TCVN11166-6:2015

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) về Thẻ định danh - Kĩ thuật ghi - Phần 1: Sọc từ - Kháng từ cao TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 11166-6 : 2015 ISO/IEC 7811-6 : 2014 THẺ ĐỊNH DANH - KỸ THUẬT GHI - PHẦN 6: SỌC TỪ - KHÁNG TỪ CAO I dentificatio n cards - Recording technique - Part 6: Magnetic stripe -High coercivity L ời nói đầu TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) hoàn toàn tương đương với ISO/IEC 7811-6:2014. TCVN 11166-6:2015 (ISO/IEC 7811-6:2014) do Ban kỹ thuật tiêu chu ẩ n quốc gia TCVN/JTC 1 " Công nghệ thông tin" bi ê n soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố. Hiện nay, bộ TCVN 11166 (ISO/IEC 7811) về Th ẻ định danh - Kỹ thuật ghi gồm các tiêu chu ẩ n: - Phần 1: Rập nổi; - Phần 2: Sọc từ - Kháng từ thấp; - Phần 6: Sọc từ - Kháng từ cao; - Phần 7: Sọc từ - Kháng từ cao, mật độ cao; - Phần 8: Sọc từ - Kháng từ 51,7 kA/m (650 Oe); - Phần 9: Đánh dấu định danh xúc giác; THẺ ĐỊNH DANH - KỸ THUẬT GHI - PH Ầ N 6: SỌC TỪ - KHÁNG TỪ CAO I dentificatio n cards - Recording technique - Part 6: Magnetic stripe -High coercivity 1. Phạm vi áp dụng Tiêu chu ẩ n này qui đ ị nh các đặc t í nh cho thẻ định danh được định nghĩa trong Điều 4 và việc sử dụng các thẻ này trong trao đ ổi quốc t ế . Ti ê u chu ẩ n này qui định các yêu c ầ u đối với sọc từ kháng từ cao (bao gồm mọi lớp phủ bảo vệ) trên thẻ định d anh, kỹ thuật m ã hóa và bộ ký tự m ã hóa. Tiêu chu ẩ n này xem xét cả khía cạnh con người và máy móc và nêu r õ các yêu cầu tối thiểu. Kháng từ ảnh hưởng đến nhiều đại lượng được qui định trong tiêu chu ẩ n, nhưng tiêu chu ẩ n này không qui định cho kháng từ. Đặc tính ch ính của sọc từ kháng từ cao l à khả năng chống xóa được cải thiện. Điều này đạt được nhờ giảm thiểu khả năng xảy ra hư hại đối với các sọc từ khác bởi tiếp xúc trong khi vẫn duy trì khả năng tương thích đọc với các sọc từ được qui định trong TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2). Tiêu chu ẩ n này đưa ra các tiêu chí để thẻ hoạt động, không xem xét v ề lượng sử dụng, nếu c ó th ì cần xem xét lượng thẻ trước khi thử nghiệm. Nếu không phù hợp với các tiêu ch í qui định, th ì các bên liên quan nên thương lượng với nhau. ISO/IEC 10373-2 qui định các th ủ tục thử nghiệm để kiểm tra thẻ so với các thông số được qui định trong tiêu chu ẩ n này. CHÚ TH ÍCH Các giá trị s ố theo hệ đo lường SI và/hoặc h ệ đo lường Anh trong tiêu chu ẩ n này c ó thể được làm tr òn , d o đ ó giá trị l à phù hợp nhưng không chính xác b ằ ng nhau. Có thể sử dụng hệ đo lường khác nhưng không n ên d ùng lẫn hoặc chuyển đ ổ i l ẫ n nhau. Thiết k ế ban đ ầ u sử d ụng hệ thống đo lường Anh. 2. Sự phù hợp Điều kiện tiên quyết để phù hợp với tiêu chuẩn này l à phù hợp v ới TCVN 11165 (ISO/IEC 7810). Một thẻ đ ị nh danh phù hợp với ti ê u chuẩn này nếu đáp ứng tất cả các yêu cầu bắt buộc đ ược qui định trong tiêu chuẩn. Áp dụng các giá trị mặc định nếu không qui định giá trị khác. 3. Tài liệu viện dẫn Các tài liệu tham khảo dưới đây không thể thiếu đối với việc áp dụng tài liệu này. Đối với các tham khảo ghi năm, chỉ áp dụng bản được nêu. Đối với các tham khảo không ghi năm, áp dụng bản tài liệu tham khảo mới nhất (bao gồm cả sửa đ ổi ). TCVN 11165 (ISO/IEC 7810), Thẻ định danh - Đặc tính vật lý , ISO 4287 Geometrical Product Speci f ications (GPS) - Sur f ace texture: Pro f ile method - Terms, de f initions and surface texture parameters (Đặc tả sản phẩm hình học (GPS) - Kết cấu bề mặt: Phương pháp mặt nghiêng - Thuật ngữ, định nghĩa và th ô ng số kết cấu bề mặt) ; ISO/IEC 10373-1 Identi f ication cards - Test methods - Part 1: General characteristics tests (Thẻ định danh - Phương pháp th ử nghiệm - Phần 1: Đặc tính chung) ; ISO/IEC 10373-2, Identi f ication cards - Test methods - Part 2: Car d s with magnetic stripes (Thẻ định danh - Phương pháp th ử nghiệm - Phần 2: Thẻ có sọc từ) . 4. Thuật ngữ và định nghĩa Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810) và dưới đây. 4.1. Tiêu chuẩn chính (primary Standard) Tập các thẻ tham chiếu được thiết lập bởi Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) và được duy tr ì bởi ban thư k í PTB, Q-Card và WG1 để thể hiện các giá tr ị c ủa U R và I R được chỉ r õ RM7811- x 26. 4.2 . Tiêu chuẩn phụ (secondary Standard) Th ẻ tham chiếu được ch ỉ rõ RM7811-6 liên quan đến tiêu chuẩn chính như đã nêu trong giấy chứng nhận hiệu chuẩn cung cấp cho từng thẻ. CHÚ THÍCH Các tiêu chu ẩ n phụ có th ể được đặt h à ng từ Q-Card, 301 Reagan Street, Sunbury, PA 17801, USA. Nguồn tiêu chu ẩ n phụ được duy trì ít nh ấ t đ ến năm 2018. 