マッハ・ツェンダー干渉計
物理学において、マッハ・ツェンダー干渉計（マッハ・ツェンダーかんしょうけい、）とは、1つの光源から分けた2つの平行光の間の位相差を測定する光学機器である。この干渉計は試料によって生じる2つの経路間の位相差を測る際に用いられる。名前は物理学者の（エルンスト・マッハの息子）とに因む。ツェーンダーが1891年に発表し、マッハが1892年に改良した。