モルダーが走行中の電車の側面に張り付いて中への侵入を試みるシーンでは、ドゥカヴニー自らスタントをこなした。その際に使用された命綱はポスト・プロダクション作業で見えなくなるように加工された。また、ミスターXがモルダーを救出するシーンは、ウィリアムズとドゥカヴニーがそれぞれ別のブルースクリーンの前で演技を行い、その2つの映像を電車爆破のCGと合成することで撮影された。冒頭の虐殺シーンの撮影に当たっては、25人の俳優（大半は子役）が雇われ、彼らにマスクを着用させて撮影した。秘密車両のセットは実際に動いているかのように見せるために、空気の入ったチューブの上に組み立てられた。ロブ・ボウマンは車両の爆破シーンを撮影するために7台のカメラを使用した。爆破シーンに使われた車両はバンクーバーの鉄道会社から安く買ったものであった。撮影時に破損してしまったために、スクラップにされたと思われる。ボウマンは電車内のシーンを撮影するにあたってステディカムを最大限に利用し、登場人物が画面の中心からずれた位置に移り込むように撮影した。モルダーのパラノイア的な思考を強調するためである。このシーンはモルダーに電話を掛けるスカリーの描写と対照をなしている。スカリーのシーンはカメラドリーを用いて撮影され、落ち着きのある映像を撮るためのミザンセーヌがなされた。こうすることで、スカリーが「ジブラルタルの岩のように」落ち着いている様子を表現したのである。
フランク・スポットニッツは日本陸軍の731部隊が行った戦争犯罪に関する『ニューヨーク・タイムズ』の記事を読んで、本エピソードのアイデアを得たという。また、ストーリーの舞台が電車の中に設定されているのは、『北北西に進路を取れ』や『大列車作戦』に着想を得たものである。スポットニッツは本エピソードの脚本を執筆するにあたって、『X-ファイル』というシリーズの土台となっている要素をも突き崩してよいと言われた。それ故に、スポットニッツはスカリーをエイリアンの存在に否定的な人物として描写することができた。（スカリーはシーズン3第2話「ペーパークリップ」でエイリアンらしき人影を目撃しており、本来であれば、スカリーは多少なりともエイリアンの存在を肯定せざるを得ないはずである）。
諸田 玲子（もろた れいこ、1954年3月7日 - ）は、日本の小説家。向田邦子の作風の影響を受けた作品も存在する。
クルマの楽しさを伝えるべく、普段は取材される側のメディア自らチームを組み、マツダ・ロードスターで4時間の耐久レースを行う「メディア対抗ロードスター4時間耐久レース」に2008年から毎年出場している。carview!編集局長の宇田川敦史は、メディア対抗ロードスター4時間耐久レースの実行委員を務めている。2011年には優勝、2013年は2位、2017年は5位に入賞した。
carview!編集局長の宇田川敦史は、日本を代表する“クルマの賞典”である日本カー・オブ・ザ・イヤー実行委員であり、執行部として事務局・書記担当・広報補佐を務めている。
自動車に関する編集記事（試乗記・スクープ・フォト・コラム・動画など）を掲載している。「試乗記」では、走行性能やデザイン、最新の安全性能や自動運転技術について、自動車評論家による解説を読む事ができる。
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バックマン線図 (Bachman diagram) はデータ構造図の一種であり、ネットワークモデルや関係モデルの論理データ設計に用いられる。この場合のデータモデルはシステムにおけるデータ格納方法とは切り離されている。データベース研究の先駆者チャールズ・バックマンが考案したことからその名を冠しており、主にソフトウェア設計で使われている。関係モデルにおける関係は属性間の結びつきであり、その関係における全てのキーに推移的従属性を持つわけではない。関係間の結合は、属性の一致に基づく。それぞれの関係について四角形を描き、関係間の結合を矢印で四角形同士をつなぐことで表す。矢印にはそれぞれ多重度を表示する必要がある。1対N、1対1、N対Nなどがある。ただし、N対Nは避けるべきで、2つの1対Nの結合に置換しなければならない。
2010年6月に、TSMCは、研究開発目的のために、2011年にEUVシステムを受領すると発表した。伝えられるところによれば、装置の質量は、200万ドルを超える特殊な固定具を購入するほどある。2010年7月に、Semicon West 2010において、ASMLはEUVLによって達成した解像度を更新し、2010年では24nmの状況であるが、1.0を下回る大幅に等級が下がった規格化イメージログスロープ(normalized image log-slope:NILS)であり 、粗末なリソグラフィ品質を表している。事実上、より鮮明な解像度が投影されるに従い、NILSは0に至ると期待され、EUVL使用の不可能性を示している。2010年には、コストを釣り上げる、上で言及したショット雑音に起因する線端粗さの改善に取り組むための各種追加工程を開発する必要が依然あるとサムスンが言及した。くわえて、 DUV波長に含まれる帯域外の波長がフレア効果を招くように述べているこれは他のものでも観測されている。2010年のSPIEにおいて、ローレンス・バークレー国立研究所とカリフォルニア大学バークレー校のX線光学センターからの研究者が提示した結果では、基板から多層膜までの複製表面粗さ(replicated surface roughness:RSR)が50pm程度に低いことは、焦点ボケを伴う斑点のような像となる位相誤差を引き起こし、それは22nmと16nmノードを許容できない線端粗さ(LER)を招く。このスペックは現状の能力よりも小さい。参考に、ボーア半径は53pmであり、シリコンウェーハの実効表面粗さは100pmのオーダーである。