Doğal Siyah Obsidyen Cevherleri İçin Yığılma Faktörlerinin Belirlenmesi
Doğal Siyah Obsidyen Cevherleri İçin Yığılma Faktörlerinin Belirlenmesi
Yazar: Küçük, Nil; Gezer, Onur
Dergi: Afyon Kocatepe Üniversitesi Fen Ve Mühendislik Bilimleri Dergisi, Vol. 17 No. 3, 2017
Anahtar kelimeler: Yığılma faktörü,Gama-ışını,G-P fit yaklaşımı,Obsidyen

Bu çalışmada, Artvin ve Van yöresinden çıkarılan doğal siyah obsidyen cevherleri kullanılmıştır. Her iki obsidyen cevherinin kimyasal kompozisyonları, sırasıyla bir enerji ayırımlı X-ışını floresan spektrometresi (EDXRF) ile bir dalga boyu ayırımlı X-ışını floresan spektrometresi (WDXRF) kullanılarak belirlenmiştir. Bu doğal örneklerin gama-ışını enerji soğurma yığılma faktörleri (EABF) ile doz yığılma faktörleri (EBF), 0,015–15 MeV foton enerji aralığında ve 0,5–40 mfp derinlik bölgesinde 16 çeşit nüfuz etme derinliği için hesaplanmıştır. EABF ve EBF değerlerini hesaplamak için beş-parametreli geometrik dizi (G-P) yaklaşımı ve ANSI/ANS-6.4.3-1991 standart veri arşivi kullanılmıştır. EABF ve EBF değerleri, gelen foton enerjisinin ve nüfus etme derinliğinin bir fonksiyonu olarak incelenmiştir. İki örnek için elde edilen sonuçların birbirleriyle uyumlu olduğu bulunmuştur. Bu uyumluluk, her ne kadar kimyasal kompozisyonlarda farklılıklar olmasına rağmen, iki örnekte de yer alan silisyum dioksit (SiO2) kristalinin baskınlığından ileri geldiği söylenebilir. Ayrıca obsidyen cevherlerinin EABF ve EBF değerlerinin gelen foton enerjisinin ve nüfus etme derinliğinin değişimiyle önemli bir şekilde değiştiği bulunmuştur. Bu değişimler, farklı enerji bölgelerinde farklı foton etkileşim süreçlerinin hâkimiyeti nedeniyledir. Bu çalışmada sunulan sonuçların, doğal siyah obsidyen cevherlerinde soğurulan radyasyon dozunun değerlendirilmesinde yararlı olacağı beklenilmektedir.

Bu çalışmada, Artvin ve Van yöresinden çıkarılan doğal siyah obsidyen cevherleri kullanılmıştır. Her iki obsidyen cevherinin kimyasal kompozisyonları, sırasıyla bir enerji ayırımlı X-ışını floresan spektrometresi (EDXRF) ile bir dalga boyu ayırımlı X-ışını floresan spektrometresi (WDXRF) kullanılarak belirlenmiştir. Bu doğal örneklerin gama-ışını enerji soğurma yığılma faktörleri (EABF) ile doz yığılma faktörleri (EBF), 0,015–15 MeV foton enerji aralığında ve 0,5–40 mfp derinlik bölgesinde 16 çeşit nüfuz etme derinliği için hesaplanmıştır. EABF ve EBF değerlerini hesaplamak için beş-parametreli geometrik dizi (G-P) yaklaşımı ve ANSI/ANS-6.4.3-1991 standart veri arşivi kullanılmıştır. EABF ve EBF değerleri, gelen foton enerjisinin ve nüfus etme derinliğinin bir fonksiyonu olarak incelenmiştir. İki örnek için elde edilen sonuçların birbirleriyle uyumlu olduğu bulunmuştur. Bu uyumluluk, her ne kadar kimyasal kompozisyonlarda farklılıklar olmasına rağmen, iki örnekte de yer alan silisyum dioksit (SiO2) kristalinin baskınlığından ileri geldiği söylenebilir. Ayrıca obsidyen cevherlerinin EABF ve EBF değerlerinin gelen foton enerjisinin ve nüfus etme derinliğinin değişimiyle önemli bir şekilde değiştiği bulunmuştur. Bu değişimler, farklı enerji bölgelerinde farklı foton etkileşim süreçlerinin hâkimiyeti nedeniyledir. Bu çalışmada sunulan sonuçların, doğal siyah obsidyen cevherlerinde soğurulan radyasyon dozunun değerlendirilmesinde yararlı olacağı beklenilmektedir.