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par ses techniques. Plusieurs études des techniques de débitage dans le Paléolithique inférieur et moyen ont déjà été faites, mais on y a [1] « La typologie ne devrait pas être réduite aux outils fabriqués par l’homme, mais il est urgent de l’étendre aux produits de rejet de l’industrie humaine de l’époque. Nous croyons qu’il est plus sûr de déceler des affinités en comparant les techniques plutôt que la typologie, quand celle-ci est réduite, comme c’est trop souvent le cas, aux objets finis de l’industrie humaine, et exclut les déchets de fabrication et les procédés employés par l’homme pour fabriquer
de fabrication et les procédés employés par l’homme pour fabriquer ces objets finis. » (The evolution of the Levallois technique in South Africa. Man, n° 37, mai-juin 1945.) l’anthropologie. — t. 54. — 1950. FRANÇOIS BORDES Fig. 1. Outils sur éclats du Paléolithique inférieur et moyen (schémas). — 1, éclat Levallois; 2, autre type d’éclat Levallois; 3 et 4, pointes levalloisiennes; 5, nucléus levalloisien à éclat; 6, 7, nucléus levalloisien à pointes; 8 et 9, pointes pseudo-levalloisiennes; 10, pointe moustérienne; 11, pointe Levalloisienne retouchée; 12, nucléus moustérien discoïde; 13, pointe moustérienne allongée; 14, racloir à retouche biface; 15, racloir sur
moustérienne allongée; 14, racloir à retouche biface; 15, racloir sur face plane. confondu à plaisir deux choses qui peuvent être liées ou n’avoir aucun rapport entre elles, la préparation du plan de frappe et le débitage « Levalloisien ». Nous commencerons donc par définir avec autant de précision que possible les termes que nous allons employer dans cette étude. Éclat Levallois (fig. 1, n° 1). — Au sens historique, c’est un éclat du type de ceux qui furent trouvés dans les gravières de Levallois. Nous conformant à l’usage qui a prévalu, nous appellerons éclat Levallois un éclat à forme prédéterminée
prévalu, nous appellerons éclat Levallois un éclat à forme prédéterminée par une préparation spéciale du nucléus avant l’enlèvement de l’éclat : un rognon de silex, de forme ovale, aplati en général, sera épannelé sur les bords. À partir de ces enlèvements pris comme plans de frappe successifs, on « pèle » la surface supérieure du nucléus par des enlèvements centripètes, formant ainsi une surface rappelant grossièrement le dos d’une tortue et ses écailles (tortoise back). Un plan de frappe est préparé, généralement par petites facettes, sur un bout de ce nucléus, et perpendiculairement à son axe d’allongement. Un coup porté
nucléus, et perpendiculairement à son axe d’allongement. Un coup porté au percuteur de pierre sur ce plan de frappe détermine un plan d’éclatement qui recoupe les surfaces d’enlèvement des éclats centripètes, donnant ainsi un éclat ovalaire, plat, présentant sur sa face supérieure la trace de ces enlèvements centripètes. Si le nucléus était arrondi, on aura un éclat arrondi. Les éclats Levallois ont le plus souvent un talon à facettes, mais il peut exister, et il existe, des éclats Levallois à talon lisse. Il faut et il suffit pour cela que le plan de frappe du nucléus soit fait par un
le plan de frappe du nucléus soit fait par un seul large enlèvement au lieu de facettes multiples. Parfois la face supérieure du nucléus porte, au lieu des enlèvements centripètes, des enlèvements parallèles partant soit du futur plan de frappe, soit du bout opposé. L’éclat Levallois enlevé d’un tel nucléus portera sur sa face supérieure, la trace de ces enlèvements et se terminera le plus souvent en biseau (fig. 1, n° 2). Si dans un tel éclat la longueur dépasse deux fois la largeur, on aura une lame levalloisienne, parfois très proche des lames du Paléolithique supérieur. Pointe levalloisienne (fig.
