프로이천 분기보고서 (2023.09)
7. 기타 참고사항

가. 경쟁 현황

디스플레이 검사 장치는 FPD(LCD, OLED) 패널의 검사 공정시 필수적으로 요구되는 장치입니다. 타 디스플레이 검사 장치 제조 업체들은 자체 Pin 설계 기술의 부재로 고객사의 각기 다른 패널 사양에 대하여 맞춤형 검사가 불가능하기에 검사한 패널에 스크레치가 발생하여 고객사의 불만이 높고, 외주업체를 통해 Pin 설계가 이루어지기 때문에 가격 경쟁력이 상대적으로 낮은 것으로 분석됩니다.

당사는 세계 최초의 D-C 직접접촉 방식인 DC(Direct Contact)*타입을 개발에 성공하여 스크래치 발생 문제를 해결하였고, Contactor 및 Pin의 고객 제품별 맞춤 설계를 통해 당사 제품 단가를 획기적으로 낮추며 시장에서의 인지도를 향상시켰습니다. 또한, 다양한 신기술이 적용된 Contactor 등을 개발하여 시장의 점유율을 확대해왔습니다. 현재는 LCD 및 OLED, LED(Micro LED, Mini LED) 등의 제품군까지 적용 가능한 Contactor 개발과 전체 패널 생산공정 중 검사공정에 들어가는 검사제품 개발 및 관련 시장 진입으로 FPD 패널 생산에 없어서는 않되는 Total solution을 제공하는 업체가 되었습니다.

* DC컨텍의 경우 기존 블레이드 타입 대비 전기적 접점 감소로 노이즈가 개선되고 기존 금속성 제질에서 Film 기반으로 컨텍터가 바뀌면서 스크래치가 없어짐

현재, 당사와 같이 모든 디스플레이 검사 공정에 납품을 하며, 다양한 종류의 패널에 대응이 가능한 제품군을 개발 및 납품하는 회사는 당사가 유일하며, 지속적인 기술 발전을 통한 향후에도 독보적인 경쟁 우위를 지속적으로 유지할 것으로 전망합니다.

기존 캔틸레버 프로브카드 사업은 크게 메모리 반도체(NAND Flash/DRAM) Test 시장과 비메모리 반도체(DDI/CIS) Test 시장으로 이루어져 있습니다. 비메모리 반도체(DDI/CIS) 시장도 최근 급성장하면서 비메모리 반도체 검사 시장도 동반 확대되었습니다. 이러한 흐름에 힘입어, 당사가 주력 공급하는 캔틸레버 프로브카드는 비메모리 반도체 Test 시장에서 높은 점유율을 기록하고 있으며, DDI 제조 업체인 LX세미콘, 매그나칩에 캔틸레버 프로브카드를 공급하고 있으며, 이를 통해 최종 고객사인 삼성전자, 하이닉스 등에도 납품되고 있습니다.

메모리 반도체 Test 시장은 초기 캔틸레버 프로브카드를 사용하였으나, 현재는 캔틸레버 프로브카드를 MEMS 프로브카드가 대체하고 있습니다. 그러나, 비메모리 반도체 중 DDI칩 검사 시장은 미세 Fine pitch 대응 이슈로 MEMS 프로브카드 또는 수직형(Vertical) 프로브카드로의 대체가 불가하여, 당사가 주력 공급하는 캔틸레버 프로브카드만 사용되고 있습니다. 당 캔틸레버 프로브카드 제조 기술은 기술적 진입장벽이 높고 수작업 의존도가 높아 시장 진입이 어렵습니다.

최근 몇몇 경쟁업체 들이 기술력을 높여 진입장벽을 통과한 것은 사실이나 아직 미세 Fine pitch 대응 기술을 빠르게 제품화시키는데 한계를 나타내고 있습니다. 당사 제품은 품질이 일정하며, 제품 변화 시 신속하게 신제품에 맞출 수 있는 장점을 앞세워 경쟁사와의 경쟁에서도 밀리지 않고 점유율을 점진적으로 확대해 나가고 있습니다.

나. 시장점유율

최근 3년간 디스플레이 검사 장치의 시장 점유율을 살펴보면, 매년 시장 점유율을 확대해나가며 국내 디스플레이 검사 장치 시장에서 점유율 1위를 확고히 지키고 있는 것으로 확인됩니다 당사는 고객사의 요구에 맞추어 LCD부터 OLED 제품군까지 고객별 맞춤화 검사 장치를 판매하고 있습니다. 디스플레이 특성에 맞게 맞춤화된 제품으로 디스플레이 패널 손상을 최소화하여 디스플레이 패널 검사 시 효율적인 검사를 가능하게 합니다. 이와 같이 고객사 맞춤형 제품을 생산하려면 다양한 Contactor의 설계 및 제작 기술력을 보유하고 있어야 합니다. 당사는 DC, MEMS BLADE, FPC BUMP타입 등 모든 제품군을 보유하고 있기에 디스플레이 검사 장치 시장에서 독보적 지위를 가지고 있습니다. 현재 캔틸레버 프로브카드는 비메모리 반도체Test 시장에 국한되어 고객사에 공급되고 있으며, 타 제품군으로 대체가 불가한 가장 큰 이유는 미세Fine pitch 대응에 있습니다. 당사는 미세Fine pitch 대응에 필요한 설계know how를 기반으로 시장에 점유율을 독보적으로 확보하고, 고객사에 수준 높은 캔틸레버 프로브카드를 공급하고 있습니다. 하기 표와 같이 현 시점에 Min. probe pitch 11㎛ 대응은 당사가 세계 최고 수준의 기술을 보유하고 있다 할 수 있습니다. 다. 신규사업의 내용 및 전망

