Siyah camların elektriksel ve optik özellikleri
Electro-optical characteristics of black glasses
Yazar: SELÇUK BİRDOĞAN
Danışman: PROF. ERTUNÇ ARAL
Eskişehir Osmangazi Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Fizik Ana Bilim Dalı
Derece: Yüksek Lisans, 2007
Konu: Fizik ve Fizik Mühendisliği = Physics and Physics Engineering

Özet:
Bu çalısmada, silisyum camlarına değisik oranlarda kobalt oksit, demir oksit vebakır oksit katkılanmıstır. On farklı numune laboratuar ortamında hazırlanmıs, kesilmisve parlatılmıstır. UV spektroskopisi ile dalgaboyu - absorbans ve dalgaboyu -geçirgenlik değerleri alınmıstır. Bu değerler kullanılarak dalgaboyu - yansıma değerlerihesaplanmıstır. Değerler grafik haline getirilmistir ve yorumlanmıstır. Cam numunelertaramalı elektron mikroskobu (SEM) ile yüzey görüntüleri alınmıstır. X-ısınları dağılımspektroskopisi ile numune içindeki madde miktarları belirlenmistir. DC Elektrikseliletkenlik ölçüm sisteminde iki prob metodu kullanılmıstır. Akım ? voltaj ölçümleri0-800 volt aralığında alınmıs ve grafik haline getirilmistir. Grafikler yardımıylaözdirenç ve iletkenlik değerleri hesaplanmıstır. Literatürde yer almayan on cam numunebu çalısmanın temelini olusturmustur.Bilimsel ve ticari öneme sahip silisyum camların kobalt konsantrasyonuylailetkenlik ve özdirenç değisimleri, demir oksit ve bakır oksidin etkileri detaylı birsekilde incelenmistir.Sonuç olarak, kobalt oksidin ısık absorpsiyonunu önemli ölçüde arttırdığı, demiroksidin elektriksel iletkenliğe katkıda bulunduğu ve yüksek oranlarda bakır oksitkatkısının yapıyı bozduğu görülmüstür.Anahtar kelimeler: Silisyum camlar, elektriksel iletkenlik, SEM, UV spektroskopisi,kobalt oksit etkileri.

Abstract:
This study investigates the electrical and optical effects of the addition ofnumerous substances on silicon glass. For this purpose, various ratios of cobalt oxide,iron oxide and copper oxide were added to silicon glass. Ten different samples wereprepared, cut and polished under laboratory conditions. Using UV spectroscopy,absorbance and permeability of these samples were measured for different wavelengths.These measurements were used for calculating and interpreting the wavelengthreflectionrelationship. After that, the surface images of the samples were taken withscanning electron microscope. The amount of substances in the samples was determinedby a X-ray distribution spectroscopy. The double probe method was used for measuringthe electrical conductivity and the results were presented in a 0-800 V interval in thegraph form. By the way of these graphs, resistivity and conductivity were calculated.Ten glass samples that were used in this study do not exist in previous literature in thissubject.In conclusion, the effects of iron oxide, copper oxide and cobalt on the electricalproperties of silicon glass were fully investigated. These substances are extremelyimportant for both industry and the scientific studies.To sum up, it was found that cobalt oxide substantially increases light absorptionand iron oxide slightly increases conductivity while copper oxide damages theamorphous structureKeywords: Silicon glasses, electrical conductivity, SEM, UV spectroscopy, effects ofcobalt oxide.