Photoelektronenbeugung an Übergangsmetalloxiden In der vorliegenden Arbeit werden Simulationen mit dem Mehrfachstreu Cluster Modell (MSCM) durchgeführt. Es wird gezeigt dass der einfache Ansatz des Vorwärtsstreumodells wegen starker Interferenzen nicht zur Bestimmung der Struktur von 3d Übergangsmetallmonoxidfilmen ausreicht. Die Struktur von ultradünnen Filmen aus zwei Experimenten (MnO Ag(001) 0.5 20ML) wird im Rahmen einer R Faktor Analyse bestimmt. Dabei werden simulierte Röntgenphotoelektronenbeugungs Spektren (XPD Spektren) zu verschiedenen Strukturmodellen mit den experimentell gemessenen Spektren verglichen. Alle Filme weisen eine tetragonale Verzerrung auf die vom Wachstumsmechanismus abhängt (Temperatur und Dauer des Temperns). Simulation; Mehrfachstreu Cluster Modell (MSCM); Röntgenphotoelektronenbeugung (XPD); Epitaktische MnO Filme; Photoemission; Ultradünne Filme; Interferenz; Tetragonale Verzerrung Simulation; multiple scattering cluster model (MSCM); x ray photoelectron diffraction (XPD); epitaxial MnO films; photoemission; ultrathin films; interference; tetrahedral distortion