真一

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X線CT画像を活用した内部欠陥検出技術の精度向上

富山 真一, 竹澤 勉

ものづくりの生産現場では，製品設計の高付加価値化に寄与するため，誤検出と未検出を低減した内部欠陥の検出技術が要望されている。内部欠陥の検出は，X線CTスキャンで出力されるX線CT画像に対して画像処理を適用する。様々な研究機関がX線CT画像の画像処理に関する研究を実施されているが，精度の高い内部欠陥の検出は実現されていない。本稿では，内部欠陥の検出精度を向上させた画像処理技術を開発したので報告する。