très proche des lames du Paléolithique supérieur. Pointe levalloisienne (fig. 1, n° 3 et 4). — C’est un type particulier d’éclat Levallois, de forme triangulaire, le triangle étant plus ou moins allongé et régulier. Il s’obtient sur un nucléus spécial, également épannelé, dont la préparation a été faite par deux enlèvements sur la face supérieure, partant soit du futur plan de frappe (fig. 1, n° 6), soit du bord opposé (fig. 1, n° 7). Un tel nucléus est généralement triangulaire dans le premier cas, quadrangulaire dans le second. Un coup porté sur le plan de frappe, sous une incidence spéciale,
porté sur le plan de frappe, sous une incidence spéciale, détermine un plan d’éclatement qui recoupe l’arête dorsale séparant les deux enlèvements de préparation, détachant ainsi un éclat en triangle. Ici également, le plan de frappe, le plus souvent à facettes, peut être lisse. Si une telle pointe, présentant des irrégularités, a été régularisée secondairement par retouches, on aura une pointe levalloisienne retouchée (fig. 1, n° 11). Nucléus levalloisien (fig. 1, n° 5). — Le nucléus levalloisien pur ne porte donc les traces que de l’enlèvement d’un seul éclat important, ovale, arrondi ou triangulaire. Nucléus moustérien (fig. 1, n° 12).
ovale, arrondi ou triangulaire. Nucléus moustérien (fig. 1, n° 12). — Il y a plusieurs types de nucléus moustériens. Un seul peut être confondu avec le nucléus levalloisien, c’est le nucléus discoïde : il comporte lui aussi un épannelage sur les bords et des éclats centripètes. Mais dans le nucléus moustérien c’est l’obtention de tels éclats centripètes (puis l’ouvrier avait en vue. Le nucléus discoïde moustérien est généralement plus bombé que le nucléus levalloisien avant l’enlèvement de l’éclat caractéristique. Parfois, il est taillé alternativement sur les deux faces et tend à la forme bipyramidale. Dans les deux cas, une fois
à la forme bipyramidale. Dans les deux cas, une fois qu’on a enlevé une première rangée d’éclats, on continue en prenant comme plan de frappe la base des arêtes séparant deux enlèvements antérieurs. Il arrive ainsi qu’on fasse sauter un éclat triangulaire, ressemblant à une pointe levalloisienne, mais avec un talon épais et une allure maladroite. De plus, souvent, le point d’impact se trouve déporté latéralement par rapport à l’axe de l’éclat. Un tel éclat pourra être appelé pointe pseudo-levalloisienne (fig. 1, n°s 8 et 9). Elle est fréquente dans le Moustérien, rare dans le faciès Levallois. Quand le nucléus
le Moustérien, rare dans le faciès Levallois. Quand le nucléus moustérien est très plat et retaillé sur les deux faces, on a affaire à un disque. Il peut s’agir soit d’un nucléus épuisé, soit d’un outil spécial passant au biface. Les éclats tirés de ces nucléus discoïdes ont généralement un talon à facettes. Il existe aussi dans le Moustérien des éclats à talons lisses dans les mêmes gisements. Si, « par malheur », le talon est incliné sur la face d’éclatement, l’éclat est souvent qualifié de « clactonien ». Il n’y a rien à y redire si l’on ne désigne
n’y a rien à y redire si l’on ne désigne par « clactonien » qu’une technique de débitage. Mais si on sousentend par là des rapports avec l’industrie clactonienne d’Angleterre, il est bon de se souvenir qu’il est très difficile de faire autre chose que de tels éclats « clactoniens » avec un percuteur de pierre sur plan de frappe lisse, et encore plus si on taille sur enclume ! Ces éclats pseudo-clactoniens se trouvent du Chelléen au Néolithique, en passant par le Paléolithique supérieur ! Réservons donc au terme « clactonien » son sens typologique s’il en a un
« clactonien » son sens typologique s’il en a un : vieille civilisation sans bifaces du Paléolithique inférieur. Pointe moustérienne (fig. 1, n°s 10 et 13). — Elle est tirée, par retouches importantes, d’un éclat de forme quelconque. PRINCIPES D’ÉTUDE STATISTIQUE TECHNIQUE ET TYPOLOGIQUE D’UN GISÉMENT 1° Le premier principe, valable pour toutes les études statistiques, est de travailler sur un nombre suffisant d’objets. Une statistique faite sur un trop petit nombre d’objets sera toujours sujette à caution. Pour une étude de technique, cent pièces sont un minimum. 2° On doit travailler sur des objets non triés, ce qui restreint
doit travailler sur des objets non triés, ce qui restreint tout de suite les applications actuelles de la méthode, la majorité des collections de Musées ne comportant qu’un choix de pièces. Il faut se méfier aussi des récoltes faites par les ouvriers, qui ont tendance à rejeter les éclats informes et même les jolies pièces si elles sont faites sur éclats de décortication : ils les considèrent alors comme « non finies ». Par contre, ils recueillent les éclats Levallois, et une collection ramassée par eux dans une briqueterie risque d’être artificiellement enrichie en éclats de ce type. 3° Il
