Test ve alt testlerde eşitlemenin farklı koşullar açısından incelenmesi
An investigation of test and sub-tests equating in terms of different conditions
Yazar: GÖKHAN KUMLU
Danışman: PROF. DR. NURİ DOĞAN
Hacettepe Üniversitesi / Eğitim Bilimleri Enstitüsü / Eğitim Bilimleri Ana Bilim Dalı / Eğitimde Ölçme ve Değerlendirme Bilim Dalı
Derece: Doktora, 2019
Konu: Eğitim ve Öğretim = Education and Training
Dizin: Madde Tepki Kuramı = Item Response Theory ; Test eşitleme = Test equating ; Testler = Tests ; Çok boyutlu madde tepki kuramı = Multidimensional item response theory ; Ölçme-değerlendirme = Measurement and evaluation

Özet:
Bu araştırmanın temel amacı çok boyutlu yapıya sahip bir testin, çeşitli uygulama basamaklarıyla test düzeyinde ve alt test düzeyinde eşitlenmesinden elde edilen sonuçlarını değerlendirme ölçütleri açısından karşılaştırmaktır. Araştırma simülasyon verileri kullanılarak yürütülmüştür. Araştırmada eşitleme hatasını en aza indiren yöntem ve koşullar belirlenmeye çalışıldığı için, çalışma temel araştırma niteliği taşımaktadır. Bu araştırmada iki test formunu eşitleyebilmek için ortak maddeli denk olmayan gruplar (CINEG) deseni kullanılmıştır. Eşitleme işlemi farklı parametre kestirim yolları ile test ve alt test düzeyinde eşitleme sürecinin yürütülmesine göre 6 farklı uygulamada gerçekleştirilmiştir. Araştırma kapsamında eşitleme sürecinin yürütüldüğü altı farklı uygulamanın performansı alt testler arası ilişki düzeyi, alt testlerde madde sayısı, alt testlerde ortak madde oranı, örneklem büyüklüğü, testler ve alt testler arası güçlük düzeyi ile ölçek dönüşüm yöntemlerine göre incelenmiştir. Bu koşullar altında eşitleme süreçleri MTK gerçek puan eşitleme yöntemi ile gerçekleştirilmiştir. Çalışmada eşitleme sonuçlarının doğruluğunu incelemek amacıyla madde ve yetenek parametreleri için RMSE (eşitleme hatası), BIAS (eşitleme yanlılığı) ve SE (standart hata) değerleri hesaplanmıştır. Çalışma kapsamında; verilerin üretilmesi aşamasında R yazılımı, madde ve yetenek parametrelerinin kestiriminde IRTPRO 4.2 ve tek boyutlu eşitleme için IRTEQ, çok boyutlu eşitleme için LinkMIRT programı kullanılmıştır. Çok boyutlu yapıya sahip test parametrelerinin tek boyutlu 3PL MTK modeline göre kestirildikten sonra yapılan eşitlemede en yüksek hata değerlerine ulaşılmıştır. Bu hata değerlerini parametrelerin çok boyutlu 3PL MTK modeline göre kestirildikten sonra yapılan eşitleme işleminden elde edilen hata değerleri izlemektedir. Bu çalışma açısından en küçük hata değerleri her bir alt test parametrelerinin tek boyutlu 3PL MTK modeline göre kestirildikten sonra alt test düzeyinde yapılan eşitlemeden elde edilmiştir.

Abstract:
The main purpose of this study is to compare the results obtained from the equating of a multidimensional test with the various application steps at test level and at sub-test level in terms of evaluation criteria. The research was conducted using simulation data. Since the methods and conditions that minimize equating error are tried to be determined in the research, the study is a basic research. In this research, common-item nonequivalent groups (CINEG) design was used to equating the two test forms. The equating process was carried out in six applications according to the execution of the equating process at test level and sub-test level with different parameter estimation paths. In the scope of the research, the performance of the six different applications in which the equating process was conducted was examined according to the relationship level between sub-tests, number of items in sub-tests, common item ratio in sub-tests, sample size, difficulty level between tests and sub-tests and scale conversion methods. Under these conditions, equating processes were realized by the IRT true score equating method. RMSE (equating error), BIAS (equating bias) and SE (standard error) values were calculated for item and ability parameters in order to examine the accuracy of equating results. In the scope of the research, R software was used for data generation, IRTPRO 4.2 was used for estimating item and ability parameters, IRTEQ was used for unidimensional equating and LinkMIRT was used for multidimensional equating. After estimating the parameters of multidimensional test according to unidimensional 3PL MTK model, the highest error values were reached in equating. These error values are followed by the error values obtained from the equating process after estimating the parameters according to the multidimensional 3PL MTK model. In this study, the smallest error values were obtained from the equating after estimating the parameters of each subtest according to unidimensional 3PL MTK model.