Jabarkan . dari Reflektivitas sinar-X

Penentuan reflektivitas sinar-X dinalisis dengan cara mencocokkan data yang diukur dengan simulasi kurva yang dihitung menggunakan formalisme Parratt rekursif dengan rumus antarmuka kasar. Parameter kecocokan biasanya ketebalan lapisan, kerapatan (asal-usul perhitungan indeks bias  dan komponen vektor gelombang z ) dan kekasaran antarmuka. Pengukuran biasanya dinormalkan sehingga reflektivitas maksimum adalah 1, tetapi faktor normalisasi dapat meliputi kecocokan itu sendiri. Parameter kecocokan tambahan mungkin adalah level radiasi latar belakang dan keterbatasan ukuran sampel yang berakibat berkas footprint pada sudut rendah mungkin melebihi ukuran sampel, sehingga mengurangi reflektivitas.

Beberapa algoritme kecocokan telah dicoba untuk reflektivitas sinar-X, beberapa di antaranya menemukan optimum lokal daripada optimum global. Metode Levenberg-Marquardt menemukan optimum lokal. Oleh karena kurva memiliki banyak ganguan tepi, ia akan menemukan ketebalan lapisan yang tidak tepat kecuali tebakan awal luar biasa bagus.