자비스 사업보고서 (2025.12)
6. 주요계약 및 연구개발활동

가. 주요계약(단위 : 천원)

계약
상대방	계약
체결시기	계약
기간	계약의
목적 및 내용	계약금액	계약상의
주요내용

SBE	2017.01.31	2017.01.31
~2020.01.31	외주용역
(구매계약)	-	-

한국산업기술평가
관리원	2017.04.28	2017.04.01.
~2019.12.31.	산업기술 혁신사업 정부과제 협약
(ATC과제)	2,033,500	ML-FOWLP 및 3D TSV 반도체패키지 검사 공정용 200nm급고해상도 X-ray 검사시스템기술 개발

중소기업기술정보
진흥원	2018.05.01	2018.05.01.
~2020.04.30	중소기업 기술개발
사업 협약
(SP과제)	819,640	Hybrid X-Ray
검사방식을 이용한
SOP 검사시스템 개발

과학기술일자리
진흥원	2018.07.01	2018.07.01.
~2022.12.31	산학연공동연구법인지원사업
(TM과제)	1,800,000	나노구조 분석용 와이드뷰 3차원엑스레이 비전 장비 개발

RICOH Co., Ltd.	2019.04.17	-	합작투자 계약	JPY 73,500	2019.04.26 일본 내 합작법인RICOH Tech Vision Inc. 설립

RICOH Tech Vision Inc.	2019.07.12	-	INTELLECTUALPROPERTY LICENCEAGREEMENT	-	일본 내 합작법인인 RICOH Tech Vision Inc.와 Licence 계약 체결

㈜노이드테크	2020.02.17	-	고객 다변화 및 신규수주 물량 증가 대비 생산시설 및 공장확보	8,400,000	동탄소재 토지 및 건물 매입

나. 연구개발 조직(1) 연구개발 조직

조직형태	연구개발조직

인원구성	- 총인원 : 87명
- 기술책임자(CTO) : 임태규 이사
- 연구개발 전담요원 : 임태규 이사 外 87명

조직도	㈜자비스 연구소 조직도.jpg ㈜자비스 연구소 조직도

(2) 정부과제 개발 (최근 3개년)

연구과제명	주관부서	연구기간	비고

이중에너지 엑스선 흡수계측법을 이용한 관로형인라인 육류 지방 분석장치 개발	전북테크노파크	15.08~18.07	-

나노해상(40nm) 엑스선현미경 시제품 개발	산업통상자원부	15.11~18.10	-

ML-FOWLP 및 3D TSV 반도체 패키지 검사 공정용200nm급 고해상도X-ray 검사 시스템 개발	산업통상자원부	17.04 ~19.12	-

Hybrid X-ray 검사방식을이용한 SOP 검사 시스템개발	중소벤처기업부	18.05 ~20.04	-

검사속도 4초, 해당도 6um의 초고속 AXI PLANAR CT 장비국산화 개발	중소벤처기업부	19.11 ~ 21.11	-

멀티에너지 X-ray 영상에 대하여 컴퓨터비전과 딥러닝 네트워크를 이용한 식품이물질 탐지 기술 및 시스템개발	중소벤처기업부	20.07 ~ 21.06	-

X-ray 영상을 활용한 반도체 칩 결함 검출 AI솔루션 도입	과학기술정보통신부	20.06 ~ 20.12	-

3D 반도체 패키징 검사를 위한 50nm급 검사장비 실증	산업통상자원부	21.04 ~ 22.03	-

반도체 후공정 불량검사를 위한 AI 기반 25nm급 X-ray 자동 검사 시스템 개발	산업통상자원부	21.04 ~ 24.12	-

엑스레이 장비 표준 검사 시편 국산화	경기도	21.05 ~ 21.10	-

AI기반 15PPM X-ray 배터리 검사장비 개발	산업통상자원부	21.08 ~ 23.12	-

폭발물 탐지/제거로봇용 엑스레이 모듈	방위사업청	21.08 ~ 24.08	-

(3) 지적재산권 현황

반도체 Package 검사 공정용 고해상도 X-ray 검사 장비 기술 특허 목록

번호	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용제품

1	특허권	엑스레이검사장치	당사	2009.07.22	2010.02.10	반도체검사장비

2	특허권	리드프레임의 엑스레이검사장치	당사	2011.02.23	2011.08.25

3	특허권	엑스레이 검사기의 구별 시편을 이용한 X선 3차원 복원 방법	당사	2013.07.12	2014.11.17

4	특허권	피복형 평면 케이블을 구비한 엑스레이 회전검사판	당사	2013.05.13	2014.12.04

5	특허권	엑스레이 튜브 및 디텍터 동기화 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2014.04.14	2016.08.31

