X ve Y kuşaklarında iş tatminin örgütsel bağlılığa etkisi: Bir kamu kurumunda araştırma
The effect of job satisfaction of X and Y generations on organizational commitment
Yazar: SEMA ÖZFALCI AKIL
Danışman: DOÇ. DR. AYLA ZEHRA ÖNCER
Marmara Üniversitesi / Sosyal Bilimler Enstitüsü / İşletme Ana Bilim Dalı / İnsan Kaynakları Yönetimi Bilim Dalı
Derece: Yüksek Lisans, 2020
Konu: İşletme = Business Administration
Dizin: Kamu kuruluşları = Public institutions ; X kuşağı = Generation X ; Y kuşağı = Generation Y ; Ölçekler = Scales ; Örgütsel bağlılık = Organizational commitment ; İş doyumu = Job satisfaction

Özet:
Bu çalışmada X ve Y kuşaklarının iş tatmininin örgütsel bağlılık üzerindeki etkisi incelenmiştir. Araştırmada veri toplama anket yöntemi ile gerçekleştirilmiştir. Kuşakların örgütsel bağlılık seviyelerini belirlemek amacıyla Meyer ve Allen'in üç boyutlu örgütsel bağlılık ölçeği kullanılmıştır. Kuşakların iş tatminini ölçmek için ise, Dawis ve arkadaşları tarafından geliştirilen "Minnesota İş Tatmin Ölçeği" kullanılmıştır. İstanbul ili Marmara Üniversitesinde görev yapmakta olan 87 X kuşağı ve 113 Y kuşağı çalışanı olmak üzere toplamda 200 kişiyi içermektedir. Araştırmada, betimleyici ve karşılaştırmalı istatistiksel analiz yöntemleri uygulanmıştır. Hazırlanan anket SPSS 22.0 for Windows paket programında güvenirlik analizine tabi tutulmuştur. Araştırmada kullanılan anket verilerinin güvenilirliğini ölçmede Cronbach's Alpha yöntemi kullanılmıştır.
Değişkenler arasındaki korelasyon katsayısının hesaplanması ile değişken arasındaki ilişkinin gücü ortaya konulmak istenmiş ve yapılan analize göre iş tatmini ve örgütsel bağlılık arasında X kuşaklarına göre 0,262 değeri elde edildiğinden pozitif yönlü ve anlamlı ve düşük şiddette korelasyon bulunmuştur. Değişkenler arasındaki korelasyon katsayısının hesaplanması ile değişken arasındaki ilişkinin gücü ortaya konulmak istenmiş ve yapılan analize göre iş tatmini ve örgütsel bağlılık arasında Y kuşaklarına göre 0,687 değeri elde edildiğinden pozitif yönlü ve anlamlı ve orta şiddette korelasyon bulunmuştur. İş tatmini ve örgütsel bağlılık kavramının kuşaklara göre karşılaştırmasında Y kuşağının iş tatmini kavramına ait düzeyin X kuşağına oranla daha yüksek olduğu söylenebilir.

Abstract:
İn this study, the effect of job satisfaction of X and Y generations on organizational commitment was examined. The research was carried out with the survey method. In order to determine the organizational commitment levels of the generations, Meyer and Allen's three-dimensional organizational commitment scale was used. "Minnesota Job Satisfaction Scale" developed by Dawis et al. Was used to measure the job satisfaction of generations. It includes a total of 200 people, including 87 X generation and 113 Y generation employees working in the Administrative Affairs Department of Istanbul Marmara University. Descriptive and comparative statistical analysis methods were used in the research. The prepared questionnaire was subjected to reliability analysis in SPSS 22.0 for Windows package program. Cronbach's Alpha method was used to measure the reliability of the survey data used in the research.
The strength of the relationship between the variable was calculated by calculating the correlation coefficient between the variables, and according to the analysis, a positive and significant and low severity correlation was found between the job satisfaction and organizational commitment, since the value of 0,262 was obtained. The strength of the relationship between the variable was calculated by calculating the correlation coefficient between the variables and according to the analysis, a positive and significant and moderate severity correlation was found between the job satisfaction and the organizational commitment, as a value of 0,687 was obtained according to the Y generations. When comparing the concept of job satisfaction and organizational commitment according to generations, it can be said that the level of the generation Y job satisfaction level is higher than that of the X generation.