4.3. Thẻ không mã chưa sử dụng (unused un-encoded card) Thẻ gồm tất cả các cấu kiện cần thiết cho mục đích sử dụng, không lệ thuộc vào bất kì thao tác cá nhân hay thử nghiệm nào và được lưu giữ trong môi trường sạch không quá 48 h phơi dưới ánh sáng ban ngày ở nhiệt độ từ 5° C đến 30° C và độ ẩ m từ 10 % đến 90 %, không qua sốc nhiệt. 4.4. Th ẻ mã chưa sử dụng (unused encoded card) Th ẻ theo 4.3 và chỉ mã hóa mọi dữ liệu được yêu cầu cho mục đích sử d ụng thẻ (v í dụ mã hóa từ, rập nổi, mã hóa điện tử). 4.5. Th ẻ trả lại (returned card) Thẻ theo 4.4 sau khi được c ấ p cho ch ủ th ẻ và được trả lại để thử nghiệm. 4.6 . Chuyển tiếp dòng (flux transition) Vị trí mà tại đó tốc độ thay đổi lớn nhất về khoảng cách c ủa việc từ hóa. 4.7. Dòng điện chuẩn (re f erence current) I R Biên độ dòng điện được ghi nh ỏ nh ấ t dưới các điều kiện thử nghiệm đã cho, trên thẻ tham chiếu, là biên độ tín hiệu đọc ngược bằng 80 % biên độ tín hiệu chu ẩ n, U R , với mật độ bằng 8 chuyển tiếp dòng/mm (200 chuyển tiếp dòng/inch) như chỉ ra trong Hình 6. 4.8. Mức dòng chuẩn (re f erence flux level) F R Mức dòng trong đầu thử tương ứng với dòng điện chu ẩ n I R . 4.9. Dòng điện ghi thử nghiệm (test recording currents) Có hai dòng điện ghi được xác định bởi: - I min = dòng điện ghi tương ứng với 2,8 F R - I max = dòng điện ghi tương ứng với 3,5 F R 4.10. Biên độ tín h iệu riêng (individual signal amplitude) U i Biên độ cơ s ở -đến-đỉnh của một tín hiệu điện áp đọc ngược riêng lẻ. 4.11. Biên độ tín hiệu trung bình (average signal amplitude) U A Tổng giá trị tuyệt đối bi ê n độ c ủa từng đ ỉnh tín hiệu ( U i ) chia cho số đ ỉnh tín hiệu ( n ) đối với một rãnh cho trước trên chiều dài c ủa vùng sọc từ. 4.12 . Biên độ tín hiệu chuẩn (re f erence signal amplitude) U R Giá trị bi ê n độ tín hiệu trung b ình lớn nhất c ủa một thẻ tham chiếu được hiệu ch ỉ nh đối với tiêu chu ẩ n chính. 4.13 . Mật độ ghi vật lý (physical recording density) Số các chuyển tiếp dòng trên mỗi chiều dài đơn vị được ghi trên một rãnh. 4.14 . Mật độ bit (bit density) S ố các bit dữ liệu được lưu trữ trên mỗi đơn v ị chiều dài (bits/mm hoặc bpi) 4.15 . Ô bit (bit cell) Khoảng cách giữa hai chuyển tiếp dòng đồng bộ. CHÚ THÍCH 1 Xem H ình 11 . 4.16 . Phân kho ả ng thời gian (subinterval) Khoảng cách thường bằng một nửa khoảng cách giữa 2 chuyển tiếp dòng đồng bộ. CHÚ TH ÍCH 1 Xem Hình 11. 4.17 . Dòng điện khử từ (demagnetisation current) I d Giá trị dòng điện một chiều để giảm biên độ tín hiệu trung b ình đến 80 % biên độ tín hiệu chuẩn ( U R ) trên th ẻ tham chiếu phụ được m ã hóa tại mật độ 20 ft/mm (500 ftpi) và dòng điện I min . 5. Đặc tính vật lý của thẻ định danh Th ẻ định danh phải phù h ợp với đặc tả trong TCVN 11165 (ISO/IEC 7810). CẢNH BÁO - Việc lưu tâm của bên phát hành thẻ dẫn đến thực tế là thông tin chứa trên sọc từ có th ể b ị vô hiệu thông qua sự nhiễm bẩn do tiếp xúc với bụi bẩn các hóa ch ấ t thường sử dụng gồm các chất làm dẻo. Nên chú ý là bất kỳ việc in hoặc ki ể m tra trên đ ỉ nh sọc từ không đ ược làm hằn vết chức năng của sọc từ đó. 5.1 . Độ vênh vùng sọc từ Đặt một tải 2,2 N (0.5 lbf) phân b ố đều trên mặt trước đối diện với sọc từ phải bao gồm toàn bộ sọc từ trong 0,08 mm (0.003 in) c ủa tấm cứng. 5.2 . Biến dạng bề mặt Không được có biến dạng bề mặt, bất thường hay các vùng nổi trên c ả mặt trước và sau của thẻ trong vùng được ch ỉ ra trong H ình 1 có th ể làm cản trở tiếp xúc giữa đầu từ và sọc từ. Kích thước tính theo mi-li-mét (in-sơ) Hình 1 - Vùng biến dạng tùy ý trên thẻ có sọc từ Nếu vùng ô chữ ký nổi được đặt ở mặt trước hoặc sau của th ẻ , thì vùng này không được gần với mép tr ê n của thẻ dưới 19,05 mm (0.750 in). CHÚ TH ÍCH Các vùng nổi và bi ế n dạng trên các vùng khác của thẻ có thể gây ra những v ấ n đ ề truyền tải th ẻ với thiết b ị xử lý sọc từ gây ra các lỗi ghi hoặc đọc. 6. Đặc tính vật lý của sọc từ 6.1 . Chiều cao và đường dốc b ề mặt vùng sọc từ Vùng sọc từ được đặt ở mặt sau thẻ giống như Hình 2. Kích thước tính theo mi-li-mét (in-sơ) Hình 2 - Vị trí của vật liệu từ cho thẻ kiểu ID-1 CH Ú TH ÍCH Trong trường hợp vùng sọc từ được sử dụng cho rãnh 1 và 2, k ích thước a được ch ỉ ra trong hình 2 v ề phương tiện truyền thông từ t ính c ó thể nh ỏ hơn k ích th ước lớn nh ấ t b được ch ỉ ra trong H ình 12 đối v ới v ị tr í c ủa dữ liệu r ã nh 2 tr ê n th ẻ . Mong muốn vùng sọc t ừ mở rộng vượt ra ngoài r ã nh được m ã hóa đó. 6.1.1 . Đường dốc bề mặt vùng sọc từ Độ lệch theo chiều dọc (a) lớn nhất c ủ a đường dốc bề mặt ngang vùng sọc từ được ch ỉ ra dưới đây. Xem Hình 3, 4 và 5. Độ dốc của đường cong