기가비스 사업보고서 (2025.12)
6. 주요계약 및 연구개발활동

가. 경영상의 주요계약 당사는 공시서류 작성 기준일 회사의 재무상태에 중요한 영향을 미치는 비경상적인 주요계약은 없습니다.

나. 연구개발 활동(1) 연구개발 조직

연구소 조직도2.jpg 연구소 조직도

구분	인원 수	수행 업무

SW개발팀	24명	- AOI, AOR 장비 S/W를 통한 설비 제어
- AOI 검사 Reference Data를 생성하는 GVIS CAM 개발
- SPEC에 맞게 검사를 진행할 수 있는 IPU Logic 개발

자동화개발팀	11명	- AOI, VRS, AOR 기구 설계 및 설비 제작
- AOI, AOR Automation 장비 개발 및 PLC 프로그램 개발

선행개발팀	11명	- AOI 검사 광학계 및 AF 기술 개발
- AOI/VRS 리뷰 광학계 및 AF 기술 개발
- 3D 측정 모듈 개발

당사는 2015년 2월 15일 기업부설연구소를 설립하여 하드웨어 기술, 소프트웨어 기술 및 AOI 차세대 기술을 담당하는 조직을 독립적으로 운영하여 전체 연구개발 활동을 체계화하였습니다. 당사 연구소는 석박사급 인력을 다수 보유하는 등 우수한 인재로 구성되어 있으며, 현재까지 20여개 이상의 특허를 등록하기도 하였습니다. 현재는 차세대 AOI, AOR 장비의 개발을 통하여 광학 검사 기술 선두 지위를 굳건히 하고자 하며, 기술력 확보 및 신제품 출시를 위하여 노력하고 있습니다. (2) 연구개발비용 내역

(단위: 백만원, %)

과목	2025년(제22기)	2024년(제21기)	2023년(제20기)

연구개발비	5,938	6,037	4,485

(연구개발비/매출액 비율)	11.3%	23.1%	4.9%

주) 상기 내역은 연결재무제표 기준 입니다.

(3) 연구개발 실적(가) 정부 과제(단위 : 천원)

연구과제명	주관부서	연구기간	정부출연금	관련제품	비고

CFRP/ 고속검사 / 후가공 복합시스템 개발	한국생산기술연구원
(KITECH)	15.06 ~ 20.08	2,500,000	3D 표면, 홀 검사	완료

차세대 반도체 범프 측정/검사 모듈 개발	경기도경제과학진흥원	20.04 ~ 20.12	74,597	3D 측정 모듈(Gv3D)	완료

(나) 사내 과제[완료 과제]

연구과제명	관련 제품	비고

Lift Conveyor Loading 장치	AOI, AOR Auto Line	-

Clean Type Line Conveyor 장치	AOI, AOR Auto Line	-

반도체 기판 반전 장치	AOI, AOR Auto Line	-

PCB 기판 Turn 장치	AOI, AOR Auto Line	-

Tray 방향전환 Conveyor 장치	AOI, AOR Auto Line	-

PCB 기판 수직 Turn 취출 장치	AOI, AOR Auto Line	-

Tray Lift Loading 장치	AOI, AOR Auto Line	-

PCB 기판 Handler 장치	AOI, AOR Auto Line	-

Laser를 이용한 UV Illumination System	AOI, VRS, AOR	-

PCB Auto Clamping 장치	AOI, VRS, AOR	-

고정밀 Motion Stage	AOI	-

Roll Type PCB 사행 방지 EPC System 구현	Roll To Roll AOI	-

G2R(GigaVis Geometric Reference)	AOI	-

실시간 Image 검사 Module(GRB, IPU Module 화)	AOR, GiDC, VRS	-

AOI Binning Mode	AOI	-

Gvis Trace Analyzer	AOI	-

GiDC(GigaVis IntelligentDefect Classification)	AOI	-

ECS 개발	AOI, AOR Auto Line	-

EtherCAT 모션 플랫폼 전환	AOI, VRS, AOR	-

실시간 이미지 디코딩 시스템 개발	GiDS	-

DTS 시스템 개선	DTS	-

불량 전송 시스템 개발	AOI, VMS, VRS, AOR	-

RVMS 개발	AOR	-

SSR 3D RMS	AOR	-

고해상도 AOI 장비의 검사AF 기술 개발	Ultimate AOI	-

고해상도 AOI 장비의 검사 조명 개발	Ultimate AOI	-

고해상도 AOI 및 VRS 장비의 review광학계 개발	Ultimate AOI	-

고해상도 AOI 및 VRS 장비의 review광확계용 고속 AF 기술 개발	Ultimate AOI	-

3D 측정 모듈 개발(Gv3D)	AOR	-

Focus stacking 기술 개발	Ultimate AOIDV-S/HR Ultimate	-

양면검사 기술	AOI, VRS, AOR	-

고해상도(2/2) Pt AOI	AOI	-

3D 모듈 측정 성능 개선	AOR	-

고해상도(가변해상도)광학계 개발	AOI	-

UV 검사로직개발	UV AOI	-

AOI 검사 영상 화질 개선	AOI	-

AOI 검사 조명 밝기 개선	Ultimate AOI	-

Color Pt AOI	AOI	-

ADC(Auto Defect Classification)	AOI, GiDC	-

2In1 Pt+UV 동시 AOI	AOI	-

고해상도 AOI 장비의 Light Changer 개발	Nano AOI	-

Via Hole 검사	AOI	-

리뷰 광학계용 고속 AF 기술 개선	AOI	-

Cu Pillar 검사 솔루션 개발	AOI	-

Wally Via 검사 기능 개발	AOI	-

GDSII to ODB 변환 기능 개발	AOI	-

2파장 레이저 소스 개발	AOI	-

고해상도 Review 광학계 Light Turret 개발	AOI	-

AOI In Line용 EFEM 개발	AOI	-

SSR In Line용 EFEM 개발	AOR	-

[진행 및 예정 과제]

연구기술명	관련제품	비고

차세대 가공기술 개발(2/2um)	AOR	-

3D 검사 및 가공기술	AOR	-

고속이미지 획득기술 개선	VRS	-

Bump 3D AOI	AOI	-

2D/3D 측정모듈	AOI, VRS 및 기타	-

G2R 차세대 광학검사 SW 개발	AOI	-

Via 3D AOI	AOI	-

CAM Data Segmentation 개발	GVIS CAM 및 AOI	Pattern 특성별 검사

TGV(Through Glass Via) 검사 솔루션 개발	AOI	-

고해상도 AOI 장비의 형광 조명 개발	AOI	-

Via Hole AOI (Color + UV)	AOI	-

Hi Resolution Motion 개발	AOR	-

CAM Data Cleanup 기능 개발	GVIS CAM	-

고해상도 PLP AOI 개발	AOI	-

고해상도 WLP AOI 개발	AOI	-

Gvis DV(Defect Viewer) 기능 개선	AOI	-

검사 Assistant 기능 개발	AOI	-

GDAI(GigaVis Defect Artificial Intelligence) 개발	GiDC	-

EFEM용 AOI 개발	AOI	-

EFEM용 SSR 개발	AOR	-