Jelaskan Jenis metode pencirian dari Pencirian nanopartikel

Metode-metode mikroskopi menghasilkan citra nanopartikel yang dapat digunakan untuk mencirikan bentuk, ukuran, dan lokasi partikel-partikel tersebut. Metode mikroskopi yang paling banyak digunakan adalah dengan mikroskop elektron dan metode mikroskopi kuar pemindai (scanning probe microscopy). Mikroskop cahaya biasa tidak cocok digunakan karena nanopartikel memiliki ukuran di bawah batas difraksi dari cahaya tampak. Mikroskopi elektron dapat digunakan bersama-sama metode spektroksopi yang digunakan untuk analisis unsur. Kelemahan dari mikroskopi adalah sifatnya yang destruktif dan dapat terganggu oleh artefak-artefak penyiapan sampel seperti pengeringan atau pemvakuman. Selain itu, metode mikroskopi kuar pemindai juga dapat dipengaruhi geometri ujung kuar yang digunakan. Pencirian mikroskopi didasarkan kepada partikel-partikel tunggal, sehingga untuk memperkirakan sifat makroskopis diperlukan pencirian banyak partikel-partikel tunggal. Metode mikroskopi baru, yaitu mikroskopi medan gelap yang ditajamkan dengan pencitraan hiperspektral, memiliki potensi untuk mencitrakan nanopartikel-nanopartikel dalam matriks kompleks (seperti jaringan makhluk hidup) dengan kontras dan kapasitas lebih tinggi.

Spektroskopi, yaitu metode yang mengandalkan pengukuran interaksi partikel dengan radiasi elektromagnetik dengan berbagai panjang gelombang, digunakan untuk pencirian konsentrasi, ukuran, dan bentuk beberapa jenis nanopartikel. Contoh jenis nanopartikel yang cocok untuk metode spektroskopi (khususnya spektroskopi UV-vis) adalah quantum dot (karena memiliki sifat fluoresens) dan nanopartikel logam (karena dapat menyerap plasmon muka). Selain UV-vis, spektroskopi inframerah, NMR/resonansi magnet inti, dan sinar X juga digunakan untuk berbagai nanopartikel. Metode hamburan cahaya menggunakan sinar laser, sinar X, atau hamburan neutron digunakan untuk menentukan ukuran partikel, masing-masing digunakan untuk rentang ukuran dan komposisi partikel yang berbeda.

Di antara metode lain yang digunakan adalah elektroforesis untuk mencirikan muatan permukaan, metode Brunauer–Emmett–Teller untuk luas permukaan, difraksi sinar X untuk struktur kristal, spektroskopi massa untuk massa partikel, dan pencacah partikel untuk menghitung jumlah partikel. Teknik kromatografi, sentrifugasi, dan filtrasi dapat dilakukan untuk memisahkan nanopartikel menurut ukuran atau sifat-sifat lainnya sebelum atau ketika dilakukan pencirian.