Reflektivitas sinar-X itu apa sih?

Reflektivitas sinar-X (kadang-kadang disebut sebagai reflektivitas spekular sinar-X, atau reflektometri sinar-X) adalah teknik analitik permukaan yang digunakan dalam kimia, fisika, dan ilmu bahan untuk menggambarkan permukaan, lapisan tipis dan . Teknik ini terkait dengan teknik pelengkap reflektometri neutron dan elipsometri.

Ide dasar di balik teknik ini adalah memantulkan berkas sinar-X pada permukaan rata dan kemudian mengukur intensitas sinar-X yang dipantulkan pada arah yang spekular (sudut pantul sama dengan sudut datang). Jika antarmuka tidak tajam dan halus sempurna, maka intensitas yang dipantulkan akan mengalami penyimpangan dari yang diperkirakan/dihitung berdasarkan hukum reflektivitas Fresnel. Deviasinya kemudian dapat dianalisis untuk menentukan profil densitas dari antarmuka normal pada permukaan.

Teknik ini pertama kali diterapkan pada sinar-X oleh Lyman G. Parratt pada tahun 1954. Karya pertama Parratt mengeksplorasi permukaan kaca bersalut tembaga, tetapi sejak saat itu teknik ini telah diperluas untuk antarmuka cairan dan padatan.

Hubungan matematika dasar yang menjelaskan reflektivitas spekular adalah perbandingan lurus. Ketika suatu antarmuka tidak tajam sempurna, tetapi memiliki profil rapat jenis elektron rata-rata , maka reflektivitas sinar-X dapat diperkirakan sebagai: