Bazı seramik ve porselen örneklerin x-ışınları toz kırınım yöntemi ile incelenmesi
Inspection of some ceramic and chinaware samples with x-ray powder diffraction method
Yazar: HATİCE YILDIZ
Danışman: DOÇ. DR. SEMA ÖZTÜRK YILDIRIM
Erciyes Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Fizik Ana Bilim Dalı
Derece: Yüksek Lisans, 2006
Konu: Fizik ve Fizik Mühendisliği = Physics and Physics Engineering ; Kimya Mühendisliği = Chemical Engineering
Dizin: Kristalografi = Crystallography ; Porselen = Porcelain

Özet:
Seramik ve porselenden yapılmış eşyaları günlük yaşantımızda çok sık kullanmaktayız.Seramik ve porselenin yanı sıra fayans, çimento, cam, kiremit, tuğla drenaj boruları,çömlek, zımpara taşları, ferroelektrikler, ametal manyetikler, sentetik tek kristaller veuzay roket seramikleri de bu grup içinde yer almaktadır. Seramik malzemeler metalorji,inşaat, makine, elektrik, elektronik, enerji, telekominikasyon gibi bilim ve endüstrialanlarında kullanılmaktadır. Özellikle gelişen teknolojilerin getirdiği tasarımkolaylığıyla arzu edilen niteliklere sahip kritik seramik malzeme oluşturulması enönemlileri bilgisayar, iletişim, elektronik ve mikro elektronik gibi dallarda yeniteknolojiler gelişmesine yol açmıştır.Bu çalışmada, X-ışını toz kırınım yöntemi ile bazı seramik ve porselenlerin nitel analiziyapıldı. Numunelerin kırınım desenleri RIGAKU marka D/Max-2200/PC model tozdifraktometre sisteminde ve bakır radyasyonu (? (CuK?) = 1.54056 Å ) kullanılarakalındı. Toz kırınım desenlerinden elde edilen veriler değerlendirilerek, örneklerinyapılarına giren maddeler nitel olarak tayin edildi. Analizin sonucunda örneklerde;Kaolinit Al4(OH)8(Si4O10), Dikit Al2Si2O5(OH)4, Nakrit Al2Si2O5(OH)4 ve2M2Al2Si2O5(OH)4, Albit Na(AlSi3O8), Kuvars SiO2, SepiyolitMg8(OH)4Si12O30(H2O)12, Mullit Al(Al1.272Si0.728O4.864) ve Al5SiO9.5, Moganit SiO2 gibimaddelerin yer aldığı saptanmıştır..Anahtar Kelimeler: Seramik, Porselen, Kristal yapı analizi, X-ışını toz kırınımyöntemi.

Abstract:
Objects which are made from ceramic and chinaware, are used thickly in our daily life.Faience, cement, glass, tile, brick, drainage tubes, pot, emery stone, ferroelectric,nonmetall magnetics, synthetic unique crystal and spacerocket crystal take part in thisgroup like ceramic, and chinaware. Materials which are made from ceramic are used inthe field of science and industry such as metallurgy, constructions, engine, electricity,energy, and telecommunication. Especially, forming critic ceramic materials which havedesired quality with the project easiness which comes from developing technology,causes the development of new branches of technology such as computer,communication, electronic and micro electronic.In this study, qualitative analyses of some ceramic and chinaware was made by usingX-ray powder diffraction method. The powder diffraction patterns of samples weretaken by using the RIGAKU type D/Max-2200/PC model x-ray diffractometer, andcopper radiation (? (CuK?) = 1.54056 Å). Evaluating the data from the powderdiffraction patterns, substances which enter into structures of samples, were determinedqualitatively. At the result of the analyses, it is found that samples include some matterssuch as Kaolinite Al4(OH)8(Si4O10), Dickite Al2Si2O5(OH)4, Nacrite Al2Si2O5(OH)4 and2M2Al2Si2O5(OH)4, Albite Na(AlSi3O8), Quartz SiO2, SepioliteMg8(OH)4Si12O30(H2O)12, Mullite Al(Al1.272Si0.728O4.864) and Al5SiO9.5, Moganite SiO2.Keywords: Ceramic, Chinaware, Crystal structure analyses, X-ray powder diffractionmethod