당사에서 신규사업으로 추진하고 있는 2차전지 각형 Gripper의 경우 2021년 9월부터 각형 Gripper 제조를 시작하여 2022년 이후부터는 본격적인 양산이 계획되어 있으며, 향후 해당 제품의 매출이 크게 신장될 수 있을 것으로 기대하고 있습니다. 2021년 이후에는 각형 Gripper 제작의 기술력을 파우치형 및 원통형에도 접목하여 2차전지 각형 Gripper 시장에서 지속적인 시장 점유율을 상승시킬것으로 예상됩니다. 추가적으로 2차전지 시장확대에 따라 2차전지 생산공정중 다양한 검사공정에 Probe가 필요한 만큼 검사 ITEM의 다변화를 통해서 당사의 2차전지 프로브(Gripper)시장의 매출도 지속적으로 상승할 것으로 보고 있습니다. 2021년 당사는 주력으로 공급하고 있는 캔티레버 프로브카드의 안정적인 양산 공급과 현재 개발중인 CIS(MEMS) 프로브카드의 개발을 통한 시장 진입을 통하여 시장 점유율 확대를 위한 노력을 지속적으로 계획 중에 있습니다.

또한, 당사가 개발중인 CIS(MEMS) 프로브카드와 SOC(MEMS) 프로브카드는 삼성전자에서 전략적으로 비메모리 시장에 대한 투자가 본격화 되고있는 시점에 당사에서는 비메모리 반도체시장의 주력 품목인 CIS(Cmos Image Sensor) 시장과 SOC(System on Chip) 시장을 집중 공략하여, CIS 시장/SOC 시장 진입과 시장점유율 확대를 모색하고 있습니다. 당사의 개발 진행중인 CIS(MEMS) 프로브카드 / SOC(MEMS) 프로브카드는 기존 핵심부품인 MLC(Multi Layer Ceramic)를 Ceramic Bar형태로 대체하여 원가 경쟁력을 높인 고부가가치 제품으로 당사의 예상대로 시장 진입 및 본격 공급이 이루어질 경우 당사 매출 및 이익 신장에 크게 기여할 것으로 예상됩니다.

라. 경기변동과의 관계디스플레이 검사 장치 산업의 경우 전량 주문생산으로 이루어집니다. 고객사는 디스플레이 검사 장치의 회로 설계와 관련 규격, 수량, 제작 방식 등의 정보를 사전에 제시하고, 디스플레이 검사 장치 업체는 고객이 요구하는 사양으로 제품을 설계하여 양산라인에 투입할 수 있도록 제품을 제조하고 있습니다.

디스플레이 검사 장치 산업은 전방산업인 디스플레이 산업의 변동성에 따라 움직입니다. 디스플레이 업계는 경기변동에 민감하게 반응하는 특성을 갖고 있으며, 패널업체들의 설비 투자 확대 및 가동률 조정으로 수요와 공급간의 불균형이 반복되고 있습니다. 또한, 거시경제 요인 등 경기변동에 따라 공급이 수요를 초과하는 시기에는 패널 가격이 하락할 수 있으며, 반대로 수요 증가 대비 공급이 부족할 경우에는 패널 가격이 상승하여 당사의 제품 생산에도 일부 영향을 끼칠 수 있습니다. 다만 당사가 생산하고 있는 디스플레이 검사장치의 경우 검사 시 필수 소요되는 소모성 부품으로 디스플레이 패널 고사양화로 부품의 수요는 지속적으로 증가할 것으로 보여집니다. 당사가 생산하고 있는 디스플레이용 DDI칩 검사 프로브카드의 경우 디스플레이 패널 구동 시 불량 검사 확인을 위하여 사용되기 때문에 전방산업인 디스플레이 산업의 패널 생산량이 증가함에 따라 프로브카드의 사용량도 늘어나는 특징이 있습니다. 전방산업인 디스플레이 산업은 현재 디스플레이 시장의 양대산맥인 삼성디스플레이와 LG디스플레이가 양분하는 추세이기 때문에 양사의 디스플레이 생산 계획 및 신규 제품의 라인업 등에 따라 디스플레이용 반도체 검사 장치인 DDI(Display Drive IC)의 수요도 영향을 받고 있습니다.

