走査型近接場エリプソメトリー顕微鏡
走査型近接場エリプソメトリー顕微鏡（そうさがたきんせつばエリプソメトリーけんびきょう、Scanning Near-field Ellipsometric Microscopy : SNEM）は走査型近接場光学顕微鏡の一種。