d’être artificiellement enrichie en éclats de ce type. 3° Il faut travailler sur des ensembles homogènes. Cette condition est le plus souvent réalisée pour des silex taillés venant de fouilles en abris ou en cavernes. Par contre, pour les gisements des loess, il peut se faire que plusieurs industries se trouvent mélangées dans le même gisement, qui était originellement un habitat de plein air. Dans ce cas on essayera de se guider sur l’état physique des pièces, en se souvenant que la patine est un caractère qui dépend de multiples variables, dont le temps est peut-être la moins importante, la
variables, dont le temps est peut-être la moins importante, la nature du silex et les conditions particulières que chaque pièce a subies jouant le rôle principal. Il en est de même des traces de gel. Le lustrage sera un meilleur critère, malheureusement plus délicat à manier (1). (1) Il est évident que si l’étude technique et typologique des silex lustrés et non lustrés d’un gisement conduit à des résultats comparables, il n’y aura aucune raison d'en faire deux industries séparées. Cela peut correspondre au passage, à deux moments différents, de la même tribu, ou de deux tribus de même civilisation,
la même tribu, ou de deux tribus de même civilisation, ou, plus simplement, au fait qu’une partie de l’industrie s’est trouvée immédiatement enfouie, tandis que l’autre partie restait exposée à l’air, au ruissellement ou au vent. ÉTUDE TECHNIQUE (tableau i) Pour l’étude des techniques de débitage, on commencera par séparer les pièces de technique levalloisienne de celles de technique non levalloisienne, qu’elles soient secondairement retouchées ou non. Par exemple, un racloir sur éclat Levallois sera compté comme « éclat Levallois » sur le tableau des techniques (tableau I), tandis qu’il sera compté comme « racloir » sur le tableau de
sera compté comme « racloir » sur le tableau de la typologie (tableau II), les éclats Levallois ne comprenant sur ce dernier tableau que ceux qui ne sont pas retouchés ou qui le sont peu. Dans chacune des deux grandes catégories, on fait des subdivisions en considérant le caractère des talons. On porte verticalement les catégories suivantes : éclats Levallois, pointes levalloisiennes, lames levalloisiennes, éclats non levalloisiens, lames non levalloisiennes, et horizontalement, les caractères des talons : non préparés (lisses), plans à facettes, convexes à facettes, talons cassés ou sans caractères définis, talons enlevés. On pourrait également faire une étude
caractères définis, talons enlevés. On pourrait également faire une étude des types de percussion employés : bois, pierre, enclume, etc. Mais cette étude, très délicate, ne donne pas de résultats intéressants. On fait ensuite les pourcentages : a) Pourcentages du type Levallois par rapport à la totalité des éclats : Nombre d’éclats, de pointes et de lames levalloisiens X 100 Nombre total d’éclats et lames de tous types Le chiffre obtenu pourra théoriquement varier de 0 à 100 et sera appelé « indice Levallois » du gisement. Ce pourcentage comprend tous les éclats, y compris les outils taillés à partir
tous les éclats, y compris les outils taillés à partir d’eux et ceux dont le talon manque ou a été enlevé, pourvu que leur type technique soit reconnaissable. b) Pourcentage des divers types de talons : Nombre de talons plans à facettes X 100 Nombre total d'éclats dont le talon est reconnaissable En ajoutant le pourcentage des talons plans à facettes et celui des talons convexes à facettes, on obtient le pourcentage total des talons à facettes, que l’on peut aussi calculer directement, et qui sera appelé « indice de facettage » du gisement. Il variera lui aussi de 0
facettage » du gisement. Il variera lui aussi de 0 à 100. Il n’y a théoriquement aucun rapport entre cet indice et l’indice Levallois, et on pourrait imaginer facilement une industrie d’indice de facettage 100 et d’indice Levallois 0. Le rapport entre talons plans à facettes et talons convexes à facettes peut être aussi intéressant, les premiers semblant moins évolués que les seconds. On pourrait ainsi calculer un indice mineur. TABLEAU I. — Technique Gisement: Oissel. — Couche: B. — Industrie: Moustérien de faciès Levallois. TYPE LEVALLOIS Talons lisses plans à facettes convexes à facettes cassés enlevés Éclats et pointes..
