Bazı bileşiklerde foton çoğalma faktörünün saçılma açısı ve numune kalınlığı ile değişiminin incelenmesi
Photon buildup factor investigation depending on the total scattering angle and sample thickness in the some compounds
Yazar: AYTAÇ LEVET
Danışman: DOÇ. DR. YÜKSEL ÖZDEMİR
Atatürk Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Fizik Ana Bilim Dalı
Derece: Doktora, 2011
Konu: Fizik ve Fizik Mühendisliği = Physics and Physics Engineering ; Radyoloji ve Nükleer Tıp = Radiology and Nuclear Medicine
Dizin: EDXRF tekniği = EDXRF technique ; Kimyasal bileşenler = Chemical component ; Saçılma parametreleri = Scattering parameters

Özet:
Bu çalışmada, bazı kimyasal bileşiklerde, farklı foton enerjileri için toplam saçılma açısını ve numune kalınlığını deği ç tirerek Enerji Dispersive X-Işını Floresans spektroskopisi (EDXRF) sisteminde foton oğalma faktörleri hesaplanmıştır. Se ş tiğimiz bileşikler, yaptığımız geniş kapsamlı literatür taramasında bulunmayan bilesjklerden oluşturmaktadır.Çalışmamızın birinci bölümünde V_4 O_2, NaCO_3 H_2 O,Fe [(NO_3)] _3,SrCl_2 6H_2 O,MoS_2,C_6 H_5 FeO_7 H_2 O, H_2 [Cl] _2 O_2 Zr,CuCl, [Co(SCN)] _2 bileşikleri için çapları 2,0 mm, 3,6 mm, 7,4 mm, 8,9 mm, 14,4 mm olan 5 kolimatör ve enerji kaynakları olarak (_^241)Am, (_^137)Ba ve (_^157)Gd kaynakları kullanılmıştır. Bu deneysel çalışmada her ölçüm üç kez tekrarlanarak foton çoğalma faktörünün değişimi incelenmiştir. Elde edilen sonuçlar, literatürde mevcut olan sonuçlar ile kar§ilaştırılmı ş tır. Elde edilen veriler, radyasyon zırhlama parametreleri açısından nasıl değiştiği tartı§ilmıştır.Çalışmamızın ikinci bölümünde, CaO_2,Mg [Cl] _2,Ni [Cl] _2,V_3 O_2 bileşiklerinin kalınlıkları değiştirilerek foton çoğalma faktörünün değişimi incelenmiştir. Ölçümler, 0,43 mm-3,95 mm aralığında beş farklı kalınlık için yapılmış olup enerji kaynağı olarak (_^241)Am ve (_^109)Cd kaynakları kullanılmıştır. Elde edilen sonuçlar, radyoterapide X-ışını dozunun doğru olarak belirlenmesi ve radyasyonu azaltmak için kullanılan zırhlama tekniğindeki, zırh kalınlığının nasıl değişmesi gerektiği tartışılmıştır.Anahtar Kelimeler: Foton çoğalma faktörü, EDXRF, kimyasal bileşikler, toplam saçılmaaçısı.

Abstract:
In this study, photon buildup factors were calculated for chemical samples in thedifferent photon energies of the changing total scattering angle and sample thickness bythe Energy Dispersive X-ray fluorescence spectroscopy (EDXRF) system. Chosencompounds, which did not in the comprehensive literature review.The first part of this study, five collimator whose diameters are 2.0 mm, 3.6 mm, 7.4 mm, 8.9 mm, 14.4 mm and as energy sources (_^241)Am, (_^137)Ba and (_^157)Gd were used for V_4 O_2, NaCO_3 H_2 O,Fe [(NO_3)] _3,SrCl_2 6H_2 O,MoS_2,C_6 H_5 FeO_7 H_2 O, H_2 [Cl] _2 O_2 Zr,CuCl, [Co(SCN)] _2 , compounds. In this experimental study, change the buildup factor was investigated by repeated three times of each measurement. The results obtained are compared with existing in the literature. The data obtained are discussed how to change the terms of the parameters of radiation shielding.In the second part of our study, changing the buildup factor were investigated by changing the thickness of CaO_2,Mg [Cl] _2,Ni [Cl] _2,V_3 O_2 compounds. The measurements are made of in the range 0.43 mm- 3.95 mm of five different thicknesses and as energy sources, (_^241)Am and (_^109)Cd sources were used. The results