原子力顯微鏡

原子力顯微鏡或掃描力顯微鏡係一種高解像度嘅掃描探針顯微鏡，佢嘅解像度比光學繞射極限高1000倍，可以去到納米級別嘅分辨率。

原理 
AFM 包括一個懸臂梁同一支銳利嘅尖端，用嚟睇哂成個樣本表嘅表面。懸臂梁通常係矽或矽氮化物，而尖端嘅半徑大概係納米級別。當探針靠近樣本表面，探針同樣本之間嘅力會據胡克定律令到懸臂梁彎曲。根據情況，AFM 測量嘅力包括機械接觸力、范德華力、毛細管作用力、化學鍵、靜電力、磁力顯微鏡