Tatlı mısırda (Zea mays convar. saccharata L.) tohum gücü testlerinin tarla çıkışı ve depo ömrünün tahmininde kullanılması
Use of seed vigour tests to predict field radicle emergence and storage longevity in sweet corn (Zea mays convar. saccarata L.) seeds
Yazar: ELİF ÇATIKKAŞ
Danışman: PROF. DR. İBRAHİM DEMİR
Ankara Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Bahçe Bitkileri Ana Bilim Dalı
Derece: Doktora, 2023
Konu: Ziraat = Agriculture

Özet:
Bu çalışma, tohum güç testlerinin (standart çimlenme, kökçük çıkış, soğuk test, hızlı yaşlandırma testi, elektriksel iletkenlik testi) iki ayrı ekim döneminde tarla çıkış oranı ve depolama sonrası (12 ay, %9-10 tohum nemi, 20  2 C sıcaklık) çimlenme ile ilişkisini saptamak amacıyla 8 adet tatlı mısır (Zea mays cv. saccharata) tohum partisinde yürütülmüştür. KÇ testi 32-79 saat arasında 2 mm'lik kökçük çıkışını, soğuk test 5 C'de 2 gün ve 4 gün 25 C'de tutma sonrası toplam ve normal çimlenme, HYT 41 C'de 72 saat %100 oransal nemde tutulma, Eİ testi ise 40 ml distile suda, 20 tohumu 4 ve 8 saat tutma şeklinde gerçekleştirilmiştir. Ayrıca ST ve HYT testleri sonrası KÇ ve HYT sonrası Eİ testide yapılmıştır. Tohum gücü testleri tarla çıkış oranı ve depolama sonrası çimlenme ile farklı düzeylerde istatistiksel olarak anlamlı seviyede ilişkili bulunmuştur. Hem tarla çıkış oranı hem de depolama çimlenmesi ile en yüksek düzeyde anlamlılık veren tohum gücü testleri soğuk test ve hızlı yaşlandırma testleri olmuştur. Tez sonuçlarına göre STN (r=0.945, P0.001), ST+KÇ79 (r=0.920, P0.01) ve HYT72 (r=0.844, P0.01) tatlı mısırda tarla çıkışı ve depolama çimlenmesinin tahmininde en başarılı testler olarak öne çıkmaktadır. KÇ72, KÇ79 ve standart çimlenme testleri, tarla çıkış oranının tahmininde başarılı sonuçlar vermiş olsa da, depolama çimlenmesinde hiçbir örneklerde anlamlı ilişki saptanmamıştır. Eİ testi ise az sayıda anlamlılık vererek göreceli olarak diğer testlere göre daha başarısız bulunmuştur. Sekiz tohum partisi ile yapılan çalışmanın daha yüksek sayıda tohum partisi ile tekrarlanması testlerin geniş kapsamlı kullanımını tatlı mısır türünde yaygınlaştıracaktır.

Abstract:
This work was carried out to predict field emerge and germination after storage (12 months, 9-10 % seed moisture, 20  2 C temperature) through seed vigour tests (standard germination, radicle emerge, cold test, accelerated aging test and electrical conductivity) in eight sweet seed lots. RE test was performed by root emergence of 2 mm between 32-79 hours, cold test was performed by total and normal germination after 2 days at 5 C and 4 days at 25 C, HYT was performed by keeping at 41 C for 72 hours at 100% relative humidity, and EC test was performed by keeping 20 seeds in 40 ml distilled water for 4 and 8 hours. Seed vigour tests were found to be statistically significantly associated with field emergence rate and germination after storage at different levels. The seed vigour tests that showed the highest level of significance with both field emergence rate and storage germination were cold test and accerelate aging tests. According to the results of the thesis, CTN (r=0.945, P0.001), CT+RE79 (r=0.920, P0.01) and AA+RE72 test (r=0.844, P0.01) stand out as the most successful tests in predicting field emergence and storage germination in sweet corn. Although the RE72, RE79 and standard germination tests were successful in predicting field emergence rate, no significant relationship was found in any of the samples for germination after storage. The EC test was found to be relatively less successful than the other tests, with few significant results. Repeating the study with eight seed lots with a higher number of seed lots will expand the extensive use of the tests in the sweet corn.