Nanoskopie zur Strukturaufklärung von DNA Die Verwendung metallischer oder Metall beschichteter Mess Sonden für die Rastersondenmikroskopie (SPM – engl. scanning probe microscopy) ist die Voraussetzung für die Kombination mit der Oberflächenverstärkten Raman Spektroskopie (SERS – engl. surface enhanced Raman spectroscopy). Bei dem als Spitzenverstärkte Raman Spektroskopie (TERS – engl. tip enhanced Raman spectroscopy) bezeichneten Verfahren wird dabei idealerweise nur der endständige Metall Nanopartikel für die Verstärkung der spezifischen Raman Informationen genutzt. Durch die geringe Reichweite des zur Detektion genutzten evaneszenten Feldes des bestrahlten Nanopartikels können extrem kleine Bereiche spektroskopisch untersucht werden. Dabei kann Einzel Molekül Sensitivität erreicht werden die gleichzeitig durch die topographische Information der Rastersondenmikroskopie untermauert wird. Diese Eigenschaften der TERS Technologie schaffen somit das Potential für die Analyse einzelner DNA Stränge. Im Rahmen dieser Arbeit wurden verschiedene DNA Proben untersucht. Hierbei konnten zahlreiche Fragestellungen bezüglich der Primär wie auch Sekundärstruktur von DNA erstmals mittels TERS adressiert werden. ...