Şızofreninin negatif ve pozitif belirtili alt gruplarındaki bellek profili
Memory patterns of negative and positive subgroups of schizophrenia
Yazar: MERAL KEİGHOBADİ
Danışman: PROF. DR. SİREL KARAKAŞ
Hacettepe Üniversitesi / Sosyal Bilimler Enstitüsü / Psikoloji Ana Bilim Dalı / Deneysel Psikoloji Bilim Dalı
Derece: Yüksek Lisans, 2008
Konu: Psikoloji = Psychology
Dizin: Bellek = Memory ; Bellek türleri = Memory types ; Hastalar = Patients ; Kişilik özellikleri = Personality traits ; Psikiyatrik hastalıklar = Psychiatric sickness ; Ölçme-değerlendirme = Measurement and evaluation ; Üst bellek = Metamemory ; Şizofreni = Schizophrenia

Özet:
Çalismanin amaci; bellegin degisik yönlerini (KSB, ÇB ve USB, iki ayri üst-bilis türü) ölçennöropsikolojik test ve görevler yoluyla sizofreni tanisi almis hastalarin bellek profilleriniincelemek ve bu sürecin alt tani gruplarina göre degisip degismedigini belirlemektir.Çalismanin örneklemini Ankara Numune Egitim ve Arastirma Hastanesi (ANEAH) 1.Psikiyatri Klinigine basvuran, DSM-IV tani ölçütlerine göre sizofreni tanisi almis 45 negatif47 pozitif sizofreni olmak üzere toplam 92 hasta olusturmustur.Çalismada kullanilan testler; Klinik Örneklemler Için Bilgi Toplama Formu, nöropsikolojiktestler ve klinik derecelendirme ölçekleri kullanilmistir. Negatif ve pozitif sizofreniyiderecelendirmek için PANSS Ölçegi ve depresyonu dislamak için HDDÖ uygulanmistir.Kisa süreli bellek kapasitesini belirlemek için Görsel Isitsel Sayi Dizileri B Formu (GISDB);Ögrenme yetenegini ve USB'yi tespit etmek için Sayi Dizileri Ögrenme Testi (SDÖT) veIsitsel Sözel Ögrenme Testini (AVLT) kullanilmistir. Çalisma bellegi ve üst bellekperformansini degerlendirmek amaciyla Okuma Uzami ve Hesapsal Uzam görevleri,ögrenme sonucunda hatirlanan Bilginin Dogruluk Derecesi Testi (BDD), hatirlanamayan veyanlis hatirlanan kelimeler için Bilme Hissi Testi (BHT) ve seçenekler arasindan dogrusözcüklerin ve sayilarin belirlenmesini gerektiren Ölçüt Testi (ÖT) ile üst-bellekölçülmüstür.Belirtilen amaçlari incelemek üzere farkli istatistiksel teknikler kullanilmistir. Grubunnöropsikolojik test/görev puanlari üzerindeki etkisi, yasin istatistiksel olarak kontrol edildigiçok degiskenli kovaryans analizi (multi-variate analysis of covariance: MANCOVA) ileincelenmistir. Lojistik Regresyon ve Küme Analiziyle, nöropsikolojik test puanlarindanpozitif sizofreni ve negatif sizofreni gruplari yordanabilirligi incelenmistir. Grubun ham puanlar üzerindeki etkisi, yasin istatistiksel olarak kontrol edildigi MANCOVAile incelenmistir. Incelenen 72 puandan 5'inde anlamli etkinin bulundugu görülmüstür.Sizofreni alt gruplari arasindaki farklar özellikle üst-bellek ve ögrenme puanlari açisindanelde edilmistir. Post hoc analizler anlamli farklarin negatif grup aleyhine oldugunugöstermistir.Egitim düzeyi degiskeninin etkisi anlamli bulunmustur. Bulgular egitimin, puanlarin % 46'sini etkiledigini ortaya koymustur. Post hoc analizler sonucunda egitim düzeyi yüksek olangruplarin daha yüksek performans gösterdikleri görülmüstür.Lojistik Regresyon ve Küme Analiziyle sözel ögrenme (anlik, gecikmeli hatirlama tanima),Çalisma ve Üst bellek puanlarinin sizofreni siniflamasinda ayirt edici oldugunu göstermistir.Yapilan analizler, sizofreni alt grubunun, incelenen 72 test puanindan 5'ini etkiledigini(%6.94) ortaya koymus, bu puanlarin da daha çok üst bellek ve ögrenme ile ilgili oldugugörülmüstür. Nöropsikolojik test puanlarinin sagladigi yordama derecesi düsük düzeylerdebulunmustur. Klinik olarak belirlenen sizofreni alt gruplarin bilissel örüntüler temelindefarklilasmadigi görülmüstür.Anahtar SözcüklerNegatif sizofreni, pozitif sizofreni, kisa-uzun süreli bellek, çalisma bellegi, ögrenme, üstbellek.