đường dốc bề mặt trong giới hạn: -4a/ W < độ="" dốc="" (slope)=""><> W Khi giá trị về t ính khó uốn (xem TCVN 11165 (ISO/IEC 7810)) c ủa thẻ là 20 mm hoặc lớn hơn th ì giới hạn đường dốc bề mặt là: Chiều rộng sọc từ nh ỏ nh ấ t Theo Hình 3A Theo Hình 3B W = 6,35 mm (0.25 in) a ≤ 9,5 µm (375µin) a ≤ 5,8 µm (225µin) W = 10,41 mm (0.41 in) a ≤ 15,4 µm (607µin) a ≤ 9,3 µm (365µin) Khi giá tr ị về tính khó uốn (xem TCVN 11165 (ISO/IEC 7810)) của thẻ nhỏ hơn 20 mm thì giới hạn đường d ốc bề mặt là: Chiều rộng sọc từ nh ỏ nh ấ t Theo Hình 3A Theo Hình 3B W = 6,35 mm (0.25 in) a ≤ 7,3 µm (288µin) a ≤ 4,5 µm (175µin) W = 10,41 mm (0.41 in) a ≤ 11,7 µm (466µin) a ≤ 7,3 µm (284µin) Hình 3 - Đường d ố c b ề mặt Hình 4 - Ví dụ đường dốc bề mặt Các đường d ốc không cân trên h ì nh có thể dẫn đến việc mã hóa chất lượng kém Hình 5 - Ví dụ đường dốc bề mặt không cân 6.1.2 . Chiều cao vùng sọc từ Độ lệch theo chiều dọc ( h ) c ủa vùng sọc từ liên quan đến bề mặt tiếp giáp của th ẻ : -0,005 mm (- 200 µ in) ≤ □h ≤ □ 0,038 mm (1500 µin) Phần nhọn trong đường dốc do vật liệu "phun ra" khi in dấu nóng lên không phải là một phần của sọc từ. Không được m ở rộng bên trên vùng sọc từ có chiều cao ( h ) như đ ã qui định ở trên . 6.2 . Tính thô ráp bề mặt Đ ộ thô ráp bề mặt trung bình ( R a ) của vùng sọc từ không vượt quá 0,40 µm(15.9 µin) theo cả chiều dọc và ngang khi được đo theo ISO 4287. 6.3 . Tính bám dính của sọc từ với th ẻ Sọc từ không được phân tách khỏi thẻ khi sử dụng bình thường. 6.4 . Tính mài mòn sọc từ khi cắm/rút khỏi đầu đọc/ghi Biên độ tín hiệu trung b ình ( U A ) và biên độ tín hiệu riêng ( U i ) được đo trước và sau 2000 chu kỳ mài mòn và kết quả: U A sau ≥ 0,60 U A trước và U i sau ≥ 0,80 U A sau 6.5 . Tính kháng hóa chất Biên độ tín hiệu trung bình ( U A ) và biên độ tín hiệu riêng ( U i ) được đo trước và sau khi tiếp xúc với điều kiện môi trường trong thời gian ngắn nh ư qui định trong ISO/IEC 10373-1 và kết quả: U A sau ≥ 0,90 U A trước và U i sau ≥ 0,90 U A sau Biên độ t ín hiệu trung bình ( U A ) và biên độ tín hiệu riêng ( U i ) được đo trước và sau khi tiếp xúc với điều kiện môi trường trong thời gian dài (24 h) với mồ hôi nhân tạo có a-xít và kiềm, như xác định trong ISO/IEC 10373-1. U A sau ≥ 0,90 U A trước và U i sau ≥ 0,90 U A sau 7. Đặc tính hiệu năng đối với vật liệu từ 7.1 . Yêu cầu chung Mục đích của Điều này là đảm bảo khả năng đ ổi lẫn từ giữa thẻ và các hệ thống xử lý. Không qui định kháng từ của các phương tiện truyền thông. Tiêu chí hiệu năng c ủa các phương tiện truyền thông không phụ thuộc kháng từ được qui định trong 7.3. Phương pháp này sử dụng một th ẻ tham chiếu mà vật liệu có thể được truy nguyên đối với các tiêu chuẩn chính (Xem Điều 4). Tất cả các biên độ tín hiệu từ việc s ử dụng th ẻ tham chiếu phụ phải được hiệu ch ỉ nh bởi các y ế u tố được h ỗ trợ cùng thẻ tham chiếu phụ đó. Phải sử dụng các phương pháp thử nghiệm trong ISO/IEC 10373-2. 7.2 . Môi trường thao tác và thử nghiệm Môi trường thử nghiệm để đo biên độ tín hiệu là nhiệt độ 23° C ± 3° C (73 ° F ± 5°F) và độ ẩ m tương đối từ 40 % đến 60 %. Mặt khác khi thử nghiệm trong cùng c ác điều kiện giống nhau, bi ê n độ tín hiệu trung bình đo được tại 8ft/mm (200 ftpi) không được lệch trên 15 % so với giá trị của nó trong môi trường thử nghiệm sau 5 min tiếp xúc với điều kiện môi trường trong môi trường hoạt động sau: Nhiệt độ -35°C đến 50° C (-31°F đến 122 ° F) Độ ẩ m tương đối 5 % đến 95 % 7.3 . Yêu cầu b iên độ tín hiệu đ ối với các phương tiện truyền thông từ tính Các yêu c ầ u đối với các đặc tính ghi của thẻ được ch ỉ ra trong Bảng 1 và H ì nh 6. Các yêu cầu hiệu năng của phương tiện truyền thông được qui định trong 7.3 phải đáp ứng để đạt được khả năng chống xóa được cải thiện và cho phép khả năng trao đổi từ giữa thẻ và các hệ thống xử lý. Các thuộc t ính trong Phụ lục C là các hướng dẫn cho vật liệu từ. Phụ lục C là tham khảo và kh ô ng phải sử dụng như các ti ê u ch í hiệu năng cho thẻ. Bảng 1 - Yêu cầu biên độ tín hiệu cho các th ẻ không mã chưa sử dụng M ô tả Mật độ f t/ mm (ftpi) Dòng ghi thử nghiệm Kết qu ả biên độ tín hiệu Y ê u cầu Biên độ tín hiệu 8 (200) I min U A1 0,8 U R ≤ U A1 ≤ 1,2 U R Biên độ tín hiệu 8 (200) I min U i1 U i1 ≤ 1,26 U R Biên độ tín hiệu 8 (200) I max U A2 U A2 ≥ 0,8 U R Biên độ tín hiệu 20 (500) I max U i2 U i2 ≥ 0,65 U R Độ phân giải 20 (500) I max U A3 U A3 ≥ 0,7 U A2 Xóa bỏ 0 I min , DC U A4 U A4 ≤ 0,03 U R Xung bổ trợ 0 I min , DC U i4 U i4 ≥ 0,05 U R Kh ử từ 0 I d , DC U A 5 U A5 ≥ 0,64 U R Kh ử từ 0 I d , DC U i 5 U i5 ≥ 0,54 U R Dạng sóng 3 (75) /max U i6 , U A6 U i6 ≤ 0,07 U