마. 계절적 요인디스플레이 검사 장치의 경우 글로벌 디스플레이 산업의 선두주자인 삼성디스플레이와 LG디스플레이를 최종 고객사로서 제품을 공급하고 있기 떄문에 최종 고객사의 주문량에 따라 당사의 생산량이 직결되는 구조를 가지고 있으며, TV, 모바일, 노트북 등의 가전제품 트렌드와 상관관계를 가지고 있으며, 계절성은 미미한 것으로 판단됩니다. 당사가 생산하고 있는 디스플레이용 DDI칩 검사 프로브카드의 경우 가전제품(스마트폰, TV 등) 신규 출시에 따라 프로브카드 모델이 변화하는 특성을 가지고 있습니다. 이는 디스플레이용 DDI 구동 반도체의 경우 디스플레이 패널이 적용되는 TV, 모바일, IT 제품의 변화에 따라 검사 시 contact하는 pad의 위치가 달라지기 때문입니다.

당사가 생산하는 반도체 검사장치의 경우 스테코, 매그나칩반도체 등과 같이 삼성디스플레이(삼성전자 디스플레이 패널 공급)의 검사장비/DDIC 공급 관련 1차 협력사에 최종적으로 제품이 납품되고 있기 때문에 삼성디스플레이의 제품의 End User인 삼성전자에서 출시되는 모바일, TV 등의 가전제품 출시 시기에 매출의 직·간접적인 영향을 받는 것으로 볼 수 있습니다. 다만, 삼성전자에서 출시되는 가전제품의 경우 제품군별로 다양하게 출시되고 있기 때문에 프로이천에서 영위하고 있는 프로브카드 사업부문에서 영업에 대한 계절적 요인은 미미한 편입니다. 하기 표는 2015년도부터 삼성전자 신규 가전제품에 공급되었던 당사의 캔틸레버 프로브카드 정보입니다.

바. 제품의 라이프사이클디스플레이 검사 장치는 디스플레이 패널과 검사 장치인 프로브유닛을 contact한 후 전기적 신호를 가하여 양ㆍ불량 여부를 판단하며 제품당 적게는 4만회에서 많게는 5만회까지 사용이 가능합니다. 다만, 고객사의 요청 및 디스플레이 제조 공정의 특성에 따라 제품마다 다른 형태로 생산되는 점과 생산 현장 상황에 의해 제품의 수명이 상이하기 때문에 일률적으로 제품의 라이프사이클을 정의하기엔 제한이 있으나, 통상적 6개월 정도 사용 가능한 것으로 통계됩니다.

또한, 디스플레이 검사 장치의 특성상 디스플레이 패널이 사용되는 모바일, TV, 노트북 등의 신규 모델 출시 시 검사 패드 위치와 회로 설계의 변화에 따라 제품을 공용화를 할 수 없습니다. 따라서, 디스플레이 검사장치의 라이프 사이클은 고객사의 모바일, TV 신제품 출시 주기와 비슷하다 할 수 있습니다.

당사가 제조하는 디스플레이용 DDI칩 검사 프로브카드는 디스플레이 패널이 적용되는 모바일, TV, 노트북 등의 제품 모델에 따라 테스트용 프로브카드 규격 등이 변화하기 때문에 제품의 라이프사이클은 고객사의 신규 모델 출시 사이클과 유사합니다. 따라서 고객사의 모델 변화가 회사 매출의 주요 변수로 작용 하지만 당사는 제품 개발, 생산에 오랜 노하우를 통한 다양한 성능의 제품 제작 방법과 납기 준수를 위한 생산능력을 보유하고 있어 반도체 모델 변화에 따른 신속한 대응 능력을 갖추고 있습니다.

사. 시장 현황1) 시장의 특성당사가 목표로 하는 시장은 디스플레이 검사 장치와 디스플레이용 DDI칩 검사 장치 시장입니다. 당사의 주요 목표시장은 디스플레이 제조업체의 생산 패널 크기 및 다종의 패널 생산량에 밀접한 연관이 있으며, 디스플레이 제조업체의 디스플레이 패널 양산 규모가 커질수록 검사 장치의 시장 매출도 함께 성장하는 구조입니다. 디스플레이 패널 및 디스플레이용 DDI칩 검사 장치의 경우, 고객사의 초도 모델 개발 시 개발용 검사 제품에 납품되는 검사 장치부터 양산제품에 적용되는 검사제품, 그리고 양산시 사용되면서 소모성 파트로서 주기적인 Repair를 실시하여 재생산되는 순환 제품의 특징을 지니고 있습니다. 또한, 장치 산업의 특성상 장비산업대비 경기 흐름에 따른 민감성이 낮아 안정적인 매출 발생을 통한 지속 성장이 가능한 시장입니다.

당사의 주요 제품인 디스플레이 패널 검사 장치는 패널 크기에 따른 중소형과 대형 패널 검사용으로 나누어지며, 중소형 패널 검사 장치는 주로 모바일, IT, 워치 검사에 활용되며 대형 패널 검사 장치는 TV 시장의 수요 변동과 밀접한 관계가 있습니다. 최근 모바일 시장은 첨단 기기 제품 출시 주기가 짧아짐에 따라 제품의 기술적 요소 및 디자인적 요소의 중요성이 증대되고 있으며, 개인의 선호도에 맞는 기기 구매에 따른 제품 교체주기가 짧아지고 있습니다.

