天正13年（1585年）叙爵。天正16年（1588年）12月元服し、山科言経が勅勘を蒙り出奔したことにより当時絶家となっていた山科家を相続、名を教遠と改め、侍従となる。しかし、天正19年（1591年）に四辻家の嫡子であった兄・季満（後の鷲尾隆尚）もまた勅勘を蒙り出奔したため、実家の四辻家に戻り、文禄3年（1594年）に名を季継に改めた。このため、高倉範国の横死により当時絶家となっていた高倉家を相続していた弟の範遠（後の猪熊教利）が代わりに山科家に入って名を教利と改め、高倉家は弟・嗣良が継承し、嗣良の代に家名を藪としている。なお、一連の相続に関しては後に山科言経が復権して教遠・教利の山科家相続の事実を抹殺したこと、加えて教利自身が猪熊事件によって処刑されたことで関係諸家がその事実を憚って彼に関する記録の多くを抹消したこともあり、後世において季継と教利の経歴が混同されて系譜や事典類の中にも季継が高倉家を相続したなどの誤った記載がなされているものがある。慶長14年（1609年）正四位下、慶長17年（1612年）参議、慶長18年（1613年）従三位。元和5年（1619年）、2代将軍・徳川秀忠の五女・和子の入内準備の中、妹・与津子が前年に後水尾天皇の皇子（賀茂宮）を産み、さらに皇女（文智女王）を産んだ事が幕府側に露見したこと（いわゆるおよつ御寮人事件）から、兄である季継は弟の嗣良と共に豊後国に配流となった（およつ御寮人事件）。翌年、大赦により復帰。元和10年（1624年）正二位、寛永3年（1626年）権大納言。寛永16年（1639年）5月20日、薨去。享年59。
コンピュータシステム内部の電磁気的な干渉により、ダイナミックRAM（DRAM）の1ビットが自発的に反転することがある。はじめはチップのパッケージに含まれる不純物から放射されるアルファ粒子が主な原因だと考えられていたが、DRAM チップの単発的なソフトエラーの多くは環境放射線、主に二次宇宙線に含まれる中性子によって1つかそれ以上のメモリセルの内容が変化するか、読み出しまたは書き込み回路が妨害されるためであることが研究で示された。したがって誤り率は標高とともに急速に上昇する。たとえば、標高1,500mでは海面よりも中性子束が3.5倍に増え、10〜12kmの高度（旅客機の巡航高度）では300倍にもなる。 その結果、高度の高い場所で運用される装置には特別な信頼性対策が必要となる。一例として、1997年に打ち上げられた土星探査機・カッシーニは、それぞれ2.5ギガビットの市販のDRAMチップを持つ同型のフライトレコーダーを2つ搭載していた。組み込みの誤り検出訂正機能(EDAC)のおかげで、探査機のエンジニアリングテレメトリは（訂正可能な）ワードあたり1ビットのエラーと（訂正不可能な）ワードあたり2ビットのエラーの数を報告してきた。はじめの2年半の飛行で、探査機は1日に約280回でほぼ一定の1ビットエラーを知らせてきた。しかし1997年11月6日、1日のエラーの数は4倍以上だった。これは GOES 9 衛星が検知した太陽フレアの影響だった。DRAMがどんどん高密度になり、チップ上の部品が微小化すると同時に、動作電圧が低下し続けるため、DRAMチップがそのような放射線の影響をより頻繁に受けるようになることが懸念された。低エネルギーの粒子がメモリセルの状態を変化させられるようになるからである。一方、メモリセルが小さくなれば標的が小さくなるわけであり、またSOIのような技術への移行により、個々のメモリセルの感受性は従来と変わりないか、むしろ低下するかもしれない。最近の研究は、プロセスの形状により、またメモリセルのエラー発生率が上昇するという予測に根拠がなかったことにより、宇宙線によるシングル・イベント・アップセット(SEU、一時的なソフトエラー)が劇的に減少したことを示している。2007〜2009年の研究で、エラーの発生率が10⁻¹⁰ エラー/ビット・時（およそ1ギガバイトのメモリで1時間に1ビットのエラー）から 10⁻¹⁷ エラー/ビット・時（およそ1ギガバイトのメモリで千年に1ビットのエラー）まで7桁にわたってざまざまであることが発表された。グーグルの非常に多くのサーバーを対象にした大規模な研究がSIGMETRICS/Performance’09 conference で発表された。実際に観測されたエラー発生率は小規模な研究よりも数桁高く、1メガビットあたり10億時間ごとに 25,000〜70,000回だった (およそ 2.5〜7 × 10⁻¹¹ エラー/ビット・時、つまり8ギガバイトのRAMで1時間に5ビットのエラー)。毎年8%以上の DIMM がエラーの影響を受けていた。メモリエラーの結果はシステムによって異なる。ECCのないシステムでは、エラーはクラッシュかデータの損失を招く。大規模な工場では、メモリエラーはマシンのクラッシュを起こすもっとも一般的なハードウェア的原因の1つである。メモリエラーはまた、セキュリティの脆弱性の原因にもなる。観測可能な誤動作の原因になったり、計算または保存に使われるデータに影響したりしなければ、メモリエラーの影響を受けないことがある。2010年のシミュレーション研究から、ウェブブラウザに対して、メモリエラーのわずかな一部分のみがデータの損失を引き起こすが、しかし多くのメモリエラーは断続的で相関的なので、メモリエラーの影響は独立なソフトエラーから予期されるよりも大きいことが示された。隣接したメモリセルへの特別に細工したアクセスによる意図しない副作用により、DRAMメモリセルどうしの分離が迂回されうるといくつかの実験は結論づけている。したがって、近年のメモリセル密度の上昇に伴い、DRAMに格納されたデータへのアクセスがメモリセルに電荷の漏れと電気的な相互作用を引き起こし、元のメモリアクセスで指定されていない近傍の行の内容が書き換わる。この効果はロウハンマーとして知られており、コンピュータセキュリティ上いくつかの特権昇格攻撃に使われている。例として、1ビットエラーは、エラーチェックのないシステムでは無視されるだろう。パリティチェックのあるマシンは停止するだろうし、またはECCによって自動的に訂正されるかもしれない。ASCII形式で数字を保持している表計算ソフトが読み込まれているとしよう。"8"の文字(2進数で 0011 1000)が格納されたバイトの最下位ビットが、チップの故障で1に固定されてしまうか、環境放射線や宇宙線によって1に変化してしまうと、表計算ソフトとその保存データが変化する。結果として"8"はこっそりと"9"(2進数で 0011 1001)になってしまう。