A6 U i6 là giá trị tuyệt đối c ủa biên độ t í n hiệu l ớn nh ấ t trong vùng đo lường U i6 như ch ỉ ra trong H ì nh 7. Độ dốc của đường cong b ão hòa không bao giờ dương giữa I m in và I max CHÚ THÍCH 1 Không được phép k ế t hợp toán học các y ê u c ầ u ở trên. Các giá trị này đối với thử nghiệm thẻ kh ô ng m ã và không thể áp dụng cho th ẻ m ã . CHÚ THÍCH 2 Quan sát cho thấy độ phân gi ả i th ấ p được đo trong Bảng 1 có th ể tương ứng với bi ế n đổi cách kh oảng chuyển tiếp dòng cao được đo trong Bảng 2. Hình 6 - Ví dụ đ ường cong bão hòa ch ỉ ra vùng dung sai tại 8 ft/mm (200 ftpi) CHÚ TH ÍCH Các đường cong xác định đáp ứng tiêu chu ẩn ch ính (tr ê n thẻ). Các thông số cửa sổ xác định một thẻ có chức n ă ng trong môi t rường máy có thể đọc. 1. Tìm trung điểm giữa 2 đ ỉnh liền kề. 2. Tìm điểm giao 0 cho dạng s ó ng giữa trung điểm và đ ỉ nh liền kề. 3. Vùng đo lường là 1,5 lần a (khoảng cách giữa trung điểm và điểm giao 0). 4. Tìm mức biên độ tín hiệu lớn nhất trong vùng đo lường xác định trong h ình . 5. Giá trị tuyệt đối c ủa mức này là U i6 đối với dạng sóng. Hình 7 - Đo lường dạng sóng 8. Kỹ thuật mã hóa Kỹ thuật mã hóa đối với mỗi r ã nh là phương pháp ghi 2-tần số. Phương pháp này cho phép ghi tuần tự dữ liệu tự đồng bộ. Việc mã hóa bao gồm dữ liệu và các chuyển tiếp đồng bộ cùng nhau. Một chuyển tiếp dòng xảy ra giữa các lần đồng bộ có nghĩa bit là "1" và việc không có chuyển tiếp dòng giữa các chuyển tiếp đồng bộ có nghĩa bit là "0" ( Xem H ình 8). Hình 8 - Ví dụ về mã hóa 2- tần s ố Dữ liệu phải được ghi như một chuỗi đồng bộ các ký tự không có khoảng trống xen v à o. CH Ú THÍCH Việc ghi với dòng ghi nhỏ hơn I min có thể dẫn đến vc m ã hóa với ch ấ t lượng kém. 9. Yêu cầu chung về đặc tả mã hóa 9.1 . Góc ghi Góc ghi phải vuông góc với mép gần nhất c ủa thẻ song song với sọc từ với dung sai ± 20 min. Góc ghi (a) được xác định bằng việc đo góc c ủa khe trống đầu ghi khi các biên độ đọc lớn nhất (xem Hình 9). H ình 9 - Góc ghi 9.2 . Mật độ bit danh nghĩa Mật độ bit danh nghĩa cho mỗi rãnh phải là: Rãnh 1 8,27 bits/mm (210 bpi), Rãnh 2 2,95 bits/mm (75 bpi), Rãnh 3 8,27 bits/mm (210 bpi), 9.3 . Yêu cầu biên độ tín hiệu cho các r ã nh 1,2 và 3 Yêu cầu đối với biên độ tín hiệu trên các rãnh 1, 2 và 3 như sau: - Thẻ mã chưa sử dụng: 0,64 U R ≤ U i ≤ 1,36 U R - Thẻ trả lại: 0,52 U R ≤ U i ≤ 1,36 U R Không được có đỉnh tín hiệu giữa yêu cầu tối thiểu (0,64 U R Cho các thẻ mã chưa sử dụng hoặc 0,52 U R Cho các thẻ trả lại) và 0,07 U R (xem Hình 10). Hình 10 - Tạp nhiễu trong dạng sóng tín hiệu 9.4 . Cấ u hình bit Trong cấu h ình bít của mỗi k ý tự trên vùng từ t ính , bít ít nghĩa nhất (2°) phải được m ã hóa đầu tiên và bit kiểm tra chẵn lẻ là cuối cùng. 9.5 . Hướng ghi Việc mã hóa phải bắt đầu từ phía bên phải nhìn từ phía sọc từ trên cùng. 9.6 . Các số 0 ở đầu và đuôi Đầu vào bit dữ liệu đầu tiên phải được ghi với các số 0 và khoảng trống sau bit cuối cùng cũng phải ghi với các số 0. Các số 0 trước 3,30 mm (0.130 in) hoặc sau 82,17 mm (3.235 in) từ mép phải của thẻ khi quan sát từ đằng sau không cần đáp ứng các đặc t ả được qui định ở đây. 10. Đặc tả mã hóa 10.1. Rãnh chữ và số, rãnh 1 10.1.1 . Mật độ bit trung bình Mật độ bit trung bình ( B a ) là 8,27 bits/mm (210 bpi) ± 8 % được đo song song dọc theo chiều với mép tham chiếu trên cùng. 10.1.2 . Biến đ ổi cách khoảng chuy ể n tiếp dòng Các biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 2 đối với các thẻ mã chưa sử dụng v à trong Bảng 3 đối với các th ẻ trả lại. Xem H ình 11. Hình 11 - Biến đổi cách khoảng chuy ể n tiếp dòng Bảng 2 - Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho các th ẻ mã chưa sử dụng - R ãnh 1 và 3 Số hạng M ô tả Yêu cầu Biến đổi B a Chiều d ài trung b ì nh giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 111 µm (4381 µin) ≤ B a ≤ 131 µm (5143 µin) ±8% B in Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp d òng ghi tốc độ 109 µm (4286 µin) ≤ B in ≤ 133 µ m (5238 ≤in) ±10% B in+1 Biến bit-đến-bit liền kề 0,90 B in ≤ B in +1 ≤ 1,10 B in ±10% S in Chiều dài phân khoảng thời gian 53 µm (2095 µin) ≤ S in ≤ 68 µm (2667 µin) ±12 % S in+1 Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề 0,88 B in /2 ≤ S i n+1 ≤ 1,12 B in /2 ±12 % B in+1 hoặc S in +1 l à chiều dài giữa các chuyển tiếp dòng tiếp theo và liền kề v ới B i n . CH Ú TH Í CH 1 B ả ng này ch ỉ thể hiện c á c giới hạn mà thẻ c ó chức năng thông thường và không bao hàm b ất kỳ đảm bảo nào v ề cách khoảng chuyển ti ế p dòng trong thời hạn có hiệu lực của th ẻ phát hành. CH Ú THÍCH 2 Phân giải th ấ p được quan sát và đo trong Bảng 1 t ương