중소형 디스플레이 패널이 적용되는 모바일, IT, 워치 등의 디스플레이 패널 검사를 위한 당사의 검사 장치는 최종 구매처인 삼성전자 등의 제품 시장점유율에 영향을 받고 있는 바, 삼성전자의 새로운 모바일의 플래그십이 공개되는 일정에 따라 매출 변동성을 보이고 있습니다. 또한, TV, PC 등 대형 디스플레이 패널 검사를 위한 당사의 검사 장치는 최종 구매처인 LG전자·LG디스플레이 등의 제품 수요 변동과 밀접한 관계가 있습니다.

디스플레이용DDI칩 검사 장치 시장은 전방산업인 디스플레이 시장 경기변동에 영향을 받습니다. 디스플레이용DDI칩은 모바일, 태블릿, PC 등 다양한 전자 기기에 활용되는 바 있어, 디스플레이용 DDI칩 판매량은 전자 기기의 수요와 밀접한 상관관계가 있으며, 당사의 디스플레이용DDI 반도체 검사 장치인 프로브카드 역시 위와 같은 구조적인 영향을 받고 있습니다.

2) 시장규모 및 전망디스플레이 산업은 높은 기술력이 요구되는 기술집약형·고부가가치 산업으로 지속적인 R 투자를 통한 원천 기술의 확보가 매우 중요하며 규모의 경제를 통하여 제품의 대량 생산이 필수적인 산업입니다. 디스플레이 산업은 스마트폰, 태블릿, PC, TV 등 일상생활에서 사용됨과 동시에 군사용, 의료용 등 다양한 산업에서 사용되고 있습니다. 일반적으로 디스플레이 산업은 중소형 디스플레이 패널이 적용되는 스마트폰, 태블릿, 워치 등 제품과 대형 디스플레이 패널이 적용되는 TV, PC 등 제품의 소비자 선호도 및 수요량 변화에 따라 경기 변동이 이루어지고 있습니다. 또한, 향후 OLED 시장의 확대 및 패널 다양화, 대형화 등을 통해 OLED 기술을 확장될 수 있는 잠재력이 크기에 타 산업 및 응용 분야는 더욱 넓어질 것으로 전망됩니다.

현 디스플레이 패널 시장은 크게 LCD와 OLED로 구분됩니다. 한국디스플레이산업협회에 따르면, 글로벌 디스플레이 시장 규모는 '17-19년 LCD 시장의 축소와 OLED 시장의 더딘 성장으로 감소세였으나, 2022년부터 디스플레이 시장의 빠른 성장으로 2024년 약 1,312억 달러의 시장 규모로 성장할 것으로 예상하고 있습니다.

2022년 기준 글로벌 전체 LCD 시장은 797억 달러의 시장 규모를 형성하였으나, LCD에서 OLED로의 전환이 가속화되며 23년까지 760억 달러의 시장 규모로 소폭 감소될 것으로 전망하고 있으나 2027년도까지는 840억 달러로 증가할 것으로 전망됩니다. OLED는 LCD 대비 자유롭고 단순한 구조를 통해, 다양한 유형의 디스플레이 구현이 가능하며, 기존 LCD의 30%가 안되는 두께로 경량박형의 구현이 가능합니다. 또한 OLED는 스스로 발광하는 특징으로 밝기 제어가 가능하여 높은 색 대비 훨씬 더 정확한 색 표현이 가능합니다. OLED의 폼펙터의 자유롭고 다양한 변화 가능성과 고명암비/고휘도, 뛰어난 색재현성 등을 통해, 기존 TV와 스마트폰으로 한정되어 있는 적용 분야가 자동차 대시보드, 디스플레이, 퍼블릭 디스플레이 등으로 확장이 가능할 것으로 예상됩니다. 이에 새로운 분야로의 OLED 패널의 침투 가능성이 증대되어 패널 출하량도 함께 증가할 것으로 전망됩니다. 최근 전기차의 대표 브랜드들의 차량 모델 내 차량용 대시보드 디스플레이의 장착이 활발해지고 있습니다. 이에 전기차뿐만 아니라 기존의 내연기관 차들의 장착될 중대형의 차량용 대시보드 디스플레이 패널(CID)의 적용이 활발해지고 있습니다.