6	특허권	회전 및 평면 이동 구조의 엑스레이 장치	당사	2017.01.09	2017.07.20

7	특허권	간섭 회피 양극 로드를 가진 엑스레이 튜브 및 이를 가진 검사 장치	당사	2015.07.22	2017.02.09

8	특허권	초점 조절 콜리메이터 구조의 엑스레이 검사 튜브	당사	2016.08.09	2017.12.04

9	특허권	고밀도 집적 회로 기판의 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법	당사	2016.03.25	2018.05.23

10	특허권	나노 해상도의 엑스레이 검사 장치 및 그의 오차 보상 방법	당사	2017.10.26	2019.07.11

11	특허권	PCT출원) 나노 해상도의 엑스레이 검사 장치 및 그의 오차 보상 방법
(유럽TX2차과제)	당사	2017.10.26	2020.07.11

12	특허권	검사대상의 보호를 위한 표적 제한 구조의 엑스레이 튜브 장치(ATC과제)	당사	2017.11.28	2020.01.21

13	특허권	웨이퍼 검사용 엑스레이 장치 및 그에 의한 엑스레이 검사 방법	당사	2019.10.23	2022.03.29

14	특허권	고밀도 검사 대상에 대한 검사 영역의 선택 방법 및 이를 위한 검사 장치	당사	2022.06.10	2023.04.18

※ 지적재산권 현황은 보고서 작성기준일 현재 기준입니다.

2차전지 검사 공정용 X-ray 검사 장비 기술 특허 목록

번호	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용제품

1	특허권	배터리 엑스레이검사장치	당사	2009.11.13	2010.08.19	2차전지검사장비

2	특허권	엑스레이검사장치	당사	2010.12.07	2013.01.16

3	특허권	배터리 자동연속검사장치	당사	2013.02.28	2013.06.03

4	특허권	배터리 자동 연속 검사 장치	당사	2015.09.16	2016.11.01

5	특허권	튜브 구조 부품의 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법	당사	2017.07.18	2019.03.21

6	특허권	다수 개의 검사 대상 정렬 구조의 엑스레이 검사 장치용 검사 디바이스	당사	2017.07.18	2019.03.21

7	특허권	검사 대상 회전 구조의 엑스레이 검사 장치용 검사 디바이스	당사	2017.07.18	2019.04.29

8	특허권	내부 결함 및 접합 부위의 검사가 가능한 엑스레이 검사 장치	당사	2017.07.31	2019.04.29

9	특허권	가변 클램프 구조의 그립 장치	당사	2017.11.10	2019.07.11

10	특허권	배터리 검사 방법	당사	2019.08.01	2021.05.24

11	특허권	다점 검사 방식의 엑스레이 검사 장치 및 그 방법	당사	2019.09.10	2021.05.24

12	특허권	회전 이송 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2020.01.09	2021.09.03

13	특허권	이송 유도 수단 연결 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2020.12.28	2022.04.19

14	특허권	물품 내부 검사용 엑스레이 검사 장치	당사	2023.08.11	심사중

15	특허권	배터리 내부 전체 전극 상태 검사 시스템	당사	2021.04.30	2023.04.27

16	특허권	배터리 셀 정렬 상태의 검사 방법	당사	2023.11.22	심사중

17	특허권	복수 방향 검사 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2021.08.02	2023.07.19

18	특허권	복수 경로 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2021.08.17	2024.03.07

19	특허권	검사 방향 정렬 방식의 엑스레이 검사 방법	당사	2022.02.08	심사중

20	특허권	초점 위치의 멀티 캘리브래이션에 기초하는 엑스레이 검사 방법	당사	2022.02.11	심사중

21	특허권	비전 정렬 방식의 엑스레이 검사 방법	당사	2022.07.01	심사중

22	특허권	엑스레이 검사용 영상 위치 결정 방법	당사	2022.07.05	심사중

23	특허권	다점 검사 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2022.09.08	심사중

24	특허권	원통형 배터리용 엑스레이 검사시스템	당사	2022.12.22	심사중

25	특허권	다점 검사 방식의 배터리 검사용 엑스레이 장치	당사	2023.05.23	심사중

※ 지적재산권 현황은 보고서 작성기준일 현재 기준입니다.

