translate English to French: Geochemistry at the Atomic Level Secondary ion mass spectroscopy (SIMS) is a technique that uses a focused ion beam to remove ions from a sample of material.
La géochimie à l'échelle atomique La spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS) est une technique qui utilise un faisceau d'ions bien défini pour retirer des ions à un échantillon de matériau.