아. 지적재산권 보유 현황

No	구분	내용	권리자	출원일/ 등록일	춸원번호/ 등록번호	적용제품

1	특허	프로브 블록	당사	2008.05.30/
2010.01.05	10-2008-0050669/ 10-0936500	BK

2	특허	프로브 핀 제조방법	당사	2009.05.14/
2011.10.10	10-2009-0041925/ 10-1073829	PB,BK,ICP

3	특허	반도체칩패키지 검사용 소켓	당사	2009.05.27/
2011.09.30	10-2009-0046304/ 10-1071371	PC

4	특허	보드 커넥터	당사	2009.07.02/
2012.12.26	10-2009-0060027/ 10-1217650	PC

5	특허	패널 테스트를 위한 프로브 유닛	당사	2009.10.14/
2010.07.16	10-2009-0097521/ 10-0972049	PB,BK

6	특허	필름형 패키지를 테스트하기 위한 프로브 카드	당사	2009.12.08/
2010.12.15	10-2009-0120905/ 10-1003078	PC

7	특허	웨이퍼 솔더 범프용 프로브 장치	당사	2009.12.15/
2012.01.16	10-2009-0124547/ 10-1108479	PC

8	특허	패널 테스트를 위한 프로브 유닛	당사	2010.02.03/
2011.04.07	10-2009-0097521/ 10-1029245	BK

9	특허	패널 테스트를 위한 프로브 유닛	당사	2010.02.03/
2011.04.07	10-2010-0009800/ 10-2010-0102036	BK

10	특허	액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법	당사	2010.04.09/
2011.11.25	10-2010-0032880/ 10-1088857	BK

11	특허	엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 및 이를 갖는 프로브 유닛, 엘씨디 패널 검사용 프로브 시트 제조 방법	당사	2010.04.14/
2012.02.03	10-2010-0034123/ 10-1114824	BK

12	특허	프로브 핀 이를 갖는 핀 보드	당사	2010.07.28/
2012.05.25	10-2010-0072952/ 10-1152213	PB

13	특허	액정패널 테스트를 위한 프로브 유닛	당사	2010.08.18/
2011.06.16	10-2010-0080004/ 10-1043818	BK

14	특허	엘이디 테스트 시스템 및 이의 테스트 방법	당사	2010.09.20/
2012.10.10	10-2010-0092663/ 10-1191856	BK

15	특허	액정 패널 검사용 필름, 액정 패널 검사 장치 및 액정 패널 검사 장치의 제조 방법	당사	2010.10.25/
2013.04.12	10-2010-0103869/ 10-1256642	BK

16	특허	필름 피치 조절 지그 및 이를 갖는 필름 접합 장치, 이를 사용한 필름 피치 조절 방법	당사	2010.12.09/
2012.08.13	10-2010-0125868/ 10-1175070	BK

17	특허	패널 테스트용 필름 유닛	당사	2011.06.14/
2013.04.10	10-2011-0057556/ 10-1255097	BK

18	특허	패널 테스트를 위한 프로브 블록	당사	2011.06.14/
2012.11.29	10-2011-0057571/ 10-1208337	BK

19	특허	반도체칩패키지 검사용 소켓	당사	2011.07.07/
2012.01.16	10-2011-0067514/ 10-1108481	PC

20	특허	필름의 돌기 형성 방법	당사	2011.12.26/
2013.03.07	10-2011-0142154/ 10-1243729	BK

21	특허	프로브 블록	당사	2012.01.17/
2013.09.16	10-2011-0006518(원)/ 10-1241804(원)	BK

22	특허	프로브 블록	당사	2012.01.17/
2013.03.05	10-2012-0005093(우선권)/ 10-2012-0005093(우선권)	BK

23	특허	필름 타입 핀 보드	당사	2012.02.07/
2012.08.13	10-2012-0012415/ 10-1175067	PB

24	특허	필름타입 프로브 카드	당사	2012.04.25/
2012.10.04	10-2012-0043176/ 10-1189649	PC

25	특허	니들 타입 프로브 핀 및 니들 타입 핀 보드	당사	2012.09.13/
2013.02.14	10-2012-0101675/ 10-1235050	PB

26	특허	도전성 물체들 간의 전기적 연결을 위한 커넥팅 장치 및 방법	당사	2012.09.28/
2013.02.14	10-2012-0109418/ 10-1235079	PC

27	특허	수직형 필름 타입 핀 보드	당사	2012.10.02/
2013.05.29	10-2012-0109623/ 10-1270960	PB

28	특허	피치 컨버터용 보드	당사	2012.10.02/
2013.01.25	10-2012-0109758/ 10-1228325	PB

29	특허	니들 타입 프로브 핀 및 니들 타입 핀 보드	당사	2012.10.15/
2013.05.10	10-2012-0114354/ 10-1265049	PB

30	특허	프로브 블록 및 이를 갖는 패널 테스트 장치	당사	2012.10.25/
2013.04.10	10-2012-0119049/ 10-1255111	PB

31	특허	완충부재를 구비한 프로브 블록의 제조방법	당사	2012.10.31/
2013.04.10	10-2012-0122389/ 10-1255113	PB

32	특허	필름타입 프로브 카드	당사	2012.11.08/
2013.06.03	10-2012-0126057/ 10-1272493	PC

33	특허	필름 위치 설정용 기준 라인을 갖는 글라스 블록 및 이를 갖는 필름 피치 조절 지그, 이를 갖는 필름 접합 장치, 이를 이용한 필름 피치 조절 방법	당사	2012.11.08/
2013.04.10	10-2012-0126058/ 10-1255108	BK

34	특허	필름타입 프로브 유닛	당사	2012.12.05/
2013.02.14	10-2012-0140375/ 10-1235076	BK

35	특허	수직형 프로브 카드 및 그 제조방법	당사	2013.01.08/
2013.04.10	10-2013-0002128/ 10-1255110	PC