그 외 특허 목록

번호	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용제품

1	특허권	판상패드용 엑스레이검사장치	당사	2009.11.19	2010.04.30	Fscan/
PCB 장비 등

2	특허권	벨트컨베이어용 구동로울러 착탈장치	당사	2010.04.12	2012.11.07

3	특허권	엑스레이 검사장치에서의 영상 및 검사 파라미터 자동 조정방법	당사	2010.05.13	2012.11.07

4	특허권	연속공정이 가능한 엑스레이검사장치	당사	2010.05.24	2012.02.02

5	특허권	고속 칩 씨티 검사 장치	당사	2010.05.26	2010.07.28

6	특허권	복합기능을 갖는 인라인 피씨비 엑스레이검사장치.	당사	2010.06.10	2010.09.14

7	특허권	엑스레이 검사장치	당사	2010.10.11	2012.11.09

8	특허권	차폐수단을 구비하고, 엑스레이 조사위치를 변경할 수 있는 엑스레이 검사장치	당사	2010.12.14	2012.12.17

9	특허권	컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법	당사	2012.10.23	2014.02.06

10	특허권	컨베이어를 이용한 모바일 기기 엑스레이검사 방법	당사	2013.04.10	2013.10.17

11	특허권	전자담배를 위한 전원 연결 어댑터	당사	2013.07.05	2016.04.07

12	특허권	다중 영상 결합을 통한 이물 신호 화상 처리 개선 방법	당사	2013.07.12	2014.09.22

13	특허권	기판의 밀집 검사 부위의 엑스레이 검사 방법	당사	2014.07.08	2016.08.31

14	특허권	그립 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2014.09.05	2016.10.20

15	특허권	엘이디 패키지의 엑스레이 검사 장치	당사	2014.09.15	2016.09.09

16	특허권	엑스레이 검사 트레이 모듈 및 이에 의한 경사 방향 검사가 가능한 엑스레이 검사 장치	당사	2014.12.01	2016.08.31

17	특허권	엑스레이 검사를 위한 이동 스테이지 및 이를 가진 엑스레이 검사 장치	당사	2014.12.05	2016.08.31

18	특허권	조립 및 구조 특성이 향상된 엑스레이 장치	당사	2015.11.20	2017.06.21

19	특허권	교체 방식 모듈 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2016.01.29	2019.07.11

20	특허권	다수 개 부품의 동시 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 및 그 방법	당사	2016.02.22	2019.07.11

21	특허권	연속 검사 공정을 위한 엑스레이 검사 장치	당사	2016.03.21	2019.07.11

22	특허권	관로 이송 구조의 식음료의 이물질 탐지 장치	당사	2016.04.26	2017.09.01

23	특허권	비전 위치 확인 구조의 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 기판의 검사 방법	당사	2016.05.13	2017.05.15

24	특허권	영역 지정에 따른 지능형 판정 기준의 자동 설정 방법 및 그에 의한 스마트 학습 방식의 엑스레이 검사 방법	당사	2016.05.23	2019.07.11

25	특허권	이송 제어 구조 방식의 자동 검사를 위한 엑스레이 검사 장치	당사	2016.08.25	2019.11.21

26	특허권	소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치	당사	2016.08.30	2019.08.12

27	특허권	전자 기판의 엑스레이 검사 방법	당사	2017.01.20	2020.07.17

28	특허권	버퍼 영역을 가진 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법	당사	2017.01.25	2021.01.15

29	특허권	선형 축 이동 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2017.03.30	2019.03.07

