義務教育制度が本来想定している入学者であるため、就学通知書が届いた年度であれば無条件で公立学校への新入学が可能である。しかし、前述したように教育委員会は公立学校を年齢主義で運営する傾向が強いため、必ずしも任意の年度に公立学校に新入学することが可能であるわけではない。公立の小学校・中学校は年齢が高いほど新入学を拒否されやすくなり、多くの国立・私立の小学校・中学校・中等教育学校においても同様な傾向は見られる。特別支援学校の小学部・中学部の場合は、これほど厳格な年齢制限があるわけではない。就学通知書で指定された学校にそのまま就学する場合は、何も手続きをしなくても処理される。最も多いのが、学齢に達するのと同時に就学指定校である小学校に新入学し、小学校の卒業直後に就学指定校である中学校に新入学するパターンである。小学校受験や中学受験に合格するなどして、国立小学校や私立小学校に入学する場合は、区域外就学届などを教育委員会に提出する。また、就学通知書とは異なる特別支援学校に入学する場合や、小学校を変更する場合もこれに当たる。これらを入学校の場所に関わらず便宜上「区域外就学」と呼ぶ。なお、制度を逸脱した形の場合は「越境入学」と呼んで区別される傾向がある。
新入学とは、学校の第1学年の初めから入学することである。義務教育諸学校に新入学する場合、年齢や義務教育の対象であるかどうかによって対応が異なる。初等教育の入学校は小学校または小学部であり、前期中等教育の入学校は中学校または中等教育学校または中学部である。
就学指定校が決定されただけでは、就学する学年は決定しない。当然、学齢到達時は小学校・小学部の第1学年に就学することになるし、小学校・小学部卒業時にも通常は中学校・中学部の第1学年に就学することになる。しかし、本人の年齢や学歴によっては、学校の途中の学年からの入学になる場合がある。入学する学年を決定する権限を持つのは校長であるが、教育委員会によっては一律に年齢や学歴を基準に学年を定めていることもある。多くの公立小学校・中学校や教育委員会では、「年齢相当学年」という概念に基づいて学年を決定するが、絶対的なものではなく、場合によってはより低い学年を指定される場合もある。また、日本語能力が不十分な人の場合、学籍上は年齢相当学年にして、実際には下の学年で授業を受ける（通級）という変則的な取り扱いがなされる場合もある。年齢相当学年については「年齢主義と課程主義」の項目を参照。特別支援学校の場合は、これほど年齢によって束縛されていない。
義務教育の対象者が、住所移転により学区が変更になった場合、私立学校などを辞めた場合、就学猶予が解除された場合などには学齢簿の内容が変更になる。また、学齢期の日本在住者が日本国籍を取得した場合、学齢期の日本国籍者が日本に住民登録した場合は新たに学齢簿に追加される。これらの場合には、その都度就学指定校を定めることになる。原則的には、小学校または小学部を卒業していない場合は小学校または小学部が就学指定校となり、小学校または小学部を卒業している場合は中学校または中学部が就学指定校となる。しかし外国の学校の学歴がある場合や、非就学期間が長かった場合など、原則通りにすると年齢の問題が出る場合もあり、現実には状況に応じて決めている。
開発コストを低減するため、大規模な論理機械の設計の大部分は自動化されてきた。そのためのコンピュータソフトウェアをEDAツールと呼ぶ。EDAは多くの場合単純な真理値表のような記述を最適化でき、必要な出力を行う論理ゲート数を縮小したシステムかより小さな参照テーブルを自動的に生成する。そのようなソフトウェアとして最も一般的な例がエスプレッソ・ヒュースリティック・ロジック・ミニママイザーである。大規模なシステムを最適化する最も実用的アルゴリズムは、代数的操作か二分決定図を使い、遺伝的アルゴリズムや焼きなまし法を実験的に使った例もある。コストのかかる開発プロセスを自動化するため、一部のEDAは有限オートマトンの振る舞いを記述した状態表を入力とし、その状態機械の組合わせ回路の真理値表（機能表）を自動生成する。状態表は各状態を並べたテキストの断片であり、さらに状態遷移の条件や出力信号などが書かれている。コンピュータで生成された状態機械の機能表は、Minilogなどのロジック最小化ソフトウェアで最適化するのが一般的である。実際には大規模な回路を部分ごとに設計し、ツールフローを使ってそれらを結合するのが一般的である。ツールフローは一般にスクリプトであり、設計ツールを正しい順序で呼び出すことができる。マイクロプロセッサなどの大規模なシステムのツールフローは数千におよぶコマンド列であり、多数の技術者の作業を連結する役目を果たす。デジタル回路を設計する会社は、ツールフローを書いてデバッグすることが仕事となっている。ツールフローは最終的に詳細なコンピュータファイルまたはファイル群を出力し、そこには回路を物理的にどのように構築するかが記されている。多くの場合、集積回路やプリント基板上でトランジスタや配線をどう配置するかが描かれている。ツールフローの一部は、所定の入力に対するシミュレーション結果を確認することで「デバッグ」される。テストツールはコンピュータファイルに入力と出力を与え、シミュレート動作と期待される動作の間の不一致を強調する。入力データが正しいと信用されたとしても、設計自体の正しさも検証が必要である。一部のツールフローはまず設計を生成することで設計を検証し、次にツールフローのための互換入力データを生成するためにその設計を走査する。走査によって生成されたデータと入力データが一致すれば、ツールフローがエラーを指摘することはない。機能検証データを一般に「テストベクタ」と呼ぶ。機能テストベクタは新たに構築した論理回路を正しくテストするために工場などで保存され使われる。しかし、機能テストパターンは一般的な製造工程での障害を検出しない。製造工程用のテストはATPG（自動テストパターン・ジェネレーション）と呼ばれるソフトウェアツールで設計されることが多い。設計自体もテスト可能なようになされ（次節参照）、網羅率が100%に近くなる。設計が完了し、検証され、テスト可能になったら、さらに製造可能なように処理が必要とされることが多い。最近の集積回路は光の波長よりも構造が細かい。露光マスクの解像度とコントラストを強化するため、干渉縞パターンをマスクに追加するソフトウェアも存在する。