36	특허	필름 타입 핀 보드	당사	2013.01.30/
2013.04.10	10-2013-0010519/ 10-1255095	PB

37	특허	분리형 필름타입 프로브 블록	당사	2013.01.30/
2013.04.10	10-2013-0010518/ 10-1255094	BK

38	특허	액정 패널 검사용 필름, 액정 패널 검사 장치 및 액정 패널 검사 장치의 제조 방법	당사	2013.03.11/
2013.05.13	10-2013-0025682(분할)/ 10-1265570	BK

39	특허	액정 패널 검사용 필름, 액정 패널 검사 장치 및 액정 패널 검사 장치의 제조 방법	당사	2013.03.25/
2013.04.22	10-2013-0031724/ 10-1258512	BK

40	특허	액정 패널 검사용 필름, 액정 패널 검사 장치 및 액정 패널 검사 장치의 제조 방법	당사	2013.03.25/
2013.05.07	10-2013-0031723/ 10-1263788	BK

41	특허	솔더볼 프로빙용 프로브 핀	당사	2013.05.02/
2013.08.21	10-2013-0049426/ 10-1300473	BK,PB,ICP

42	특허	필름타입 프로브 카드	당사	2013.06.25/
2013.11.19	10-2013-0072919/ 10-1332588	PC

43	특허	필름타입 프로브 카드	당사	2013.07.17/
2014.03.26	10-2013-0084095/ 10-1380162	PC

44	특허	니들 타입 프로브 핀 및 이를 포함하는 니들 타입 프로브 유닛, 니들 타입 핀 보드	당사	2013.07.17/
2014.03.27	10-2013-0084094/ 10-1380618	PB

45	특허	엘씨디 패널 테스트 검사용 테스트 니들 및 이를 갖는 프로브 블록, 테스트 니들의 제조 방법	당사	2013.08.12/
2014.02.10	10-2013-0095274/ 10-1363485	PB

46	특허	패널 테스트를 위한 프로브 블록 및 이에 사용되는 탄성부재	당사	2014.03.17/
2014.07.01	10-2014-0031077/ 10-1416161	PB

47	특허	웨이퍼를 테스트하는 프로브 카드 및 그것의 인쇄회로기판	당사	2014.07.09/
2014.12.31	10-2014-0086089/ 10-1480129	PC, PCB

48	특허	위치 제어 시스템 및 방법	당사	2014.12.31/
2016.08.11	10-2014-0194998/ 10-1649424	PC

49	특허	프로브 블록	당사	2015.06.30/
2015.11.18	10-2015-0093524/ 10-1571342	BK

50	특허	액정 표시 패널 검사용 프로브 필름	당사	2016.01.28/
2017.02.01	10-2016-0010787/ 10-1703799	BK,PB

51	특허	니들 타입 핀 보드	당사	2016.02.03/
2016.10.31	10-2016-0013668/ 10-1672826	PB

52	특허	니들 타입 핀 보드	당사	2016.02.29/
2016.09.01	10-2016-0024470/ 10-1655262	PB

53	특허	디스플레이 패널 검사용 지그	당사	2016.03.02/
2016.10.04	10-2016-0025226/ 10-1664336	BK

54	특허	패널 테스트용 프로브 블록	당사	2016.03.02/
2016.09.01	10-2016-0025222/ 10-1655248	BK

55	특허	프로브 블록의 지지기구를 구비한 프로브장치	당사	2016.04.05/
2016.12.02	10-2016-0041799/ 10-1684449	BK

56	특허	액정 표시 패널 검사용 프로브 필름	당사	2016.04.07/
2017.10.11	10-2016-0042652(분할)/ 10-1786773	BK,PB

57	특허	패널 테스트용 필름	당사	2016.07.22/
2017.10.11	10-2016-0093363/ 10-1786782	BK, PB

58	특허	프로브 카드	당사	2016.08.04/
2016.10.20	10-2016-0099386/ 10-1669591	PC

59	특허	패널 테스트용 프로브 블록	당사	2016.09.26/
2017.03.03	10-2016-0122835/ 10-1714486	BK

60	특허	프로브 장치	당사	2016.10.12/
2017.06.01	10-2016-0131966/ 10-1744754	BK

61	특허	패널 테스트용 프로브 블록	당사	2017.02.16/
2017.05.08	10-2017-0020919/ 10-1735368	BK

62	특허	패널 테스트용 프로브 블록	당사	2017.02.16/
2017.05.18	10-2017-0020918/ 10-1739349	BK

63	특허	디스플레이 패널의 에이징 테스트를 위한 프로브 블록	당사	2017.08.14/
2017.11.02	10-2017-0102833/ 10-1795615	BK

64	특허	패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름	당사	2018.03.30/
2018.11.07	10-2018-0037594/ 10-1918162	BK

65	특허	핀 보드	당사	2018.05.02/
2018.09.03	10-2018-0050466/ 10-1896873	PB

66	특허	패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름	당사	2018.06.04/
2018.11.23	10-2018-0064059/ 10-1923594	PB