30	특허권	다중 연속 엑스레이 검사 방법 및 이를 위한 장치	당사	2017.06.12	2020.07.31

31	특허권	엑스레이 흡수 특성에 의한 성분 분석 시스템 및 그에 의한 성분 분석 방법	당사	2017.06.19	2019.02.07

32	특허권	이송 유도 구조의 엑스레이 장치	당사	2017.11.01	2019.07.11

33	특허권	다중 검사 및 다중 배출 경로 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2017.11.29	2021.06.23

34	특허권	관로 이송 구조의 엑스레이 검사 장치	당사	2018.05.23	2020.06.15

35	특허권	유도 특성 개선 구조의 투과 엑스선 현미경 장치	당사	2018.10.30	2020.05.25

36	특허권	간섭 회피 검사를 위한 엑스레이 검사 장치	당사	2018.12.05	2020.08.21

37	특허권	엑스레이 탐지 방식의 부품 카운터 및 그에 의한 부품 카운팅 방법	당사	2019.01.07	2020.10.29

38	특허권	다수 개의 전자 부품의 탐지를 위한 엑스레이 장치 및 그에 의한 전자 부품의 탐지 방법	당사	2019.04.30	2020.07.31

39	특허권	비접촉식 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 물품 검사 방법	당사	2019.07.01	2021.02.10

40	특허권	장력 물품 검사용 엑스레이 장치	당사	2019.08.27	2021.05.24

41	특허권	다층 물품 검사용 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법	당사	2019.11.22	2021.05.24

42	특허권	검사 효율이 향상된 엑스레이 검사 장치 및 엑스레이 검사 방법	당사	2019.12.16	2020.08.21

43	특허권	엑스레이 탐지 방식의 부품 카운터 및 그에 의한 부품 카운팅 방법	당사	2020.05.15	2022.10.24

44	특허권	엔코더 방식의 위치 결정 시스템 및 그에 의한 위치 결정 방법	당사	2020.08.25	2022.06.27

45	특허권	딥러닝 기반 고화질 엑스레이 영상 생성 방법, 장치 및 프로그램	당사	2020.11.17	2022.10.11

46	특허권	학습데이터 생성 방법, 장치, 프로그램 및 이를 이용한 이물질 검출 방법	당사	2020.11.17	2023.06.07

47	특허권	뼈 또는 패각 검사용 엑스레이 장치	당사	2023.07.24	심사중

48	특허권	중량 선별 기능을 가진 엑스레이 검사 장치	당사	2021.08.05	2023.07.19

49	특허권	엑스레이 영상의 실시간 노이즈 제거 장치 및 이를 이용한 노이즈 제거 방법	당사	2021.09.28	2023.12.26

50	특허권	인공 지능 기반 대상체 앙상블 비파괴 검사 방법, 장치 및 시스템	당사	2021.11.30	2023.10.27

51	특허권	선택적 인공 지능 엔진 기반 대상체 비파괴 검사 방법, 장치 및 시스템	당사	2021.11.30	2023.11.20

52	특허권	대상체 이미지 내 결함 보정 방법, 장치 및 컴퓨터 프로그램	당사	2021.11.30	2024.02.20

53	특허권	3차원 처리 기반 대상체 비파괴 검사 방법, 장치 및 시스템	당사	2021.11.30	2023.09.26

54	특허권	소형 고출력 구조의 엑스레이 튜브	당사	2022.03.11	심사중

55	특허권	질환 치료용 엑스레이 치료 장치	당사	2022.07.29	심사중

※ 지적재산권 현황은 보고서 작성기준일 현재 기준입니다.

해외특허목록

번호	구분	국가	발명의 명칭	권리자	출원일자	등록일자	적용 제품

1	특허권	WO	X-RAY INSPECTION APPARATUS FOR CONTINUOUSLY TRANSFERRED PRODUCTS AND X-RAY INSPECTION METHOD USING SAME	당사	2014.04.10	PCT	엑스레이검사장비

2	특허권	WO	Ejectable-Stage X-ray Examination Appratus	당사	2014.12.05	PCT

3	특허권	WO	X-RAY INSPECTION TRAY MODULE, AND X-RAY INSPECTION APPARATUS CAPABLE OF INCLINED DIRECTION INSPECTION BY USING SAME	당사	2015.09.16	PCT