à facettes convexes à facettes cassés enlevés Éclats et pointes.. 20 58 88 5 2 Lames 6 20 5 2 0 TYPE NON LEVALLOIS Talons lisses plans à facettes convexes à fac. cassés enlevés débris Éclats 52 44 8 20 2 Lames 19 19 2 3 1 Indice Levallois : 47,5. — Indice de facettage : 66,6. ÉTUDE TYPOLOGIQUE (tableau ii) Nous proposons ici une liste-type des différentes catégories d’outils sur éclats que l’on peut rencontrer dans un gisement paléolithique inférieur ou moyen (cf. fig 1 et 2). Elle comporte 40 numéros, le dernier représentant les « outils divers ».
40 numéros, le dernier représentant les « outils divers ». Elle n’est évidemment pas exhaustive. Si l’on trouve un nouveau type d’outil, on le porte sous le n° 40, faisant ainsi reculer les outils divers au n° 41, et ainsi de suite. On inscrit en face de chaque type d’outil le nombre que l’on en a trouvé, puis on fait le pourcentage par rapport au nombre total d’outils caractérisés, sans compter les éclats sans caractéristique définie, ni les lames. Un éclat de taille de biface, retravaillé en outil, sera par contre compris dans le décompte. TABLEAU II. — Typologie Gisement
contre compris dans le décompte. TABLEAU II. — Typologie Gisement : Oissel. — Couche : B. — Industrie : Moustérien de faciès Levallois. a) OUTILS SUR ÉCLATS ; 174. % 1. Éclats et lames Levallois. 40 22,8 2. Pointes levalloisiennes . 38 21,7 3. Pointes levall. retouch. . . 17 9,7 4. Pointes pseudo-levall. ... 0 0 5. Pointes moustériennes ... 1 0,6 6. Pointes moust. allongées.. 0 0 7. Racloirs simples 17 9,7 8. » doubles 2 1,1 9. » convergents .... 8 4,5 10. » déjetés 2 1,1 11. » transversaux . . . 0 0 12. »
11. » transversaux . . . 0 0 12. » concaves 0 0 13. » sur face plane.. 0 0 14. » abrupts 1 0,6 15. » à dos aminci .. 3 1,7 16. » à ret. biface . . . 0 0 17. » alternes 0 0 18. Grattoirs 1 0,6 19. Grattoirs atypiques 0 0 20. Burins . 0 0 21. Burins atypiques 1 0,6 22. Perçoirs 0 0 23. Perçoirs atypiques 0 0 24. Couteaux à dos 2 1,1 25. » » atypiques. 4 2,2 26. » » naturel . . 9 5,1 27. Raclettes moustériennes.. 0
» naturel . . 9 5,1 27. Raclettes moustériennes.. 0 0 28. Eclats tronqués 3 1,7 29. Rabots 0 0 30. Tranchets moustériens .. 0 0 31. Pièces à encoches 10 5,7 32. Pièces denticulées 2 1,1 33. Retouche sur face plane. 3 1,7 34. Retouche abrupte 0 0 35. Retouche biface 0 0 36. Retouche alterné 0 0 37. « Pointe de Tayac » . . .. 0 0 38. Triangle à encoche 0 0 39. Pseudo-microburins 0 0 40. Divers 10 5,7 Eclats (92) et lames (56) non Levallois. — Eclats de taille de bifaces : 0. b)
Levallois. — Eclats de taille de bifaces : 0. b) BIFACES : 0. 1. Lancéolés 0 2. Triangulaires 0 3. Triangulaires allongés . . 0 4. Cordiformes 0 5. Subcordiformes 0 6. Cordiformes allongés ... 0 7. Limandes 0 8. Hachereaux 0 9. Hachereaux sur éclats . . 0 10. Subdiscoïdes 0 11. Nucléiformes 0 12. Divers 0 Observations sur les bifaces Indice de bifaces : 0. c) NUCLÉUS : 2. 1. Levallois à éclat 0 2. Levallois à pointe 0 3. Levallois à lames 0 4. Discoïdes moustériens . . 2 5. Disques 0 6. Prismatiques 0 7. Pyramidaux
. 2 5. Disques 0 6. Prismatiques 0 7. Pyramidaux 0 8. Globuleux 0 9. Informes 0 Observations sur les nucléus : Très rares. Il s’agit d’un campement plutôt que d’un atelier. Malgré l’indice Levallois élevé, les deux nucléus trouvés sont de type moustérien. PRINCIPES D’UNE MÉTHODE D’ÉTUDE 27 de même que les éclats et pointes Levallois, souvent peu retouchés, mais nettement intentionnels. On note ensuite le nombre de bifaces de chaque type que l’on a rencontrés, puis on procède de même pour les nucléus. Pour ces deux catégories on peut faire le pourcentage de chaque type Fig. 2. —