67	특허	핀 보드 조립체	당사	2018.06.19/
2018.11.23	10-2018-0069950/ 10-1923587	PB

68	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2018.07.30/
2019.03.19	10-2018-0088503/ 10-1961691	PB

69	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2018.08.03/
2019.03.19	10-2018-0090709/ 10-1961692	PB

70	특허	핀 보드 조립체	당사	2019.03.25/
2019.07.22	10-2019-0033886/ 10-2004441	PB

71	특허	핀 보드 조립체	당사	2019.03.29/
2019.10.08	10-2019-0037373/ 10-2032290	PB

72	특허	패널 테스트를 위한 프로브 핀의 제조 방법	당사	2019.04.08/
2019.08.01	10-2019-0041072/ 10-2008463	PB,BK,ICP

73	특허	패널 검사용 프로브 블록에 장착되는 프로브 필름	당사	2019.04.08/
2019.08.01	10-2019-0041071/ 10-2008462	PB,BK

74	특허	핀 타입 프로브 장치	당사	2019.07.24/
2020.04.02	10-2019-0089347/ 10-2098650	PB,BK,ICP

75	특허	필름 타입 프로브 장치	당사	2019.07.25/
2020.04.02	10-2019-0090018/ 10-2098651	PB,BK,ICP

76	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2019.08.07/
2020.04.02	10-2019-0096323/ 10-2098652	PB,BK

77	특허	핀 보드	당사	2019.08.22/
2020.03.06	10-2019-0103164/ 10-2088204	PB

78	특허	디스플레이 패널 검사용 프로브 핀	당사	2019.08.30/
2020.03.06	10-2019-0107472/ 10-2088205	PB,BK,ICP

79	특허	프로브 블록	당사	2019.09.19/
2020.04.02	10-2019-0115170/ 10-2098653	BK

80	특허	프로브 카드	당사	2019.10.02/
2020.04.02	10-2019-0122152/ 10-2098654	PC

81	특허	일체형 프로브 어레이블록	당사	2020.02.06/
2020.06.04	10-2020-0014547/ 10-2121618	ArU

82	특허	분리형 프로브 어레이블록	당사	2020.02.11/
2020.06.04	10-2020-0016567/ 10-2121620	ArU

83	특허	오토 프로브장치	당사	2020.03.03/
2020.09.11	10-2020-0026816/ 10-2157070	APU

84	특허	캠승강식 오토 프로브장치	당사	2020.03.03/
2020.09.11	10-2020-0026818/ 10-2157311	APU

85	특허	연성회로기판을 구비한 프로브모듈	당사	2020.04.01/
2020.09.25	10-2020-0039988/ 10-2161987	BK,PB,ICP

86	특허	캠승강식 오토 프로브장치	당사	2020.09.03/
2021.01.06	10-2020-0026818/ 10-2202033	APU

87	특허	오토 프로브장치	당사	2020.09.03/
2021.01.06	10-2020-0026816/ 10-2202035	APU

88	특허	프로브 핀에 의해 디스플레이 패널을 검사하는 소켓장치	당사	2020.09.22/
2020.12.01	10-2020-0122185/ 10-2188174	BK,PB,ICP

89	특허	디스플레이 패널 검사용 소켓장치	당사	2020.09.28/
2021.03.03	10-2020-0125638/ 10-2225537	BK,

90	특허	디스플레이 패널 검사용 소켓장치의 프로브 핀 고정구조	당사	2020.10.14/
2020.12.01	10-2020-0132996/ 10-2188173	BK

91	특허	웨이퍼 테스트용 프로브 카드	당사	2020.10.26/
2021.03.10	10-2020-0139189/ 10-2228317	PC

92	특허	프로브 핀 미세정렬식 어레이유닛	당사	2020.10.28/
2021.03.03	10-2020-0141290/ 10-2225541	ArU

93	특허	프로브 핀블록	당사	2020.11.13/
2021.03.03	10-2020-0151455/ 10-2225546	BK

94	특허	후크 고정 방식의 핀보드 어댑터	당사	2022.01.11/2022.03.03	10-2022-0003838 /10-2371861-00-00	PB

95	특허	신축식 이차전지 에이징용 프로브	당사	2021.11.02/2022.03.21	10-2021-0149251/10-2378344-00-00	PB

96	특허	핀보드 어댑터	당사	2022.01.11/2022.05.13	10-2022-0149251/10-2399194-00-00	PB

97	특허	웨이퍼 테스트용 프로브카드	당사	2022.01.06/2022.05.13	10-2022-0001992 /10-2399195-00-00	PB

98	특허	베어링을 포함하는 핀보드	당사	2022.03.31/2022.05.13	10-2022-0040154 /10-2399196-00-00	PB

99	특허	웨이퍼 검사를 위한 프로브 장치	당사	2021.07.30/2022.06.03	10-2021-0100525 /10-2406863-00-00	PB

100	특허	파우치형 이차전지 충방전장치	당사	2022.01.18/2022.07.12	10-2022-0007191/ 10-2421364-00-00	PB