ứng với biến đổi cách khoảng chuy ể n ti ế p dòng cao được đo trong Bảng 2. Bảng 3 - Biến đ ổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho các thẻ trả lại - Rãnh 1 và 3 Số hạng M ô tả Yêu cầu Biến đ ổi B a Chiều dài trung b ình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 111 µm (4381 µin) ≤ B a ≤ 131 µm (5143 µin) ±8% B in Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 103 µm (4048 µin) ≤ B in ≤ 139 µm (5476 µin) ±15% B in+1 Biến bit đến bit liền kề 0,85 B in ≤ B in+1 ≤ 1.15 B in ±15% S in Chiều dài phân khoảng thời gian 48,4 µm (1905 µin) ≤ S in ≤ 72,6 µm (2857 µin) ±20 % S in+1 Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề 0,70 B in /2 ≤ S in+1 ≤ 1,30 B in /2 ±30 % B in +1 hoặc S in+1 là chiều dài giữa các chuy ể n tiếp dòng tiếp theo và liền kề với B in . CHÚ THÍCH Bảng này ch ỉ thể hiện các giới hạn mà thẻ có chức năng thông thường và không bao hàm bấ t kỳ đảm bảo nào về cách khoảng chuy ể n tiếp dòng trong thời hạn có hiệu lực của thẻ phát hành. 10.1.3 . Bộ k ý tự mã hóa Bộ ký tự mã hóa cho rãnh 1 phải c ó 7 chữ-số như trong Bảng 4. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng bị hạn chế như qui định. Các k ý tự Ý nghĩa hoặc sử dụng ! " & ' * + , : ; < ==""> @ _ Sử dụng cho mục đích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu. [\] Dành riêng cho các ký tự quốc gia bổ sung khi được y ê u cầu. Không sử dụng trên bình diện quốc tế. # Dành riêng cho các ký hiệu đồ họa b ổ sung tùy chọn % Cờ hiệu bắt đầu ^ Phân tách trường ? Cờ hiệu kết thúc Bảng 4 - Bộ ký tự mã hóa cho 5 bit số Ký tự Bit nhị phân Ký tự Bit nh ị phân P 2 5 2 4 2 3 2 2 2 1 2 0 P 2 5 2 4 2 3 2 2 2 1 2 0 space 1 0 0 0 0 0 0 @ 0 1 0 0 0 0 0 ! 0 0 0 0 0 0 1 A 1 1 0 0 0 0 1 " 0 0 0 0 0 1 0 B 1 1 0 0 0 1 0 # 1 0 0 0 0 1 1 C 0 1 0 0 0 1 1 $ 0 0 0 0 1 0 0 D 1 1 0 0 1 0 0 % 1 0 0 0 1 0 1 E 0 1 0 1 0 1 0 & 1 0 0 0 1 1 0 F 0 1 0 0 1 1 0 ‘ 0 0 0 0 1 1 1 G 1 1 0 0 1 1 1 ( 0 0 0 1 0 0 0 H 1 1 0 1 0 0 0 ) 1 0 0 1 0 0 1 I 0 1 0 1 0 0 1 * 1 0 0 1 0 1 0 J 0 1 0 1 0 1 0 + 0 0 0 1 0 1 1 K 1 1 0 1 0 1 1 ’ 1 0 0 1 1 0 0 L 0 1 0 1 1 0 0 - 0 0 0 1 1 0 1 M 1 1 0 1 1 0 1 . 0 0 0 1 1 1 0 N 1 1 0 1 1 1 0 / 1 0 0 1 1 1 1 O 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 0 0 P 1 1 1 0 0 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 Q 0 1 1 0 0 0 0 2 1 0 1 0 0 1 0 R 0 1 1 0 0 1 0 3 0 0 1 0 0 1 1 S 1 1 1 0 0 1 1 4 1 0 1 0 1 0 0 T 0 1 1 0 1 0 0 5 0 0 1 0 1 0 1 U 1 1 1 0 1 0 1 6 0 0 1 0 1 1 0 V 1 1 1 0 1 1 0 7 1 0 1 0 1 1 1 w 0 1 1 0 1 1 1 8 1 0 1 1 0 0 0 X 0 1 1 1 0 0 0 9 0 0 1 1 0 0 1 Y 1 1 1 1 0 0 1 : 0 0 1 1 0 1 0 Z 1 1 1 1 0 1 0 ; 1 0 1 1 0 1 1 [ 0 1 1 1 0 1 1 <> 0 0 1 1 1 0 0 \ 1 1 1 1 1 0 0 = 1 0 1 1 1 0 1 ] 0 1 1 1 1 0 1 > 1 0 1 1 1 1 0 ^ 0 1 1 1 1 1 0 ? 0 0 1 1 1 1 1 - 1 1 1 1 1 1 1 CHÚ TH ÍCH Bộ ký tự m ã hóa n à y hoàn toàn t ương đương v ới bộ ký tự trong ISO/IEC 7811- x 26 (được tạo từ ASCII) 10.1.4 . Số ký tự lớn nh ấ t cho th ẻ loại ID-1 Các ký tự dữ liệu, ký tự điều khiển, cờ hiệu bắt đầu, cờ hiệu kết thúc và ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc cùng nhau không vượt quá 79 ký tự. 10.2. Rãnh số, rãnh 2 10.2.1 . Mật độ bit trung bình Mật độ bit trung bình ( B a ) phải là 2,95 bits/mm (75 bpi) ±5 % được đo song song dọc theo chiều với mép tham chiếu trên. 10.2.2 . Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng Biến đ ổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 5 cho các thẻ mã chưa sử dụng và trong Bảng 6 cho các th ẻ trả lại. Xem H ình 11. Bảng 5 - Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho th ẻ mã chưa s ử dụng - Rãnh 2 S ố hạng M ô t ả Yêu cầu Biến B a Chiều dài trung bình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 322 µm (12667 µin) ≤ B a ≤ 356 µm (14000 µin) ±5% B in Chiều dài ri ê ng giữa các chuyển tiếp d òng ghi tốc độ 315 µm (12400 µin) ≤ B in ≤ 363 µm (14267 µin) ±7% B in+1 Biến bit đến bit liền kề 0,90 B in ≤ Bin+1 ≤ 1.10 B in ±10 % S in Chiều dài phân khoảng thời gian 153 µm (6000 µin) ≤ S in ≤ 186 µm (7333 µin) ±10 % S in+1 Chiều dài phân khoảng thời gian li ề n kề 0,88 B in /2 ≤ S in+1 ≤ 1 , 12 B in /2 ±12 % B in+1 hoặc S in+1 là chiều d à i giữa các chuyển tiếp dòng tiếp theo và liền kề với B in Bảng 6 - Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng cho thẻ trả lại - Rãnh 2 Số hạng M ô tả Y êu cầu Biến B a Chiều d ài trung b ình giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 322 µm (12667 µin) ≤ B a ≤ 356 µm (14000 µin) ±5% B in Chiều dài riêng giữa các chuyển tiếp dòng ghi tốc độ 288 µm (11333 µin) ≤ B in ≤ 390 µm (15333 µin) ±15% B in+1 Biến bit đến bit liền kề 0,85 B in ≤ B in+1 ≤ 1 ,1 5 B in ±15% S in Chiều dài phân khoảng thời gian 136 µm (5333 µin) ≤ S in ≤ 203 µm (8000 µin) ±20 % S in+1 Chiều dài phân khoảng thời gian liền kề 0,70 B in /2 ≤ S in+1 ≤ 1,30 B in /2 ±30 % B in+1 hoặc S in+1 là chiều d ài giữa các chuy ể n tiếp dòng tiếp theo v à liền kề với B in . CHÚ THÍCH Bảng này ch ỉ th ể hiện các gi ới hạn mà t hẻ có chức n ă ng thông thường và không bao hàm b ấ t k ỳ đảm bảo nào v ề cách khoảng chuyển tiếp d òng trong thời hạn c ó hiệu lực c ủa th ẻ phát hành. 10.2.3 . Bộ k ý tự mã hóa Bộ ký tự m ã hóa cho rãnh 2 phải có 5 chữ-số như trong Bảng 7. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng hạn chế như mô tả sau. Ký tự Ý nghĩa hoặc sử dụng : <> Sử dụng cho mục đ ích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu ; Cờ hiệu bắt đầu = Phân tách trường ? Cờ hiệu k ế t thúc Bảng 7 - Bộ ký tự mã hóa cho 5 bit số Ký tự Bit nhị ph ân Ký tự B it nhị phân P 2 3 2 2 2 1 2 0 P 2 3 2 2 2 1 2 0 0 1 0 0 0 0 8 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 1 9 1 1 0 0 1 2 0 0 0 1 0 : 1 1 0 1 0 3 1 0 0 1 1 ; 0 1 0 1 1 4 0 0 1 0 0 <> 1 1 1 0 0 5 1 0 1 0 1 = 0 1 1 0 1 6 1 0 1 1 0 > 0 1 1 1 0 7 0 0 1 1 1 ? 1 1 1 1 1 CHÚ THÍCH Bộ ký tự mã hóa này hoàn toàn tương đương với bộ ký tự trong ISO/IEC 7811-x26 (được tạo từ ASCII) 10.2.4 . Số ký tự lớn nh ấ t cho th ể loại ID-1 Các ký tự dữ liệu, các ký tự điều khiển, các cờ hiệu bắt đầu, cờ hiệu kết thúc và ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều d ọc cùng nhau không vượt quá 40 ký tự. 10.3. Rãnh số, rãnh 3 10.3.1 . Mật độ bit trung bình Mật độ bit trung bình (Ba) phải là 8,27 bits/mm (210 bpi) ± 8 % được đo song song d ọc theo chiều với mép tham chiếu trên đầu. 10.3.2 . Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng được chỉ ra trong Bảng 2 cho các thẻ mã chưa sử dụng và trong Bảng 3 cho các thẻ trả lại. Xem Hình 11. 10.3.3 . Bộ k ý tự mã hóa Bộ k ý tự mã hóa cho rãnh 3 phải có 5 bit số như trong Bảng 7. Các ký tự sau đây có ý nghĩa đặc biệt và việc sử dụng bị hạn chế như qui định. Ký tự Ý nghĩa hoặc sử dụng : <> Sử dụng cho mục đích điều khiển phần cứng; không sử dụng cho nội dung dữ liệu ; Cờ hiệu bắt đầu = Phân tách trường ? Cờ hiệu kết thúc 10.3.4 . Số ký tự lớn nh ấ t cho th ẻ loại ID-1 Các ký tự dữ liệu, các ký tự điều khiển, các cờ hiệu bắt đầu , cờ hiệu kết thúc và ký tự ki ể m tra dư thừa theo chiều dọc không được cùng vượt quá 107 ký tự. 11. Phát hiện lỗi Hai kỹ thuật phát hiện lỗi, như được mô tả dưới đây, phải được m ã hóa. Trong cả hai kỹ thuật, các số 0 ở đầu và đuôi không được coi là các k í tự dữ liệu. 11.1 . Cặp chẵn l ẻ Phải sử dụng bit chẵn lẻ cho từng ký tự mã hóa. Giá trị của bit chẵn lẻ được xác định bằng tổng số các bit một được ghi, cho từng ký tự, bao gồm bit chẵn lẻ, phải là lẻ. 11.2 . Kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (LRC) Ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (IRC) phải xuất hiện cho từng rãnh dữ liệu. Ký tự LRC phải được mã hóa ngay sau cờ hiệu kết thúc khi thẻ được đọc theo hướng đưa ra cho cờ hiệu bắt đ ầ u đầu ti ê n, tiếp theo là dữ liệu và cờ hiệu kết thúc, cấu hình bit của ký tự LRC phải trùng với cấu hình bit của các ký tự dữ liệu. Ký tự LRC được tính bằng cách sử dụng th ủ tục sau: Giá trị của mỗi bit trong ký tự LRC, ngoại trừ bit chẵn lẻ, được xác định bằng tổng của một bit mã hóa trong vị trí bit tương ứng của t ấ t c ả các ký tự c ủa r ã nh dữ liệu, bao gồm cờ hiệu bắt đầu, dữ liệu, cờ hiệu kết thúc và các ký tự LRC. Bit chẵn lẻ ký tự LRC không phải là một bit chẵn l ẻ cho bit chẵn lẻ riêng của rãnh dữ liệu, mà chỉ bit chẵn l ẻ cho ký tự LRC mã hóa như mô tả trong 11.1. 12. Vị trí các rãnh mã hóa M ỗi rãnh mã hóa phải được đặt gi ữa hai dòng như trong Hình 12. Điểm bắt đ ầ u m ã hóa được đặt tại đường chính giữa của bit "một" đ ầ u ti ê n trong cờ hiệu bắt đầu. Đi ể m kết thúc mã hóa được đặt tại đường chính giữa c ủa bit cuối cùng trong ký tự kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (bit cuối cùng là bít chẵn lẻ). Số hạng R ãnh 1 Rãnh 2 Rãnh 3 a 8,33 (0,328) nh ỏ nhất 11,63 (0,458) nhỏ nh ấ t 5,79 (0,228) lớn nhất 9,09 (0,358) lớn nhất 12,65 (0,498) lớn nhất b 8,33 (0,328) nh ỏ nhất 11,63 (0,458) nh ỏ nhất 15,19 (0,598) nh ỏ nh ấ t 9,09 (0,358) lớn nh ấ t 12,65 (0,498) lớn nh ấ t 15,82 (0,623) lớn nhất c 7,44 ± 1,00 (0,293 ± 0 , 039) 7,44 ± 0,50 (0,293 ± 0,020) 7,44 ± 1,00 (0,293 ± 0,039) d 6,93 (0,252) nhỏ nh ấ t 6,93 (0,252) nhỏ nhất không yêu cầu CHÚ THÍCH T ất cả các r ã nh có một chi ề u rộng nhỏ nh ất 2,54 (0.100). Hình 12-V ị trí các rãnh m ã hóa PHỤ LỤC A (tham khảo) Khả năng tương tích về đọc của các sọc