4	특허권	WO	X-RAY INSPECTION DEVICE FOR BATTERY INSPECTION AND BATTERY INSPECTION METHOD THEREBY	당사	2015.11.11	PCT

5	특허권	TW	An Apparatus for inspecting a Large Scale Intergrated Circuit Board and a Method By the same	당사	2016.06.08	2017.08.01

6	특허권	MX	AN X-RAY DETECTING TYPE OF A COMPONENT COUNTER AND A METHOD FOR COUNTING COMPONENTS USING THE SAME	당사	2019.01.25	2022.09.20

7	특허권	US	X-Ray Apparatus for Detecting a Flaw of Small Sized Article Continuously	당사	2014.07.03	심사중

8	특허권	WO	X-ray detecting type of a component counter and a method for counting components using the same	당사	2019.01.17	PCT

9	특허권	US	X-ray detecting type of a component counter and a method for counting components using the same	당사	2019.01.22	2021.03.16

10	특허권	WO	X-ray detecting type of a component counter and a method for counting components using the same	당사	2019.01.17	PCT

11	특허권	JP	X-RAY INSPECTION DEVICE	당사	2010.07.22	2013.03.15

12	특허권	CN	X-ray inspection apparatus	당사	2009.08.19	심사중

13	특허권	PH	A METHOD FOR INVESTIGATING A PEARL FROM OYSTER USING X-RAY IMAGE	당사	2015.06.08	심사중

14	특허권	JP	METHOD FOR INSPECTING BATTERY	당사	2019.10.31	2022.03.24

15	특허권	WO	Method, Apparatus, and Program for generating training data, and Method for detecting foreign substance usaing same	당사	2021.11.12	PCT

16	특허권	WO	Deep Learning-Based High Image Quality X-Ray Image Generation Method, Appratus, and Program	당사	2021.11.12	PCT

17	특허권	WO	NANO-RESOLUTION X-RAY INSPECTION DEVICE AND ERROR COMPENSATION METHOD THEREFOR	당사	2017.10.26	PCT

18	특허권	WO	CONTACTLESSX-RAYINSPECTIONDEVICEANDITEMINSPECTIONMETHODTHEREFOR	당사	2019.07.01	PCT

19	특허권	CN	Battery inspection method	당사	2019.09.30	심사중

20	특허권	WO	X-RAY APPARATUS FOR WAFER INSPECTION AND X-RAY INSPECTION METHOD THEREBY	당사	2019.10.31	PCT

21	특허권	WO	APPARATUSFORX-RAYINSPECTIONOFMULTI-POINTINSPECTIONMETHOD,ANDMETHODTHEREFOR	당사	2019.11.15	PCT

22	특허권	WO	X-RAY INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING INSIDE OF ARTICLE	당사	2019.11.15	PCT

23	특허권	WO	X-RAY INSPECTION APPARATUS HAVING ROTARY TRANSFER STRUCTURE	당사	2020.01.14	PCT

24	특허권	WO	X-RAY INSPECTION APPARATUS HAVING MULTI-PATH STRUCTURE	당사	2020.03.06	PCT

25	특허권	US	METHOD FOR INVESTIGATING A CYLINDRICAL SHAPE OF A BATTERY	당사	2020.06.23	심사중

※ 지적재산권 현황은 보고서 작성기준일 현재 기준입니다.

다. 기술경쟁력(1) 연구개발비용(단위 : 원)

구 분	2025년도(제10기)	2024년도(제9기)	2023년도
(제8기)

자산처리	원재료비 외	-	-	-

비용처리	판관비	4,585,596,405	3,363,323,368	1,889,191,144

제조경비 외	2,993,455,495	1,875,936,293	3,271,101,527

소계	7,579,051,900	5,239,259,661	5,160,292,671

합 계(*)
(매출액 대비 비율)	7,579,051,900(27.62%)	5,239,259,661(13.89%)	5,160,292,671(17.98%)

정부보조금	521,515,388	879,416,849	1,648,464,470

※ 판관비 금액은 정부보조금 차감 후 금액입니다.※ 상기 금액은 별도재무제표 기준입니다.