Ar-ge harcamaları, patent başvuru sayısı ve ekonomik büyüme: OECD ülkeleri üzerine bir uygulama
Research and development expenditures, number of patent application and economic growth: An application on OECD countries
Yazar: PINAR ÖZER
Danışman: YRD. DOÇ. DR. SÜLEYMAN EMRE ÖZCAN
Dumlupınar Üniversitesi / Sosyal Bilimler Enstitüsü / İktisat Ana Bilim Dalı
Derece: Yüksek Lisans, 2017
Konu: Ekonomi = Economics
Dizin: Araştırma-geliştirme = Research-development ; Ekonometrik analiz = Econometric analysis ; Ekonomik büyüme = Economic growth ; Hükümet harcamaları = Government expense ; Kamu harcamaları = Public expenditures ; OECD ülkeleri = OECD countries ; Patentler = Patents

Özet:
Bu çalışma, seçili 23 OECD ülkesi (Ekonomik İşbirliği ve Kalkınma Örgütü) için 1995 – 2013 yıllık verilerini kullanarak, Ar-Ge harcamalarının ve patent başvuru sayılarının ekonomik büyüme üzerindeki etkisi ile Ar-Ge harcamalarının patent başvuru sayıları üzerindeki etkisini panel veri analiziyle test etmeyi amaçlamaktadır. Bu amaca yönelik çalışmada üç model kurulmuş ve bu modeller dört aşamalı ekonometrik yöntemle araştırılmıştır. İlk aşamada, değişkenler arasında yatay kesit bağımlılığını araştırmak için Friedman, Frees ve Pesaran testleri uygulanmıştır. Yatay kesit bağımlılık testlerinin üçü de kurulan üç model için değişkenler arasında yatay kesit bağımlılığın olduğunu göstermiştir. İkinci aşamada değişkenlerin durağanlık analizi Im Pesaran ve Shin ve Pesaran testleri ile yapılmıştır. Sabit ve trendsiz Im Pesaran ve Shin ile Pesaran birim kök testleri değişkenlerin düzey değerlerde birim kök içerdiğini, birinci farkları alındığında ise %1 anlamlılık düzeyinde durağan olduklarını göstermektedir. Üçüncü aşamada ise değişkenler arasındaki uzun dönemli ilişkilerin varlığı Westerlund Panel Eşbütünleşme testleriyle araştırılmıştır. Eşbütünleşme testi ile değişkenler arasında uzun dönemli eşbütünleşme ilişkisinin olduğu tespit edilmiştir. Dördüncü aşamada ise panel bazında değişkenler arasındaki uzun ve kısa dönemli katsayılar Ortalama Grup Tahmincisi (MGE) ve Havuzlanmış Ortalama Grup Tahmincisi (PMGE) yöntemleriyle tahmin edilmiştir. Ekonometrik analiz sonucunda panel genelinde değerlendirildiğinde Ar-Ge harcamaları ve patent başvuru sayılarının ekonomik büyüme üzerindeki uzun dönem etkisi ile Ar-ge harcamalarının patent başvuru sayıları üzerindeki uzun dönem etkisi istatistiki olarak anlamlı ve pozitiftir. Buna karşın kısa dönem katsayıları pozitif fakat istatistiki olarak anlamlı değildir.

Abstract:
This study aims to investigate the effect of R & D expenditures and number of patent application on economic growth and the effect of R & D expenditures on patent applications using panel data analysis and 1995 - 2013 annual data for selected 23 OECD (Economic Cooperation and Development Organization) countries. Three models have been established for this purpose and these models have been investigated with a four - stage econometric methods. In the first stage, Friedman, Frees and Pesaran tests were applied to investigate cross-sectional dependency between variables. All of three tests show that there is cross-sectional dependency among the variables for the three models established. In the second stage, stationarity analysis were performed by using Im Pesaran and Shin and Pesaran tests for variables. Im Pesaran Shin and Pesaran with constant term unit root tests show that series have unit root in the level  and they are stationary at the 1% significance level when the first difference is taken. In the third stage, the existence of long-term relationship between variables was investigated by Westerlund Panel Cointegration Tests. The cointegration test shows that there is a long-run relationship between variables. In the fourth stage, long and short term coefficients between panel-based variables were estimated by Mean Group Estimator (MGE) and Pooled Mean Group Estimator (PMGE). As a result of econometric analysis, the long - run effect of R & D expenditures and the number of patent application on economic growth and the long run effect of R&D expenditures on number of patent application is positive and statistically significant when evaluated panelwide. On the other hand, the short-run coefficients are positive but not statistically significant for these three models.