peut faire le pourcentage de chaque type Fig. 2. — Outils sur éclats du Paléolithique inférieur et moyen (schémas). — 1, racloir déjeté; 2, racloir à retouche abrupte; 3, racloir concave; 4, éclat à dos retouché; 5, autre type d’éclat à dos retouché; 6, éclat à dos retouché atypique (partiel); 7, éclat à dos naturel; 8 et 9, raclettes moustériennes ; 10, éclat tronqué; 11, tranchet moustérien; 12, pièce à encoche; 13, autre type de pièce à encoche; 14, 15 et 16, divers types de pièces denticulées; 17, pièce à retouche sur face plane; 18, 19, pièces à retouche abrupte;
retouche sur face plane; 18, 19, pièces à retouche abrupte; 20, pointe de Tayac; 21, triangle à encoche; 22, pseudo-microburin moustérien. 28 FRANÇOIS BORDES Fig. 3. — Quatre histogrammes dans l’ordre suivant (de haut en bas) : Oissel, couche cBl, couche B; Goderville, cru lustré, cru sépulé — I, indice Levallois; II, indice de facettage; III, indice de bifaces. — Les échelles de chiffres disposés en abscisses correspondent, à gauche, au pourcentage des indices (0 à 80); à droite en ordonnées, (0 à 100), à celui des types d’outils représentés par les chiffres 1 à 40 : 1, éclats Levallois;
par les chiffres 1 à 40 : 1, éclats Levallois; 2, pointes levalloisiennes; 3, pointes levalloisiennes retouchées; 5, pointes moustériennes; 7, racloirs simples; 8, racloirs doubles; 9, racloirs convergents; 10, racloirs déjetés; 13, racloirs sur face plane; 14, racloirs à retouche abrupte; 15, racloirs à dos aminci; 18, grattoirs; 19, grattoirs atypiques; 20, burins; 21, burins atypiques; 22, perçoirs; 23, couteaux à dos; 25, couteaux à dos à l’intérieur de la catégorie envisagée. Mais il est plus intéressant de faire le pourcentage des bifaces par rapport à l’ensemble des outils : Nombre total de bifaces X 100 Nombre total des
: Nombre total de bifaces X 100 Nombre total des outils bifaces et unifaces Le chiffre obtenu sera « l'indice de bifaces » du gisement. REPRÉSENTATION GRAPHIQUE Il est commode d’exprimer sous forme graphique les résultats obtenus, tant pour l’étude de la technique de débitage que pour la typologie. Sur une feuille millimétrique, on portera en ordonnées les pourcentages de 0 à 100, et en abscisses les types d’outils, représentés par leur numéro d’ordre sur la liste-type On place sur le graphique les points représentant les pourcentages respectifs de chaque type d’outils. On joint ces points à l’axe des abscisses
type d’outils. On joint ces points à l’axe des abscisses par une droite. Puis, pour plus de commodité, on joindra les points les uns aux autres par une ligne en pointillé, obtenant ainsi l’histogramme du gisement Dans le coin gauche on porte, en rectangles proportionnels, les trois indices : indice Levallois, indice de facettage, indice de bifaces. On a ainsi une vue d’ensemble de la typologie et de la technique de débitage du gisement, facilement comparable à d’autres (fig. 3 et 4). Bien entendu, pour que les résultats soient comparables d’un auteur à l’autre, il conviendra de s’en tenir à
d’un auteur à l’autre, il conviendra de s’en tenir à une liste-type, ou bien de publier sa propre liste-type avec son graphique. Les histogrammes que nous donnons ici ont été établis avec une liste type identique à celle publiée au tableau II. Il s’agit ici d'un histogramme et non d’une courbe, la ligne pointillée n’ayant pas de signification propre et n’étant là que pour faciliter la lecture. Dans une courbe, chaque point de la ligne pointillée aurait un sens. atypiques: 26, couteaux à dos naturel; 28, éclats tronqués; 31, éclats à encoches; 32, éclats denticulés; 33, éclats retouchés sur la