từ (TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2) và tiêu chuẩn này) Mục đích của phụ lục này l à giải thích cho người sử dụng những hạn chế c ủa thuật ngữ "kh ả năng tương tích đọc " như đã đề cập trong phạm vi áp dụng của tiêu chu ẩ n và được áp dụng cho cho TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2) và tiêu chu ẩ n này. V ề lý thuyết, các sọc từ kháng từ cao phải được cải thiện đáng kể khả năng chống t ẩ y xóa nhưng phải là tương đương về các đặc tính tín hiệu đọc ngược với các sọc từ "kháng từ thấp" (ví dụ, Các sọc từ phù hợp với ti ê u chu ẩ n TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2)). Tuy nhiên, trong thực tế, sự khác biệt về các đặc tính từ giữa các sọc từ kháng từ cao và kháng từ th ấ p d ẫ n đến các đặc tính tín hiệu đọc ngược khác bi ệ t đáng kể để thực hiện việc đánh giá biên độ tín hiệu đọc ngược phụ thuộc vào các thiết b ị đo. Nói chung, mong muốn các hệ thống phụ đọc ngược có độ nhạy lớn hơn đối với các bước sóng ghi lại ngắn hơn để làm tăng các biên độ tín hiệu đọc ngược có kháng từ cao liên quan đến các biên độ t í n hiệu đọc ngược có kháng từ thấp. Do đó, người sử dụng tiêu chuẩn này cần lưu ý thực tế rằng việc đạt được các biên độ t ín hiệu đọc ngược có thể so sánh từ các sọc từ phù hợp với tiêu chu ẩ n này phụ thuộc vào việc tái tạo các điều kiện chính xác trong phép đo trong ISO/IEC 10373-2. PHỤ LỤC B (tham khảo) Mài mòn sọc từ Mục đích c ủa phụ lục này là để giải thích nguyên nhân các thuộc tính mài mòn sọc từ khi liên quan đến tuổi thọ của đầu đọc không nằm trong số các đặc tính vật lý được qui định bởi tiêu chuẩn này. Việc không có đặc tả đối với các thuộc tính mài mòn phản ánh sự khó khăn trong việc xác định các thông số về mài mòn vật liệu và việc đưa ra thử nghiệm có thể lặp lại, chính xác để đo đặc tính mài mòn. Mặc dù không có các phương pháp thử nghiệm lặp lại, nhưng vẫn có các công nghệ đã biết có thể kéo dài tuổi thọ c ủa đầu đọc như vật liệu đầu đọc tăng cường, các ch ấ t bổ sung h ình thành sọc từ, hoặc các lớp phủ trên sọc từ. Tính mài m ò n sọc từ được định lượng là một điều kiện tiên quyết cho mọi cố gắng để dự đoán tuổi thọ của đầu từ. Tuy nhiên, có sự biến đổi đáng kể về bản ch ấ t mài mòn của các sọc từ tính khác nhau, có môi trường đọc/ghi sọc từ. Sự đa dạng của việc kết hợp các ảnh hưởng và tính phức tạp của dạng thức ảnh hưởng đến tính mài mòn gây khó khăn trong việc dự đoán tuổi thọ của đầu từ ngay cả khi các điều kiện môi trường, máy móc và sọc từ được qui định. Việc thử nghiệm t ính mài mòn thiết bị cụ thể hiện thời được thực hiện tr ê n cơ sở so sánh thuần túy. Đó là thời gian tiêu thụ và chi phí số lượng thẻ được sử dụng. Các kết quả thử nghiệm như vậy ch ỉ đơn gi ả n là các xếp hạng phân c ấ p để ch ỉ ra một sọc từ bị mài mòn ở mức độ nhiều hay ít hơn những sọc từ khác tùy theo các điều kiện cụ thể của thử nghiệm. Không có các giá trị tuyệt đối chính xác và các xếp hạng phân cấp có thể thay đổi từ một tập hợp các điều kiện khác. Thực hiện thành công thao tác đọc hoặc ghi trên một sọc từ đòi hỏi sọc từ và đầu từ phải tiếp xúc với toàn bộ thao tác. Chuyển động tương đối giữa đầu từ và sọc từ tạo ra sự chịu mòn c ủa cả hai. Tính mài mòn ban đầu của sọc từ giảm nhanh với số đầu rãnh cán, vì vậy, tính mài mòn c ủa sọc từ mới chưa sử dụng có thể lớn hơn nhiều so với sọc từ ghi một lần, trừ khi số đầu rãnh cán tăng tốc độ thay đổi c ủa việc giảm tính mài mòn. Những ảnh h ưởng tác động đến tính mài mòn sọc từ được biết bao gồm nhiệt độ, độ ẩ m, vật liệu đầu từ (và trạng thái chịu mòn và kết thúc), áp lực đầu đọc, tốc độ thẻ, các đặc tính vật lý cụ thể c ủa bề mặt sọc từ tiếp xúc với đầu đọc, tính thô ráp và sự nhiễm b ẩ n trên sọc từ. Dưới điều kiện bụi bẩn và dầu mỡ từ môi trường đọng lại trên các giao d iện đầu đọc/ sọc từ thường tạo ra những khác biệt l ớn giữa khả năng chịu mòn được đo trong điều kiện phòng thí nghiệm và thực tế đạt được. Do đó, có thể thấy rõ rằng không ch ỉ có những khó khăn I trong việc đạt được một mức không đảm bảo đo có thể chấp nhận đối với thử nghiệm tính mài mòn mà còn có những nghi ngờ đáng kể về khả năng ứng d ụng các kết quả của các thử nghiệm tính mài mòn trên th ẻ trong điều kiện phòng th í nghiệm để dự đoán về hiệu năng trong thực tế. Không thể có đặc tả kỹ thuật ti ê u chuẩn và thử nghiệm trừ khi những vấn đề này được giải quyết. PHỤ LỤC C (tham khảo) Đặc tính từ tĩnh C.1 . Giới thiệu Phụ lục này đưa ra các định nghĩa và giá trị về đặc t ính từ tĩnh của các sọc từ kháng từ cao. Các thông số này hữu í ch trong sản xuất vật liệu từ và không trực tiếp liên quan đến các đặc tính hiệu