101	특허	동시접촉핀보드	당사	2022.05.11/2022.07.19	10-2022-0057613/10-2424076-00-00	PB

102	특허	전자 부품 검사용 가압 지그	당사	2021.11.16/2022.08.03	10-2021-0157460/10-2430250-00-00	BK

103	특허	평탄측정지그 및 이를 이용하는 평탄측정방법	당사	2022.03.11/2022.09.05	10-2022-0030499/10-2441795-00-00	BK

104	특허	평탄도조절이 가능한 프로브카드	당사	2022.05.31/2022.10.17	10-2022-0066623/10-2456905-00-00	BK

105	특허	방열 프로브카드	당사	2022.05.31/2022.10.17	10-2022-0066624/10-2456906-00-00	BK

106	특허	프로브장치	당사	2022.06.17/2022.10.17	10-2022-0073961/10-2456907-00-00	PB

107	특허	자석을 이용하는 프로브장치	당사	2022.03.11/2022.11.11	10-2022-0020678/10-2467601-00-00	PB

108	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2022.03.11/2022.11.11	10-2022-0035100/10-2467602-00-00	BK

109	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2022.03.24/2022.11.11	10-2022-0036379/10-2467603-00-00	BK

110	특허	프로브니들을 포함하는 접촉핀	당사	2022.03.11/2022.12.02	10-2022-0105239/10-2475091-00-00	BK

111	특허	프로브장치	당사	2022.09.30/2022.12.02	10-2022-0125136/10-2475092-00-00	PB

112	특허	분리 접촉 기능의 핀보드	당사	2022.02.10/2023.01.04	10-2022-0017495/10-2486185-00-00	PB

113	특허	평탄 측적용 지그	당사	2022.06.21/2023.02.06	10-2022-0075347/10-2498018-00-00	PB

114	특허	소켓조립체	당사	2022.11.08/2023.02.06	10-2022-0147837/10-2498019-00-00	BK

115	특허	하이브리드 핀보드	당사	2022.05.11/2023.02.13	10-2022-0057614/10-2500663-00-00	PB

116	특허	상하전후구동블록조립체 및 프로브장치	당사	2022.06.29/2023.03.06	10-2022-0079600/10-2508229-00-00	PB

117	특허	소켓블록	당사	2022.11.08/2023.04.13	10-2022-0147838/10-2522839-00-00	BK

118	특허	프로브니들	당사	2022.09.01/2023.05.10	10-2022-0110591/10-2532503-00-00	PB

119	특허	비전 얼라인 프로브 장치	당사	2021.12.24/2023.06.07	10-2022-0186848/10-2542185-00-00	PB

120	특허	디스플레이 패널의 테스트 장치	당사	2022.11.08/2023.06.12	10-2022-0147539/10-2543902-00-00	BK

121	특허	핀보드	당사	2021.06.10/2023.08.01	10-2021-0075541/10-2563643-00-00	PB

자. 법률/규정 등에 의한 규제사항당사가 현재 주력으로 영위하고 있는 디스플레이 검사장이 및 반도체 검사장치 제품 판매와 관련해서 별도로 적용받는 규제사항은 없습니다. 다만, 디스플레이 산업에서 대부분의 제품들이 모바일, TV, 노트북 등의 가전제품에 들어가는 필수품목이며 또한 반도체 생산 시 취급되는 화학물질 사용 시 하기 법령들에 의거하여 화학물질들을취급하여야 하며, 대부분의 제품들이 모바일, TV, 노트북 등의 가전제품에 들어가는 필수 품목으로서 하기 환경규제들과 관련되어 당사 제품 생산 시 간접적인 영향을 받을 수 있습니다.

국가	시기	법명	주요 내용 및 대상 제품

EU	2006년 7월	Directive on Restriction of the certain Hazardous Substance in EEE
(EU RoHS)	전압 AC 1,000V, DC 1,500V 이하에서 사용되는 모든 유형의 전기 및 전자제품

미국, 일본	2006년 7월	The Electronic waste Recycling Act of 2003 (California)	4인치 이상 스크린을 포함하는 디스플레이기기

중국	2007년 3월	전자정보제품 오염방지관리방법	TV, 휴대기기 (휴대폰, 에어팟, 워치)

한국	2008년 1월	전기전자제품 및 자동차의 자원순환에 관한 법률	전류나 전자기장에 의해 작동하는 전기 전자제품 (부분품 부속품 포함) 및
폐전기 폐전자제품

한국	2015년 1월	화평법	화학물질의 등록 및 평가 등에 관한 법률로 모든 신규화학물질과 연간 1t 이상 제조·수입·판매되는 기존화학물질을 의무적으로 유역환경청 또는 지방환경청에 등록하여 화학물질의 용도 및 제조·수입·판매량 등에 대해 보고하고 유해성, 위해성을 심사·평가받아야 한다는 내용의 법

한국	2015년 1월	화학물질관리법	화학물질관리법은 사업장 내 화학물질이 사업장 밖에서 미치는 영향을 평가하고 유해물질 관리인력을 보충해 화학물질의 시설관리를 강화하는 제도