätter olika tröskelvärden för attribut som inte ska passera under normal drift. Varje attribut har ett råvärde(RAW) i decimal- eller hexadecimal form vars betydelse bestäms av drivenhetstillverkaren. Dessa råvärden står för antal gånger något har är inträffat, drifttimmar, uppstarter, temperatur, söktider, time-outer, läsfel, överförda datamängder, etc. Viktigare är att avläsa aktuellt attributvärde i förhållande till sämsta uppmätta värde och tröskelvärde, ofta uttryckt i skalor 252→0, 200→0 eller 100→0, där högt  aktuellt värde är bäst.

Tillverkare som har implementerat minst ett S.M.A.R.T.-attribut i olika produkter inkluderar Samsung, Seagate, IBM (Hitachi), Fujitsu, Maxtor, Toshiba, Intel, sTec, Inc., Western Digital och ExcelStor Technology.

Kända ATA S.M.A.R.T.-attribut 
Följande diagram visar några S.M.A.R.T.-attribut och den typiska betydelsen av deras råvärden. Normaliserade värden kartläggs vanligtvis så att de högre värdena är bättre (undantag inkluderar körtemperatur, antal läshuvudbelastningar-/avlastningscykler), men högre RAW-värden kan vara bättre eller sämre beroende på attributet och tillverkaren. Till exempel attributet "Reallocated Sectors Count/Antal omlokaliserade sektorer" aktuella normaliserade värde minskar när antalet omlokaliserade sektorer ökar. I detta fall indikerar attributets "RAW"-värde ofta antalet sektorer som har omfördelats, även om leverantörer inte på något sätt säger sig följa denna konvention.

Eftersom tillverkare inte nödvändigtvis håller med om exakta attributdefinitioner och mätenheter, är följande lista med attribut bara en allmän guide.

Enheter stöder inte alla attributkoder (ibland förkortade "ID", för "identifierare", i tabeller). Vissa koder är specifika för specifika drivenheter (magnetisk tallrik, blixt, SSD). Enheter kan använda olika koder för samma parameter, se till exempel koder 193 och 225.

Tröskelvärdedatum - Threshold Exceeds Condition (TEC) 
Tröskelvärdedatum (TEC) är ett bedömt datum då ett kritiskt enhetsstatistikattribut når sitt tröskelvärde. När "Drive Health"-programvaran rapporterar en "närmaste TEC" bör den betraktas som ett "Failure date", dvs. då enheter havererar. Ibland anges inget datum och enheten kan förväntas fungera utan fel.

För att förutsäga datum följer enheten hastigheten som attributet ändras i. Observera att TEC-datum endast är uppskattningar; hårddiskar kan haverera både mycket tidigare eller mycket senare.

Självtester 
SMART-enheter kan erbjuda flera självtester:

 Kortfattad ()
 Kontrollerar den elektriska och mekaniska prestandan såväl som skivans läsprestanda. Elektriska tester kan inkludera ett test av buffert-RAM, ett test av läs-/skrivkrets eller ett test av läs-/skrivhuvud. Mekaniska tester inkluderar sökning och motorstyrning, genom att skanna delar av enhetens yta. Vidare kontrolleras listan över sektorer som kan ha läsfel. Testet utformas olika av olika tillverkare och det körs under en begränsad tid, vanligtvis under två minuter.

 Utförlig ()
 En längre och mer grundlig version av det korta självtestet som skannar hela skivytan utan tidsgräns. Detta test tar vanligtvis flera timmar, beroende på läs-/skrivhastighet på enheten och dess storlek.

 Kortfattad tillverkaranpassad ()
 Avsedd som ett snabbtest för att identifiera skador som uppstod vid transport av enheten från enhetens tillverkare till datortillverkaren.
Endast tillgängligt på ATA-enheter och tar vanligtvis flera minuter.

 Selektivt ()
 Vissa enheter tillåter selektivt självtest på bara en del av ytan.

Självtestloggarna för SCSI- och ATA-enheter är något olika. Det är möjligt för det långa testet att passera även om det korta testet misslyckas.

Diskens självtestlogg kan innehålla upp till 21 skrivskyddade poster. När loggen är fylld tas gamla poster bort.

Se även 
 Seagate/Samsung
 Western Digital/HGST

Referenser

Noter

Externa länkar 
 Computer World - Fem SMART-data som förutspår hårddiskhaveri

Datorteknik