Ekonomik test tasarımı ve optimizasyonu için kısıt programlama kullanılması
Economic test design and application of constraint programming for optimizing test design
Yazar: ONUR KOYUNCU
Danışman: DOÇ. DR. Ş. ARMAĞAN TARIM
Hacettepe Üniversitesi / Sosyal Bilimler Enstitüsü / İşletme Ana Bilim Dalı
Derece: Doktora, 2007
Konu: İşletme = Business Administration

Özet:
Bu çalıma, ürün ve bileenlerinin tek tek ya da bir arada test edilmesidurumunda ortaya çıkan test akıları, test maliyetleri ve ilgili hesaplarıinceleyerek optimal test ve tamir makineleri seçimi ve optimal test birleimleriniseçmek suretiyle test stratejileri için bir optimizasyon çerçevesi oluturmayıamaçlamaktadır. Böylece hangi test ve test ekipmanı birleimi ile belirli bir kalitedüzeyinden ödün vermeden en ekonomik test tasarımı ve stratejisininuygulanması gerektiine dair rakamsal sonuçlar elde edilerek test uygulayaniletmeler için iktisadi bir karar destek aracı ortaya konmu olmaktadır. Çalımaözel olarak elektrik elektronik sektöründe üretilen kart, panel, devre benzeriürünleri kapsayacak ekilde oluturulmutur. Bu amaçla dorusal programlama(LP), karıık tam sayı programlama (MIP) ve kısıt programlama (CP) teknikleriile test akıı ve stratejiyi belirleyecek deikenlerin seçimini yapacakoptimizasyon modelleri gelitirilmi ve açıklanmıtır. Çalıma test probleminintemellerini, hesap prensiplerini ortaya koyan ve hem tek özellikli, hem de çoközellikli test süreçleri için hesap ve optimizasyon prensiplerini belirlemektedir.Tek özellikli test, çok özellikli seri (baımsız) test ve çok özellikli etkileimli testsüreçleri için gelitirilen modeller test tasarımı alanında daha önce buçalımadaki ekliyle ele alınmamı olup, optimizasyon yazılımları aracılııylaçözülmü ve elde edilen sonuçların pratik düz mantık yöntemlerine kıyasla dahakarlı ve rasyonel çözümler önerdii saptanmıtır. Literatürde bu spesifik alanlailgili bir çalımanın henüz bulunmuyor olması, sonuçların baka çalımalarlakarılatırılmasına imkan vermemektedir.Anahtar Sözcükler : Test akıı, Test tasarımı, Test optimizasyonu, Teststratejisi, Test seçimi, Makine seçimi, Baımsız test, Etkileimli test, Kısıtprogramlama

Abstract:
This study aims to provide an optimization framework for obtaining optimaltesting strategies by presenting the fundamental mathematical structures of testflows, test costs and related calculations which occur when a unit orcomponents of a unit are tested independently or concurrently. Result of thisattempt is a group of models which act as decision tools calculating andpresenting numerical results helping the companies which apply tests to theirproducts come up with economic solutions on which tests and testingequipment to choose (namely a test strategy) without sacrificing the level ofproduct quality. This study has been put together specifying examples on theelectronic products, examples of which can be listed as cards, boards, panels,circuits and related product types. Within this scope methods like linearprogramming (LP), mixed integer programming (MIP) and constraintprogramming (CP) have been applied to obtain mathematical equation sets andmodels which shall help describe the test flows and calculations and which shalldecide on the variables of test strategy selection such as what tests andequipments to use. This study provides the basic theory on designing the testprocess, as well as the mathematical basis for test optimization. Especially themodels built for optimizing single attribute test, multiple attribute serial(independent) test and multiple attribute interconnected (concurrent) testprocesses are the first examples in testing literature with the perceptionprovided on this stduy. They were solved using numerous optimizationsoftwares and it was found that the resulting strategies were far better than thegeneral rule of thumb selections. Since no work in the literature has beenrealized on this specific issue so far, a comparison was not possible.Key Words: Test flow, Test design, Test optimization, Test strategy, Testselection, Equipment selection, Independent testing, Interconnected testing,Constraint Programming