translate English to German: An already existing CoS (Chip on Submount) test bench for acquisition of laser diode characteristics is duplicated.
Ein bestehender CoS (Chip On Submount) - Prüfplatz zur Ermittlung von Laserdioden-Kennlinien und -Eckdaten wird dupliziert und dieses Duplikat konzeptionell sowie messtechnisch grundlegend modernisiert.