à encoches; 32, éclats denticulés; 33, éclats retouchés sur la face plane; 34, éclats à retouche abrupte; 36, éclats à retouche alterne; 40, outils divers. Histogrammes d’Oissel. Malgré la présence, dans l’histogramme de la couche B (en bas), d’une série d’outils qui n’existent pas dans la couche CB1 (en haut), ce qui est probablement dû à la différence entre le nombre total des pièces récoltées dans les deux couches, les deux graphiques se ressemblent beaucoup. Histogrammes de Goderville. — Malgré de petites différences, il s’agit évidemment là de la même industrie dans les deux séries. En bas, la série matérielle
industrie dans les deux séries. En bas, la série matérielle (moins de racloirs, pas de bifaces, davantage de couteaux à dos net) est peut-être un peu plus évoluée. Bien entendu, tous ces chiffres obtenus ne doivent être considérés que comme déterminants des « ordres de grandeur », et tel gisement à indice Levallois de 50, par exemple, ne se différencie pas par là même de tel autre où le même indice est de 42, si les autres caractéristiques sont sensiblement les mêmes. Il en serait autrement si les indices Levallois étaient respectivement de 18 et 70. CAUSES D’ERREURS La principale
étaient respectivement de 18 et 70. CAUSES D’ERREURS La principale cause d’erreur, dans l’étude technique, réside probablement dans l’appréciation du caractère Levallois ou non d’un éclat. Cependant, en s’en tenant strictement à la définition de l’éclat Levallois que nous avons donnée, et avec un peu d’habitude, il doit être possible de réduire cette marge d’erreur à des limites convenables. La discrimination des lames de technique levalloisienne sera plus difficile. Elles sont plus régulières, cependant, que les lames accidentelles et ne comportent que peu ou pas de cortex. Dans le doute, on peut calculer un indice Levallois maximum et un indice
on peut calculer un indice Levallois maximum et un indice minimum. Une autre cause d’erreur sera l’existence d’éclats pseudo-Levallois : enlèvements particulièrement importants sur un nucléus discoïde moustérien, par exemple. Mais en général ces éclats sont mal venus et de faible taille. Ils sont parfois cependant indiscernables des vrais éclats Levallois, et dans ce cas seront comptés comme tels. Parfois aussi, en taillant un biface, on fait sauter un large éclat qui, emportant une partie de la surface du biface, ressemble à un éclat Levallois. Mais dans les industries qui peuvent comporter des éclats Levallois, la taille du biface se
peuvent comporter des éclats Levallois, la taille du biface se fait le plus souvent au bois, tandis que celle des éclats Levallois se fait à la pierre. L’examen du talon et de la face d’éclatement pourra lever le doute. De toute façon, ces causes d’erreur voient leur importance diminuer si on travaille sur des séries assez nombreuses. Une troisième cause d’erreur, importante pour les industries à bifaces (Acheuléen, Moustérien de tradition acheuléenne, « Levalloisien V »), consiste en la présence d’un grand nombre d’éclats de taille de bifaces, que l’on ne peut compter parmi les éclats de débitage. Sauf pour
ne peut compter parmi les éclats de débitage. Sauf pour le Chelléen (Abbevillien) et l’Acheuléen ancien, taillés en tout ou en partie à la pierre, et où les éclats de taille peuvent être indiscernables des éclats de débitage, on les distinguera assez facilement : minceur, caractères de taille au bois, courbure fréquente, non utilisation postérieure en général. Si certains ont été utilisés, on les fera entrer dans l’étude typologique. La présence de petits débris d’éclats, sans caractéristiques, peut aussi être une cause d’erreur si on les compte comme éclats cassés de type non Levallois. Il vaut donc mieux les compter