năng từ trong Bảng 1 đối với thẻ. Không đảm bảo rằng các sọc từ c ó giá trị được đưa ra trong Phụ lục này là phù hợp với các yêu cầu bắt buộc đưa ra trong Bảng 1. Tuy nhi ê n, các sọc từ không tuân thủ các giá trị từ tĩnh được đề xuất có khả năng không được phù hợp với các đặc tính trong Bảng 1. C.2 . Thuật ngữ và đ ịnh nghĩa C .2.1 . Trường lớn nh ấ t (maximum field) H max Cường độ từ trường tuyệt đối lớn nh ấ t áp dụng như miêu tả bởi phương pháp thử nghiệm. C .2.2 . Vòng lặp tĩnh M(H) (static M(H) loop) Vòng lặp trễ thông thường mà cường độ từ trường có chu kỳ giữa -H max đến +H max tại tốc độ thay đổi thấp để vòng lặp này không bị ảnh hưởng b ởi tốc độ thay đổi đó. C .2.3 . Kháng từ (Coercivity) H 'cM = H ' cJ Từ tường áp dụng liên tục giảm từ tính xuống 0 từ một trạng thái từ t ính lớn nhất trước đó theo hướng ngược lại, đại lượng này được đo song song với trục dài của sọc từ. C .2.4 . Cảm ứng từ dư (remanence) M r Giá trị của từ t ính ( M ) theo một h ướng đã cho tại từ trường bằng 0 ( H= 0 ) sau khi đặt và g ỡ b ỏ trường lớn nhất ( H max ) theo hướng tương tự. C .2.5 . Kháng từ c ả m ứng từ dư (remanence coercivity) H r Từ trường áp dụng mà khi gỡ b ỏ quay vật liệu trở lại có trạng thái từ tính 0 từ trạng thái từ t ín h lớn nhất trước đó theo hướng ngược lại, đại lượng này được đo song song với trục dài của sọc từ. C .2.6 . Oxtet (Oersted) Oe Đơn vị Gau-xơ cgs c ủa cường độ từ trường sử dụng phổ biến tr ong công nghiệp ghi từ bằng x ấ p x ỉ 79,578 A/m. C .2.7 . Khử từ tĩnh (static demagnetisation) S 160 Giảm từ tính cảm ứng dư từ dưới ảnh hưởng của từ trường đối ngược; đặc trưng b ởi [ M r - M + (-160) ] / M r . C .2.8 . Vuông góc dọc (longitudinal squareness) SQ = M r / M at (H max ) Tỉ lệ của giá trị cảm ứng dư từ ( M r ) sau khi áp dụng và từ bỏ trường mạnh nhất ( H max ) đối với từ tính ( M ) tại trường lớn nhất được áp dụng ( H max ) được đo dọc theo trục dọc của sọc từ. C .2.9 . Tỉ lệ cảm ứng d ư từ (remanence ratio) R M = ( M rP / M rL ) Tỉ lệ của cảm ứng dư từ vuông góc được đo vuông góc với bề mặt c ủa sọc từ ( M rP) đối với cảm ứng dư từ đọc được đo theo hướng dọc của sọc từ ( M rL). C .2.10 . Trường chuyển đổi bởi độ dốc (s w itching fi eld by slope) S F S (/H 2 /-/H 1 /)/ H ' cM khi M(-/H 1 /) = 0,5Mr and M (-/ H 2 / ) = -0,5 M r ; sự khác nhau giữa các giá trị trường tại phân đoạn vòng lặp từ tính tĩnh M(H) với M(H) = 0,5 M r and M(H) = -0,5 M r , được chia bởi kháng từ. C .2.11 . Tr ường chuy ể n đổ i b ởi đạo hàm (s w itching field by derivative) SF D Chiều rộng tại một nửa chiều cao của đường cong từ tính tĩnh khác biệt M(H) được chia b ởi giá trị kháng tử tr ê n đường cong tương tự CHÚ TH ÍCH Các định ngh ĩa đặc tính từ t ính tĩnh định có nguồn gốc từ IEC 50-221 (được thay th ế b ằ ng IEC 600050-221) và ISO 31-5:1992 ( được thay th ế bằng TCVN 7870-6 (IEC 80000-6)). C.3 . Đặc tính khuyến ngh ị Các đặc tính tĩnh được khuyến nghị của sọc từ kháng từ cao được chỉ ra trong bảng C.1. Bảng C.1 - Đặc tính tĩnh của vật liệu từ kháng từ cao TT Thông số K ý hiệu Giá trị 1 Kháng từ H' cM 335 kA/m (420 0 Oe) lớn nhất 200 kA/m (250 0 Oe) nhỏ nhất 2 Kh ử từ tĩnh S 160 0,20 lớn nhất 3 Vuông g ó c dọc SQ 0,80 nhỏ nhất 4 Tỉ lệ c ả m ứng dư từ R M 0,35 lớn nhất 5 Chuyển đổi trường bằng độ dốc SF S 0,30 lớn nhất 6 Chuyển đổi trường b ằ ng đạo hàm SF D 0,50 lớn nhất MỤC LỤC Lời nói đầu 1 . Phạm vi áp dụng 2 . Sự phù hợp 3 . Tài liệu viện d ẫ n 4 . Thuật ngữ và định nghĩa 5 . Đặc t ính vật lý của th ẻ định danh 5.1 . Độ vênh vùng sọc từ 5.2 . Biến dạng bề mặt 6 . Đặc tính vật lý của sọc từ 6.1 . Chiều cao và đường dốc bề mặt vùng sọc từ 6.2 . Tính thô ráp bề mặt 6.3 . Tính bám dính của sọc từ với thẻ 6.4 . Tính mài mòn sọc từ khi cắm/rút khỏi đầu đọc/ghi 6.5 . Tính kháng hóa chất 7 . Đặc t ính hiệu năng đối với vật liệu t ừ 7.1 . Yêu cầu chung 7.2 . Môi trường thao tác và thử nghiệm 7.3 . Yêu cầu biên độ tín hiệu đối với các phương tiện truyền thông từ t ính 8 . Kỹ thuật mã hóa 9 . Yêu cầu chung về đặc tả mã hóa 9.1 . Góc ghi 9.2 . Mật độ bit danh nghĩa 9.3 . Y ê u cầu biên độ tín hiệu cho các rãnh 1, 2 v à 3 9.4 . C ấu h ì nh bit 9.5 . Hướng ghi 9.6 . Các số 0 ở đầu và đuôi 10 . Đặc tả mã hóa 10.1 . Rãnh chữ và số , r ã nh 1 10.2 . Rãnh số, rãnh 2 10.3 . Rãnh số, r ã nh 3 11 . Phát hiện lỗi 11.1 . Cặp chẵn lẻ 11.2 . Kiểm tra dư thừa theo chiều dọc (LRC) 12 . Vị trí các rãnh mã hóa Phụ lục A (tham khảo) Khả năng tương tích về đọc của các sọc từ Phụ lục B (tham khảo) Mài mòn sọc từ Phụ lục c (tham khảo) Đặc tính từ tĩnh C.1 . Giới thiệu C.2 . Thuật ngữ và định nghĩa C.3 . Đặc tính khuyến nghị