Physikalische und technologische Limitierungen von SNS Josephson Kontakten für hochintegrierbare Tieftemperatur Supraleiterschaltungen Die vorliegend Arbeit untersucht die physikalischen und technologischen Limitierungen von neuartigen SNS Josephson Kontakten in Rampentechnologie. Auf der Basis von interinsisch geshunteten Nb HfTi Nb und Nb HfTi Nb HfTi Nb Kontakten konnte eine Fabrikationstechnologie entwickelt werden die es ermöglicht reproduzierbar sub æm Kontakte bis hinab zu Kontaktflächen von A = 0 03 æm2 herzustellen. Es werden die physikalischen Eigenschaften der Kontakte untersucht: Temperatur und Magnetfeldabhängigkeit der kritischen Stromstärke IC Einfluß von Mikrowelleneinstrahlung: Shapiro Stufen differentieller Widerstand. Zur Realisierung supraleitender digitaler Elektronikschaltungen (SDE) wird die Stromtragfähigkeit von sub æm Nb Leiterbahnen gemessen und der Fringe Faktor bestimmt. Es wird gezeigt daß sich die neuartigen Josephson Kontakte zur Herstellung von Serienschaltungen eignen wie sie in Josephson Spannungsnormalen zum Einsatz kommen. Weiterhin wird die Einsetzbarkeit der neuartigen Kontakte in supraleitenden digitalen Logikschaltungen in Rapid Single Flux Quantum (RSFQ) Implementierung verifiziert.