Abstract:
The purpose of study is analyzing memorial profiles of patients, who were diagnosed withschizophrenia, by using neuropsychological tests and tasks that measure different aspects ofmemory (Short- Term Memory (STM); Long-Term Memory (LTM); Working memory (WM)and Meta- memory (MM): Retrospective meta-memory and Prospective meta-memory) anddefining whether this process changes depend on subdiagnose groups. The sample used in thisstudy was based on 92 patients, who were admitted to 1st Psychiatric Clinic of AnkaraNumune Hospital, were diagnosed with schizophrenia according to DSM-IV, 45 of whomwere negative and 47 were positive.This study employs Information Gathering Form For Clinic Samples, neuropsychologicaltests and clinical rating scales. Patients were classified into symptom classes using Positiveand Negative Syndrome Scale (PANSS) Scale was used to decide between negative andpositive schizophrenia and Hamilton Depression Rating Scale (HDRS) was applied toeliminate depressive disorders. Visual Aural Digit Span Test- Revised (VADS-R) was usedto define STM capacity, Serial Digit Learning Test (SDOT) and Auditory Verbal LearningTest (AVLT) was used to determine learning capacity and LTM, as neuropsychological tests.Meta-memory was measured using: (1) Reading Span and Computational task, for evaluatingthe performance of Working memory and Meta- memory, (2) feeling of accuracy with regardsto knowledge on past performance to remember learned knowledge, (3) feeling of knowingabout future performance for the words that are not remembered or remembered wrongly, and(4) Criteria Test for choosing correct words and numbers among choices.Different statistical techniques were used to analyze these defined objectives. The effect ofthe group on neuropsychological test/task scores was analyzed using multi- variable analysisof covariance (MANCOVA), which statistically controls age. Logistic regression and clusteranalysis were employed to determine the predictability of positive and negative schizophrenicgroups from their neuropsychological scores. The effect of group on raw scores was studied using MANCOVA, which statistically controlsage. The results show that 5 out of 72 scores indicated significant effect. The differencesbetween schizophrenic subgroups were obtained especially in terms of meta-memory andlearning scores. Post hoc analyses indicated that significant differences against the negativegroup.The effect of the education level variable was found to be significant. The results indicatedthat education level affected 46 % of the scores. As a result of post hoc analyses, it was foundthat the groups with higher education level showed higher performances.Logistic regression and cluster analysis showed that verbal learning (momentary or laggedremembering and recognizing) and Working memory and Meta-memory scores weredefinitive in schizophrenic classification.The analysis indicated that schizophrenic subgroups affected 5 test scores out of 72 (6.94%),and these scores were more correlated with meta-memory and learning. The degree ofprediction yielded by neuropsychological test scores was found to be at low levels.Schizophrenic subgroups that were defined clinically did not diverge in terms of cognitivepatterns.Keywords:Positive schizophrenia, negative schizophrenia, short-long term memory, working memory,learning, meta-memory.